JPH04234157A - 高メモリ密度パッケージ - Google Patents
高メモリ密度パッケージInfo
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- JPH04234157A JPH04234157A JP3214222A JP21422291A JPH04234157A JP H04234157 A JPH04234157 A JP H04234157A JP 3214222 A JP3214222 A JP 3214222A JP 21422291 A JP21422291 A JP 21422291A JP H04234157 A JPH04234157 A JP H04234157A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- heat sink
- chip
- input
- sink means
- circuit board
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
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Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K1/00—Printed circuits
- H05K1/18—Printed circuits structurally associated with non-printed electric components
- H05K1/189—Printed circuits structurally associated with non-printed electric components characterised by the use of flexible or folded printed circuits
Landscapes
- Cooling Or The Like Of Semiconductors Or Solid State Devices (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は超小形電子回路パッケー
ジに関し、詳細にいえば、マルチチップ・メモリ・パッ
ケージに関する。回路パッケージは入出力回路の効率的
な利用、高メモリ密度、及び効率的な熱管理を特徴とす
る。
ジに関し、詳細にいえば、マルチチップ・メモリ・パッ
ケージに関する。回路パッケージは入出力回路の効率的
な利用、高メモリ密度、及び効率的な熱管理を特徴とす
る。
【0002】
【従来の技術】電子パッケージの一般的な構造及び製造
工程は、たとえば、ドナルド・P・セラフィン(Don
ald P. Seraphim)、ロナルド・ラスキ
ィ(Ronald Lasky)、及びチェヨー・リー
(Che−Yo Li)の「電子パッケージの原理(P
rinciples ofElectronic Pa
ckaging)」、マグロウヒル・ブック・カンパニ
ー(McGraw−Hill BookCompany
)、ニューヨーク州ニューヨーク(1988年)、なら
びにラオ・R・ツマーラ(Rao R. Tummal
a)及びユージン・J・リマセウスキー(Eugene
J. Rymaszewski)の「超小形電子パッケ
ージング・ハンドブック(Microelectron
ic Packaging Handbook)」ヴァ
ン・ノストランド・レインホールド(Van Nost
randReinhold)、ニューヨーク州ニューヨ
ーク(1988年)に記載されている。
工程は、たとえば、ドナルド・P・セラフィン(Don
ald P. Seraphim)、ロナルド・ラスキ
ィ(Ronald Lasky)、及びチェヨー・リー
(Che−Yo Li)の「電子パッケージの原理(P
rinciples ofElectronic Pa
ckaging)」、マグロウヒル・ブック・カンパニ
ー(McGraw−Hill BookCompany
)、ニューヨーク州ニューヨーク(1988年)、なら
びにラオ・R・ツマーラ(Rao R. Tummal
a)及びユージン・J・リマセウスキー(Eugene
J. Rymaszewski)の「超小形電子パッケ
ージング・ハンドブック(Microelectron
ic Packaging Handbook)」ヴァ
ン・ノストランド・レインホールド(Van Nost
randReinhold)、ニューヨーク州ニューヨ
ーク(1988年)に記載されている。
【0003】セラフィン他及びツマーラ他が述べている
ように、電子回路は多数の独立した電子回路構成要素、
たとえば数千さらには数百万の独立した抵抗、コンデン
サ、誘導子、ダイオード及びトランジスタを含んでいる
。これらの独立した回路構成要素は相互接続され、回路
を形成し、個々の回路は相互接続されて、機能装置を形
成する。電力及び信号の分配はこれらの相互接続を介し
て行われる。個々の機能装置には機械的な支持及び構造
的な保護を必要とする。電気回路は機能を果たすための
電気エネルギー、及び機能を維持するための熱エネルギ
ーの除去を必要とする。チップ、モジュール、コネクタ
、ケーブル、回路カード、及び回路板などの超小形電子
パッケージを使用して、回路構成要素及び回路を保護し
、収納し、冷却し、相互接続する。
ように、電子回路は多数の独立した電子回路構成要素、
たとえば数千さらには数百万の独立した抵抗、コンデン
サ、誘導子、ダイオード及びトランジスタを含んでいる
。これらの独立した回路構成要素は相互接続され、回路
を形成し、個々の回路は相互接続されて、機能装置を形
成する。電力及び信号の分配はこれらの相互接続を介し
て行われる。個々の機能装置には機械的な支持及び構造
的な保護を必要とする。電気回路は機能を果たすための
電気エネルギー、及び機能を維持するための熱エネルギ
ーの除去を必要とする。チップ、モジュール、コネクタ
、ケーブル、回路カード、及び回路板などの超小形電子
パッケージを使用して、回路構成要素及び回路を保護し
、収納し、冷却し、相互接続する。
【0004】集積回路内では、回路構成要素間及び回路
間の相互接続、熱放散ならびに機械的保護が、集積回路
チップによって提供される。モジュール内に封入された
このチップを、第1レベルのパッケージと呼ぶ。
間の相互接続、熱放散ならびに機械的保護が、集積回路
チップによって提供される。モジュール内に封入された
このチップを、第1レベルのパッケージと呼ぶ。
【0005】少なくとももう1レベルのパッケージがあ
る。第2レベルのパッケージは回路カードである。回路
カードは少なくとも4つの機能を果たす。まず、所望の
機能を果たすために必要な総回路数またはビット・カウ
ントが、第1レベルのパッケージすなわちチップのビッ
ト・カウントを超えるため、回路カードが用いられる。 第2に、第2レベルのパッケージすなわち回路カードは
、第1レベルのパッケージすなわちチップまたはモジュ
ールに簡単に集積できない構成要素のための場所を提供
