JPH04241222A - Magnetic disk substrate and magnetic recording medium using the same - Google Patents
Magnetic disk substrate and magnetic recording medium using the sameInfo
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- 239000000758 substrate Substances 0.000 title claims abstract description 33
- RTAQQCXQSZGOHL-UHFFFAOYSA-N Titanium Chemical compound [Ti] RTAQQCXQSZGOHL-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims abstract description 52
- 229910000808 amorphous metal alloy Inorganic materials 0.000 claims abstract description 52
- 229910052719 titanium Inorganic materials 0.000 claims abstract description 52
- 239000010936 titanium Substances 0.000 claims abstract description 52
- 239000010703 silicon Substances 0.000 claims abstract description 42
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 claims abstract description 41
- 230000001681 protective effect Effects 0.000 claims abstract description 26
- VYZAMTAEIAYCRO-UHFFFAOYSA-N Chromium Chemical compound [Cr] VYZAMTAEIAYCRO-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims abstract description 16
- 229910052804 chromium Inorganic materials 0.000 claims abstract description 16
- 239000011651 chromium Substances 0.000 claims abstract description 16
- 230000001050 lubricating effect Effects 0.000 claims abstract description 9
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 claims description 27
- 239000002184 metal Substances 0.000 claims description 27
- 229910045601 alloy Inorganic materials 0.000 claims description 12
- 239000000956 alloy Substances 0.000 claims description 12
- 230000008018 melting Effects 0.000 claims description 12
- 238000002844 melting Methods 0.000 claims description 12
- 239000013078 crystal Substances 0.000 claims description 9
- SZMZREIADCOWQA-UHFFFAOYSA-N chromium cobalt nickel Chemical compound [Cr].[Co].[Ni] SZMZREIADCOWQA-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 8
- BASFCYQUMIYNBI-UHFFFAOYSA-N platinum Chemical compound [Pt] BASFCYQUMIYNBI-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 8
- 239000011248 coating agent Substances 0.000 claims description 7
- 238000000576 coating method Methods 0.000 claims description 7
- 229910052697 platinum Inorganic materials 0.000 claims description 4
- WFKWXMTUELFFGS-UHFFFAOYSA-N tungsten Chemical compound [W] WFKWXMTUELFFGS-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 4
- 229910052721 tungsten Inorganic materials 0.000 claims description 4
- 239000010937 tungsten Substances 0.000 claims description 4
- ZOKXTWBITQBERF-UHFFFAOYSA-N Molybdenum Chemical compound [Mo] ZOKXTWBITQBERF-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 3
- 229910017052 cobalt Inorganic materials 0.000 claims description 3
- 239000010941 cobalt Substances 0.000 claims description 3
- GUTLYIVDDKVIGB-UHFFFAOYSA-N cobalt atom Chemical compound [Co] GUTLYIVDDKVIGB-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 3
- 229910052750 molybdenum Inorganic materials 0.000 claims description 3
- 239000011733 molybdenum Substances 0.000 claims description 3
- 229910001004 magnetic alloy Inorganic materials 0.000 claims description 2
- 229910002058 ternary alloy Inorganic materials 0.000 claims description 2
- 239000011521 glass Substances 0.000 abstract description 31
- OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N Carbon Chemical compound [C] OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N 0.000 abstract description 19
- 229910052799 carbon Inorganic materials 0.000 abstract description 18
- 238000004544 sputter deposition Methods 0.000 abstract description 18
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 abstract description 11
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 abstract description 11
- 239000000463 material Substances 0.000 abstract description 4
- 239000012298 atmosphere Substances 0.000 abstract description 3
- 239000000314 lubricant Substances 0.000 abstract description 2
- 239000002344 surface layer Substances 0.000 abstract 3
- 239000010410 layer Substances 0.000 abstract 1
- 239000003921 oil Substances 0.000 abstract 1
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 37
- 239000012300 argon atmosphere Substances 0.000 description 12
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 7
- 229910000623 nickel–chromium alloy Inorganic materials 0.000 description 6
- 125000005010 perfluoroalkyl group Chemical group 0.000 description 6
- 229910001260 Pt alloy Inorganic materials 0.000 description 5
- GUBSQCSIIDQXLB-UHFFFAOYSA-N cobalt platinum Chemical compound [Co].[Pt].[Pt].[Pt] GUBSQCSIIDQXLB-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 5
- 239000010687 lubricating oil Substances 0.000 description 5
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N Silicium dioxide Chemical compound O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 description 4
- 239000000203 mixture Substances 0.000 description 4
- HUAUNKAZQWMVFY-UHFFFAOYSA-M sodium;oxocalcium;hydroxide Chemical compound [OH-].[Na+].[Ca]=O HUAUNKAZQWMVFY-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 4
- LMHKOBXLQXJSOU-UHFFFAOYSA-N [Co].[Ni].[Pt] Chemical compound [Co].[Ni].[Pt] LMHKOBXLQXJSOU-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 3
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 3
- 239000007789 gas Substances 0.000 description 3
- 230000005415 magnetization Effects 0.000 description 3
- 229910052709 silver Inorganic materials 0.000 description 3
- 239000004332 silver Substances 0.000 description 3
- PXHVJJICTQNCMI-UHFFFAOYSA-N Nickel Chemical compound [Ni] PXHVJJICTQNCMI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229910001362 Ta alloys Inorganic materials 0.000 description 2
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 2
- 238000000034 method Methods 0.000 description 2
- 150000002902 organometallic compounds Chemical class 0.000 description 2
- 230000001590 oxidative effect Effects 0.000 description 2
- 235000012239 silicon dioxide Nutrition 0.000 description 2
- 239000000377 silicon dioxide Substances 0.000 description 2
- TXEYQDLBPFQVAA-UHFFFAOYSA-N tetrafluoromethane Chemical compound FC(F)(F)F TXEYQDLBPFQVAA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 238000007740 vapor deposition Methods 0.000 description 2
- 229910000990 Ni alloy Inorganic materials 0.000 description 1
- 235000004347 Perilla Nutrition 0.000 description 1
- 244000124853 Perilla frutescens Species 0.000 description 1
- 238000006124 Pilkington process Methods 0.000 description 1
- 229910000676 Si alloy Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910001093 Zr alloy Inorganic materials 0.000 description 1
- DTJAVSFDAWLDHQ-UHFFFAOYSA-N [Cr].[Co].[Pt] Chemical compound [Cr].[Co].[Pt] DTJAVSFDAWLDHQ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- TZVJRPRFJIXRGV-UHFFFAOYSA-N [Cr].[Co].[Ta] Chemical compound [Cr].[Co].[Ta] TZVJRPRFJIXRGV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- BSKUKTCDKBZOPF-UHFFFAOYSA-N [Ta].[Cr].[Ni].[Co] Chemical compound [Ta].[Cr].[Ni].[Co] BSKUKTCDKBZOPF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000002411 adverse Effects 0.000 description 1
- QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N atomic oxygen Chemical compound [O] QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910002092 carbon dioxide Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000001569 carbon dioxide Substances 0.000 description 1
- 239000000919 ceramic Substances 0.000 description 1
- LYLITXREHOKIEO-UHFFFAOYSA-N chromium cobalt zirconium Chemical compound [Co][Cr][Zr] LYLITXREHOKIEO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- ZGDWHDKHJKZZIQ-UHFFFAOYSA-N cobalt nickel Chemical compound [Co].[Ni].[Ni].[Ni] ZGDWHDKHJKZZIQ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 1
- 238000005247 gettering Methods 0.000 description 1
- 239000012528 membrane Substances 0.000 description 1
- 229910052759 nickel Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000003647 oxidation Effects 0.000 description 1
- 238000007254 oxidation reaction Methods 0.000 description 1
- 239000001301 oxygen Substances 0.000 description 1
- 229910052760 oxygen Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000005507 spraying Methods 0.000 description 1
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- Magnetic Record Carriers (AREA)
Abstract
Description
【0001】0001
【産業上の利用分野】本発明は、磁気ディスク装置に用
いられる磁気記録媒体および磁気記録媒体を製造するの
に用いられる磁気ディスク用基板に関する。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a magnetic recording medium used in a magnetic disk device and a magnetic disk substrate used for manufacturing the magnetic recording medium.
