JPH04238411A - エッジ検出回路 - Google Patents
エッジ検出回路Info
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- JPH04238411A JPH04238411A JP3006315A JP631591A JPH04238411A JP H04238411 A JPH04238411 A JP H04238411A JP 3006315 A JP3006315 A JP 3006315A JP 631591 A JP631591 A JP 631591A JP H04238411 A JPH04238411 A JP H04238411A
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- JP
- Japan
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- low
- output
- input
- signal
- flip
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- Pending
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- 238000003708 edge detection Methods 0.000 title claims abstract description 13
- 238000001514 detection method Methods 0.000 abstract description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 13
- 230000003071 parasitic effect Effects 0.000 description 3
- 239000002131 composite material Substances 0.000 description 2
- 230000000630 rising effect Effects 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
Landscapes
- Manipulation Of Pulses (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】MOS集積回路において、特に信
号の論理レベルのローからハイ、ハイからローへの信号
の変化を検出するエッジ検出回路に関する。
号の論理レベルのローからハイ、ハイからローへの信号
の変化を検出するエッジ検出回路に関する。
【0002】
【従来の技術】従来のエッジ検出回路について図を用い
て説明する。図5は従来技術の第1の構成例、図6はそ
の動作を説明するためのタイミング図である。図7は従
来技術の第2の構成例、図8はその動作を説明するため
のタイミング図である。
て説明する。図5は従来技術の第1の構成例、図6はそ
の動作を説明するためのタイミング図である。図7は従
来技術の第2の構成例、図8はその動作を説明するため
のタイミング図である。
【0003】図5の構成例において、12,13,14
はインバータ、15,16,17はNANDゲートであ
る。入力信号INは、NANDゲート15に入力される
と同時に、インバータ12,13,14を介してNAN
Dゲート15に入力される。NANDゲート15の出力
は、NANDゲート16に入力される。NANDゲート
16の出力をNANDゲート17の片側に入力し、NA
NDゲート17の出力をNANDゲート16のもう一方
に入力し、NANDゲート16,17によりフリップフ
ロップを構成する。NANDゲート17のもう一方の入
力は信号INITである。
はインバータ、15,16,17はNANDゲートであ
る。入力信号INは、NANDゲート15に入力される
と同時に、インバータ12,13,14を介してNAN
Dゲート15に入力される。NANDゲート15の出力
は、NANDゲート16に入力される。NANDゲート
16の出力をNANDゲート17の片側に入力し、NA
NDゲート17の出力をNANDゲート16のもう一方
に入力し、NANDゲート16,17によりフリップフ
ロップを構成する。NANDゲート17のもう一方の入
力は信号INITである。
【0004】この構成において、その動作を図6のタイ
ミング図を用いて説明する。信号INがローよりハイに
変化すると、インバータ14の出力はインバータ12,
1314の信号伝搬分だけ遅れてハイよりローへと変化
する。従ってNANDゲート15の出力はこのインバー
タ12,13,14を信号が伝搬するときの遅延時間だ
けのローとなるパルスを発生する。このパルスによりN