する。これらの構成要素はたとえば、コンデンサ、精密
抵抗、誘導子、電気機械的スイッチ、光カップラなどを
含んでいる。第3に、回路カードは他の回路要素に信号
の相互接続をもたらす。第4に、第2レベルのパッケー
ジは熱管理すなわち熱放散を行う。
る。第2レベルのパッケージは回路カードである。回路
カードは少なくとも4つの機能を果たす。まず、所望の
機能を果たすために必要な総回路数またはビット・カウ
ントが、第1レベルのパッケージすなわちチップのビッ
ト・カウントを超えるため、回路カードが用いられる。 第2に、第2レベルのパッケージすなわち回路カードは
、第1レベルのパッケージすなわちチップまたはモジュ
ールに簡単に集積できない構成要素のための場所を提供
する。これらの構成要素はたとえば、コンデンサ、精密
抵抗、誘導子、電気機械的スイッチ、光カップラなどを
含んでいる。第3に、回路カードは他の回路要素に信号
の相互接続をもたらす。第4に、第2レベルのパッケー
ジは熱管理すなわち熱放散を行う。
【0006】ほとんどの用途、特に高性能のワークステ
ーション、中規模コンピュータ、及びメイン・フレーム
・コンピュータには、第3レベルのパッケージがある。 これは回路板レベルのパッケージである。回路板は複数
枚のカードを受け入れるためのコネクタ、カード間の通
信をもたらす回路、外部との通信を行う入出力装置を含
んでおり、また複雑な熱管理システムをしばしば含んで
いる。
ーション、中規模コンピュータ、及びメイン・フレーム
・コンピュータには、第3レベルのパッケージがある。 これは回路板レベルのパッケージである。回路板は複数
枚のカードを受け入れるためのコネクタ、カード間の通
信をもたらす回路、外部との通信を行う入出力装置を含
んでおり、また複雑な熱管理システムをしばしば含んで
いる。
【0007】最近の適用業務プログラム、複雑なオペレ
ーティング・システム、及び多重タスク処理によって、
多量のランダム・アクセス・メモリを使用できるように
なった。これはメモリの大きさ及びメモリの密度を絶え
ることなく増加させるものである。メモリ密度の増加は
回路密度、配線密度、及び入出力密度の増加を伴ってお
り、これらはすべて電子パッケージに高い熱負荷を負わ
せる。
ーティング・システム、及び多重タスク処理によって、
多量のランダム・アクセス・メモリを使用できるように
なった。これはメモリの大きさ及びメモリの密度を絶え
ることなく増加させるものである。メモリ密度の増加は
回路密度、配線密度、及び入出力密度の増加を伴ってお
り、これらはすべて電子パッケージに高い熱負荷を負わ
せる。
【0008】セラフィン、ラスキィ及びリーの「電子パ
ッケージの原理」(参照することによって本明細書の一
部となされた)の第127ページの「電子パッケージの
熱管理(Thermal Management in
Electronic Packaging)」にお
いて、F・E・アンドロス(Andros)及びB・G
・サマキア(Sammakia)が述べているところに
よれば、データ処理機器の性能を改善するため、電子パ
ッケージの設計の傾向は、回路チップのサイズをより大
きくし、チップあたりの入出力密度をより高くし、チッ
プあたりの回路密度をより高くし、システムの信頼性を
より高くしようとするものとなっている。チップ・サイ
ズ、入出力密度、回路密度、及び信頼性のこれらの増加
は、特に、電気線長及び2点間の飛翔時間を短縮するこ
とによって性能の改善をもたらしている。同時に、これ
らの改善は電力密度の大幅な増加ももたらしている。た
とえば、参照することによって本明細書の一部となされ
た、ツマーラ及びリマセウスキーの「超小形電子パッケ
ージング・ハンドブック」167ページの「電子パッケ
ージ(Electronic Packages)」に
おいてアントネッティ(Antonetti)、オクタ
イ(Oktay)およびサイモンス(Simons)は
、5ミリメートル×5ミリメートルのチップが1平方メ
ートルあたり400キロワットの熱流束に対して10ワ
ットを散逸することを報告している。
ッケージの原理」(参照することによって本明細書の一
部となされた)の第127ページの「電子パッケージの
熱管理(Thermal Management in
Electronic Packaging)」にお
いて、F・E・アンドロス(Andros)及びB・G
・サマキア(Sammakia)が述べているところに
よれば、データ処理機器の性能を改善するため、電子パ
ッケージの設計の傾向は、回路チップのサイズをより大
きくし、チップあたりの入出力密度をより高くし、チッ
プあたりの回路密度をより高くし、システムの信頼性を
より高くしようとするものとなっている。チップ・サイ
ズ、入出力密度、回路密度、及び信頼性のこれらの増加
は、特に、電気線長及び2点間の飛翔時間を短縮するこ
とによって性能の改善をもたらしている。同時に、これ
らの改善は電力密度の大幅な増加ももたらしている。た
とえば、参照することによって本明細書の一部となされ
た、ツマーラ及びリマセウスキーの「超小形電子パッケ
ージング・ハンドブック」167ページの「電子パッケ
ージ(Electronic Packages)」に
おいてアントネッティ(Antonetti)、オクタ
イ(Oktay)およびサイモンス(Simons)は
、5ミリメートル×5ミリメートルのチップが1平方メ
ートルあたり400キロワットの熱流束に対して10ワ
ットを散逸することを報告している。
【0009】個々のデバイスの電力需要の急激な減少に
もかかわらず、チップ及びパッケージ・レベルの熱負荷
のきわめて急激な増加が生じている。これはデバイスの
密度や集積度がさらに急激だからである。ソリッド・ス
テート・デバイスが初めて発表されたとき、ソリッド・
ステート・デバイスが真空管や鉄心メモリに比較して個
々に必要とする電力が少ないことによって、熱管理の問
題を除去しないまでも、最小限のものとすると考えられ
た。実際はそうはならなかったが、これは集積回路の充
填密度及びこれに付随する電力密度が年がたつにしたが
って急激に増加したからである。たとえば、CMOSデ
バイスのデバイスあたりに電力需要はバイポーラ・デバ
イスよりも少ないが、最新のCMOS集積回路あたりの
CMOSデバイスの数は、旧型のバイポーラ集積回路あ
たりのバイポーラ・デバイスの数の何倍にもなっている
。
もかかわらず、チップ及びパッケージ・レベルの熱負荷
のきわめて急激な増加が生じている。これはデバイスの
密度や集積度がさらに急激だからである。ソリッド・ス
テート・デバイスが初めて発表されたとき、ソリッド・
ステート・デバイスが真空管や鉄心メモリに比較して個
々に必要とする電力が少ないことによって、熱管理の問
題を除去しないまでも、最小限のものとすると考えられ
た。実際はそうはならなかったが、これは集積回路の充
填密度及びこれに付随する電力密度が年がたつにしたが
って急激に増加したからである。たとえば、CMOSデ
バイスのデバイスあたりに電力需要はバイポーラ・デバ
イスよりも少ないが、最新のCMOS集積回路あたりの
CMOSデバイスの数は、旧型のバイポーラ集積回路あ