【0002】0002
【従来の技術】ガラス基板は表面の平滑性が優れ、硬く
、変形抵抗が大きく、かつ表面欠陥が少ない等の理由か
ら、高密度磁気ディスク用基板として注目されている。
(例えば特開昭49−122707号、特開昭52−1
8002号)2. Description of the Related Art Glass substrates are attracting attention as substrates for high-density magnetic disks because they have excellent surface smoothness, are hard, have high deformation resistance, and have few surface defects. (For example, JP-A-49-122707, JP-A-52-1
No. 8002)
【0003】又上記ガラス基板表面に有機金属化合物の
溶液の微少な液滴を噴霧する方法を用いて凹凸を形成し
、被覆する膜とガラス基板との接触特性を改善したもの
が知られている。(例えば特開昭63−160014)[0003] Furthermore, it is known that the contact characteristics between the coating film and the glass substrate are improved by forming irregularities on the surface of the glass substrate using a method of spraying minute droplets of a solution of an organometallic compound. . (For example, JP-A-63-160014)
【0004】0004
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、ガラス
基板上に有機金属化合物の溶液の微少な液滴を噴霧し乾
燥あるいは焼成したものでは、表面に吸着水分などが多
いためにその上に被覆する下地膜や磁性膜の初期堆積層
の結晶性が良くないため、膜全体の結晶性が悪くなり、
磁気特性や記録再生特性が劣化するという問題があった
。[Problems to be Solved by the Invention] However, when fine droplets of a solution of an organometallic compound are sprayed onto a glass substrate and dried or fired, there is a large amount of moisture adsorbed on the surface, making it difficult to coat the glass substrate. Because the crystallinity of the initial deposited layer of the earth's membrane and magnetic film is poor, the crystallinity of the entire film becomes poor.
There was a problem that the magnetic properties and recording/reproducing properties deteriorated.
【0005】また、上記問題を解決するためにガラス基
板上にチタニウムのような非磁性膜を設けたものでは、
磁性膜などの酸化は抑えられるものの、非磁性膜が結晶
性の膜であるため、その上に設ける下地膜や磁性膜の結
晶性に影響し、良好な磁気特性が得られないといった問
題点があった。[0005] Furthermore, in order to solve the above problem, a non-magnetic film such as titanium is provided on a glass substrate.
Although oxidation of the magnetic film etc. can be suppressed, since the non-magnetic film is a crystalline film, it affects the crystallinity of the underlying film and magnetic film provided on top of it, resulting in the problem that good magnetic properties cannot be obtained. there were.
【0006】本発明は、上記の問題点を解決するために
なされたものであって、すなわち基板上に磁性膜あるい
は磁性膜に先立ち下地膜を被覆して、磁気記録媒体を製
造するに際して、前記磁性膜の結晶性を再現性よく被覆
することができ、これにより良好な磁気特性を有する磁
気記録媒体を再現性よく得ることができる磁気ディスク
用基板を提供するものである。さらに本発明は前記の磁
気ディスク用基板を用いた磁気特性が良好な磁気記録媒
体を提供するものである。The present invention has been made to solve the above-mentioned problems. Specifically, when manufacturing a magnetic recording medium by coating a magnetic film or a base film on a substrate before the magnetic film, It is an object of the present invention to provide a substrate for a magnetic disk, which can be coated with a magnetic film having crystallinity with good reproducibility, thereby allowing a magnetic recording medium having good magnetic properties to be obtained with good reproducibility. Furthermore, the present invention provides a magnetic recording medium with good magnetic properties using the above-mentioned magnetic disk substrate.
【0007】本発明は、非磁性支持体の上に表面に露出
した膜としてチタニウムとシリコンとからなる非晶質合
金膜が被覆された磁気ディスク用の基板である。本発明
の非晶質合金膜中のシリコンの含有量は、35〜65原
子%であることが好ましい。シリコンの含有量が35原
子%より少いか、あるいは65原子%より多いと、前記
合金膜は結晶化しやすくなるので好ましくない。合金膜
が表面に露出した状態で結晶化して被覆されていると、
その上に磁性膜を被覆あるいは下地膜を被覆しその下地
膜の上に磁性膜を被覆するとき、前記磁性膜の結晶粒径
をそろえ、それを再現性よく制御することが困難になり
、良好な磁気特性や記録再生特性を有する磁気記録媒体
を得ることが困難になる。前記シリコンの含有量は、4
0〜60原子%とすることがさらに好ましい。The present invention is a substrate for a magnetic disk in which a non-magnetic support is coated with an amorphous alloy film of titanium and silicon as a film exposed on the surface. The content of silicon in the amorphous alloy film of the present invention is preferably 35 to 65 at.%. If the silicon content is less than 35 atomic % or more than 65 atomic %, the alloy film tends to crystallize, which is not preferable. If the alloy film is crystallized and coated with the surface exposed,
When a magnetic film is coated on top of the magnetic film or a base film is coated on top of the magnetic film, it becomes difficult to align the crystal grain size of the magnetic film and control it with good reproducibility. It becomes difficult to obtain a magnetic recording medium having good magnetic properties and recording/reproducing properties. The silicon content is 4
More preferably, the content is 0 to 60 atomic %.
