JPH04238229A - 反射光測定装置 - Google Patents

反射光測定装置

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Publication number
JPH04238229A
JPH04238229A JP3005620A JP562091A JPH04238229A JP H04238229 A JPH04238229 A JP H04238229A JP 3005620 A JP3005620 A JP 3005620A JP 562091 A JP562091 A JP 562091A JP H04238229 A JPH04238229 A JP H04238229A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
light
reflected light
measured
objective lens
electric signal
Prior art date
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Pending
Application number
JP3005620A
Other languages
English (en)
Inventor
Tetsuya Hattori
哲也 服部
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Sumitomo Electric Industries Ltd
Original Assignee
Sumitomo Electric Industries Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Sumitomo Electric Industries Ltd filed Critical Sumitomo Electric Industries Ltd
Priority to JP3005620A priority Critical patent/JPH04238229A/ja
Publication of JPH04238229A publication Critical patent/JPH04238229A/ja
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  • Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
  • Photometry And Measurement Of Optical Pulse Characteristics (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明はエッチング表面等の段差
を有する物体表面の反射光強度と段差を連続的に測定で
きる反射光測定装置に関するものである。
【0002】
【従来の技術】従来の反射光測定装置として、例えば「
Optical  andQuantum  Elec
tronics  7(1975)109−113」中
に示された測定系がある。この装置は、被測定物にレー
ザー光線を放射して、その反射光をpinフォトダイオ
ードで受光することによって反射光の強度を測定するも
のである。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】ところで、従来の反射
光測定装置では、被測定物の測定面への入射光の焦点合
わせは手動で行っていた。このため、段差を有した物体
の反射光強度の測定は、測定地点ごとに焦点合わせを行
なわなければならなかった。
【0004】本発明の課題は、段差を有した物体であっ
ても、焦点合わせをすることなく連続して、段差面の反
射光の強度測定ができる反射光測定装置を提供すること
にある。
【0005】
【課題を解決するための手段】上記課題を解決するため
に本発明の反射光測定装置には、被測定物を載置する載
置面方向に移動可能なステージと、一定の周期で点滅す
る光源と、光源からの光を集光して被測定物に照射する
光学手段と、光学手段の光出射面とステージとの距離が
周期的に変化するように光学手段またはステージを光源
の点滅周期に同期した周期で振動させる駆動手段と、被
測定物からの反射光を電気信号に変換する光電変換手段
と、光源の点灯時における電気信号の最大値およびその
位相角を検出する検出手段とが備えられている。
【0006】
【作用】本発明の反射光測定装置によれば、光源から放
射された一定周期の断続光は、光学手段に入射する。光
学手段は入射光を集光して、ステージ上に載置された被
測定物に照射する。光学手段またはステージは、駆動手
段によって断続光の点滅周期に同期して振動する。この
振動によって、光学手段と被測定物の間隔が周期的に変
化するために、入射光が照射される被測定物上の面積も
周期的に変化する。照射光強度は入射光の照射面積に反
比例するので、照射光強度も振動周期に合わせて変化す
る。そして、この照射光が被測定物で反射して、光電変
換手段に入射される。光電変換手段ではこの入射光が電
気信号に変換されて、検出手段に与えられる。また、光
学手段またはステージの振動周期に同期した振動周期信
号も検出手段に与えられる。検出手段ではこれらの信号
より、光源の点灯時における電気信号の最大値、および
その位相角が検出される。
【0007】
【実施例】以下、添付図面の図1〜図2を用いて、本発
明の一実施例である反射光測定装置について説明する。
【0008】図1は本実施例である反射光測定装置の構
成図である。この反射光測定装置は、平行な断続光を出
射する光源10と、入射光束の一部を反射し、一部を透
過させるハーフミラー20と、光学式の対物レンズ30
と、被測定物40が載置されたステージ50と、被測定
物40からの反射光を電気信号に変換する光電変換手段
60と、対物レンズ30を上下に振動させるためのソレ
ノイド電磁石を用いた駆動手段であるアクチュエータ7
0と、アクチュエータ70に駆動電力を与える電源装置
80と、光源10に駆動電力を与える電源装置81と、
電源装置80および電源装置81を外部変調するファン
クションジュネレータ90と、光電変換手段60からの
電気信号およびファンクションジュネレータ90からの
振動周期信号が与えられるロックインアンプ91とから
構成されている。また、光源10には、光を放射する発
光部11と、発光部11からの連続光を断続光に変える
シャッター12と、通過する光を平行光線束に変えるコ
リメータ13が備えられている。さらに、光電変換手段
60には、反射光を集光する集光レンズ61と、反射光
を受光して電流信号に変換する受光器62と、受光器6
2から出力された電流信号を電圧信号に変換するプリア
ンプ63が備えられている。
【0009】次に、本実施例の動作について説明する。 図2は本実施例の原理を表す動作図である。図2(a)
、(b)に示すように対物レンズ30はアクチュレータ
70によって周期的に振動する。被測定物40の測定面
には段差があり、測定面Aでは対物レンズ30の高さが
aの位置で入射光の焦点が合う。また、測定面Bでは対
