JPH0424701Y2 - - Google Patents
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- Publication number
- JPH0424701Y2 JPH0424701Y2 JP3434786U JP3434786U JPH0424701Y2 JP H0424701 Y2 JPH0424701 Y2 JP H0424701Y2 JP 3434786 U JP3434786 U JP 3434786U JP 3434786 U JP3434786 U JP 3434786U JP H0424701 Y2 JPH0424701 Y2 JP H0424701Y2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- test pattern
- signal
- input terminal
- video
- switch
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
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- Testing, Inspecting, Measuring Of Stereoscopic Televisions And Televisions (AREA)
Description
【考案の詳細な説明】
「産業上の利用分野」
この考案はVTR(ビデオテープレコーダ)のビ
デオ信号、テストパターン信号切換回路に関する
ものである。
デオ信号、テストパターン信号切換回路に関する
ものである。
「従来の技術」
ある種のVTRにはテストパターン発生器を内
蔵し、ユーザが所要各部を最適に調整し易いよう
にしているものがある。このようなVTRにはテ
ストパターン信号、ビデオ信号のいずれかを選択
してRF変調器に供給すると共にテストパターン
信号を選択した期間のみテストパターン発生器に
作電源を供給するためのビデオ信号、テストパタ
ーン信号切換回路が用いられる。
蔵し、ユーザが所要各部を最適に調整し易いよう
にしているものがある。このようなVTRにはテ
ストパターン信号、ビデオ信号のいずれかを選択
してRF変調器に供給すると共にテストパターン
信号を選択した期間のみテストパターン発生器に
作電源を供給するためのビデオ信号、テストパタ
ーン信号切換回路が用いられる。
従来の同回路を第2図の回路図を参照して説明
する。ビデオ入力端子1に印加されるビデオ信号
はスイツチ2の固定接片2aに与えられ、一方、
テストパターン発生器3よりテストパターン入力
端子4に供給されるテストパターン信号は直流阻
止用コンデンサ5、レベル調整用抵抗器6の直列
回路を通じてスイツチ2の固定接片2bに与えら
れる。スイツチ2の可動接片2cは抵抗器7、抵
抗器8の直列回路を通して共通電位点に接続さ
れ、抵抗器7と抵抗器8の接続点は直流阻止用の
コンデンサ9を介して信号出力端子10に接続さ
れる。
する。ビデオ入力端子1に印加されるビデオ信号
はスイツチ2の固定接片2aに与えられ、一方、
テストパターン発生器3よりテストパターン入力
端子4に供給されるテストパターン信号は直流阻
止用コンデンサ5、レベル調整用抵抗器6の直列
回路を通じてスイツチ2の固定接片2bに与えら
れる。スイツチ2の可動接片2cは抵抗器7、抵
抗器8の直列回路を通して共通電位点に接続さ
れ、抵抗器7と抵抗器8の接続点は直流阻止用の
コンデンサ9を介して信号出力端子10に接続さ
れる。
電源電圧が電源入力端子11を介してトランジ
スタ12のエミツタに与えられ、そのコレクタは
電源出力端子13を介してテストパターン発生器
3の電源端子に接続される。トランジスタ12の
ベースは抵抗器14を介してスイツチ2の固定接
片2bに接続される。電源入力端子11とトラン
ジスタ12との間の電源ラインには電源側より入
る雑音やリツプルをバイパスさせるためのコンデ
ンサ14が設けられる。
スタ12のエミツタに与えられ、そのコレクタは
電源出力端子13を介してテストパターン発生器
3の電源端子に接続される。トランジスタ12の
ベースは抵抗器14を介してスイツチ2の固定接
片2bに接続される。電源入力端子11とトラン
ジスタ12との間の電源ラインには電源側より入
る雑音やリツプルをバイパスさせるためのコンデ
ンサ14が設けられる。
スイツチ2の可動接片2cを固定接片2a側に
切換えるとビデオ入力端子1に与えられるビデオ
信号が選択され、抵抗器7,8よりなる分圧回路
でレベル調整されて直流阻止用コンデンサ9を介
して信号出力端子10よりRFモジユレータに供
給される。
切換えるとビデオ入力端子1に与えられるビデオ