たりのバイポーラ・デバイスの数の何倍にもなっている
。
【0010】なお、パッケージ設計、すなわちカード及
び基板の設計は、より小さな面積における上述した論理
回路及びメモリの絶えることなく増加している密度、な
らびにこれに付随した相互接続の増加に適合する必要性
によって推進されてきた。アンドロス及びサマキアが述
べているように、これらの高密度カード及び基板の電力
密度は高く、したがって、複雑な熱管理を必要とする。
び基板の設計は、より小さな面積における上述した論理
回路及びメモリの絶えることなく増加している密度、な
らびにこれに付随した相互接続の増加に適合する必要性
によって推進されてきた。アンドロス及びサマキアが述
べているように、これらの高密度カード及び基板の電力
密度は高く、したがって、複雑な熱管理を必要とする。
【0011】パッケージ・レベルの熱管理が特に重要な
のは、集積回路の不良率が作動温度が10℃上がるごと
に2倍ずつ増加するからである。アンドロス及びサマキ
アが指摘するところによれば、パッケージのすべてのレ
ベルにおける信頼性は、温度に正比例している。たとえ
ば、高い作動温度はクリープ、腐食、相互拡散、及び電
気移動などの故障メカニズムを加速する。同様に、アン
ドロス及びサマキアが指摘するところによれば、系とし
て発生する温度差が電源オン状態及び電源オフ状態の間
を循環し、主として、熱膨張係数の異なる材料で形成さ
れた複合構造における疲労によって、電子部品の信頼性
に顕著な影響を及ぼす。
のは、集積回路の不良率が作動温度が10℃上がるごと
に2倍ずつ増加するからである。アンドロス及びサマキ
アが指摘するところによれば、パッケージのすべてのレ
ベルにおける信頼性は、温度に正比例している。たとえ
ば、高い作動温度はクリープ、腐食、相互拡散、及び電
気移動などの故障メカニズムを加速する。同様に、アン
ドロス及びサマキアが指摘するところによれば、系とし
て発生する温度差が電源オン状態及び電源オフ状態の間
を循環し、主として、熱膨張係数の異なる材料で形成さ
れた複合構造における疲労によって、電子部品の信頼性
に顕著な影響を及ぼす。
【0012】アントネッティ、オクタイ及びサイモンス
の述べているところによれば、電子パッケージの熱管理
が以下の性能基準のいくつか、またはすべてを満たすこ
とが要件である。
の述べているところによれば、電子パッケージの熱管理
が以下の性能基準のいくつか、またはすべてを満たすこ
とが要件である。
【0013】*集積回路デバイスの温度を、「最悪の」
作動条件(すなわち、デバイス及びモジュールの電力及
び熱抵抗、冷媒の流量、環境条件などの最悪な値)にお
いて最大許容限度以下に維持しなければならない。
作動条件(すなわち、デバイス及びモジュールの電力及
び熱抵抗、冷媒の流量、環境条件などの最悪な値)にお
いて最大許容限度以下に維持しなければならない。
【0014】*正規の作動条件において経験する集積回
路デバイスの温度は、信頼性の目標を達成できるもので
なければならない。
路デバイスの温度は、信頼性の目標を達成できるもので
なければならない。
【0015】*同一の信号ネットワークに属するデバイ
スの温度の変動を、許容限度内に維持しなければならな
い。
スの温度の変動を、許容限度内に維持しなければならな
い。
【0016】*熱管理手法の信頼性は受け入れられるも
のでなければならない。
のでなければならない。
【0017】*電子雑音の限度を満たさなければならな
い。
い。
【0018】あらゆる熱管理設計の目的は、規定の温度
及び熱流束の制約内での熱源、すなわち集積回路メモリ
・チップからヒート・シンク、すなわち外部環境への熱
エネルギーの流れを可能とすることによって、この目的
を達成することである。理想的には、これを伝導と自然
対流または強制対流、あるいはこの両方を組み合わせる
ことによって達成することである。
及び熱流束の制約内での熱源、すなわち集積回路メモリ
・チップからヒート・シンク、すなわち外部環境への熱
エネルギーの流れを可能とすることによって、この目的
を達成することである。理想的には、これを伝導と自然
対流または強制対流、あるいはこの両方を組み合わせる
ことによって達成することである。
【0019】メモリ・パッケージの目的は効率のよい熱
管理を、高メモリ容量及びメモリ密度と組み合わせるこ
とである。
管理を、高メモリ容量及びメモリ密度と組み合わせるこ
とである。
【0020】
【発明が解決しようとする課題】本発明の主な目的は、
高メモリ容量及び密度に適合した超小形電子パッケージ
を提供し、かつ付随的に、たとえば両面の面実装テクノ
ロジー(SMT)アセンブリの使用を可能とすることで
ある。
高メモリ容量及び密度に適合した超小形電子パッケージ
を提供し、かつ付随的に、たとえば両面の面実装テクノ
ロジー(SMT)アセンブリの使用を可能とすることで
ある。
【0021】本発明の他の目的は、高アドレス・バス容
量及び高データ・バス容量を含む高入出力容量を有する
超小形電子パッケージを提供することである。
量及び高データ・バス容量を含む高入出力容量を有する
超小形電子パッケージを提供することである。
【0022】本発明のさらに他の目的は、本発明で意図
するメモリ容量及び入出力容量に適合する熱管理容量を
有する超小形電子パッケージを提供することである。
するメモリ容量及び入出力容量に適合する熱管理容量を
有する超小形電子パッケージを提供することである。
【0023】本発明のさらに他の目的は、個々に接着さ
れ、組み立てられ、テストされたメモリ・チップを有す
るメモリのための、回路化された可撓性のテープ・キャ
リアを提供し、複数チップの手直しを除去することであ
る。
れ、組み立てられ、テストされたメモリ・チップを有す
るメモリのための、回路化された可撓性のテープ・キャ
リアを提供し、複数チップの手直しを除去することであ
る。
【0024】本発明のさらに他の目的は、共通制御線及
びデータ線、ならびにディスクリート・デバイスによっ
て占められるパッケージの面積を削減することである。
びデータ線、ならびにディスクリート・デバイスによっ
て占められるパッケージの面積を削減することである。
【0025】
【課題を解決するための手段】高密度超小形電子回路パ
ッケージを開示する。回路パッケージは、回路化された
可撓性のテープに接着され次いでプリント回路板に接着
された複数個のICメモリ・チップを含んでいる。回路
化された可撓性のテープは、プリント回路板から外方へ
延びており、入出力パッドに実装されたメモリ・チップ
などの複数個のICチップを有している。
ッケージを開示する。回路パッケージは、回路化された
可撓性のテープに接着され次いでプリント回路板に接着
された複数個のICメモリ・チップを含んでいる。回路
化された可撓性のテープは、プリント回路板から外方へ
延びており、入出力パッドに実装されたメモリ・チップ
などの複数個のICチップを有している。
【0026】回路化された可撓性のテープ上の入出力パ
ッドは、少なくとも第1及び第2のグループに構成され
ている。入出力パッドの第1のグループは第1コネクタ
の共通バスに接続されている。この第1共通バスは可撓
