JPH042417Y2 - - Google Patents
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- Publication number
- JPH042417Y2 JPH042417Y2 JP15138585U JP15138585U JPH042417Y2 JP H042417 Y2 JPH042417 Y2 JP H042417Y2 JP 15138585 U JP15138585 U JP 15138585U JP 15138585 U JP15138585 U JP 15138585U JP H042417 Y2 JPH042417 Y2 JP H042417Y2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- holding frame
- hole
- lens holding
- fixed
- semiconductor laser
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
Links
Landscapes
- Moving Of The Head For Recording And Reproducing By Optical Means (AREA)
- Mounting And Adjusting Of Optical Elements (AREA)
- Lens Barrels (AREA)
Description
【考案の詳細な説明】
［産業上の利用分野］
本考案は、レンズ保持枠の光軸に対する傾きを
なくして光学特性を向上し得るようにした光ヘツ
ドに関するものである。
なくして光学特性を向上し得るようにした光ヘツ
ドに関するものである。
［従来の技術と考案が解決しようとする問題点］
近年、コンピユータ等情報に関連する産業の進
展が目ざましく、取扱われる情報量が飛躍的に拡
大化する状況にある。このため、従来の磁気ヘツ
ドに代つてレーザ光等の光を利用した光ヘツドを
用いて円盤状記録媒体等に情報を光学的に高密度
に記録したり、高速度で再生したりすることがで
きる光学式記録再生装置が実用化されつつある状
況にある。
展が目ざましく、取扱われる情報量が飛躍的に拡
大化する状況にある。このため、従来の磁気ヘツ
ドに代つてレーザ光等の光を利用した光ヘツドを
用いて円盤状記録媒体等に情報を光学的に高密度
に記録したり、高速度で再生したりすることがで
きる光学式記録再生装置が実用化されつつある状
況にある。
前記光学式記録再生装置の光ヘツドの従来例は
第７図及び第８図に示すようになつている。図に
おいて符号１は半導体レーザ保持枠で、円柱の中
心軸を通る貫通孔１ａを有し、該貫通孔１ａの基
部端に半導体レーザ２の取付け台３を嵌合する段
差部１ｂを設けて半導体レーザ２を固定してい
る。前記貫通孔１ａの先端側には、コリメータレ
ンズ４を先端に固定した円筒状のレンズ保持枠５
がスライド可能に嵌装置されている。そして、レ
ンズ保持枠５を第７図中光軸Ｚ方向にスライド調
整して半導体レーザ２の光をコリメータレンズ４
を通すことによつて平行光束にできる位置、即ち
光学特性上最良点で、半導体レーザ保持枠１の貫
通孔１ａと直交し且つ外周から該貫通孔１ａに貫
通するねじ孔１ｃに螺合したねじ６にてレンズ保
持枠５を締め付け固定している。
第７図及び第８図に示すようになつている。図に
おいて符号１は半導体レーザ保持枠で、円柱の中
心軸を通る貫通孔１ａを有し、該貫通孔１ａの基
部端に半導体レーザ２の取付け台３を嵌合する段
差部１ｂを設けて半導体レーザ２を固定してい
る。前記貫通孔１ａの先端側には、コリメータレ
ンズ４を先端に固定した円筒状のレンズ保持枠５
がスライド可能に嵌装置されている。そして、レ
ンズ保持枠５を第７図中光軸Ｚ方向にスライド調
整して半導体レーザ２の光をコリメータレンズ４
を通すことによつて平行光束にできる位置、即ち
光学特性上最良点で、半導体レーザ保持枠１の貫
通孔１ａと直交し且つ外周から該貫通孔１ａに貫
通するねじ孔１ｃに螺合したねじ６にてレンズ保
持枠５を締め付け固定している。
しかしながら、前記従来例の光ヘツドでは次に
述べる問題点がある。
述べる問題点がある。
第９図及び第１０図はねじにてレンズ保持枠を