信号が選択され、抵抗器7,8よりなる分圧回路
でレベル調整されて直流阻止用コンデンサ9を介
して信号出力端子10よりRFモジユレータに供
給される。
スイツチ2の可動接片2cを固定接片2b側に
切換えると、テストパターン信号が選択されて前
と同様に信号出力端子10よりRFモジユレータ
に供給される。またこれと同時にトランジスタ1
2のベース電流が、電源入力端子11−エミツタ
−ベース−抵抗器14−固定接片2b−可動接片
2c−抵抗器7−抵抗器8−共通電位点の経路で
流れるのでトランジスタ12はオンとなり、コレ
クタ電流が電源出力端子13を介してテストパタ
ーン発生器3に供給される。テストパターン発生
器3は電源が供給されると直ちにテストパターン
信号を出力する。
切換えると、テストパターン信号が選択されて前
と同様に信号出力端子10よりRFモジユレータ
に供給される。またこれと同時にトランジスタ1
2のベース電流が、電源入力端子11−エミツタ
−ベース−抵抗器14−固定接片2b−可動接片
2c−抵抗器7−抵抗器8−共通電位点の経路で
流れるのでトランジスタ12はオンとなり、コレ
クタ電流が電源出力端子13を介してテストパタ
ーン発生器3に供給される。テストパターン発生
器3は電源が供給されると直ちにテストパターン
信号を出力する。
「従来技術の問題点」
従来の回路ではビデオ信号、テストパターン信
号のいずれかを選択するスイツチとして機械的な
スイツチを用いている。ビデオ入力信号は1Vpp
程度の小さなものであり、接片を流れる電流も僅
かである。このため接片2a,2cによるオン、
オフ動作によつて接片の接触面を火花放電により
クリーニングする効果はほとんどない。一方テス
トパターン信号の通路となる接片2b,2cと
で、テストパターン信号或るいはトランジスタの
ベース電流を断続しているが、これらの電流は僅
かであるので前と同様に接片のクリーニング効果
はほとんど無い。このためある程度の期間使用す
ると接片の接触面が空気中の有害ガスの影響を受
けて腐食或るいは化学変化され、また塵埃でよご
され、接片相互の電気的接触が不安定となつて雑
音を発生し、ついには接触不良となる場合がしば
しばある。
号のいずれかを選択するスイツチとして機械的な
スイツチを用いている。ビデオ入力信号は1Vpp
程度の小さなものであり、接片を流れる電流も僅
かである。このため接片2a,2cによるオン、
オフ動作によつて接片の接触面を火花放電により
クリーニングする効果はほとんどない。一方テス
トパターン信号の通路となる接片2b,2cと
で、テストパターン信号或るいはトランジスタの
ベース電流を断続しているが、これらの電流は僅
かであるので前と同様に接片のクリーニング効果
はほとんど無い。このためある程度の期間使用す
ると接片の接触面が空気中の有害ガスの影響を受
けて腐食或るいは化学変化され、また塵埃でよご
され、接片相互の電気的接触が不安定となつて雑
音を発生し、ついには接触不良となる場合がしば
しばある。
この考案の目的は上述の欠点を除去し、雑音を
発生し難く、また接触不良が起こりにくいように
改良することである。
発生し難く、また接触不良が起こりにくいように
改良することである。
「問題点を解決するための手段」
この考案によれば、ビデオ入力端子と信号出力
端子との間にゲート電圧がゼロボルトでオンとな
り、電源入力端子の電圧がゲートに印加されると
オフするFETが接続され、テストパターン入力
端子と信号出力端子との間に常に信号伝送可能な
信号通路が設けられ、電源入力端子と電源出力端
子との間にスイツチが設けられ、上記電源入力端
子はこのスイツチを介して上記FETのゲートに
接続される。このスイツチのオン、オフに対応し
てそれぞれテストパターン信号、ビデオ信号が選
択されて出力される。
端子との間にゲート電圧がゼロボルトでオンとな
り、電源入力端子の電圧がゲートに印加されると
オフするFETが接続され、テストパターン入力
端子と信号出力端子との間に常に信号伝送可能な
信号通路が設けられ、電源入力端子と電源出力端
子との間にスイツチが設けられ、上記電源入力端
子はこのスイツチを介して上記FETのゲートに
接続される。このスイツチのオン、オフに対応し
てそれぞれテストパターン信号、ビデオ信号が選
択されて出力される。
「実施例」
この考案の実施例を第1図の回路図を参照して
説明する。なお第2図と同一の部分には同一の符
号を付して重複説明は省略する。ビデオ入力端子
1と信号出力端子10との間にFET20が設け
られ、電源入力端子11と電源出力端子13との
間にスイツチ21が設けられ、そのスイツチを介
して電源がFET20のゲートに与えられる。そ
のゲートは抵抗器22を介して共通電位点に接続