性テープの縁部の入出力接点ピン・アレイで終端してい
る。
ッドは、少なくとも第1及び第2のグループに構成され
ている。入出力パッドの第1のグループは第1コネクタ
の共通バスに接続されている。この第1共通バスは可撓
性テープの縁部の入出力接点ピン・アレイで終端してい
る。
【0027】入出力パッドの第2のグループは第2のコ
ネクタのグループに接続されており、このコネクタのグ
ループは入出力チップから入出力接点ピン・アレイへ向
かって外方へ延びている。回路化された可撓性テープの
入出力接点ピン・アレイは、プリント回路板上の接点パ
ッドのアレイと整合し、これに接着されている。
ネクタのグループに接続されており、このコネクタのグ
ループは入出力チップから入出力接点ピン・アレイへ向
かって外方へ延びている。回路化された可撓性テープの
入出力接点ピン・アレイは、プリント回路板上の接点パ
ッドのアレイと整合し、これに接着されている。
【0028】
【実施例】本明細書記載の高密度超小形電子回路パッケ
ージ1である。回路パッケージ1は、回路化された可撓
性テープ基板21に接着されかつヒート・シンク41に
伝熱ボンドされた複数個のICメモリ・チップ11を含
んでいる。回路化された可撓性テープ21及びヒート・
シンク41は次いで、プリント回路板31に接着される
。回路化された可撓性テープ21及びヒート・シンク4
1はプリント回路板31からほぼ外方へ延びている。 メモリ・チップなどの複数個のICチップ11は、入出
力パッドに取り付けられる。メモリ・チップ11を回路
化された可撓性テープ21上に単一の列に配列してもか
まわないし、あるいは複数の列に配列してもかまわない
(例えば図4及び図5の11a及び11b)。
ージ1である。回路パッケージ1は、回路化された可撓
性テープ基板21に接着されかつヒート・シンク41に
伝熱ボンドされた複数個のICメモリ・チップ11を含
んでいる。回路化された可撓性テープ21及びヒート・
シンク41は次いで、プリント回路板31に接着される
。回路化された可撓性テープ21及びヒート・シンク4
1はプリント回路板31からほぼ外方へ延びている。 メモリ・チップなどの複数個のICチップ11は、入出
力パッドに取り付けられる。メモリ・チップ11を回路
化された可撓性テープ21上に単一の列に配列してもか
まわないし、あるいは複数の列に配列してもかまわない
(例えば図4及び図5の11a及び11b)。
【0029】回路化された可撓性テープ21は第1入出
力接点パッド・アレイを含んでいる。この第1入出力接
点パッド・アレイはICチップ11の入出力接点(第1
)面の入出力端子アレイを受け入れることができ、これ
に接着されている。単一接点アレイについて述べるが、
データ3i/3o、アドレス入出力、及び制御に関する
複数接点パッド・アレイであってもよい。回路化された
可撓性テープ21は第2入出力接点パッド・アレイも含
んでいる。第2入出力接点パッド・アレイは、プリント
回路板31上の入出力パッド34のアレイを受け入れる
ことができ、これに接着されている。
力接点パッド・アレイを含んでいる。この第1入出力接
点パッド・アレイはICチップ11の入出力接点(第1
)面の入出力端子アレイを受け入れることができ、これ
に接着されている。単一接点アレイについて述べるが、
データ3i/3o、アドレス入出力、及び制御に関する
複数接点パッド・アレイであってもよい。回路化された
可撓性テープ21は第2入出力接点パッド・アレイも含
んでいる。第2入出力接点パッド・アレイは、プリント
回路板31上の入出力パッド34のアレイを受け入れる
ことができ、これに接着されている。
【0030】回路化された可撓性テープ21の入出力パ
ッドを複数の配列、たとえば、少なくとも第1グループ
22a及び第2グループ22bに配置することができる
。第1グループの入出力パッド22aは第1導線の共通
バス23aに接続されている。この第1共通バス23a
は可撓性テープ21の縁部の入出力接点パッド・アレイ
24aで終端している。この第1接点パッド・アレイ2
4aは次いで、プリント回路板31上の整合第1接点パ
ッド・アレイ34に接着されている。
ッドを複数の配列、たとえば、少なくとも第1グループ
22a及び第2グループ22bに配置することができる
。第1グループの入出力パッド22aは第1導線の共通
バス23aに接続されている。この第1共通バス23a
は可撓性テープ21の縁部の入出力接点パッド・アレイ
24aで終端している。この第1接点パッド・アレイ2
4aは次いで、プリント回路板31上の整合第1接点パ
ッド・アレイ34に接着されている。
【0031】第2グループの入出力パッド22bは第2
導線の共通バス23bに接続されており、第2導線はI
Cチップから回路化された可撓性テープ21の縁部上の
第2入出力接点パッド・アレイ24bへ向かって外方へ
延びている。回路化された可撓性テープ21の第2入出
力接点パッド・アレイ24bは、プリント回路板31上
の接点パッド34の第2のアレイと整合し、これに接着
されている。接点パッド・アレイ24a及び24bは回
路化された可撓性テープ21の直角のエッジにあっても
よい。
導線の共通バス23bに接続されており、第2導線はI
Cチップから回路化された可撓性テープ21の縁部上の
第2入出力接点パッド・アレイ24bへ向かって外方へ
延びている。回路化された可撓性テープ21の第2入出
力接点パッド・アレイ24bは、プリント回路板31上
の接点パッド34の第2のアレイと整合し、これに接着
されている。接点パッド・アレイ24a及び24bは回
路化された可撓性テープ21の直角のエッジにあっても
よい。
【0032】図4に示す他の実施例によれば、より高い
入出力密度がもたらされる。この実施例において、回路
化された可撓性テープ21はその一方表面上に第1入出
力接点パッド・アレイ22a(図示せず)を含んでいる
。この第1入出力接点パッド・アレイ22aはICチッ
プ11の入出力接点(第1)面15の入出力端子アレイ
を受け入れることができ、かつこれに接着されている。 回路化された可撓性テープ21はその裏側に第2の入出
力接点パッド・アレイを含んでいてもよい。この第2入
出力接点パッド・アレイはバイアによって、第1入出力
接点パッド・アレイ22aに接続される。第2入出力接
点・パッド・アレイはプリント回路板31上の入出力パ
ッドのアレイを受け入れることができ、かつこれに接続
される。このようにして、データ線及びアドレス線に対
して別個のバスが設けられる。
入出力密度がもたらされる。この実施例において、回路
化された可撓性テープ21はその一方表面上に第1入出
力接点パッド・アレイ22a(図示せず)を含んでいる
。この第1入出力接点パッド・アレイ22aはICチッ
プ11の入出力接点(第1)面15の入出力端子アレイ
を受け入れることができ、かつこれに接着されている。 回路化された可撓性テープ21はその裏側に第2の入出
力接点パッド・アレイを含んでいてもよい。この第2入
出力接点パッド・アレイはバイアによって、第1入出力
接点パッド・アレイ22aに接続される。第2入出力接
点・パッド・アレイはプリント回路板31上の入出力パ