【0008】また、本発明にかかるチタニウムとシリコ
ンとからなる非晶質合金膜の厚みは、2nm以上である
ことが好ましい。厚みが2nmより薄いと、その上に被
覆される磁性膜または磁性膜に先立ち被覆される下地膜
の結晶性を良くすることができず、高保持力、大きい保
持力角型性を得るのが困難になる。また完全に非晶質合
金膜で非磁性支持体を覆うために3nm以上が好ましく
、生産効率の低下を防止し、膜の応力による膜はがれを
防止する上から50nm以下の厚みが好ましい。[0008] Furthermore, the thickness of the amorphous alloy film made of titanium and silicon according to the present invention is preferably 2 nm or more. If the thickness is thinner than 2 nm, the crystallinity of the magnetic film coated thereon or the base film coated prior to the magnetic film cannot be improved, making it difficult to obtain high coercive force and large coercive squareness. It becomes difficult. Further, the thickness is preferably 3 nm or more in order to completely cover the non-magnetic support with the amorphous alloy film, and the thickness is preferably 50 nm or less in order to prevent a decrease in production efficiency and to prevent the film from peeling off due to stress.
【0009】本発明に係る非磁性支持体としては、例え
ば、ガラス板、セラミック板、アルミニウム板、チタニ
ウム板が挙げられる。これらの中でも、表面の平坦性の
面からガラス板の使用が好ましく、またガラス板の中で
もとりわけフロート法で製造されたソーダライム組成の
ガラス板の使用は最も安価に入手できるので特に好まし
い。Examples of the nonmagnetic support according to the present invention include glass plates, ceramic plates, aluminum plates, and titanium plates. Among these, it is preferable to use a glass plate from the viewpoint of surface flatness, and among the glass plates, it is particularly preferable to use a glass plate having a soda lime composition manufactured by the float method because it is the cheapest to obtain.
【0010】また、本発明の磁気ディスク用基板におい
ては、前記チタニウムとシリコンとからなる非晶質合金
膜と非磁性支持体との間に、金属膜を介在させるように
設けることができる。かかる金属膜としては、非磁性支
持体の表面から放出される酸素や水分などの酸化性ガス
が磁性膜中へ拡散することなく前記金属膜中に閉じ込め
る性質を有する、すなわち前記酸化性ガスを吸蔵するゲ
ッタリング作用を有する金属膜が好ましく、チタニウム
、クロム、タングステンの膜が好ましい。なかでもチタ
ニウム膜が最も好ましい。これらの金属膜の厚みとして
は、2〜100nmが好ましい。厚みが2nmより小さ
いと、上記のガスの吸蔵する可能量が小さくなり、また
100nmより厚いと金属膜の応力が大きくなるので好
ましくない。また基板を製造するときの生産性を低下さ
せない上からも100nm以下とするのが好ましい。Further, in the magnetic disk substrate of the present invention, a metal film can be interposed between the amorphous alloy film made of titanium and silicon and the nonmagnetic support. Such a metal film has a property of trapping oxidizing gas such as oxygen and moisture released from the surface of the non-magnetic support in the metal film without diffusing into the magnetic film, that is, it has a property of occluding the oxidizing gas. A metal film having a gettering effect is preferable, and a film of titanium, chromium, or tungsten is preferable. Among them, titanium film is most preferred. The thickness of these metal films is preferably 2 to 100 nm. If the thickness is less than 2 nm, the amount of gas that can be occluded becomes small, and if it is thicker than 100 nm, stress in the metal film increases, which is not preferable. Further, the thickness is preferably 100 nm or less in order not to reduce productivity when manufacturing the substrate.
【0011】また、本発明の磁気ディスク用基板におい
ては、前記非晶質合金膜の表面に凹凸を形成するように
、前記非晶質合金膜の被覆に先立ち低融点金属を層状ま
たは不連続な島状に設けることができる。低融点金属と
しては、アルミニウム、銀などを用いることができる。
連続した層状または不連続な島状に設けられる上記の表
面凹凸形成物は、非磁性支持体とその上に設けられた非
晶質合金膜との間に設けることができる。また前記金属
膜を前記非磁性支持体と前記非晶質合金膜との間に介在
するように設けた場合は、前記非磁性支持体と前記金属
膜との間、あるいは前記金属膜と前記非晶質合金膜との
間のいずれについても表面凹凸形成物を設けることがで
きる。In the magnetic disk substrate of the present invention, a low melting point metal is applied in a layered or discontinuous manner prior to coating the amorphous alloy film so as to form irregularities on the surface of the amorphous alloy film. It can be provided in an island shape. Aluminum, silver, etc. can be used as the low melting point metal. The above-described surface unevenness formed in the form of a continuous layer or a discontinuous island can be provided between the nonmagnetic support and the amorphous alloy film provided thereon. Further, when the metal film is provided between the non-magnetic support and the amorphous alloy film, the metal film is provided between the non-magnetic support and the metal film, or between the metal film and the non-magnetic alloy film. A surface unevenness forming material can be provided anywhere between the crystalline alloy film and the crystalline alloy film.
【0012】本発明の磁気ディスク用基板のチタニウム
とシリコンとからなる非晶質合金膜は、非磁性支持体上
にチタニウム膜とシリコン膜を公知のスパッタリング法
や蒸着法などにより順次被覆し、その後熱処理すること
により少なくとも表面をチタニウムとシリコンの非晶質
の合金にすることにより得られる。また、チタニウムと
シリコンを含むターゲットを用いて、これをスパッタリ
ングすることにより得ることもできる。The amorphous alloy film made of titanium and silicon for the magnetic disk substrate of the present invention is obtained by sequentially coating a titanium film and a silicon film on a non-magnetic support by a known sputtering method, vapor deposition method, etc. It can be obtained by heat-treating at least the surface to form an amorphous alloy of titanium and silicon. It can also be obtained by sputtering using a target containing titanium and silicon.
【0013】また、前記非晶質合金膜と非磁性支持体と
の間に介在させて設けられる金属膜は、その金属をター
ゲットとして減圧した雰囲気中でおこなうスパッタリン
グ法や蒸着法により被覆することができる。[0013] The metal film interposed between the amorphous alloy film and the nonmagnetic support can be coated by sputtering or vapor deposition using the metal as a target in a reduced pressure atmosphere. can.
【0014】さらに、前記表面凹凸形成物は、低融点金
属をターゲットとして、公知のスパッタリング法を用い
て設けることができる。表面凹凸形成物の凹凸の程度や
島の大きさは、低融点金属を付着させるときの非磁性支
持体を加熱し、その加熱温度により調節することができ
る。Furthermore, the surface unevenness formation material can be provided by using a known sputtering method using a low melting point metal as a target. The degree of unevenness and the size of the islands of the surface unevenness structure can be adjusted by heating the nonmagnetic support when attaching the low melting point metal, and adjusting the heating temperature.