締め付け固定した状態を示す模式図である。第９
図に示す如くねじを締め付けることにより、レン
ズ保持枠５は図中Ｆの力で半導体レーザ保持枠１
の貫通孔１ａ下面方向に押し当てられるが、ねじ
を回すことにより回転力が働きレンズ保持枠５は
矢符Ｘ（−）方向にθ°だけ傾いて固定されてしま
い、光ヘツドの光学特性上最良点に設定されない
という問題がある。
締め付け固定した状態を示す模式図である。第９
図に示す如くねじを締め付けることにより、レン
ズ保持枠５は図中Ｆの力で半導体レーザ保持枠１
の貫通孔１ａ下面方向に押し当てられるが、ねじ
を回すことにより回転力が働きレンズ保持枠５は
矢符Ｘ（−）方向にθ°だけ傾いて固定されてしま
い、光ヘツドの光学特性上最良点に設定されない
という問題がある。
又、光ヘツドの対環境使用範囲及び耐性試験条
件は次のとおりである。
件は次のとおりである。
(1) 光ヘツド使用温度範囲 −10°C〜＋ 60°C
(2) 温度サイクル試験 −30°C→＋ 70°C
(3) 高温保存試験 ＋80°C 500時間以上放置
(4) 低温 〃 −30°C 〃 〃
(5) 高湿 〃 ＋60°C−90％RH〃 〃
(6) 衝撃試験 100G 各 ６面
(7) 振動 〃 ２，4G ７〜30HZ 各 ３面
これらの試験項目において、温度特性試験、衝
撃、振動試験等を行うと、前記傾いて固定された
レンズ枠は微妙に動いてしまう。
撃、振動試験等を行うと、前記傾いて固定された
レンズ枠は微妙に動いてしまう。
更に、フオーカスエラー信号を臨界角法により
検出する場合は、臨界角プリズム及び該臨界角プ
リズムに入射するレーザ光線は、前記レンズ保持
枠の傾きにより、10〜20秒程度でも設定角がずれ
るとエラー信号となり、光学特性上大きな問題と
なる。
検出する場合は、臨界角プリズム及び該臨界角プ
リズムに入射するレーザ光線は、前記レンズ保持
枠の傾きにより、10〜20秒程度でも設定角がずれ
るとエラー信号となり、光学特性上大きな問題と
なる。
［考案の目的］
本考案は、これらの事情に鑑みてなされたもの
で、レンズ保持枠及び該レンズ保持枠に固定され
たコリメータレンズを傾くことなく光学特性最良
点上に調整固定できるようにし、さらに各種耐性
試験においてもレーザ光線の入射角変化がおきな
いようにした光ヘツドを提供することを目的とし
ている。
で、レンズ保持枠及び該レンズ保持枠に固定され
たコリメータレンズを傾くことなく光学特性最良
点上に調整固定できるようにし、さらに各種耐性
試験においてもレーザ光線の入射角変化がおきな
いようにした光ヘツドを提供することを目的とし
ている。
［問題点を解決するための手段及びその作用］
前記目的を達成するため本発明により光ヘツド
は、円筒状の半導体レーザ保持枠の貫通孔基部に
半導体レーザを固定し、この貫通孔の先端側にコ
リメータレンズを固定した円筒状レンズ保持枠を
光軸方向にスライド可能に嵌装すると共に、前記
半導体レーザ保持枠の外周から貫通孔にかけて該
貫通孔と直交するよう形成したねじ孔にねじを螺
合し、このねじにて前記レンズ保持枠を締め付け
前記貫通孔の反ねじ側に圧接固定するものにおい
て、前記半導体レーザ保持枠の貫通孔又はレンズ
保持枠の外周の少くとも一方に切欠きを形成して
２線以上にてレンズ保持枠を支持するようにして
いる。
は、円筒状の半導体レーザ保持枠の貫通孔基部に
半導体レーザを固定し、この貫通孔の先端側にコ
リメータレンズを固定した円筒状レンズ保持枠を
光軸方向にスライド可能に嵌装すると共に、前記
半導体レーザ保持枠の外周から貫通孔にかけて該
貫通孔と直交するよう形成したねじ孔にねじを螺
合し、このねじにて前記レンズ保持枠を締め付け
前記貫通孔の反ねじ側に圧接固定するものにおい
て、前記半導体レーザ保持枠の貫通孔又はレンズ
保持枠の外周の少くとも一方に切欠きを形成して
２線以上にてレンズ保持枠を支持するようにして
いる。
この構成では、レンズ保持枠は２線以上で線支
持され、従つて締め付け用のねじを回すことによ
り該レンズ保持枠に回転力が働いても傾きは生じ
ない。
持され、従つて締め付け用のねじを回すことによ
り該レンズ保持枠に回転力が働いても傾きは生じ
ない。
［考案の実施例］
以下、図面を参照して本考案の実施例を具体的
に説明する。
に説明する。
第１図ないし第４図は本考案の光ヘツドの第１