ッドのアレイを受け入れることができ、かつこれに接続
される。このようにして、データ線及びアドレス線に対
して別個のバスが設けられる。
【0033】熱管理がヒート・シンク構造体41によっ
て行われるが、このヒート・シンク構造体は回路化され
た可撓性テープ21とは機械的構造的に分離されている
が、個々のICチップ11には伝熱ボンドされている。 詳細にいうと、ヒート・シンク手段41はプリント回路
板31からほぼ垂直に外方へ延びており、ICチップ1
1の各々は入出力接点第1面15及び熱接点第2面17
を有している。ICチップ11は入出力接点(第1)面
15を介して回路化された可撓性テープ21に接着され
、またICチップ熱接点(第2)面17を介してヒート
・シンク手段41に接着されている。
て行われるが、このヒート・シンク構造体は回路化され
た可撓性テープ21とは機械的構造的に分離されている
が、個々のICチップ11には伝熱ボンドされている。 詳細にいうと、ヒート・シンク手段41はプリント回路
板31からほぼ垂直に外方へ延びており、ICチップ1
1の各々は入出力接点第1面15及び熱接点第2面17
を有している。ICチップ11は入出力接点(第1)面
15を介して回路化された可撓性テープ21に接着され
、またICチップ熱接点(第2)面17を介してヒート
・シンク手段41に接着されている。
【0034】この構造は図1、図4及び図5に総括的に
示されている。上述したように、本発明の超小形電子パ
ッケージ1は、プリント回路板31からほぼ垂直に外方
へ延びており、可撓性テープ21上の入出力パッド・ア
レイ24及びプリント回路板31上の入出力パッド・ア
レイ34を介して、プリント回路板31に電気的に接続
されている。本発明の重要な態様はヒート・シンク41
に対するICチップ11の結合である。超小形電子パッ
ケージ1はICチップ11の伝熱(第2)面17を介し
て、プリント回路板31に伝熱的に接続されている。こ
れらのICチップ伝熱面17はヒート・シンク手段に結
合されて、これらの間の伝熱を可能とする。
示されている。上述したように、本発明の超小形電子パ
ッケージ1は、プリント回路板31からほぼ垂直に外方
へ延びており、可撓性テープ21上の入出力パッド・ア
レイ24及びプリント回路板31上の入出力パッド・ア
レイ34を介して、プリント回路板31に電気的に接続
されている。本発明の重要な態様はヒート・シンク41
に対するICチップ11の結合である。超小形電子パッ
ケージ1はICチップ11の伝熱(第2)面17を介し
て、プリント回路板31に伝熱的に接続されている。こ
れらのICチップ伝熱面17はヒート・シンク手段に結
合されて、これらの間の伝熱を可能とする。
【0035】各種の方法を使用して、個々のICチップ
11をヒート・シンク41に接続することができる。こ
れらにははんだ付け、熱グリース、熱ペーストなどがあ
るが、これらは例示説明だけのものであって、限定する
ものではない。熱グリース及びペーストには、(1)伝
熱剤の液体ポリマ・シキソトロピー懸濁液、及び(2)
小量のシキソトロピー固形物(発散シリカ、粘土、及び
石鹸など)と混合したシリコン・オイル(たとえば、ジ
フェニレン・シロキサンまたはジメチレン・シロキサン
)ないし炭化水素オイルなどのオイルが含まれる。熱グ
リース及びペーストは可撓性の熱導体として働き、熱膨
張及び熱収縮の極限において熱伝導経路が維持されるよ
うにする。
11をヒート・シンク41に接続することができる。こ
れらにははんだ付け、熱グリース、熱ペーストなどがあ
るが、これらは例示説明だけのものであって、限定する
ものではない。熱グリース及びペーストには、(1)伝
熱剤の液体ポリマ・シキソトロピー懸濁液、及び(2)
小量のシキソトロピー固形物(発散シリカ、粘土、及び
石鹸など)と混合したシリコン・オイル(たとえば、ジ
フェニレン・シロキサンまたはジメチレン・シロキサン
)ないし炭化水素オイルなどのオイルが含まれる。熱グ
リース及びペーストは可撓性の熱導体として働き、熱膨
張及び熱収縮の極限において熱伝導経路が維持されるよ
うにする。
【0036】ICチップ11及び回路化された可撓性テ
ープ21は、図1及び図2に示すように、ヒート・シン
ク手段41の単一の側面ないし表面に沿って延びていて
もよいし、図4及び図5に示すように、ヒート・シンク
手段41の両面に沿って延びていてもよい。それ故、図
4及び図5に示す実施例において、ICチップの各々は
ICチップ11の伝熱(第2)面17を介してヒート・
シンク手段41に接着されている。少なくとも1個のI
Cチップ11がヒート・シンク手段41の一方表面に接
着されており、少なくとも1個の他のICチップ11が
ヒート・シンク手段41の反対面に接着されている。こ
の構成において、ICチップ11は背中合わせの構成と
なっている。
ープ21は、図1及び図2に示すように、ヒート・シン
ク手段41の単一の側面ないし表面に沿って延びていて
もよいし、図4及び図5に示すように、ヒート・シンク
手段41の両面に沿って延びていてもよい。それ故、図
4及び図5に示す実施例において、ICチップの各々は
ICチップ11の伝熱(第2)面17を介してヒート・
シンク手段41に接着されている。少なくとも1個のI
Cチップ11がヒート・シンク手段41の一方表面に接
着されており、少なくとも1個の他のICチップ11が
ヒート・シンク手段41の反対面に接着されている。こ
の構成において、ICチップ11は背中合わせの構成と
なっている。
【0037】ICチップ11が図4及び図5に示すよう
に、背中合わせの構成でヒート・シンク手段41と接着
している場合、これらを図4に示すように単一の回路化
された可撓性テープ21に取り付けることも、あるいは
図5に示すように複数の回路化された可撓性テープ21
(21a、21b)に取り付けることもできる。
に、背中合わせの構成でヒート・シンク手段41と接着
している場合、これらを図4に示すように単一の回路化
された可撓性テープ21に取り付けることも、あるいは
図5に示すように複数の回路化された可撓性テープ21
(21a、21b)に取り付けることもできる。
【0038】図4は個々のICチップ11(11a、1
1b)及びプリント回路板31が、単一の回路化された
可撓性テープ21を介して、互いに電気的に接続されて
いる実施例を示している。この単一のテープ21はヒー
ト・シンク手段41及びICチップ11を包囲している
。
1b)及びプリント回路板31が、単一の回路化された
可撓性テープ21を介して、互いに電気的に接続されて
いる実施例を示している。この単一のテープ21はヒー
ト・シンク手段41及びICチップ11を包囲している
。
【0039】図5は個々のICチップ11(11a、1
1b)及びプリント回路板31が、一対の回路化された
可撓性テープ21a、21bを介して、互いに電気的に
接続されている他の実施例を示している。これらの複数
のテープ21a、21bはヒート・シンク手段41の両
面に配列されており、それ故、ヒート・シンク手段41
及びICチップ11(11a、11b)を包囲している
