JPS6016877B2 - レ−ザ溶接管理方法 - Google Patents
レ−ザ溶接管理方法Info
- Publication number
- JPS6016877B2 JPS6016877B2 JP53154650A JP15465078A JPS6016877B2 JP S6016877 B2 JPS6016877 B2 JP S6016877B2 JP 53154650 A JP53154650 A JP 53154650A JP 15465078 A JP15465078 A JP 15465078A JP S6016877 B2 JPS6016877 B2 JP S6016877B2
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- laser
- energy
- peak value
- welding
- value
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
Links
Classifications
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B23—MACHINE TOOLS; METAL-WORKING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- B23K—SOLDERING OR UNSOLDERING; WELDING; CLADDING OR PLATING BY SOLDERING OR WELDING; CUTTING BY APPLYING HEAT LOCALLY, e.g. FLAME CUTTING; WORKING BY LASER BEAM
- B23K26/00—Working by laser beam, e.g. welding, cutting or boring
- B23K26/70—Auxiliary operations or equipment
- B23K26/702—Auxiliary equipment
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Plasma & Fusion (AREA)
- Mechanical Engineering (AREA)
- Laser Beam Processing (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
この発明はしーザ溶接に係り、特にレーザ溶接した部品
の良否を間接的に判定して品質管理を行なう方法に関す
る。
の良否を間接的に判定して品質管理を行なう方法に関す
る。
レーザを用いて被加工物を溶接する場合、発振されたレ
ーザ光のパルス幅、またレンズで集光したときの集光径
、さらに投入するェネルギにより適正な溶接条件が求ま
る。
ーザ光のパルス幅、またレンズで集光したときの集光径
、さらに投入するェネルギにより適正な溶接条件が求ま
る。
この場合、パルス幅と集光径を一定にすれば、ェネルギ
を変化させることにより適正な溶接条件が得られる。い
わばェネルギの制御により、レーザ熔接の品質管理を行
なうことができる。具体的には適正なェネルギの範囲を
予め設定しておくことにより実際に投入されたェネルギ
をモニタし、この値と予め設定されたェネルギとを比較
して溶接の良否を判定する。ところで、ＹＡＧレーザや
ガラスレーザ等はしーザ発振用としてキセノンやクリプ
トンのランプを所用しているが、ＹＡＧレーザでこれら
のランプ（ここではランプａ，ランプｂという）の発振
波形を観察したところ同一ェネルギでは第１図に示す様
にランプａの方がピーク値が高いことがわかる。また、
これらのランプａ，ｂを用いて同一エネルギでモリブデ
ン板にレーザを照射したところ溶け込み深さに差が生じ
、第２図に示す様にランプａの方がランプｂより大きい
値を示している。第１図及び第２図において、実線で示
す曲線はランプａ、破線で示す曲線はランプｂの特性で
ある。これによりわかる様に上記した様なェネルギの管
理だけでは、溶け込み深さを制御することは困難であり
、ェネルギの管理とともに波形のピーク値も考慮する必
要があった。この発明は上記の点に鑑みてなされたもの
で、タ熔接に使用されるレーザ光の一部を検出して電気
信号に変換し、この電気信号からェネルギ値とピーク値
を示す出力を得て、これらの各出力を予め設定したェネ
ルギ値及びピーク値と比較し、その比較結果によりレー
ザ溶接の良否を判定する様に０し、適確な品質の管理を
行ない得るレーザ溶接の管理方法を提供することを目的
とする。
を変化させることにより適正な溶接条件が得られる。い
わばェネルギの制御により、レーザ熔接の品質管理を行
なうことができる。具体的には適正なェネルギの範囲を
予め設定しておくことにより実際に投入されたェネルギ
をモニタし、この値と予め設定されたェネルギとを比較
して溶接の良否を判定する。ところで、ＹＡＧレーザや
ガラスレーザ等はしーザ発振用としてキセノンやクリプ
トンのランプを所用しているが、ＹＡＧレーザでこれら
のランプ（ここではランプａ，ランプｂという）の発振
波形を観察したところ同一ェネルギでは第１図に示す様
にランプａの方がピーク値が高いことがわかる。また、
これらのランプａ，ｂを用いて同一エネルギでモリブデ
ン板にレーザを照射したところ溶け込み深さに差が生じ
、第２図に示す様にランプａの方がランプｂより大きい
値を示している。第１図及び第２図において、実線で示
す曲線はランプａ、破線で示す曲線はランプｂの特性で
ある。これによりわかる様に上記した様なェネルギの管
理だけでは、溶け込み深さを制御することは困難であり
、ェネルギの管理とともに波形のピーク値も考慮する必