【0015】本発明の第2は、非磁性支持体の上に、第
1層としてチタニウムとシリコンとからなる非晶質合金
膜、第2層としてクロム、モリブテン、タングステンの
群から少なくとも1種以上が選ばれた金属または合金の
膜、第3層としてコバルト−ニッケル−クロムの3元系
合金磁性膜、第4層として保護膜、第5層として潤滑層
が順次設けられた磁気記録媒体である。The second aspect of the present invention is to form an amorphous alloy film of titanium and silicon as a first layer on a non-magnetic support, and at least one member from the group consisting of chromium, molybdenum, and tungsten as a second layer. This is a magnetic recording medium in which a film of a selected metal or alloy is sequentially provided, a ternary alloy magnetic film of cobalt-nickel-chromium as a third layer, a protective film as a fourth layer, and a lubricating layer as a fifth layer. .
【0016】第1層のチタニウムとシリコンとからなる
非晶質合金膜中のシリコンの含有量は、35〜65原子
%であることが好ましい。シリコンの含有量が35原子
%より少いかあるいは65原子%より多いと、前記非晶
質合金膜は結晶化しやすくなるので好ましくない。前記
非晶質合金膜が、結晶化していると、その上に磁性膜を
被覆あるいは下地膜を被覆し引きつづき磁性膜を被覆す
るとき、前記磁性膜の結晶粒径をそろえ、それを再現性
よく制御することができず、良好な磁気特性や記録再生
特性が得ることが困難となる。前記シリコンの含有量は
、40〜60原子%とすることがさらに上記の理由から
好ましい。[0016] The content of silicon in the first layer of an amorphous alloy film made of titanium and silicon is preferably 35 to 65 atomic %. If the silicon content is less than 35 atomic % or more than 65 atomic %, the amorphous alloy film tends to crystallize, which is not preferable. If the amorphous alloy film is crystallized, when a magnetic film is coated on it or a base film is coated and then a magnetic film is coated on it, the crystal grain size of the magnetic film is made uniform and it is reproducible. This cannot be well controlled, making it difficult to obtain good magnetic properties and recording/reproducing properties. It is further preferable for the silicon content to be 40 to 60 atomic % for the above reasons.
【0017】また、本発明のチタニウムとシリコンとか
らなる非晶質合金膜の厚みは、2nm以上であることが
好ましい。完全に連続した非晶質合金膜とするために3
nm以上が好ましい。一方、生産効率の低下を防止し、
かつ、膜の応力による膜はがれを防止する上から50n
m以下の厚みが好ましい。Further, the thickness of the amorphous alloy film made of titanium and silicon of the present invention is preferably 2 nm or more. 3 to obtain a completely continuous amorphous alloy film
It is preferably nm or more. On the other hand, it prevents a decline in production efficiency,
And 50n from the top to prevent film peeling due to film stress.
The thickness is preferably less than m.
【0018】第2層の膜はクロム、モリブデン、タング
ステンの群から少なくとも1種以上が選ばれた金属また
は合金の膜で、前記非晶質合金膜の上に被覆されて、磁
性膜の結晶粒径をそろえ下地膜となる。とりわけクロム
膜が好んで用いられる。The second layer film is a metal or alloy film made of at least one member selected from the group of chromium, molybdenum, and tungsten, and is coated on the amorphous alloy film to form crystal grains of the magnetic film. Align the diameter and serve as the base film. In particular, a chromium film is preferably used.
【0019】第3層の磁性膜は、コバルト−ニッケル合
金、コバルト−ニッケル−クロム合金、コバルト−ニッ
ケル−クロム−タンタル合金、コバルト−クロム−タン
タル合金、コバルト−クロム−ジルコニウム合金を用い
ることができ、とりわけ下地膜のクロム膜と組合せした
コバルト−ニッケル−クロム合金磁性膜は、磁気特性が
良好なために好んで用いられる。そして、この合金磁性
膜の結晶粒径は0.2〜0.6nm、好ましくは0.3
〜0.5nmにそろえられる。For the third layer magnetic film, a cobalt-nickel alloy, a cobalt-nickel-chromium alloy, a cobalt-nickel-chromium-tantalum alloy, a cobalt-chromium-tantalum alloy, a cobalt-chromium-zirconium alloy can be used. In particular, a cobalt-nickel-chromium alloy magnetic film combined with a chromium film as a base film is preferably used because of its good magnetic properties. The crystal grain size of this alloy magnetic film is 0.2 to 0.6 nm, preferably 0.3 nm.
It can be aligned to ~0.5 nm.
【0020】第4層の保護膜としては、通常用いられる
カーボンや二酸化ケイ素が用いられ、さらに第5層とし
てはパーフロロカーボンの潤滑油を塗布したものが用い
られる。[0020] As the fourth layer of the protective film, commonly used carbon or silicon dioxide is used, and as the fifth layer, perfluorocarbon coated with lubricating oil is used.
【0021】前記非磁性支持体と前記非晶質合金膜との
間に介在するように、チタニウム膜を設け、さらに前記
非晶質合金膜と前記チタニウム膜との間に、前記保護膜
の表面に凹凸を形成するように、低融点金属を層状また
は島状に設けることができる。A titanium film is provided between the non-magnetic support and the amorphous alloy film, and a surface of the protective film is further provided between the amorphous alloy film and the titanium film. The low melting point metal can be provided in a layered or island shape so as to form unevenness on the surface.
【0022】低融点金属としては、アルミニウム、銀な
どを用いることをでき、これにより前記保護膜の表面に
凹凸を形成するには、低融点金属をスパッタリングによ
り被覆するときの非磁性支持体を加熱しその温度を調整
することによりおこなうことができる。[0022] Aluminum, silver, etc. can be used as the low melting point metal, and in order to form irregularities on the surface of the protective film, the nonmagnetic support is heated when the low melting point metal is coated by sputtering. This can be done by adjusting the temperature of the perilla.
【0023】本発明の第3は、非磁性支持体の上に、第
1層としてチタニウムとシリコンとからなる非晶質合金
膜、第2層としてコバルトと白金とを含む合金磁性膜、
第3層として保護膜、第4層として潤滑層が、順次設け
られた磁気記録媒体である。The third aspect of the present invention is to provide an amorphous alloy film containing titanium and silicon as a first layer and an alloy magnetic film containing cobalt and platinum as a second layer on a nonmagnetic support.
This is a magnetic recording medium in which a protective film is provided as a third layer and a lubricant layer is provided as a fourth layer.