。この実施例において、個々のICチップ11(11a
、11b)及びプリント回路板31は一対の回路化され
た可撓性テープ21a、21bを介して互いに電気的に
接続されている。一方の回路化された可撓性テープ21
aはヒート・シンク手段41の一方面にあるICチップ
11bに接着されており、他方の回路化された可撓性テ
ープ21bはヒート・シンク手段41の反対面にあるI
Cチップ11aに接着されている。
1b)及びプリント回路板31が、一対の回路化された
可撓性テープ21a、21bを介して、互いに電気的に
接続されている他の実施例を示している。これらの複数
のテープ21a、21bはヒート・シンク手段41の両
面に配列されており、それ故、ヒート・シンク手段41
及びICチップ11(11a、11b)を包囲している
。この実施例において、個々のICチップ11(11a
、11b)及びプリント回路板31は一対の回路化され
た可撓性テープ21a、21bを介して互いに電気的に
接続されている。一方の回路化された可撓性テープ21
aはヒート・シンク手段41の一方面にあるICチップ
11bに接着されており、他方の回路化された可撓性テ
ープ21bはヒート・シンク手段41の反対面にあるI
Cチップ11aに接着されている。
【0040】本発明のさらに他の実施例を図6に示す。
この実施例において、メモリICチップ11、回路化さ
れた可撓性テープ21、及びヒート・シンク41はモジ
ュール・ユニットであって、回路化された可撓性テープ
21がICチップ11とヒート・シンク手段41に巻き
付けられており、ヒート・シンク手段41の基部を包囲
しているので、ヒート・シンク手段41が回路化された
可撓性テープ21の開口を介してプリント回路板31に
接続される。このモジュール・ユニットは、たとえば、
可撓性テープ21上の接点パッド24及びプリント回路
板31の接点パッド34の気相はんだ付けによって、プ
リント回路板31上にバッチはんだ付けすることができ
る。図6に示した実施例において、ヒート・シンク手段
41にはフィンが付けられている。
れた可撓性テープ21、及びヒート・シンク41はモジ
ュール・ユニットであって、回路化された可撓性テープ
21がICチップ11とヒート・シンク手段41に巻き
付けられており、ヒート・シンク手段41の基部を包囲
しているので、ヒート・シンク手段41が回路化された
可撓性テープ21の開口を介してプリント回路板31に
接続される。このモジュール・ユニットは、たとえば、
可撓性テープ21上の接点パッド24及びプリント回路
板31の接点パッド34の気相はんだ付けによって、プ
リント回路板31上にバッチはんだ付けすることができ
る。図6に示した実施例において、ヒート・シンク手段
41にはフィンが付けられている。
【0041】各種の実装技法に関して、構造を図示説明
したが、各種の直接チップ接続(DCA)法を使用して
、ICチップ11を回路化された可撓性テープ21に接
着できることを理解されたい。典型的なのは個々のチッ
プ11がテープ(銅やポリイミドなどの)上のパターン
化された金属に、たとえば、熱圧着ボンディングによっ
て結合され、この構造体が次いで可撓性の回路化された
テープ21に、たとえば、外部リード・ボンディングに
よって結合されるテープ自動ボンディング(TAB)で
ある。TABを使用したDCAの利点の1つは、テスト
、カプセル封入、及びバーンインなどの中間処理を、T
ABアセンブリを回路化された可撓性テープ21に接着
する前に行えることである。他のDCA及び薄膜チップ
接続法を、本発明の概念から逸脱することなく、利用す
ることができる。
したが、各種の直接チップ接続(DCA)法を使用して
、ICチップ11を回路化された可撓性テープ21に接
着できることを理解されたい。典型的なのは個々のチッ
プ11がテープ(銅やポリイミドなどの)上のパターン
化された金属に、たとえば、熱圧着ボンディングによっ
て結合され、この構造体が次いで可撓性の回路化された
テープ21に、たとえば、外部リード・ボンディングに
よって結合されるテープ自動ボンディング(TAB)で
ある。TABを使用したDCAの利点の1つは、テスト
、カプセル封入、及びバーンインなどの中間処理を、T
ABアセンブリを回路化された可撓性テープ21に接着
する前に行えることである。他のDCA及び薄膜チップ
接続法を、本発明の概念から逸脱することなく、利用す
ることができる。
【0042】本発明の装置及び構造は共通制御線及びデ
ータ線、ならびにディスクリート・デバイスが占める面
積が最小限な、高メモリ容量及び密度の超小形電子パッ
ケージをもたらす。付随的に、本発明のパッケージによ
って、両面の面実装テクノロジー(SMT)アセンブリ
が可能となる。開示した超小形電子パッケージは開示し
たメモリ容量及び入出力容量に適合した熱管理容量を備
えた高アドレス・バス容量及び高データ・バス容量を含
む、高入出力容量を有している。本発明をディジタルI
Cチップに関して説明したが、抵抗、コンデンサ、及び
インダクタなどのパッシブ構成部品が超小形電子パッケ
ージ1、ならびにアナログICチップに存在しているこ
とに留意されたい。
ータ線、ならびにディスクリート・デバイスが占める面
積が最小限な、高メモリ容量及び密度の超小形電子パッ
ケージをもたらす。付随的に、本発明のパッケージによ
って、両面の面実装テクノロジー(SMT)アセンブリ
が可能となる。開示した超小形電子パッケージは開示し
たメモリ容量及び入出力容量に適合した熱管理容量を備
えた高アドレス・バス容量及び高データ・バス容量を含
む、高入出力容量を有している。本発明をディジタルI
Cチップに関して説明したが、抵抗、コンデンサ、及び
インダクタなどのパッシブ構成部品が超小形電子パッケ
ージ1、ならびにアナログICチップに存在しているこ
とに留意されたい。
【0043】本明細書で説明したように、超小形電子回
路パッケージ1はメモリ・チップのための回路化された
可撓性テープ・キャリア21を含んでおり、メモリ・チ
ップ11が個別に接着され、組み立てられ、かつテスト
されており、これによって複数チップの手直しを回避で
きる。
路パッケージ1はメモリ・チップのための回路化された
可撓性テープ・キャリア21を含んでおり、メモリ・チ
ップ11が個別に接着され、組み立てられ、かつテスト
されており、これによって複数チップの手直しを回避で
きる。
【0044】
【発明の効果】本発明は高メモリ容量及び密度に適合し
た超小形電子パッケージを提供し、かつ付随的に、たと
えば両面の面実装テクノロジー(SMT)アセンブリの
使用を可能とすることができる。
た超小形電子パッケージを提供し、かつ付随的に、たと
えば両面の面実装テクノロジー(SMT)アセンブリの
使用を可能とすることができる。
【図1】外方へ延びている複数個の超小形電子パッケー
ジを有するプリント回路板の等角投影図である。
ジを有するプリント回路板の等角投影図である。
【図2】データ回路及びアドレス回路という2つの態様
の回路を有する可撓性ストリップ基板を含んでいる本発
明の超小形電子パッケージの図である。
の回路を有する可撓性ストリップ基板を含んでいる本発