ANDゲート16,17により構成されるフリップフロ
ップは、NANDゲート16の出力側をローよりハイに
変化して安定する。この後、入力信号INがハイよりロ
ーに変化してもこの状態を保つ。従って、NANDゲー
ト16の出力信号OUTはローよりハイへ変化して入力
INのローよりハイへの信号変化検出することができる
。入力INITBは、入力INのローよりハイへの信号
変化検出の後ハイよりローに変化させてもう一度ハイに
することで、NANDゲート16,17によりなるフリ
ップフロップを初期化し、NANDゲート16の出力を
ローにして次の入力INのローよりハイへの信号変化を
待つことになる。
ミング図を用いて説明する。信号INがローよりハイに
変化すると、インバータ14の出力はインバータ12,
1314の信号伝搬分だけ遅れてハイよりローへと変化
する。従ってNANDゲート15の出力はこのインバー
タ12,13,14を信号が伝搬するときの遅延時間だ
けのローとなるパルスを発生する。このパルスによりN
ANDゲート16,17により構成されるフリップフロ
ップは、NANDゲート16の出力側をローよりハイに
変化して安定する。この後、入力信号INがハイよりロ
ーに変化してもこの状態を保つ。従って、NANDゲー
ト16の出力信号OUTはローよりハイへ変化して入力
INのローよりハイへの信号変化検出することができる
。入力INITBは、入力INのローよりハイへの信号
変化検出の後ハイよりローに変化させてもう一度ハイに
することで、NANDゲート16,17によりなるフリ
ップフロップを初期化し、NANDゲート16の出力を
ローにして次の入力INのローよりハイへの信号変化を
待つことになる。
【0005】一方、図7の構成図において18はインバ
ータ、19,20は複合ゲート(以下ORNANDゲー
トと記す)、21,22は複合ゲート(以下ANDNO
Rゲートと記す)である。入力INは、ORNAND1
9,20のOR側のANDNOR21,22のAND側
に入力される。また、ORNAND19のOR側には、
VDDが入力される。また、ORNAND19のAND
側には、インバータ18の出力とORNAND20の出
力が入力される。ORNAND20において、OR側に
は、GNDと入力INITが入力され、NAND側には
、ORNAND19の出力が入力される。また、AND
NOR21においては、AND側入力としてORNAN
D19の出力が入力され、NOR側には、入力INIT
とANDNOR22の出力が入力される。ANDNOR
22のAND側には、ORNAND20の出力が入力さ
れ、NOR側にはANDNOR21の出力が入力される
。ORNAND21の出力OUTが入力INのローから
ハイへの信号変化の検出信号である。
ータ、19,20は複合ゲート(以下ORNANDゲー
トと記す)、21,22は複合ゲート(以下ANDNO
Rゲートと記す)である。入力INは、ORNAND1
9,20のOR側のANDNOR21,22のAND側
に入力される。また、ORNAND19のOR側には、
VDDが入力される。また、ORNAND19のAND
側には、インバータ18の出力とORNAND20の出
力が入力される。ORNAND20において、OR側に
は、GNDと入力INITが入力され、NAND側には
、ORNAND19の出力が入力される。また、AND
NOR21においては、AND側入力としてORNAN
D19の出力が入力され、NOR側には、入力INIT
とANDNOR22の出力が入力される。ANDNOR
22のAND側には、ORNAND20の出力が入力さ
れ、NOR側にはANDNOR21の出力が入力される
。ORNAND21の出力OUTが入力INのローから
ハイへの信号変化の検出信号である。
【0006】この構成において、図8のタイミング図を
用いてその動作を説明する。入力INのローの状態にお
いてORNAND19は出力ローであり、ORNAND
20はハイである。この時初期化信号INITによりA
NDNOR21はロー、ANDNOR22はハイの状態
にある。入力信号INのローよりハイへの変化によりO
RNAND19は出力をローで、ORNAND20は出
力をハイの状態を保持する。ANDNOR21は出力を
ローよりハイに変化させる。この後入力信号INがロー
よりハイに変化してもANDNOR21の出力はハイを
保持するため、入力信号INのローよりハイへの変化エ
ッジを検出する。入力信号INのエッジ検出の後、次に
エッジを受け付けられるようにするために初期化信号I
NITをローよりハイに変化させてその後ローに戻す。 この時入力信号INの状態にはローの時とハイの時があ
る。このうち入力信号INがローの時には、ANDNO
R21及びANDNOR21は初期化信号により出力を
ハイよりローに変化し初期化信号がローに戻ってもAN
DNOR21の出力はローの状態を保持する。また、O