要があった。この発明は上記の点に鑑みてなされたもの
で、タ熔接に使用されるレーザ光の一部を検出して電気
信号に変換し、この電気信号からェネルギ値とピーク値
を示す出力を得て、これらの各出力を予め設定したェネ
ルギ値及びピーク値と比較し、その比較結果によりレー
ザ溶接の良否を判定する様に０し、適確な品質の管理を
行ない得るレーザ溶接の管理方法を提供することを目的
とする。
以下この発明の一実施例を図面を参照して説明する。
第３図において、１１はしーザ発振器、１２はこのレー
ザ発振器１１から発せられるレーザタ光、１３はダィク
ロィックミラー、１４は集光レンズ、１５は被加工物、
１６は被加工物１５を載せて保持する加工台、１７はし
ーザ検出器、１８はェネルギ値比較器、１９はしーザ波
形のピーク値比較器である。上記しーザ発振器１１から
発せられるレーザ光１２は大半がダィクロィツクミラー
１３で反射されたのち集光レンズ１４により被加工物１
５上に築光される。
ザ発振器１１から発せられるレーザタ光、１３はダィク
ロィックミラー、１４は集光レンズ、１５は被加工物、
１６は被加工物１５を載せて保持する加工台、１７はし
ーザ検出器、１８はェネルギ値比較器、１９はしーザ波
形のピーク値比較器である。上記しーザ発振器１１から
発せられるレーザ光１２は大半がダィクロィツクミラー
１３で反射されたのち集光レンズ１４により被加工物１
５上に築光される。
またダイクロイツクミラー１３で反射された以外のレー
ザ光１２はダィクロィックミラー１３を透過した図示破
線で示す様に直進し、レーザ検出器１７に入る。このレ
ーザ検出器１７は入射されたレーザ光を図示しない光亀
変換素子により亀気信号に変換したのち、この電気信号
を積分回路等を用いてェネルギ値に変換するとともにピ
ーク値検出回路を用いてピーク値に変換して出力するも
ので、上記ェネルギ値はェネルギ値比較器１８の一方の
入力端子に入力され、ピーク値はピーク値比較器１９の
一方の入力端子に入力される。上記ェネルギ値比較器１
８の他方の入力端子には、予め設定された所定範囲のェ
ネルギ値が入力されており、またピーク値比較器１９の
他方の入力端子には、予め設定された所定範囲のビーク
値が入力されている。この様な構成であれば現在溶接を
行なっているレーザ光１２の一部をレーザ検出器１７で
検出し、そのェネルギ値とピーク値とを得て、ェネルギ
値比較器１８及びピーク値比較器１９で予め設定された
所定範囲のェネルギ値及び所定範囲のピーク値と上記検
出されたそのときのェネルギ値及びピーク値とそれぞれ
比較し、その比ｍ鮫結果により溶接の管理が行なえる。
ザ光１２はダィクロィックミラー１３を透過した図示破
線で示す様に直進し、レーザ検出器１７に入る。このレ
ーザ検出器１７は入射されたレーザ光を図示しない光亀
変換素子により亀気信号に変換したのち、この電気信号
を積分回路等を用いてェネルギ値に変換するとともにピ
ーク値検出回路を用いてピーク値に変換して出力するも
ので、上記ェネルギ値はェネルギ値比較器１８の一方の
入力端子に入力され、ピーク値はピーク値比較器１９の
一方の入力端子に入力される。上記ェネルギ値比較器１
８の他方の入力端子には、予め設定された所定範囲のェ
ネルギ値が入力されており、またピーク値比較器１９の
他方の入力端子には、予め設定された所定範囲のビーク
値が入力されている。この様な構成であれば現在溶接を
行なっているレーザ光１２の一部をレーザ検出器１７で
検出し、そのェネルギ値とピーク値とを得て、ェネルギ
値比較器１８及びピーク値比較器１９で予め設定された
所定範囲のェネルギ値及び所定範囲のピーク値と上記検
出されたそのときのェネルギ値及びピーク値とそれぞれ
比較し、その比ｍ鮫結果により溶接の管理が行なえる。
すなわち、しーザ検出器１７から出力されるェネルギ値
が設定されたェネルギ値の範囲内にあれば現在溶接を行
なっているレーザ光１２のェネルギ値は適正であること
が分り、また、レーザ検出器１７から出力されるピーク
値が設定されたピーク値の範囲内にあれば、現在溶接を
行なっているレーザ光１２のピーク値は適正であること
がわかる。従って、ェネルギ値及びピーク値が共に設定
範囲内であるときは、レーザ光１２はその溶接を行なう
に際して適正なェネルギ値とピーク値を有しているとい
える。この様にレーザ光のェネルギとピ−ク値を検出す
ることによりレーザ溶接の正確な品質管理が行なえる。
この様に本発明ではしーザ溶接における品質管理をェネ
ルギとピーク値を検出して行なっているので、第１図及
び第２図に示した様なランプの逢いによる加工特性の差
があっても的確な品質管理が行なえるものである。以上
説明した様にこの発明によれば、溶接に使用されるレー
ザ光の一部を検出して電気信号に変換してこの電気信号
から上記しーザ光のェネルギ値及びピーク値を示す出力
を得て、これらの出力を予め設定されたェネルギ値及び
ピーク値と比較し、その比忙鮫結果によりレーザ溶接の
良否を判定する様にしたので、非常に正確な溶接の管理
が行なえ溶接加工の高品質化が計れ極めて有用性のある
レーザ溶接管理方法を提供できる。
が設定されたェネルギ値の範囲内にあれば現在溶接を行
なっているレーザ光１２のェネルギ値は適正であること
が分り、また、レーザ検出器１７から出力されるピーク
値が設定されたピーク値の範囲内にあれば、現在溶接を
行なっているレーザ光１２のピーク値は適正であること
がわかる。従って、ェネルギ値及びピーク値が共に設定
範囲内であるときは、レーザ光１２はその溶接を行なう
に際して適正なェネルギ値とピーク値を有しているとい
える。この様にレーザ光のェネルギとピ−ク値を検出す
ることによりレーザ溶接の正確な品質管理が行なえる。
この様に本発明ではしーザ溶接における品質管理をェネ
ルギとピーク値を検出して行なっているので、第１図及
び第２図に示した様なランプの逢いによる加工特性の差