【0024】第1層のチタニウムとシリコンからなる非
晶質合金膜中のシリコンの含有量は、本発明の第2と同
じように35〜65原子%であることが好ましい。シリ
コンの含有量が35原子%より少いかあるいは65原子
%より多いと、前記非晶質合金膜は結晶化しやすくなる
ので好ましくない。前記非晶質合金膜が、結晶化してい
ると、その上にコバルト白金系の磁性膜を被覆すると、
前記コバルト白金系の磁性膜の結晶粒径をそろえ、それ
を再現性よく制御することができず、良好な磁気特性や
記録再生特性を得ることが困難となる。前記シリコンの
含有量は、40〜60原子%とすることがさらに好まし
い。The content of silicon in the first layer of the amorphous alloy film made of titanium and silicon is preferably 35 to 65 atomic %, similar to the second layer of the present invention. If the silicon content is less than 35 atomic % or more than 65 atomic %, the amorphous alloy film tends to crystallize, which is not preferable. When the amorphous alloy film is crystallized and a cobalt-platinum-based magnetic film is coated on it,
It is not possible to make the crystal grain size of the cobalt-platinum-based magnetic film uniform and to control it with good reproducibility, making it difficult to obtain good magnetic properties and recording/reproducing properties. It is more preferable that the content of silicon is 40 to 60 atomic %.
【0025】また、本発明のチタニウムとシリコンとか
らなる非晶質合金膜の厚みは、2nm以上であることが
好ましい。厚みが2nmより薄いと、合金膜の下地が、
磁性膜の被覆に際してコバルト白金系磁性膜の結晶成長
に悪影響を及ぼすので、良好な磁気特性が得られにくく
なる。完全に連続した膜とするために3nm以上が好ま
しい。また、生産効率の低下を防止し、かつ、膜の応力
による膜はがれを防止する上で50nm以下の厚みが好
ましい。Further, the thickness of the amorphous alloy film made of titanium and silicon of the present invention is preferably 2 nm or more. If the thickness is thinner than 2 nm, the base of the alloy film is
Since this has an adverse effect on the crystal growth of the cobalt-platinum magnetic film during coating with the magnetic film, it becomes difficult to obtain good magnetic properties. The thickness is preferably 3 nm or more in order to form a completely continuous film. Further, the thickness is preferably 50 nm or less in order to prevent a decrease in production efficiency and to prevent film peeling due to film stress.
【0026】前記チタニウムとシリコンとの非晶質合金
膜の上に設けられるコバルト白金系の磁性膜としては、
コバルト−白金合金、コバルト−クロム−白金合金、コ
バルト−ニッケル−白金合金などの白金を含む磁性膜を
用いることができる。これらの合金磁性膜は前記非晶質
合金膜の上に良好な保持力と保磁力角型比を有するよう
に被覆することができる。The cobalt-platinum magnetic film provided on the amorphous alloy film of titanium and silicon is as follows:
A magnetic film containing platinum such as a cobalt-platinum alloy, a cobalt-chromium-platinum alloy, and a cobalt-nickel-platinum alloy can be used. These alloy magnetic films can be coated on the amorphous alloy film so as to have good coercive force and coercive squareness ratio.
【0027】第3層の保護膜としては、通常用いられる
カーボン膜や二酸化珪素膜が用いられ、さらに第4層と
してはパーフロロカーボンの潤滑油を塗布したものが用
いられる。As the third layer of protective film, a commonly used carbon film or silicon dioxide film is used, and as the fourth layer, perfluorocarbon coated with lubricating oil is used.
【0028】前記非磁性支持体と前記非晶質合金膜との
間に介在するように、チタニウム膜を設け、さらに前記
非晶質合金膜と前記チタニウム膜との間に、前記保護膜
の表面に凹凸を形成するように、低融点金属を層状また
は島状に設けることができる。A titanium film is provided between the non-magnetic support and the amorphous alloy film, and a surface of the protective film is further provided between the amorphous alloy film and the titanium film. The low melting point metal can be provided in a layered or island shape so as to form unevenness on the surface.
【0029】低融点金属としては、アルミニウム、銀な
どを用いることをできる。前記保護膜の表面に凹凸を形
成するには、低融点金属をスパッタリングにより被覆す
るときの非磁性支持体を加熱し、その温度を調節するこ
とによりおこなうことができる。[0029] As the low melting point metal, aluminum, silver, etc. can be used. The formation of irregularities on the surface of the protective film can be carried out by heating the nonmagnetic support on which the low melting point metal is coated by sputtering and adjusting the temperature.
【0030】本発明の第2、第3の、非磁性支持体上に
設けられる非晶質合金膜、合金磁性膜、保護膜は減圧し
た雰囲気内でおこなう公知のスパッタリング法により連
続して被覆することができる。[0030] In the second and third aspects of the present invention, the amorphous alloy film, alloy magnetic film, and protective film provided on the nonmagnetic support are continuously coated by a known sputtering method performed in a reduced pressure atmosphere. be able to.
【0031】[0031]
【作用】本発明にかかる、チタニウムとシリコンとから
なる非晶質合金膜はその上に磁性膜あるいは下地膜と磁
性膜を順次被覆するに際して、下地膜や磁性膜の結晶粒
径をそろえ、磁性膜の磁気特性や記録再生特性を向上さ
せる。[Operation] When the amorphous alloy film made of titanium and silicon according to the present invention is sequentially coated with a magnetic film or a base film and a magnetic film, the crystal grain sizes of the base film and the magnetic film are made uniform, and the magnetic film is Improve the magnetic properties and recording/reproducing properties of the film.
【0032】[0032]
【実施例】以下に本発明を実施例により説明する。図1
の(a),(b),(C)は本発明の磁気ディスク用基
板1の実施例の一部断面図で、図1(a)では、ガラス
板2の上にチタニウムとシリコンとからなる非晶質合金
膜3が被覆されており、図1(b)ではガラス板2の上
にチタニウム膜4が被覆され、さらにチタニウム膜4の
上にチタニウムとシリコンとからなる非晶質合金膜3が
被覆されている。図1(c)では、ガラス板2の上にチ
タニウム膜4が被覆され、チタニウム膜4の上に磁気デ
ィスク用基板1の表面に凹凸を形成するためのアルミニ
ウム5が不連続な島状構造を呈するように被覆され、さ
らにこのアルミニウム5の上にチタニウムとシリコンと
からなる非晶質合金膜3が被覆されている。図2の(a
),(b),(C)は、本発明の磁気記録媒体10の実
施例の一部断面図で、図2(a)では、図1(C)で示
される磁気ディスク用基板の上にクロムの下地膜11が
被覆され、クロムの下地膜11の上にコバルト−ニッケ
ル−クロム合金の磁性膜12が被覆され、前記磁性膜1
2の上にカーボン保護膜13が被覆され、さらにカーボ
ン保護膜13の上にパーフロロアルキルの潤滑層14が
塗布されている。そして潤滑層14の表面は凹凸が形成
されている。[Examples] The present invention will be explained below with reference to Examples. Figure 1
(a), (b), and (C) are partial cross-sectional views of an embodiment of the magnetic disk substrate 1 of the present invention. In FIG. The glass plate 2 is coated with an amorphous alloy film 3, and in FIG. 1(b), the glass plate 2 is coated with a titanium film 4, and the titanium film 4 is further covered with an amorphous alloy film 3 made of titanium and silicon. is covered. In FIG. 1(c), a titanium film 4 is coated on a glass plate 2, and aluminum 5 forms a discontinuous island-like structure on the titanium film 4 to form irregularities on the surface of the magnetic disk substrate 1. The aluminum 5 is further coated with an amorphous alloy film 3 made of titanium and silicon. Figure 2 (a
), (b), and (C) are partial cross-sectional views of an embodiment of the magnetic recording medium 10 of the present invention. A chromium base film 11 is coated, a cobalt-nickel-chromium alloy magnetic film 12 is coated on the chromium base film 11, and the magnetic film 1
A carbon protective film 13 is coated on the carbon protective film 2, and a perfluoroalkyl lubricating layer 14 is further applied on the carbon protective film 13. The surface of the lubricating layer 14 is uneven.