RNAND19は初期化信号がハイの期間だけ出力をハ
イにするがローに戻ると出力をローに戻す。ORNAN
D20は初期化信号がハイの期間だけ出力をローにし初
期化信号INITがローに戻ると出力をハイにする。入
力信号INがハイの時には、ORNAND19は初期化
信号INITにより出力をローよりハイに変化させOR
NAND20の出力をハイよりローに変化させる。この
後初期化信号INITがローに戻っても出力はこの状態
を保持する。ANDNOR21及びANDNOR22は
ORNAND19及びORNAND20の出力に従いA
NDNOR21は出力をハイよりローに戻す。この後入
力信号INがローに戻ってもANDNOR21の出力は
ローの状態を保持する。
用いてその動作を説明する。入力INのローの状態にお
いてORNAND19は出力ローであり、ORNAND
20はハイである。この時初期化信号INITによりA
NDNOR21はロー、ANDNOR22はハイの状態
にある。入力信号INのローよりハイへの変化によりO
RNAND19は出力をローで、ORNAND20は出
力をハイの状態を保持する。ANDNOR21は出力を
ローよりハイに変化させる。この後入力信号INがロー
よりハイに変化してもANDNOR21の出力はハイを
保持するため、入力信号INのローよりハイへの変化エ
ッジを検出する。入力信号INのエッジ検出の後、次に
エッジを受け付けられるようにするために初期化信号I
NITをローよりハイに変化させてその後ローに戻す。 この時入力信号INの状態にはローの時とハイの時があ
る。このうち入力信号INがローの時には、ANDNO
R21及びANDNOR21は初期化信号により出力を
ハイよりローに変化し初期化信号がローに戻ってもAN
DNOR21の出力はローの状態を保持する。また、O
RNAND19は初期化信号がハイの期間だけ出力をハ
イにするがローに戻ると出力をローに戻す。ORNAN
D20は初期化信号がハイの期間だけ出力をローにし初
期化信号INITがローに戻ると出力をハイにする。入
力信号INがハイの時には、ORNAND19は初期化
信号INITにより出力をローよりハイに変化させOR
NAND20の出力をハイよりローに変化させる。この
後初期化信号INITがローに戻っても出力はこの状態
を保持する。ANDNOR21及びANDNOR22は
ORNAND19及びORNAND20の出力に従いA
NDNOR21は出力をハイよりローに戻す。この後入
力信号INがローに戻ってもANDNOR21の出力は
ローの状態を保持する。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】上述した従来技術にお
いては、図5,6の従来例においてはインバータ12,
13,14の信号伝搬の遅延時間を利用して16,17
のNANDゲートにより構成されるフリップフロップを
セットするためのパルスを作る。すなわち、信号INの
変化に対してインバータ14の出力が遅れて変化するこ
とが必要であり、さらにこの遅延時間に相当する幅のパ
ルスによってNANDゲート16,17で構成されるフ
リップフロップをセットするため、このフリップフロッ
プをセットできるだけのパルス幅を持つようインバータ
12,13,14の遅延時間を設計することが必要であ
る。さらに集積回路においてはトランジスタ同士を接続
するための配線には寄生容量や配線抵抗が付くため、こ
うした寄生容量や配線抵抗によっても入力信号INの信
号変化に対するインバータ14の出力変化の遅延時間が
変わる。こうした寄生容量や配線抵抗はレイアウトが終
わらなければ分らないため、レイアウトが終わるまで回
路が正常に動作するかどうか分からないという欠点があ
る。
いては、図5,6の従来例においてはインバータ12,
13,14の信号伝搬の遅延時間を利用して16,17
のNANDゲートにより構成されるフリップフロップを
セットするためのパルスを作る。すなわち、信号INの
変化に対してインバータ14の出力が遅れて変化するこ
とが必要であり、さらにこの遅延時間に相当する幅のパ
ルスによってNANDゲート16,17で構成されるフ
リップフロップをセットするため、このフリップフロッ
プをセットできるだけのパルス幅を持つようインバータ
12,13,14の遅延時間を設計することが必要であ
る。さらに集積回路においてはトランジスタ同士を接続
するための配線には寄生容量や配線抵抗が付くため、こ
うした寄生容量や配線抵抗によっても入力信号INの信
号変化に対するインバータ14の出力変化の遅延時間が
変わる。こうした寄生容量や配線抵抗はレイアウトが終
わらなければ分らないため、レイアウトが終わるまで回
路が正常に動作するかどうか分からないという欠点があ
る。
【0008】また、論理回路においてはゲート回路への
入力数が増加するに従い構成するトランジスタの数が増
加するが、図7の構成においてはCMOS回路で構成し