実施例に係り、第１図は断面図、第２図は第１図
のＡ−Ａ線断面図、第３図及び第４図はレンズ枠
の締め付け固定状態を説明する説明図である。
実施例に係り、第１図は断面図、第２図は第１図
のＡ−Ａ線断面図、第３図及び第４図はレンズ枠
の締め付け固定状態を説明する説明図である。
これらの図において、符号１１は半導体レーザ
保持枠で、円柱の中心軸を通る貫通孔１１ａを有
し、該貫通孔１１ａの基部端に半導体レーザ１２
の取付台１３を嵌合する段差部１１ｂを設けて半
導体レーザ１２を固定している。前記貫通孔１１
ａの先端側には、コリメータレンズ１４を先端に
固定した円筒状のレンズ保持枠１５がスライド可
能に嵌装されている。そして、レンズ保持枠１５
を第１図中光軸Ｚ方向にスライド調整して半導体
レーザ１２の光をコリメータレンズ１４を通すこ
とによつて平行光束にできる位置、即ち光学特性
上最良点で半導体レーザ保持枠１１の貫通孔１１
ａと直交し且つ外周から該貫通孔１１ａに貫通す
るねじ孔１１ｃに螺合したねじ１６にてレンズ保
持枠１５を締め付け固定している。
保持枠で、円柱の中心軸を通る貫通孔１１ａを有
し、該貫通孔１１ａの基部端に半導体レーザ１２
の取付台１３を嵌合する段差部１１ｂを設けて半
導体レーザ１２を固定している。前記貫通孔１１
ａの先端側には、コリメータレンズ１４を先端に
固定した円筒状のレンズ保持枠１５がスライド可
能に嵌装されている。そして、レンズ保持枠１５
を第１図中光軸Ｚ方向にスライド調整して半導体
レーザ１２の光をコリメータレンズ１４を通すこ
とによつて平行光束にできる位置、即ち光学特性
上最良点で半導体レーザ保持枠１１の貫通孔１１
ａと直交し且つ外周から該貫通孔１１ａに貫通す
るねじ孔１１ｃに螺合したねじ１６にてレンズ保
持枠１５を締め付け固定している。
しかして、レンズ保持枠１５を嵌装する半導体
レーザ保持枠１１の貫通孔１１ａの反ねじ側軸方
向には切欠溝１７が形成され、レンズ保持枠１５
の反ねじ側の一部がこの切欠溝１７内に係入され
ている。従つて、ねじ１６を締め付けることによ
り、レンズ保持枠１５は第２図中Ｆの固定力が生
じるが、この固定力Ｆは切欠溝１７の稜線１８，
１８にレンズ保持枠１５が支持されていることに
よつてF1，F2に分力され、このF1，F2の均等の
力で固定される。この分力F1，F2は、第４図に
示す如く接線に対し直角方向に生じる。このよう
に、レンズ保持枠１５は、二本の切欠稜線１８，
１８によつて支持されるので、ねじ１６を回すこ
とにより回転力が働いても、従来の第１０図に示
す如くＸ方向の傾きは生じない。
レーザ保持枠１１の貫通孔１１ａの反ねじ側軸方
向には切欠溝１７が形成され、レンズ保持枠１５
の反ねじ側の一部がこの切欠溝１７内に係入され
ている。従つて、ねじ１６を締め付けることによ
り、レンズ保持枠１５は第２図中Ｆの固定力が生
じるが、この固定力Ｆは切欠溝１７の稜線１８，
１８にレンズ保持枠１５が支持されていることに
よつてF1，F2に分力され、このF1，F2の均等の
力で固定される。この分力F1，F2は、第４図に
示す如く接線に対し直角方向に生じる。このよう
に、レンズ保持枠１５は、二本の切欠稜線１８，
１８によつて支持されるので、ねじ１６を回すこ
とにより回転力が働いても、従来の第１０図に示
す如くＸ方向の傾きは生じない。
第５図には本考案の第２実施例に係る断面図が
示されている。この実施例は、前述の第１実施例
における切欠溝１７を設ける他に、この溝１７の
上部側貫通孔１１ａをなかぐりして、反ねじ側の
両脇に稜面１９，１９を形成し、この稜面１９，
１９にてレンズ保持枠１５を支持するものであ
る。
示されている。この実施例は、前述の第１実施例
における切欠溝１７を設ける他に、この溝１７の
上部側貫通孔１１ａをなかぐりして、反ねじ側の
両脇に稜面１９，１９を形成し、この稜面１９，
１９にてレンズ保持枠１５を支持するものであ
る。
第６図には本考案の第３実施例に係る断面図が
示されている。この実施例は、第１実施例におけ
ると同様の切欠溝２０をレンズ保持枠１５外周の
反ねじ側に形成したもので、該保持枠１５は稜線
２１，２１にて保持され、第１実施例と同様の効
果が得られる。
示されている。この実施例は、第１実施例におけ
ると同様の切欠溝２０をレンズ保持枠１５外周の