【0033】図2(b)では、図1(a)で示される磁
気ディスク用基板1の上にクロム下地膜11が被覆され
、クロム下地膜11の上にコバルト−ニッケル−クロム
合金の磁性膜12が被覆され、前記磁性膜12の上にカ
ーボン保護膜13が被覆され、さらにカーボン保護膜1
3の上にパーフロロアルキルの潤滑層14が塗布されて
いる。In FIG. 2(b), a chromium base film 11 is coated on the magnetic disk substrate 1 shown in FIG. 1(a), and a magnetic film of cobalt-nickel-chromium alloy is coated on the chromium base film 11. 12 is coated, a carbon protective film 13 is coated on the magnetic film 12, and a carbon protective film 1 is further coated on the magnetic film 12.
A lubricating layer 14 of perfluoroalkyl is applied on top of 3.
【0034】図2(c)では、図1(a)で示される磁
気ディスク用基板1の上にコバルト−ニッケル−白金合
金の磁性膜12が被覆され、前記磁性膜12の上にカー
ボン保護膜13が被覆され、さらにカーボン保護膜13
の上にパーフロロアルキルの潤滑層14が塗布されてい
る。In FIG. 2(c), a magnetic film 12 of cobalt-nickel-platinum alloy is coated on the magnetic disk substrate 1 shown in FIG. 13 is coated with carbon protective film 13.
A perfluoroalkyl lubricating layer 14 is applied thereon.
【0035】実施例1
円盤状に加工され化学強化されたソーダライム組成のガ
ラス板を良く洗浄し、インラインスパッタリング装置内
にセットし、連続してガラス板上に被膜を被覆した。ま
ず0.00013Pa(パスカル)の圧力下で200℃
に加熱した。その後0.13Paのアルゴン雰囲気でチ
タニウムターゲットをスパッタし、30nmの厚みのチ
タニウム膜を200℃に加熱したガラス板上に被覆した
。次に200℃に加熱した状態で、アルミニウムの凹凸
形成物を形成した。凹凸形成物の形成条件は、アルミニ
ウムのターゲットを0.13Paのアルゴン雰囲気でス
パッタすることによりおこない、スパッタするアルミニ
ウムの量は、ガラス板を常温の状態にして100〜20
0nmの厚みの平滑な連続膜を被覆する量とした。次に
0.13Paのアルゴン雰囲気によりチタニウムとシリ
コンを含むターゲット(シリコン50原子%チタニウム
50原子%)をスパッタして20nmの厚みのチタニウ
ムとシリコンとからなる非晶質の合金膜を被覆し、その
後ガラス板を300℃に加熱した。次に0.13Paの
アルゴン雰囲気によりクロムターゲットをスパッタして
150nmの厚みのクロム膜を被覆した。次に、コバル
トニッケルクロム合金ターゲットを0.13Paのアル
ゴン雰囲気でスパッタし、60nmの磁性膜を被覆した
。次に0.13Paのアルゴン雰囲気でカーボンターゲ
ットをスパッタして30nmの厚みのカーボン保護膜を
被覆した。次にガラス板をスパッタリング装置から取り
出し、パーフロロアルキル系の潤滑油をカーボン保護膜
上に塗布して、図2(a)に示す膜構成の磁気記録媒体
を得た。Example 1 A glass plate having a soda lime composition which had been processed into a disk shape and had been chemically strengthened was thoroughly cleaned and set in an in-line sputtering apparatus, and a film was continuously coated on the glass plate. First, at 200℃ under a pressure of 0.00013Pa (Pascal)
heated to. Thereafter, a titanium target was sputtered in an argon atmosphere of 0.13 Pa, and a titanium film with a thickness of 30 nm was coated on a glass plate heated to 200°C. Next, while heating to 200° C., a concavo-convex structure of aluminum was formed. The conditions for forming the uneven structure are that sputtering is performed using an aluminum target in an argon atmosphere of 0.13 Pa, and the amount of sputtered aluminum is 100 to 20 mm with the glass plate at room temperature.
The amount was set to cover a smooth continuous film with a thickness of 0 nm. Next, a target containing titanium and silicon (50 atom% silicon, 50 atom% titanium) was sputtered in an argon atmosphere of 0.13 Pa to cover an amorphous alloy film of titanium and silicon with a thickness of 20 nm. The glass plate was heated to 300°C. Next, a chromium target was sputtered in an argon atmosphere of 0.13 Pa to coat a chromium film with a thickness of 150 nm. Next, a cobalt-nickel-chromium alloy target was sputtered in an argon atmosphere of 0.13 Pa to coat it with a 60 nm magnetic film. Next, a carbon target was sputtered in an argon atmosphere of 0.13 Pa to coat a carbon protective film with a thickness of 30 nm. Next, the glass plate was taken out from the sputtering apparatus, and perfluoroalkyl lubricating oil was applied onto the carbon protective film to obtain a magnetic recording medium having the film structure shown in FIG. 2(a).
【0036】得られた磁気記録媒体の保磁力を測定した
ところ、約1500Oeであり、保磁力角型比S* は
0.91で良好な値であった。また、グライド特性は2
マイクロインチ以下で、記録再生特性は良好で、ヘッド
と磁気ディスク表面の間の距離フライングハイトを3マ
イクロインチとして測定したところ、S/N値が30d
B、D50(出力が低周波数での値の1/2になる周波
数)が60kFCI(1インチ当りの磁化反転回数)で
あった。When the coercive force of the obtained magnetic recording medium was measured, it was about 1500 Oe, and the coercive force squareness ratio S* was 0.91, which was a good value. Also, the glide characteristic is 2
The recording and reproducing characteristics are good, with a flying height of 3 microinches or less between the head and the magnetic disk surface, and the S/N value is 30d.
