JPH04247369A - 磁気ディスク板検査装置 - Google Patents

磁気ディスク板検査装置

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Publication number
JPH04247369A
JPH04247369A JP3144491A JP3144491A JPH04247369A JP H04247369 A JPH04247369 A JP H04247369A JP 3144491 A JP3144491 A JP 3144491A JP 3144491 A JP3144491 A JP 3144491A JP H04247369 A JPH04247369 A JP H04247369A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
magnetic disk
disk plate
measurement
defect
measuring
Prior art date
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Pending
Application number
JP3144491A
Other languages
English (en)
Inventor
Toshiaki Yamanaka
山中　敏明
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NEC Ibaraki Ltd
Original Assignee
NEC Ibaraki Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by NEC Ibaraki Ltd filed Critical NEC Ibaraki Ltd
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  • Manufacturing Of Magnetic Record Carriers (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、磁気記録媒体の検査装
置に関し、特に、品質を保証する磁気ディスク板検査装
置に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】従来の特にウィンチェスタ型の磁気ディ
スク板の検査装置では、表面上の突起を測定するために
、定常の浮上量より低い浮上量を有する特殊な磁気ヘッ
ドを用いていた。また、グライドテスタで欠陥を検査す
るために、定常の浮上量のある磁気ヘッドを用い、検査
するサーチファイヤ装置の２種類を使用していた。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】上述した従来の磁気デ
ィスク板検査装置では、突起測定用装置と欠陥測定用装
置との２種類を使用していたため、磁気ディスク板の検
査を行うときには、初めに、１枚のディスク板を突起測
定用装置で検査を行い、次に、そのディスク板を欠陥測
定用装置で検査をしているため、１枚の磁気ディスク板
に対する検査時間が長くなるという欠点がある。
【０００４】本発明の目的は、このような欠点を解消し
、１枚の磁気ディスク板の検査時間を長くすることなく
、充分な検査が行える磁気ディスク板検査装置を提供す
ることにある。
【０００５】
【課題を解決するための手段】本発明は、磁気ディスク
板の、突起測定及び欠陥測定を行う磁気ヘッドを備える
磁気ディスク板検査装置において、突起測定を行うため
の浮上量となる突起測定用スライダと、磁気ヘッドのリ
ードライトギャップ部の欠陥測定を行うための浮上量と
なる欠陥測定用スライダとが、１つの磁気ヘッドに設け
られたことを特徴とする。
【０００６】
【実施例】次に、本発明の一実施例について、図面を参
照して説明する。
【０００７】図１は、本発明の一実施例を示す回路図で
ある。
【０００８】この磁気ディスク板検査装置は、磁気ヘッ
ド１と、突起測定用スライダ２と、欠陥測定用センタス
ライダ４と、衝撃力検出回路９と、電磁気変換特性測定
回路１０と、欠陥検出回路１１と、制御部１２とを備え
ている。
【０００９】突起測定用スライダ２には、欠陥測定用セ
ンタスライダ４とリードライトギャップ部３とが設けら
れ、磁気ディスク板７の面上に、突起測定に必要な浮上
量５と、欠陥測定に必要な浮上量６とを有している。突
起測定用スライダ２は欠陥検出回路１１と接続され、突
起測定用スライダ２の磁気ヘッド１は衝撃力検出回路９
と接続されている。また、欠陥検出回路１１，電磁気変
換特性測定回路１０，欠陥検出回路１１は、シリースに
接続されている。制御部１２は、衝撃力検出回路９，電
磁気変換特性測定回路１０，欠陥検出回路１１と接続さ
れている。
【００１０】次に、本実施例の動作について図面を参照
して説明する。
【００１１】磁気ヘッド１のスライダ２を突起測定のた
めに必要な磁気ディスク板７からの浮上量５になるよう
に設計する。
【００１２】また、リードライトギャップ３を有する欠
陥測定用センタスライダ４を欠陥測定のために、必要な
磁気ディスク板７からの浮上量６になるように設計する
ことにより、１つの磁気ヘッドで２種類の検査をするこ
とができる。この装置を使用する場合は、初めに、スラ
イダ２を用いて、磁気ディスク板７上の突起の検出を行
う。そして、突起を検出した場合、スライダ２と突起と
の衝撃により、衝撃力検出素子８が振動を始め、電気信
号として、衝撃力検出回路９で検出する。次に、欠陥測
定検査の場合は、欠陥測定用センタスライダ４とリード
ライトギャップ部３を用いて行う。欠陥測定と電磁気変
換特性測定の電気信号は、欠陥検出回路１１及び電磁気
変換特性回路１０に送出され、磁気ディスク板７上の欠
陥の有無の検査が行われる。
【００１３】
【発明の効果】以上説明したように、本発明は、１台の
磁気ディスク板検査装置で突起測定と欠陥測定との２種
類の検査ができるヘッドを備えることにより、磁気ディ
スク板の突起の測定と欠陥の測定が同時にできるように
なり、１枚の媒体の検査時間が短くなるという効果があ
る。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の一実施例を示す回路図である。
【符号の説明】
９　　衝撃力検出回路 １０　　電磁気変換特性測定回路 １１　　欠陥検出回路

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項１】磁気ディスク板の、突起測定及び欠陥測定
    を行う磁気ヘッドを備える磁気ディスク板検査装置にお
    いて、突起測定を行うための浮上量となる突起測定用ス
    ライダと、磁気ヘッドのリードライトギャップ部の欠陥
    測定を行うための浮上量となる欠陥測定用スライダとが
    、１つの磁気ヘッドに設けられたことを特徴とする磁気
    ディスク板検査装置。
JP3144491A 1991-02-01 1991-02-01 磁気ディスク板検査装置 Pending JPH04247369A (ja)

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