があっても的確な品質管理が行なえるものである。以上
説明した様にこの発明によれば、溶接に使用されるレー
ザ光の一部を検出して電気信号に変換してこの電気信号
から上記しーザ光のェネルギ値及びピーク値を示す出力
を得て、これらの出力を予め設定されたェネルギ値及び
ピーク値と比較し、その比忙鮫結果によりレーザ溶接の
良否を判定する様にしたので、非常に正確な溶接の管理
が行なえ溶接加工の高品質化が計れ極めて有用性のある
レーザ溶接管理方法を提供できる。
図面の筋単な説明
第１図は一般的なしーザ発振用の２種類のランプによる
レーザ発振波形を示す図、第２図は上記２種類のランプ
による加工特性を示す図、第３図はこの発明の一実施例
を示す構成図である。
レーザ発振波形を示す図、第２図は上記２種類のランプ
による加工特性を示す図、第３図はこの発明の一実施例
を示す構成図である。
１１・・・レーザ発振器、１２・・・レーザ光、１３…
ダイクロイツクミラー、１４・・・築光レンズ、１５・
・・被加工材、１７…レーザ検出器、１８・・・ェネル
ギ値風比位鮫器、１９・・・ピーク値皿比に鮫器。
ダイクロイツクミラー、１４・・・築光レンズ、１５・
・・被加工材、１７…レーザ検出器、１８・・・ェネル
ギ値風比位鮫器、１９・・・ピーク値皿比に鮫器。
第１図第２図
第３図
Claims (1)
- １ 溶接に使用されるレーザ光の一部を検出して電気信
号に変換し、この電気信号から前記レーザ光のエネルギ
ー値およびピーク値を得るとともに、前記エネルギー値
と予め設定されたエネルギー値とを比較し、また前記ピ
ーク値と予め説定されたピーク値とを比較し、これらの
比較結果に基づいてレーザ溶接の良否を判定することを
特徴とするレーザ溶接管理方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP53154650A JPS6016877B2 (ja) | 1978-12-15 | 1978-12-15 | レ−ザ溶接管理方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP53154650A JPS6016877B2 (ja) | 1978-12-15 | 1978-12-15 | レ−ザ溶接管理方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5581096A JPS5581096A (en) | 1980-06-18 |
| JPS6016877B2 true JPS6016877B2 (ja) | 1985-04-27 |
Family
ID=15588860
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP53154650A Expired JPS6016877B2 (ja) | 1978-12-15 | 1978-12-15 | レ−ザ溶接管理方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6016877B2 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US7728254B2 (en) * | 2004-01-13 | 2010-06-01 | Crf Societa Consortile Per Azioni | Method for controlling the quality of industrial processes, in particular laser-welding processes |
Families Citing this family (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| FR2667528B1 (fr) * | 1990-10-08 | 1995-02-17 | Framatome Sa | Procede et appareil de travail au laser, notamment dans un tube. |
| FR2667526B1 (fr) * | 1990-10-08 | 1995-11-24 | Fbfc | Equipement et installation de soudage au laser de crayons combustibles ou analogues. |
| US6670574B1 (en) * | 2002-07-31 | 2003-12-30 | Unitek Miyachi Corporation | Laser weld monitor |
| JP4892216B2 (ja) * | 2005-09-29 | 2012-03-07 | 清之 竹中 | 画鋲 |
-
1978
- 1978-12-15 JP JP53154650A patent/JPS6016877B2/ja not_active Expired
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US7728254B2 (en) * | 2004-01-13 | 2010-06-01 | Crf Societa Consortile Per Azioni | Method for controlling the quality of industrial processes, in particular laser-welding processes |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS5581096A (en) | 1980-06-18 |
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