される。レベル調整用抵抗器6の一端は直接抵抗
器8の一端に接続され分圧回路を構成している。
説明する。なお第2図と同一の部分には同一の符
号を付して重複説明は省略する。ビデオ入力端子
1と信号出力端子10との間にFET20が設け
られ、電源入力端子11と電源出力端子13との
間にスイツチ21が設けられ、そのスイツチを介
して電源がFET20のゲートに与えられる。そ
のゲートは抵抗器22を介して共通電位点に接続
される。レベル調整用抵抗器6の一端は直接抵抗
器8の一端に接続され分圧回路を構成している。
スイツチ21をオンにすると動作電源がテスト
パターン発生器3に印加され、同発生器3よりテ
ストパターン信号がテストパターン入力端子4に
与えられ、この信号はコンデンサ5、抵抗器6,
8コンデンサ9よりなる常時伝送可能な信号通路
を通つて信号出力端子10に与えられる。一方ス
イツチ21を介して電源電圧がFET20のゲー
トに与えられ、FET20はオフとなる。
パターン発生器3に印加され、同発生器3よりテ
ストパターン信号がテストパターン入力端子4に
与えられ、この信号はコンデンサ5、抵抗器6,
8コンデンサ9よりなる常時伝送可能な信号通路
を通つて信号出力端子10に与えられる。一方ス
イツチ21を介して電源電圧がFET20のゲー
トに与えられ、FET20はオフとなる。
スイツチ21をオフとするとテストパターン発
生器3は、動作電源が断とされ、出力信号の供給
を停止し、一方FET20のゲートには抵抗器2
2を介して共通電位(ゼロボルト)が与えられて
FET20はオンとなり、ビデオ入力端子1に与
えられるビデオ信号が信号出力端子10に伝送さ
れる。
生器3は、動作電源が断とされ、出力信号の供給
を停止し、一方FET20のゲートには抵抗器2
2を介して共通電位(ゼロボルト)が与えられて
FET20はオンとなり、ビデオ入力端子1に与
えられるビデオ信号が信号出力端子10に伝送さ
れる。
FET20はゲート電圧がゼロボルトのときに
ドレイン電流を流すことのできる所謂デプリーシ
ヨン形FETを用いている。デプリーシヨン形
FETの内Nチヤネル形の場合はFETがカツトオ
フするゲート電圧(カツトオフ電圧)は負の電圧
(例えば−3ボルト)であり、Pチヤネル形の場
合は正の電圧(例えば3ボルト)である。従つて
電源電圧の正、負に応じてそれぞれPチヤネル
形、Nチヤネル形が用いられる。また電源電圧の
絶対値はカツトオフ電圧のそれより大きく選ばれ
る。
ドレイン電流を流すことのできる所謂デプリーシ
ヨン形FETを用いている。デプリーシヨン形
FETの内Nチヤネル形の場合はFETがカツトオ
フするゲート電圧(カツトオフ電圧)は負の電圧
(例えば−3ボルト)であり、Pチヤネル形の場
合は正の電圧(例えば3ボルト)である。従つて
電源電圧の正、負に応じてそれぞれPチヤネル
形、Nチヤネル形が用いられる。また電源電圧の
絶対値はカツトオフ電圧のそれより大きく選ばれ
る。
ゲート電圧がゼロボルトで、ソース、ドレイン
間に印加される電圧が小さい範囲では、ソース、
ドレイン間の抵抗は小さく数100オーム程度であ
る。この抵抗と抵抗器8とでビデオ信号に対する
分圧回路を構成し、第2図の回路の分圧用抵抗器
7を省略している。
間に印加される電圧が小さい範囲では、ソース、
ドレイン間の抵抗は小さく数100オーム程度であ
る。この抵抗と抵抗器8とでビデオ信号に対する
分圧回路を構成し、第2図の回路の分圧用抵抗器
7を省略している。
電源回路に挿入したスイツチ21はテストパタ
ーン発生器3のある程度大きな動作電流を断続し
ており、火花放電による接片のクリーニングが行
われるので、電気的接触が長期間に亘つて安定に
保たれ、雑音の発生や接触不良が防止される。
ーン発生器3のある程度大きな動作電流を断続し
ており、火花放電による接片のクリーニングが行
われるので、電気的接触が長期間に亘つて安定に
保たれ、雑音の発生や接触不良が防止される。
FET20は周知のように一般のトランジスタ
と異なりゲート漏れ電流が極めて小さく、またソ
ース、ドレイン間にPN接合を持たないので、
PN接合によるオフセツト電圧を発生しない。従
つて理想に近いスイツチとして使用できる。
と異なりゲート漏れ電流が極めて小さく、またソ
ース、ドレイン間にPN接合を持たないので、
PN接合によるオフセツト電圧を発生しない。従
つて理想に近いスイツチとして使用できる。
「考案の効果」
この考案によれば、ビデオ信号、テストパター
ン信号の選択にFETとスイツチが用いられ、し
かもそのスイツチはテストパターン発生器の動作
電源を断続する構成としたので、火花放電による
自己クリーニングが行はれ、長期に亘り安定した
電気的接触が得られる。またFETは従来回路の