B, D50 (frequency at which the output becomes 1/2 of the value at low frequency) was 60 kFCI (number of magnetization reversals per inch).
【0037】実施例2
円盤状に加工され化学強化されたソーダライム組成のガ
ラス板を良く洗浄し、インラインスパッタリング装置内
にセットし、連続してガラス板上に被膜を被覆した。ま
ず0.00013Pa(パスカル)の圧力下で200℃
に加熱した。Example 2 A glass plate of a soda lime composition processed into a disk shape and chemically strengthened was thoroughly cleaned and set in an in-line sputtering apparatus, and a film was continuously applied onto the glass plate. First, at 200℃ under a pressure of 0.00013Pa (Pascal)
heated to.
【0038】次に0.13Paのアルゴン雰囲気により
チタニウムとシリコンを含むターゲット(シリコン50
原子%チタニウム50原子%)をスパッタして30nm
の厚みのチタニウムとシリコンとからなる非晶質の合金
膜を被覆し、その後ガラス板を300℃に加熱した。次
に0.13Paのアルゴン雰囲気によりクロムターゲッ
トをスパッタして150nmの厚みのクロム膜を被覆し
た。次に、コバルトニッケルクロム合金ターゲットを0
.13Paのアルゴン雰囲気でスパッタし、60nmの
磁性膜を被覆した。次に0.13Paのアルゴン雰囲気
でカーボンターゲットをスパッタして30nmの厚みの
カーボン保護膜を被覆した。次にガラス板をスパッタリ
ング装置から取り出し、パーフロロアルキル系の潤滑油
をカーボン保護膜上に塗布して、図2(b)に示す膜構
成の磁気記録媒体を得た。Next, a target containing titanium and silicon (silicon 50
30 nm by sputtering titanium (50 atomic %)
The glass plate was coated with an amorphous alloy film made of titanium and silicon having a thickness of 300° C., and then the glass plate was heated to 300°C. Next, a chromium target was sputtered in an argon atmosphere of 0.13 Pa to coat a chromium film with a thickness of 150 nm. Next, the cobalt nickel chromium alloy target is
.. Sputtering was performed in an argon atmosphere of 13 Pa to coat a 60 nm magnetic film. Next, a carbon target was sputtered in an argon atmosphere of 0.13 Pa to coat a carbon protective film with a thickness of 30 nm. Next, the glass plate was taken out from the sputtering apparatus, and perfluoroalkyl lubricating oil was applied onto the carbon protective film to obtain a magnetic recording medium having the film structure shown in FIG. 2(b).
【0039】得られた磁気記録媒体の保磁力を測定した
ところ、約1500Oeであり、保磁力角型比S* は
0.93で良好な値であった。また、グライド特性は2
マイクロインチ以下で、記録再生特性は良好で、ヘッド
と磁気ディスク表面の間の距離フライングハイトを3マ
イクロインチとして測定したところ、S/N値が32d
B、D50(出力が低周波数での値の1/2になる周波
数)が65kFCI(1インチ当りの磁化反転回数)で
あった。When the coercive force of the obtained magnetic recording medium was measured, it was about 1500 Oe, and the coercive force squareness ratio S* was 0.93, which was a good value. Also, the glide characteristic is 2
The recording and reproducing characteristics are good, with the flying height between the head and the magnetic disk surface being 3 microinches, and the S/N value is 32d.
B, D50 (frequency at which the output becomes 1/2 of the value at low frequency) was 65 kFCI (number of magnetization reversals per inch).
【0040】実施例3
円盤状に加工され化学強化されたソーダライム組成のガ
ラス板を良く洗浄し、インラインスパッタリング装置内
にセットし、連続してガラス板上に被膜を被覆した。ま
ず0.00013Pa(パスカル)の圧力下で200℃
に加熱した。次に0.13Paのアルゴン雰囲気でチタ
ニウムとシリコンを含むターゲット(シリコン40原子
%チタニウム60原子%)をスパッタして30nmの厚
みのチタニウムとシリコンとからなる非晶質の合金膜を
被覆し、その後ガラス板を300℃に加熱した。次にコ
バルトニッケル白金合金ターゲットを0.13Paのア
ルゴン雰囲気でスパッタし、60nmの磁性膜(白金1
5原子%ニッケル7原子%コバルト78原子%)を被覆
した。次に0.13Paのアルゴン雰囲気でカーボンタ
ーゲットをスパッタして30nmの厚みのカーボン保護
膜を被覆した。次にガラス板をスパッタリング装置から
取り出し、パーフロロアルキル系の潤滑油をカーボン保
護膜上に塗布して、図2(c)に示す膜構成の磁気記録
媒体を得た。Example 3 A glass plate having a soda lime composition which had been processed into a disk shape and had been chemically strengthened was thoroughly cleaned and set in an in-line sputtering apparatus, and a film was continuously coated on the glass plate. First, at 200℃ under a pressure of 0.00013Pa (Pascal)
heated to. Next, a target containing titanium and silicon (40 atom% silicon, 60 atom% titanium) was sputtered in an argon atmosphere of 0.13 Pa to cover an amorphous alloy film of titanium and silicon with a thickness of 30 nm. The glass plate was heated to 300°C. Next, a cobalt nickel platinum alloy target was sputtered in an argon atmosphere of 0.13 Pa, and a 60 nm magnetic film (platinum 1
(5 at. % nickel, 7 at. % cobalt, 78 at. %). Next, a carbon target was sputtered in an argon atmosphere of 0.13 Pa to coat a carbon protective film with a thickness of 30 nm. Next, the glass plate was taken out from the sputtering apparatus, and perfluoroalkyl lubricating oil was applied onto the carbon protective film to obtain a magnetic recording medium having the film structure shown in FIG. 2(c).
【0041】得られた磁気記録媒体の保磁力を測定した
ところ、約1500Oeであり、保磁力角型比S* は
0.75で良好な値であった。また、グライド特性は2
マイクロインチ以下で、記録再生特性は良好で、ヘッド
と磁気ディスク表面の間の距離フライングハイトを3マ
イクロインチとして測定したところ、S/N値が33d
B、D50(出力が低周波数での値の1/2になる周波
数)が65kFCI(1インチ当りの磁化反転回数)で
あった。When the coercive force of the obtained magnetic recording medium was measured, it was about 1500 Oe, and the coercive force squareness ratio S* was 0.75, which was a good value. Also, the glide characteristic is 2
The recording and reproducing characteristics are good, with the flying height between the head and the magnetic disk surface being 3 microinches, and the S/N value is 33d.
B, D50 (frequency at which the output becomes 1/2 of the value at low frequency) was 65 kFCI (number of magnetization reversals per inch).