た場合32個のトランジスタが必要となり、この種の回
路を数多く集積する場合トランジスタ数が多くなるとい
う欠点がある。
入力数が増加するに従い構成するトランジスタの数が増
加するが、図7の構成においてはCMOS回路で構成し
た場合32個のトランジスタが必要となり、この種の回
路を数多く集積する場合トランジスタ数が多くなるとい
う欠点がある。
【0009】
【課題を解決するための手段】本発明のエッジ検出回路
においては、信号変化を観測するための第1の入力信号
と、信号変化検出の後次の信号変化を受付可能状態にす
るための第2の入力信号と、第1の入力信号が状態変化
を起こす前の状態を保持する第1のフリップフロップと
、第1のフリップフロップの状態により第1の入力信号
を制御するための制御回路と、前記制御回路によりセッ
トされる第2のフリップフロップを有している。
においては、信号変化を観測するための第1の入力信号
と、信号変化検出の後次の信号変化を受付可能状態にす
るための第2の入力信号と、第1の入力信号が状態変化
を起こす前の状態を保持する第1のフリップフロップと
、第1のフリップフロップの状態により第1の入力信号
を制御するための制御回路と、前記制御回路によりセッ
トされる第2のフリップフロップを有している。
【0010】
【実施例】以下、実施例につき詳述する。
【0011】図1は本発明の第1の実施例、図2は第1
の実施例を説明するためのタイミング図である。
の実施例を説明するためのタイミング図である。
【0012】図1において、1,2,3,4,5はNA
NDゲートである。INは信号の変化を観測する観測入
力の信号である。/INITは本発明のエッジ検出回路
が入力INの信号を受け付けられるようにするための初
期化信号の為の入力である。
NDゲートである。INは信号の変化を観測する観測入
力の信号である。/INITは本発明のエッジ検出回路
が入力INの信号を受け付けられるようにするための初
期化信号の為の入力である。
【0013】NANDゲート1には、入力信号INとN
ANDゲート2の出力が入力される。NANDゲート2
にはNANDゲート1の出力と信号/INITが入力さ
れる。NANDゲート3に入力INとNANDゲート1
の出力が入力される。NANDゲート4の入力には、N
ANDゲート3の出力とNANDゲート5の出力が入力
される。NANDゲート5にはNANDゲート4の出力
と信号/INITが入力される。NANDゲート1,2
により第1のフリップフロップが構成され、NANDゲ
ート5,6により第2のフリップフロップが構成される
。
ANDゲート2の出力が入力される。NANDゲート2
にはNANDゲート1の出力と信号/INITが入力さ
れる。NANDゲート3に入力INとNANDゲート1
の出力が入力される。NANDゲート4の入力には、N
ANDゲート3の出力とNANDゲート5の出力が入力
される。NANDゲート5にはNANDゲート4の出力
と信号/INITが入力される。NANDゲート1,2
により第1のフリップフロップが構成され、NANDゲ
ート5,6により第2のフリップフロップが構成される
。
【0014】この構成において、その動作を説明する。
本発明の第1の実施例においては、入力INのローから
ハイへの信号の立ち上がりをエッジを検出するものであ
る。入力信号INがローの時NANDゲート1,2で構
成される第1のフリップフロップは、NANDゲート1
の出力がハイとなっている。NANDゲート3は、入力
INがローであるためその出力はハイである。また、N
ANDゲート4及び5により構成される第2のフリップ
フロップは、NANDゲート3の出力がハイであるため
、信号/INITにて初期化された状態、すなわちNA
NDゲート4の出力がローの状態にある。入力INのロ
ーからハイへの変化に対してNANDゲート1,2で構
成される第1のフリップフロップはNANDゲート1の
側の出力をハイの状態を保持する。従ってNANDゲー
ト3の出力は、入力INのローからハイへの変化により
出力をハイよりローへと変化させる。この変化によりN
ANDゲート4,5により構成される第2のフリップフ
ロップは、NANDゲート4の出力をローよりハイへと
変化させる。この後、入力INがローよりハイに変化し
てもNANDゲート1,2により構成される第1のフリ
ップフロップの状態は変化せず、NANDゲート1の出
力をハイのままである。NANDゲート3の出力は入力
INのハイよりローへの変化によりローよりハイへと変
化する。NANDゲート4,5により構成される第2の
フリップフロップは、NANDゲート3の出力のローよ
りハイへの変化に対して状態を変えないためNANDゲ
ート4の出力はハイを保持する。また、信号/INIT
をハイよりローにしさらにハイに戻す。この操作により
本発明のエッジ検出回路は初期化され次の信号を受付可