明の超小形電子パッケージの図である。
【図3】ICチップが可撓性ストリップ基板に実装され
、第1及び第2リード線がこれから延びている、超小形
電子回路パッケージの領域の図である。
、第1及び第2リード線がこれから延びている、超小形
電子回路パッケージの領域の図である。
【図4】1枚の可撓性回路化テープがヒート・シンクに
巻き付けられた本発明の1実施例の図である。
巻き付けられた本発明の1実施例の図である。
【図5】ヒート・シンクの各側面に1枚の一対の可撓性
回路化基板を有する、本発明の他の実施例の図である。
回路化基板を有する、本発明の他の実施例の図である。
【図6】メモリICチップ、回路化された可撓性テープ
、及びヒート・シンクがプリント回路板に、たとえば気
相はんだ付けによってバッチはんだ付けできるモジュー
ル・ユニットである、本発明のさらに他の実施例の図で
ある。
、及びヒート・シンクがプリント回路板に、たとえば気
相はんだ付けによってバッチはんだ付けできるモジュー
ル・ユニットである、本発明のさらに他の実施例の図で
ある。
1 高密度超小形電子回路パッケージ11 ICメ
モリ・チップ 21 可撓性テープ基板 22a、22b 第1入出力接点パッド・アレイ24
、24a、24b 第2入出力接点パッド・アレイ3
1 プリント回路板 34 入出力パッド 41 ヒート・シンク
モリ・チップ 21 可撓性テープ基板 22a、22b 第1入出力接点パッド・アレイ24
、24a、24b 第2入出力接点パッド・アレイ3
1 プリント回路板 34 入出力パッド 41 ヒート・シンク
Claims (21)
- 【請求項1】(a)個々のICチップが入出力接点第1
面及び熱接点第2面を有している複数個のICチップと
、 (b)プリント回路板と、 (c)プリント回路板から外方へ延び、かつその上に第
1及び第2入出力パッドを有しており、ICチップが第
1入出力パッドに取り付けられ、第2入出力パッドがプ
リント回路板上の接点パッドのアレイと整合し、これに
接着されている回路化された可撓性テープと、(d)プ
リント回路板から外方へ延びているヒートシンク手段で
あって、ICチップがその入出力接点第1面によって回
路化された可撓性テープに接着され、かつそのICチッ
プ熱接点第2面によってヒート・シンク手段に接着され
る、ヒート・シンク手段とからなる、高密度超小形電子
回路パッケージ。 - 【請求項2】(a)ICチップがその伝熱第2面上のヒ
ート・シンク手段に接着され、少なくとも1個のICチ
ップがヒート・シンク手段の一方面に接着され、少なく
とも1個の他のICチップがヒート・シンク手段の他方
面に接着されており、前記ICチップが背中合わせの構
成となっており、 (b)前記ICチップ及びプリント回路板がヒート・シ
ンク手段及びICチップを包囲する単一の回路化された
可撓性テープを介して互いに電気的に接着されている、
請求項1記載の高密度超小形電子回路パッケージ。 - 【請求項3】(a)ICチップがその伝熱第2面上のヒ
ート・シンク手段に接着され、少なくとも1個のICチ
ップがヒート・シンク手段の一方面に接着され、少なく
とも1個の他のICチップがヒート・シンク手段の他方
面に接着されており、前記ICチップが背中合わせの構
成となっており、 (b)前記ICチップ及びプリント回路板が一対の回路
化された可撓性テープを介して互いに電気的に接着され
ており、該テープの一方がヒート・シンク手段の一方面
に接着されており、該テープの他方がヒート・シンク手
段の他方面に接着されている、請求項2記載の高密度超
小形電子回路パッケージ。 - 【請求項4】さらに、 (a)ICチップの入出力接点第1面の入出力端子アレ
イを受け入れることができ、かつこれに接着されている
、回路化された可撓性テープ一方面上の第1入出力接点
パッド・アレイと、 (b)バイアによって第1入出力接点パッド・アレイに
接続され、プリント回路板上の入出力パッドのアレイを
受け入れることができ、かつこれに接着されている、回
路化された可撓性テープの他方面上の第2入出力接点パ
ッド・アレイとを含んでいる、請求項1記載の高密度超
小形電子回路パッケージ。 - 【請求項5】パッケージがプリント回路板から外方へ延
びており、かつ (a)回路化された可撓性テープ上の第2入出力パッド
・アレイ、ならびにプリント回路板上の入出力パッドを
介して、プリント回路板に電気的に接続されており、(
b)ヒート・シンク手段に接着されたICチップの伝熱
面を介して、プリント回路板に熱的に接続されている、
請求項1記載の高密度超小形電子回路パッケージ。 - 【請求項6】回路化された可撓性テープ上の前記入出力
パッドがテープ自動ボンディングされている、請求項1
記載の超小形電子回路パッケージ。 - 【請求項7】前記集積回路チップの少なくとも1個と前
記ヒート・シンク手段の間の熱接着剤を含んでいる、請
求項1記載の超小形電子回路パッケージ。 - 【請求項8】前記熱接着剤がはんだからなっている、請
求項7記載の超小形電子回路パッケージ。 - 【請求項9】前記熱接着剤が熱グリースからなっている
、請求項7記載の超小形電子回路パッケージ。 - 【請求項10】回路化された可撓性テープがヒート・シ
ンク手段の下を延びており、ヒート・シンク手段が回路
化された可撓性テープを介してプリント回路板に接着さ
れている、請求項1記載の高密度超小形電子回路パッケ
ージ。 - 【請求項11】(a)複数個のICメモリ・チップと、
(b)プリント回路板と、 (c)回路化された可撓性テープとからなる、高密度超
小形電子回路パッケージにおいて、(d)回路化された
可撓性テープがプリント回路板から外方へ延びており、
かつその上の入出力パッドに複数個のICチップが取り
付けられており、該入出力パッドが少なくとも第1及び
第2のグループに配置されており、(1)入出力パッド
の第1グループが、第1コネクタの共通バスに接続され
ており、該共通バスが可撓性テープの縁部の入出力接点
パッド・アレイで終端しており、(2)入出力パッドの
第2グループが、入出力チップから入出力パッド・アレ
イに向かって外方へ延びている第2導線のグループに接
続されており、 (e)回路化された可撓性テープの入出力パッド・アレ
イがプリント回路板上の接点パッドのアレイと整合し、
かつこれに接着されている、高密度超小形電子回路パッ
ケージ。 - 【請求項12】さらに、 (a)プリント回路板から外方へ延びているヒート・シ
ンク手段と、 (b)各々が入出力接点第1面及び熱接点第2面を有し
ており、入出力接点第1面によって回路化された可撓性
テープに接着され、かつICチップ熱接点第2面によっ
てヒート・シンク手段に接着されているICチップとを
含んでいる、請求項11記載の高密度超小形電子回路パ
ッケージ。 - 【請求項13】さらに、 (a)ICチップの入出力接点第1面の入出力端子アレ
イを受け入れることができ、かつこれに接着されている
、回路化された可撓性テープの第1入出力接点パッド・
アレイの一方面上の第1入出力接点パッド・アレイと、 (b)第1入出力接点パッド・アレイにバイアによって
接続され、プリント回路板上の入出力パッドのアレイを