自己クリーニング効果のない機械的スイツチのよ
うに接片の経年劣化により雑音を発生したり、接
触不良となる恐れは極めて小さい。従つてこの考
案によれば従来問題となつていた信号切換回路に
おける雑音の発生或いは接触不良を防止すること
ができる。
ン信号の選択にFETとスイツチが用いられ、し
かもそのスイツチはテストパターン発生器の動作
電源を断続する構成としたので、火花放電による
自己クリーニングが行はれ、長期に亘り安定した
電気的接触が得られる。またFETは従来回路の
自己クリーニング効果のない機械的スイツチのよ
うに接片の経年劣化により雑音を発生したり、接
触不良となる恐れは極めて小さい。従つてこの考
案によれば従来問題となつていた信号切換回路に
おける雑音の発生或いは接触不良を防止すること
ができる。
第1図はこの考案のVTRのビデオ信号、テス
トパターン信号切換回路を示す回路図、第2図は
従来のVTRのビデオ信号、テストパターン信号
切換回路を示す回路図である。 1……ビデオ入力端子、2……テストパターン
入力端子、3……テストパターン発生器、4……
直流阻止用コンデンサ、5,6,7,13,22
……抵抗器、8……直流阻止用コンデンサ、9…
…信号出力端子、10……電源入力端子、11…
…トランジスタ、12……電源出力端子、14…
…コンデンサ、20……FET、21……スイツ
チ。
トパターン信号切換回路を示す回路図、第2図は
従来のVTRのビデオ信号、テストパターン信号
切換回路を示す回路図である。 1……ビデオ入力端子、2……テストパターン
入力端子、3……テストパターン発生器、4……
直流阻止用コンデンサ、5,6,7,13,22
……抵抗器、8……直流阻止用コンデンサ、9…
…信号出力端子、10……電源入力端子、11…
…トランジスタ、12……電源出力端子、14…
…コンデンサ、20……FET、21……スイツ
チ。
Claims (1)
- 【実用新案登録請求の範囲】 ビデオ入力端子に与えられるビデオ信号とテス
トパターン入力端子に与えられるテストパターン
信号とのいずれかを選択して信号出力端子に供給
すると共に、電源入力端子に与えられる電圧を、
上記テストパターン信号が選択された期間のみ、
電源出力端子を介してテストパターン発生器へ供
給するVTRのビデオ信号、テストパターン信号
切換回路において、 上記ビデオ入力端子と上記信号出力端子との間
に、ゲート電圧がゼロボルトでオンとなり、上記
電源入力端子の電圧がゲートに印加されるとオフ
するFETが接続され、 上記テストパターン入力端子と上記信号出力端
子との間に常に信号伝送可能な信号通路が設けら
れ、 上記電源入力端子と上記電源入力端子との間に
スイツチが設けられ、 上記電源入力端子は上記スイツチを介して上記
FETのゲートに接続され、 上記スイツチのオン、オフに対応してそれぞれ
上記テストパターン信号、上記ビデオ信号が選択
されて出力されることを特徴とするVTRのビデ
オ信号、テストパターン信号切換回路。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3434786U JPH0424701Y2 (ja) | 1986-03-10 | 1986-03-10 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3434786U JPH0424701Y2 (ja) | 1986-03-10 | 1986-03-10 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS62146379U JPS62146379U (ja) | 1987-09-16 |
| JPH0424701Y2 true JPH0424701Y2 (ja) | 1992-06-11 |
Family
ID=30842808
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP3434786U Expired JPH0424701Y2 (ja) | 1986-03-10 | 1986-03-10 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0424701Y2 (ja) |
-
1986
- 1986-03-10 JP JP3434786U patent/JPH0424701Y2/ja not_active Expired
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS62146379U (ja) | 1987-09-16 |
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