JPH03199961A - 超音波探傷装置の信号処理方法 - Google Patents
超音波探傷装置の信号処理方法Info
- Publication number
- JPH03199961A JPH03199961A JP1344454A JP34445489A JPH03199961A JP H03199961 A JPH03199961 A JP H03199961A JP 1344454 A JP1344454 A JP 1344454A JP 34445489 A JP34445489 A JP 34445489A JP H03199961 A JPH03199961 A JP H03199961A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- level
- flaw detection
- flaw detecting
- peak values
- signals
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Landscapes
- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Ultrasonic Waves (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
（産業上の利用分野）
本発明は、超音波探傷装置における信号処理方法に関す
るものである。
るものである。
（従来の技術）
例えば丸棒鋼の内部欠陥検査には一般に超音波探傷法が
採用されている。この超音波探傷法では、第３図に示す
ように、超音波探傷装置１から得られた探傷信号は合否
判定回路２によってそのレベルを選別され、その探傷信
号が不適格レベル以上であれば信号遅延回路３によって
当該探傷信号を遅延させ、マーキング装置４で被検査材
５の欠陥部にマーキングする。
採用されている。この超音波探傷法では、第３図に示す
ように、超音波探傷装置１から得られた探傷信号は合否
判定回路２によってそのレベルを選別され、その探傷信
号が不適格レベル以上であれば信号遅延回路３によって
当該探傷信号を遅延させ、マーキング装置４で被検査材
５の欠陥部にマーキングする。
なお、第３図中、６は探触子、７は媒質としての水、８
はインターフェイス基板、９はコンピュータ、１０はプ
ロッピーディスク、１１はＣＲＴ。
はインターフェイス基板、９はコンピュータ、１０はプ
ロッピーディスク、１１はＣＲＴ。
１２はプリンターを示す。
ここで、従来の合否判定回路２について更に詳細に説明
する。
する。
電圧に変換された探傷信号は、予め設定された判定電圧
レベル以上であれば不合格として次段１の回路に信号を
送り、被検査材の欠陥部にマーキングする。一般に欠陥
面積と欠陥エコー高さ（欠陥エコー高さは電圧に比例す
る）は直線関係にあることから、検出したい欠陥の大き
さ（面積）によって合否判定レベルは決定される。一方
、超音波探傷時の探傷信号は、欠陥エコーの他に例えば
被検査材の表面粗さ、寸法変化、曲がり、表面スケール
や搬送時の振動、その他電気的な外乱によるノイズ成分
が含まれているから、実際に合否選別レベルを決めるた
めには、これらのノイズレベルを考慮する必要がある。
レベル以上であれば不合格として次段１の回路に信号を
送り、被検査材の欠陥部にマーキングする。一般に欠陥
面積と欠陥エコー高さ（欠陥エコー高さは電圧に比例す
る）は直線関係にあることから、検出したい欠陥の大き
さ（面積）によって合否判定レベルは決定される。一方
、超音波探傷時の探傷信号は、欠陥エコーの他に例えば
被検査材の表面粗さ、寸法変化、曲がり、表面スケール
や搬送時の振動、その他電気的な外乱によるノイズ成分
が含まれているから、実際に合否選別レベルを決めるた
めには、これらのノイズレベルを考慮する必要がある。
以上の理由により、超音波探傷装置における検出能の限
界は探傷信号のレベルによって決まり、またこの探傷信
号のレベルは被検査材のロフト（材質、表面粗さ、寸法
変化、曲り、表面スケール）によって変化するため、通
常、合否判定レベルは、第２図に実線で示すように、探
傷信号のレベルの最高値付近に設定している。
界は探傷信号のレベルによって決まり、またこの探傷信
号のレベルは被検査材のロフト（材質、表面粗さ、寸法
変化、曲り、表面スケール）によって変化するため、通
常、合否判定レベルは、第２図に実線で示すように、探
傷信号のレベルの最高値付近に設定している。
（発明が解決しようとする課題）
上記したような合否判定レベルの設定においては、全体
的に探傷信号のレベルが低い場合には、Ｓ／Ｎ的に余裕
がある被検査材の検出能も一義的に決まるため、微小底
の検出漏れ率が高くなるという問題がある。
的に探傷信号のレベルが低い場合には、Ｓ／Ｎ的に余裕
がある被検査材の検出能も一義的に決まるため、微小底
の検出漏れ率が高くなるという問題がある。
本発明は、かかる問題点を解決し、欠陥検出能の向上が
図れる超音波探傷装置の信号処理方法を提供することを
目的としている。
図れる超音波探傷装置の信号処理方法を提供することを
目的としている。