受け入れることができ、かつこれに接続されている、回
路化された可撓性テープの他方面上の第2入出力接点パ
ッド・アレイとを含んでいる、請求項12記載の高密度
超小形電子回路パッケージ。 - 【請求項14】パッケージがプリント回路板から外方へ
延びており、 (a)回路化された可撓性テープ上の第2入出力パッド
・アレイ及びプリント回路板上の入出力パッドを介して
プリント回路板に電気的に接続されており、(b)ヒー
ト・シンク手段に接着されたICチップの伝熱面を介し
てプリント回路板に熱的に接続されている、請求項13
記載の高密度超小形電子回路パッケージ。 - 【請求項15】(a)各ICチップが熱第2面上でヒー
ト・シンク手段に接着されており、少なくとも1個のI
Cチップがヒート・シンク手段の一方面に接着され、少
なくとも1個のICチップがヒート・シンク手段の他方
面に接着されており、該ICチップが背中合わせの構成
となっており、 (b)前記ICチップ及びプリント回路板がヒート・シ
ンク手段及びICチップを包囲している単一の回路化さ
れた可撓性テープを介して互いに電気的に接続されてい
る、請求項14記載の高密度超小形電子回路パッケージ
。 - 【請求項16】(a)各ICチップが熱第2面上でヒー
ト・シンク手段に接着されており、少なくとも1個のI
Cチップがヒート・シンク手段の一方面に接着され、少
なくとも1個のICチップがヒート・シンク手段の他方
面に接着されており、該ICチップが背中合わせの構成
となっており、 (b)前記ICチップが一対の回路化された可撓性テー
プを介して互いに電気的に接着されており、該テープの
一方がヒート・シンク手段の一方面に接着されており、
該テープの他方がヒート・シンク手段の他方面に接着さ
れている、請求項14記載の高密度超小形電子回路パッ
ケージ。 - 【請求項17】前記の回路化された可撓性テープの接点
パッド・アレイがテープ自動ボンディングされている、
請求項11記載の高密度超小形電子回路パッケージ。 - 【請求項18】前記集積回路チップの少なくとも1個と
前記ヒート・シンク手段の間の熱接着剤を含んでいる、
請求項12記載の超小形電子回路パッケージ。 - 【請求項19】前記熱接着剤がはんだからなっている、
請求項18記載の超小形電子回路パッケージ。 - 【請求項20】前記熱接着剤が熱グリースからなってい
る、請求項18記載の超小形電子回路パッケージ。 - 【請求項21】回路化された可撓性テープがヒート・シ
ンク手段の下を延びており、ヒート・シンク手段が回路
化された可撓性テープを介してプリント回路板に接着さ
れている、請求項11記載の高密度超小形電子回路パッ
ケージ。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| US58781790A | 1990-09-24 | 1990-09-24 | |
| US587817 | 1996-01-05 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH04234157A true JPH04234157A (ja) | 1992-08-21 |
| JPH0652769B2 JPH0652769B2 (ja) | 1994-07-06 |
Family
ID=24351329
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP3214222A Expired - Lifetime JPH0652769B2 (ja) | 1990-09-24 | 1991-08-01 | 高メモリ密度パッケージ |
Country Status (2)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0652769B2 (ja) |
| CA (1) | CA2045227A1 (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US7602613B2 (en) | 2004-09-03 | 2009-10-13 | Entorian Technologies, Lp | Thin module system and method |
| US7616452B2 (en) | 2004-09-03 | 2009-11-10 | Entorian Technologies, Lp | Flex circuit constructions for high capacity circuit module systems and methods |
| US7626259B2 (en) | 2004-09-03 | 2009-12-01 | Entorian Technologies, Lp | Heat sink for a high capacity thin module system |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP3798987B2 (ja) * | 2001-02-15 | 2006-07-19 | レオン自動機株式会社 | 食品生地延展装置 |
| NZ537272A (en) | 2002-06-10 | 2005-10-28 | Rheon Automatic Machinery Co | An apparatus and method for beating and rolling a food dough belt |
-
1991
- 1991-06-21 CA CA002045227A patent/CA2045227A1/en not_active Abandoned
- 1991-08-01 JP JP3214222A patent/JPH0652769B2/ja not_active Expired - Lifetime
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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| US7616452B2 (en) | 2004-09-03 | 2009-11-10 | Entorian Technologies, Lp | Flex circuit constructions for high capacity circuit module systems and methods |
| US7626259B2 (en) | 2004-09-03 | 2009-12-01 | Entorian Technologies, Lp | Heat sink for a high capacity thin module system |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0652769B2 (ja) | 1994-07-06 |
| CA2045227A1 (en) | 1992-03-10 |
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