能となる。この時、入力信号INはハイの時とローの時
があるが、入力信号INがハイのときには、信号/IN
ITによってNANDゲート1と2により構成される第
1のフリップフロップは、NAND1の出力がローに変
化する。また、NANDゲート3はローよりハイに変化
し、NANDゲート4,5により構成される第2のフリ
ップフロップはNANDゲート4の出力をハイよりロー
に変化する。この状態で入力信号INがハイよりローに
変化してもNANDゲート1,2で構成される第1のフ
リップフロップもNANDゲート4,5で構成される第
2のフリップフロップも状態を変化させない。入力信号
INがローの時は、NANDゲート1,2で構成される
第1のフリップフロップは状態が変化しないため、NA
NDゲート1の出力はハイのままとなる。NANDゲー
ト3は入力信号INのハイよりローへの変化に対して出
力をローよりハイにする。NANDゲート4,,5によ
り構成される第2のフリップフロップは、状態を保持す
るためNANDゲート4の出力をハイの状態となる。 この状態で初期化信号/INITにローのパルスを発生
するとNANDゲート1,2で構成される第1のフリッ
プフロップは初期化信号/INITがハイに戻った時点
で、NANDゲート1の出力をハイで安定状態となり、
NANDゲート4,5で構成される第2のフリップフロ
ップはNANDゲート4の出力がローに変化して安定す
る。
ハイへの信号の立ち上がりをエッジを検出するものであ
る。入力信号INがローの時NANDゲート1,2で構
成される第1のフリップフロップは、NANDゲート1
の出力がハイとなっている。NANDゲート3は、入力
INがローであるためその出力はハイである。また、N
ANDゲート4及び5により構成される第2のフリップ
フロップは、NANDゲート3の出力がハイであるため
、信号/INITにて初期化された状態、すなわちNA
NDゲート4の出力がローの状態にある。入力INのロ
ーからハイへの変化に対してNANDゲート1,2で構
成される第1のフリップフロップはNANDゲート1の
側の出力をハイの状態を保持する。従ってNANDゲー
ト3の出力は、入力INのローからハイへの変化により
出力をハイよりローへと変化させる。この変化によりN
ANDゲート4,5により構成される第2のフリップフ
ロップは、NANDゲート4の出力をローよりハイへと
変化させる。この後、入力INがローよりハイに変化し
てもNANDゲート1,2により構成される第1のフリ
ップフロップの状態は変化せず、NANDゲート1の出
力をハイのままである。NANDゲート3の出力は入力
INのハイよりローへの変化によりローよりハイへと変
化する。NANDゲート4,5により構成される第2の
フリップフロップは、NANDゲート3の出力のローよ
りハイへの変化に対して状態を変えないためNANDゲ
ート4の出力はハイを保持する。また、信号/INIT
をハイよりローにしさらにハイに戻す。この操作により
本発明のエッジ検出回路は初期化され次の信号を受付可
能となる。この時、入力信号INはハイの時とローの時
があるが、入力信号INがハイのときには、信号/IN
ITによってNANDゲート1と2により構成される第
1のフリップフロップは、NAND1の出力がローに変
化する。また、NANDゲート3はローよりハイに変化
し、NANDゲート4,5により構成される第2のフリ
ップフロップはNANDゲート4の出力をハイよりロー
に変化する。この状態で入力信号INがハイよりローに
変化してもNANDゲート1,2で構成される第1のフ
リップフロップもNANDゲート4,5で構成される第
2のフリップフロップも状態を変化させない。入力信号
INがローの時は、NANDゲート1,2で構成される
第1のフリップフロップは状態が変化しないため、NA
NDゲート1の出力はハイのままとなる。NANDゲー
ト3は入力信号INのハイよりローへの変化に対して出
力をローよりハイにする。NANDゲート4,,5によ
り構成される第2のフリップフロップは、状態を保持す
るためNANDゲート4の出力をハイの状態となる。 この状態で初期化信号/INITにローのパルスを発生
するとNANDゲート1,2で構成される第1のフリッ
プフロップは初期化信号/INITがハイに戻った時点
で、NANDゲート1の出力をハイで安定状態となり、
NANDゲート4,5で構成される第2のフリップフロ
ップはNANDゲート4の出力がローに変化して安定す
る。
【0015】従って、以上説明したように本エッジ検出
回路によって、入力信号INのローからハイへの変化を
検出し、初期化信号INITBの立ち下りまでの区間を
検出することができる。
回路によって、入力信号INのローからハイへの変化を
検出し、初期化信号INITBの立ち下りまでの区間を
検出することができる。
【0016】図3は本発明の第2の実施例である。第1
の実施例がNANDゲートで構成されているのに対し、