【0042】[0042]
【発明の効果】本発明の磁気ディスク用基板には、チタ
ニウムとシリコンとからなる非晶質合金膜が表面に露出
するように被覆されている。したがって本発明の磁気デ
ィスク用基板の上に磁性膜を被覆して磁気記録媒体を製
造するにあたっては、磁性膜の結晶粒径をそろえて設け
ることができ、さらにその粒径を再現性よく制御するこ
とができ、記録再生特性が改善された磁気記録媒体を得
ることができる。Effects of the Invention The magnetic disk substrate of the present invention is coated with an amorphous alloy film made of titanium and silicon so as to be exposed on the surface. Therefore, when manufacturing a magnetic recording medium by coating a magnetic film on the magnetic disk substrate of the present invention, the crystal grain size of the magnetic film can be made uniform, and the grain size can be controlled with good reproducibility. Thus, a magnetic recording medium with improved recording and reproducing characteristics can be obtained.
【0043】また本発明の磁気記録媒体は、大きい保磁
力と大きい保持力角型比を有し、さらに記録再生時のS
/Nが大きい。Further, the magnetic recording medium of the present invention has a large coercive force and a large coercive force squareness ratio, and furthermore, the magnetic recording medium has a large coercive force and a large coercive force squareness ratio, and also has
/N is large.
【図1】本発明の磁気ディスク用基板の実施例の一部断
面図FIG. 1 is a partial cross-sectional view of an embodiment of a magnetic disk substrate of the present invention.
【図2】本発明の磁気記録媒体の実施例の一部断面図FIG. 2 is a partial cross-sectional view of an embodiment of the magnetic recording medium of the present invention.
1 ガラス板
2 非磁性支持体
3 チタニウムとシリコンとからなる非晶質合金
膜4 チタニウム膜
5 アルミニウムの凹凸形成物
11 クロム膜
12 磁性膜
13 カーボン保護膜
14 潤滑層1 Glass plate 2 Non-magnetic support 3 Amorphous alloy film made of titanium and silicon 4 Titanium film 5 Aluminum uneven structure 11 Chromium film 12 Magnetic film 13 Carbon protective film 14 Lubricating layer
Claims (8)
膜としてチタニウムとシリコンとからなる非晶質合金膜
が被覆された磁気ディスク用基板。1. A magnetic disk substrate in which a non-magnetic support is coated with an amorphous alloy film made of titanium and silicon as a film exposed on the surface.
との間にチタニウム膜が介在するように設けられた請求
項1に記載の磁気ディスク用基板。2. The magnetic disk substrate according to claim 1, further comprising a titanium film interposed between the nonmagnetic support and the amorphous alloy film.
するように、前記非晶質合金膜の被覆に先立ち低融点金
属を層状または島状に設けた請求項1または2に記載の
磁気ディスク用基板。3. A low melting point metal is provided in a layered or island form prior to coating the amorphous alloy film so as to form irregularities on the surface of the amorphous alloy film. Substrate for magnetic disks.
である請求項1,2,3のいずれかの項に記載の磁気デ
ィスク用基板。4. The magnetic disk substrate according to claim 1, wherein the amorphous alloy film has a thickness of 2 nm or more.
mである請求項4に記載の磁気ディスク用基板。5. The thickness of the amorphous alloy film is 3 to 50 nm.
The magnetic disk substrate according to claim 4, wherein the magnetic disk substrate is m.
タニウムとシリコンとからなる非晶質合金膜、第2層と
してクロム、モリブテン、タングステンの群から少なく
とも1種以上が選ばれた結晶性の金属または合金の膜、
第3層としてコバルト−ニッケル−クロムの3元系合金
磁性膜、第4層として保護膜、第5層として潤滑層が順
次設けられた磁気記録媒体。6. On a non-magnetic support, a first layer is an amorphous alloy film made of titanium and silicon, and a second layer is a crystal made of at least one selected from the group of chromium, molybdenum, and tungsten. metal or alloy film,
A magnetic recording medium comprising a cobalt-nickel-chromium ternary alloy magnetic film as a third layer, a protective film as a fourth layer, and a lubricating layer as a fifth layer.
との間に介在するように、チタニウム膜が被覆され、さ
らに前記非晶質合金膜と前記チタニウム膜との間に、前
記保護膜の表面に凹凸を形成するように、低融点金属を
層状または島状に設けた請求項6に記載の磁気記録媒体
。7. A titanium film is coated so as to be interposed between the non-magnetic support and the amorphous alloy film, and the protective film is further provided between the amorphous alloy film and the titanium film. 7. The magnetic recording medium according to claim 6, wherein the low melting point metal is provided in a layered or island shape so as to form irregularities on the surface of the film.
タニウムとシリコンとからなる非晶質合金膜、第2層と
してコバルトと白金とを含む合金磁性膜、第3層として
保護膜、第4層として潤滑層が、順次設けられた磁気記
録媒体。8. On a non-magnetic support, an amorphous alloy film made of titanium and silicon as a first layer, a magnetic alloy film containing cobalt and platinum as a second layer, a protective film as a third layer, A magnetic recording medium in which a lubricating layer is sequentially provided as a fourth layer.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1303391A JP2819839B2 (en) | 1991-01-10 | 1991-01-10 | Magnetic disk substrate and magnetic recording medium using the same |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1303391A JP2819839B2 (en) | 1991-01-10 | 1991-01-10 | Magnetic disk substrate and magnetic recording medium using the same |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH04241222A true JPH04241222A (en) | 1992-08-28 |
| JP2819839B2 JP2819839B2 (en) | 1998-11-05 |
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ID=11821816
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| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
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| JP1303391A Expired - Fee Related JP2819839B2 (en) | 1991-01-10 | 1991-01-10 | Magnetic disk substrate and magnetic recording medium using the same |
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| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2819839B2 (en) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH06259739A (en) * | 1993-02-18 | 1994-09-16 | Internatl Business Mach Corp <Ibm> | Contact magnetic recording disc-file with reluctance reading sensor |
| US5700593A (en) * | 1993-06-23 | 1997-12-23 | Kubota Corporation | Metal thin film magnetic recording medium and manufacturing method thereof |
| US5789090A (en) * | 1996-02-05 | 1998-08-04 | Stormedia, Inc. | Metallic thin-film magnetic recording media |
-
1991
- 1991-01-10 JP JP1303391A patent/JP2819839B2/en not_active Expired - Fee Related
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH06259739A (en) * | 1993-02-18 | 1994-09-16 | Internatl Business Mach Corp <Ibm> | Contact magnetic recording disc-file with reluctance reading sensor |
| US5700593A (en) * | 1993-06-23 | 1997-12-23 | Kubota Corporation | Metal thin film magnetic recording medium and manufacturing method thereof |
| US5789090A (en) * | 1996-02-05 | 1998-08-04 | Stormedia, Inc. | Metallic thin-film magnetic recording media |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2819839B2 (en) | 1998-11-05 |
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