反ねじ側に形成したもので、該保持枠１５は稜線
２１，２１にて保持され、第１実施例と同様の効
果が得られる。
［考案の効果］
以上説明したように本考案によれば、レンズ保
持枠及び該レンズ保持枠に固定されたコリメータ
レンズを傾くことなく光学特性最良点上に調整固
定でき、さらに各種耐性試験においてもレーザ光
線の入射角変化がおきないといつた効果を有す
る。
持枠及び該レンズ保持枠に固定されたコリメータ
レンズを傾くことなく光学特性最良点上に調整固
定でき、さらに各種耐性試験においてもレーザ光
線の入射角変化がおきないといつた効果を有す
る。
第１図ないし第４図は本考案の光ヘツドの第１
実施例に係り、第１図は断面図、第２図は第１図
のＡ−Ａ線断面図、第３図及び第４図はレンズ枠
の締め付け固定状態を説明する説明図、第５図は
第２実施例に係る断面図、第６図は第３実施例に
係る断面図、第７図ないし第１０図は光ヘツドの
従来例に係り、第７図は断面図、第８図は第７図
のＢ−Ｂ線断面図、第９図及び第１０図は説明図
である。 １１……半導体レーザ保持枠、１１ａ……貫通
孔、１２……半導体レーザ、１４……コリメータ
レンズ、１５……レンズ保持枠、１６……ねじ、
１７……切欠溝、１８……稜線１９……稜面、２
０……切欠溝、２１……稜線。
実施例に係り、第１図は断面図、第２図は第１図
のＡ−Ａ線断面図、第３図及び第４図はレンズ枠
の締め付け固定状態を説明する説明図、第５図は
第２実施例に係る断面図、第６図は第３実施例に
係る断面図、第７図ないし第１０図は光ヘツドの
従来例に係り、第７図は断面図、第８図は第７図
のＢ−Ｂ線断面図、第９図及び第１０図は説明図
である。 １１……半導体レーザ保持枠、１１ａ……貫通
孔、１２……半導体レーザ、１４……コリメータ
レンズ、１５……レンズ保持枠、１６……ねじ、
１７……切欠溝、１８……稜線１９……稜面、２
０……切欠溝、２１……稜線。
Claims (1)
- 円筒状の半導体レーザ保持枠の貫通孔基部に半
導体レーザを固定し、この貫通孔の先端側にコリ
メータレンズを固定した円筒状レンズ保持枠を光
軸方向にスライド可能に嵌装すると共に、前記半
導体レーザ保持枠の外周から貫通孔にかけて該貫
通孔と直交するよう形成したねじ孔にねじを螺合
し、このねじにて前記レンズ保持枠を締め付け前
記貫通孔の反ねじ側に圧接固定するものにおい
て、前記半導体レーザ保持枠の貫通孔又はレンズ
保持枠の外周の少なくとも一方に切欠きを形成し
て２線以上にてレンズ保持枠を支持するよう構成
したことを特徴とする光ヘツド。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP15138585U JPH042417Y2 (ja) | 1985-10-02 | 1985-10-02 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP15138585U JPH042417Y2 (ja) | 1985-10-02 | 1985-10-02 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6261026U JPS6261026U (ja) | 1987-04-15 |
| JPH042417Y2 true JPH042417Y2 (ja) | 1992-01-28 |
Family
ID=31068406
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP15138585U Expired JPH042417Y2 (ja) | 1985-10-02 | 1985-10-02 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH042417Y2 (ja) |
-
1985
- 1985-10-02 JP JP15138585U patent/JPH042417Y2/ja not_active Expired
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS6261026U (ja) | 1987-04-15 |
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