第2の実施例ではNORゲートで構成する。また動作に
ついても、第1の実施例が信号の立ち上がりを検出する
のに対して、第2の実施例では、信号の立ち下がりを検
出する。このことを除けば動作的には同種である。また
、CMOS回路に対して、NMOS回路の場合P型MO
SトランジスタをN型MOSトランジスタのディプリー
ション型トランジスタで構成するためNORゲートの方
が有利であることから、NMOS回路においては、第2
の実施例を使用する方が有利である。
の実施例がNANDゲートで構成されているのに対し、
第2の実施例ではNORゲートで構成する。また動作に
ついても、第1の実施例が信号の立ち上がりを検出する
のに対して、第2の実施例では、信号の立ち下がりを検
出する。このことを除けば動作的には同種である。また
、CMOS回路に対して、NMOS回路の場合P型MO
SトランジスタをN型MOSトランジスタのディプリー
ション型トランジスタで構成するためNORゲートの方
が有利であることから、NMOS回路においては、第2
の実施例を使用する方が有利である。
【0017】図4はそのタイミングチャートである。
【0018】
【発明の効果】以上のように、本発明のエッジ検出回路
では、第1の従来例のようにゲートの遅延時間を利用し
てパルスを作っていないためレイアウトに依存しないと
いう利点を持ち、さらにまた、第2の従来例に対しても
、本発明のエッジ検出回路がCMOS回路において20
個のトランジスタで構成できるのに対して、図7の構成
においては32個のトランジスタが必要で、素子数の上
で本発明の方が62%と小さくできるという効果がある
。特にこの種の回路を数多く集積する場合には、素子数
を低下できる効果がある。
では、第1の従来例のようにゲートの遅延時間を利用し
てパルスを作っていないためレイアウトに依存しないと
いう利点を持ち、さらにまた、第2の従来例に対しても
、本発明のエッジ検出回路がCMOS回路において20
個のトランジスタで構成できるのに対して、図7の構成
においては32個のトランジスタが必要で、素子数の上
で本発明の方が62%と小さくできるという効果がある
。特にこの種の回路を数多く集積する場合には、素子数
を低下できる効果がある。
【図1】本発明の一実施例の回路図である。
【図2】図1のタイミング図である。
【図3】本発明の他の実施例の回路図である。
【図4】図3のタイミング図である。
【図5】第1の従来例の回路図である。
【図6】図5のタイミング図である。
【図7】第2の従来例の回路図である。
【図8】図7のタイミング図である。
Claims (1)
- 【請求項1】 第1の入力信号によりセットされ、第
2の入力信号によりリセットされる第1のフリップフロ
ップと、前記第1のフリップフロップの出力により前記
第1の入力信号をアクティブとし出力する制御回路と、
前記制御回路の出力によりセットされ前記第2の入力信
号によりリセットされる第2のフリップフロップとを有
し、前記第2のフリップフロップの出力をエッジ検出回
路の出力とし、前記第1の入力信号の変化エッジを検出
して後、前記第2の入力信号により前記第1,第2のフ
リップフロップをリセットするまでの期間、前記第2の
フリップフロップの出力であるエッジ検出回路の出力を
保持するようにしたことを特徴とするエッジ検出回路。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3006315A JPH04238411A (ja) | 1991-01-23 | 1991-01-23 | エッジ検出回路 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3006315A JPH04238411A (ja) | 1991-01-23 | 1991-01-23 | エッジ検出回路 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH04238411A true JPH04238411A (ja) | 1992-08-26 |
Family
ID=11634942
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP3006315A Pending JPH04238411A (ja) | 1991-01-23 | 1991-01-23 | エッジ検出回路 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH04238411A (ja) |
-
1991
- 1991-01-23 JP JP3006315A patent/JPH04238411A/ja active Pending
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