物レンズ30の高さがbの位置で入射光の焦点が合う。 一方、図2(c)に示すように、シャッター12によっ
て発光部11からの連続光は対物レンズ30の振動周期
に同期した断続光となる。つまり、対物レンズが最高位
から最低位へ降下するときには発光部11からの光はそ
のまま放射されるが、最低位から最高位へ上昇するとき
には発光部11からの光はシャッター12によって遮断
され、断続光になるのである。このように、発光部11
から放射した断続光は、コリメータ13によって平行光
線になった後にハーフミラー20で反射する。そして、
この平行光線は対物レンズ30で集光光線となり被測定
物40に照射される。被測定物40からの反射光は対物
レンズ30で平行光線となり、ハーフミラー20を透過
して、集光レンズ61で受光器62に集光される。受光
器62に集光された反射光の強度の時間変化を図2(d
)に示す。ここでは、図2(b)に示す対物レンズ30
の振動周期に合わせて、ステージ50をステッピングモ
ータで水平方向に移動させることによって、図2(e)
、(f)、(g)、(h)の順に連続的に反射光強度を
測定している。実際には、各測定点ごとにレンズ30を
複数回数振動させて反射光強度を測定する。これにより
、各測定点での測定精度を高めている。図2では、簡単
のため、測定点ごとに一回ずつレンズ30が振動するも
のとして説明している。この反射光強度の測定より、測
定面Aでは、高さがaの位置で反射光強度が最強となる
ことがわかる(図2(e)、(f)参照)。また、測定
面Bでは、高さがbの位置で反射光強度が最強となるこ
とがわかる(図2(g)、(h)参照)。受光器62で
光電変換された反射光強度の電流信号はプリアンプ63
で電圧信号に変換され、ロックインアンプ91に与えら
れる。また、対物レンズ30の振動周期信号もファンク
ションジュネレータ90からロックインアンプ91に与
えられる。この振動周期信号は光源10の点滅周期に同
期しているので、振動周期信号から光源10の点灯期間
と消灯期間がわかる。ロックインアンプ91では、この
光源10の点灯期間の電圧信号の最大値と、消灯期間の
電圧信号の値を検出する。消灯期間の電圧信号の値は外
部からの光によるものを含むので、点灯期間の電圧信号
の最大値からこの消灯期間の電圧信号の値を引くことに
よって、ノイズを除去することができる。したがって、
ロックインアンプ91からは、ノイズを取り除いた電圧
信号が強度信号として出力される。また、反射光強度が
最大値となったときの位相角が、位相角信号として出力
される。
【0010】このように出力された強度信号と位相角信
号によって、次のことがわかる。まず、強度信号からは
その測定面での反射光強度の最大値がわかる。また、位
相角信号からは、測定面の相対的な高さがわかる。さら
に、測定面の段差の正確な値も対物レンズの振幅を測定
することによって導き出すことができる。その具体例を
以下に示す。
【0011】測定面AとBでの位相角がψA 、ψB 
(deg)である場合には、測定面Aと測定面Bの段差
は近似的に次式の関係がある。
【0012】 |ψA −ψB |:180=段差:対物レンズ振幅し
たがって、対物レンズの振幅をこの式に代入することに
よって、測定面Aと測定面Bの段差を導き出すことがで
きる。
【0013】なお、強度信号の測定に重点を置く場合に
は比較的高い周波数を用い、段差測定に重点を置く場合
には比較的低い周波数を用いることが望ましい。
【0014】また、本実施例では、対物レンズ30の上
昇時にシャッター12を用いて光を遮断しているが、対
物レンズ30の下降時に光を遮断しても同様の効果が得
られる。
【0015】さらに、本実施例では、対物レンズ30を
上下振動させて、対物レンズ30と被測定物40との間
隔を変動させているが、ステージ50に上下振動する可
動ステージを用いて、間隔を変動させても良い。
【0016】
【発明の効果】本発明の反射光測定装置であれば、光学
手段またはステージが周期的に振動することによって、
照射光の強度が周期的に変化する。照射光は被測定物で
反射し、その反射光が光電変換手段に入射されて電気信
号となる。この電気信号は、光学手段と被測定物との間
隔が光学手段の焦点距離と同じ長さのときに最大となる
。電気信号の最大値を検出手段で検出することによって
、焦点が合った位置での反射光強度を測定することがで
きる。また、各測定面ごとに電気信号が最大値となった
ときの位相角を調べることによって、各測定面での段差
がわかる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の実施例に係る反射光測定装置の構成図
である。
【図2】本発明の実施例の原理を表す動作図である。
【符号の説明】
10…光源 11…発光部 12…シャッター 13…コリメータ 20…ハーフミラー 30…対物レンズ 40…被測定物 50…ステージ 60…光電変換手段 61…集光レンズ 62…受光器 63…プリアンプ 70…アクチュエータ 80…電源装置 81…電源装置 90…ファンクションジュネレータ 91…ロックインアンプ

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】  被測定物を載置する載置面方向に移動
    可能なステージと、一定の周期で点滅する光源と、前記
    光源からの光を集光して被測定物に照射する光学手段と
    、前記光学手段の光出射面と前記ステージとの距離が周
    期的に変化するように前記光学手段または前記ステージ
    を前記光源の点滅周期に同期した周期で振動させる駆動
    手段と、被測定物からの反射光を電気信号に変換する光
    電変換手段と、前記光源の点灯時における前記電気信号
    の最大値およびその位相角を検出する検出手段とを備え
    ることを特徴とする反射光測定装置。
JP3005620A 1991-01-22 1991-01-22 反射光測定装置 Pending JPH04238229A (ja)

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JP3005620A JPH04238229A (ja) 1991-01-22 1991-01-22 反射光測定装置

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JP3005620A JPH04238229A (ja) 1991-01-22 1991-01-22 反射光測定装置

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JPH04238229A true JPH04238229A (ja) 1992-08-26

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ID=11616221

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JP3005620A Pending JPH04238229A (ja) 1991-01-22 1991-01-22 反射光測定装置

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