（課題を解決するための手段）
上記目的を達成するために、本発明に係る超音波探傷装
置の信号処理方法は、超音波探傷をせんとする被検査材
の探傷信号を常時取り込んでこれら探傷信号のうちの発
射毎のピーク値を平均化し、この平均値に一定のレベル
値を加算したものを合否判定レベルとすることとしてい
るのである。
置の信号処理方法は、超音波探傷をせんとする被検査材
の探傷信号を常時取り込んでこれら探傷信号のうちの発
射毎のピーク値を平均化し、この平均値に一定のレベル
値を加算したものを合否判定レベルとすることとしてい
るのである。
（作 用）
本発明方法は、超音波探傷をせんとする被検査材の探傷
信号を常時取り込み、これを平均化したものを合否判定
レベルの基礎として使用するため、微小欠陥に対する検
出精度が大幅に向上する。
信号を常時取り込み、これを平均化したものを合否判定
レベルの基礎として使用するため、微小欠陥に対する検
出精度が大幅に向上する。
（実 施 例）
以下本発明方法を、第１図に示す一実施例に基づいて説
明する。
明する。
第１図に示すように、探触子６は回転しながら例えば５
ＭＨｚの探傷信号を発射する（発射波１３）。
ＭＨｚの探傷信号を発射する（発射波１３）。
この時の発射間隔は１〜２ ＫＨｚ （１〜０．５ｍ
５ｅｃ）である。しかして、被検査材５は進行している
ため、第１図に示すような走査となる。
５ｅｃ）である。しかして、被検査材５は進行している
ため、第１図に示すような走査となる。
この信号の中から被検査材５中の信号、すなわち、表面
エコー１４と底面エコー１５を除いた探傷信号１６のみ
を例えば５０ｍ５ｅｃ間取り出し、発射毎のピーク値を
ホールドする。なお、発射間隔は１〜０．５ｍ５ｅｃで
あるから、５０１１ｓｅｃ間では５０〜１００回の探傷
信号のピーク値を出力する。また発射毎のピーク値はノ
イズであるか、欠陥信号であるかは不明である。
エコー１４と底面エコー１５を除いた探傷信号１６のみ
を例えば５０ｍ５ｅｃ間取り出し、発射毎のピーク値を
ホールドする。なお、発射間隔は１〜０．５ｍ５ｅｃで
あるから、５０１１ｓｅｃ間では５０〜１００回の探傷
信号のピーク値を出力する。また発射毎のピーク値はノ
イズであるか、欠陥信号であるかは不明である。
前記平均化した信号を被検査材５のＮ本について更に平
均化訂し、これに一定のレベル値すを加算したものを合
否判定レベルとする。
均化訂し、これに一定のレベル値すを加算したものを合
否判定レベルとする。
かかる如くすることにより探傷信号レベルの大小に見合
った合否判定レベルが決定できる。
った合否判定レベルが決定できる。
そして、この合否判定レベルと超音波探傷装置１からの
検出信号Ｓｉｊ を比較して欠陥の判定を行うのである
。
検出信号Ｓｉｊ を比較して欠陥の判定を行うのである
。
以上の判定ロジックを下記に示す。
Ｓｉｊ＞ａＸ肝十ｂ ・・・ 疵欠陥ありＳｉｊ ≦ａ
Ｘ肝＋ｂ ・・・ 疵欠陥なし但し、ａ：比例定数 しかして上記判定ロジックによって疵欠陥ありとされた
場合は、信号遅延回路３に信号を出力し、被検査材５の
欠陥部にマーキングを施すのである。
Ｘ肝＋ｂ ・・・ 疵欠陥なし但し、ａ：比例定数 しかして上記判定ロジックによって疵欠陥ありとされた
場合は、信号遅延回路３に信号を出力し、被検査材５の
欠陥部にマーキングを施すのである。
なお、本発明方法を実施する際における最初の合否判定
レベルの決定は、テスト材を数本通過させてこれを平均
することによって求める。
レベルの決定は、テスト材を数本通過させてこれを平均
することによって求める。
（発明の効果）
以上説明したように本発明方法は、探傷信号のレベルの
実績に応じて合否判定レベルを決定するものである為、
第２図に破線で示すように、例えば被検査材のロフトが
変化し、探傷信号のレベルが全体に低下した場合等にお
いては、従来方法のように判定レベルを固定とした場合
に検出でき込いような欠陥も検出できることになり、欠
陥検出能が向上する。
実績に応じて合否判定レベルを決定するものである為、
第２図に破線で示すように、例えば被検査材のロフトが
変化し、探傷信号のレベルが全体に低下した場合等にお
いては、従来方法のように判定レベルを固定とした場合
に検出でき込いような欠陥も検出できることになり、欠
陥検出能が向上する。
なお、本実施例では超音波探傷の場合について説明した
が、他の非破壊検査、例えば渦流探傷、漏洩磁束探傷に
おいても同様に適用できることは勿論である。
が、他の非破壊検査、例えば渦流探傷、漏洩磁束探傷に
おいても同様に適用できることは勿論である。
第１図は本発明方法の説明図、第２図は本発明方法の効
果を従来方法と比較して示す図面、第３図は超音波探傷
の信号処理ブロック図である。 １は超音波探傷装置、２は合否判定回路、５被検査材、
１６は探傷信号。 は ｌ＃） ）Ｎ 嶺Ｐ １
果を従来方法と比較して示す図面、第３図は超音波探傷
の信号処理ブロック図である。 １は超音波探傷装置、２は合否判定回路、５被検査材、
１６は探傷信号。 は ｌ＃） ）Ｎ 嶺Ｐ １
Claims (1)
- （１）超音波探傷をせんとする被検査材の探傷信号を常
時取り込んでこれら探傷信号のうちの発射毎のピーク値
を平均化し、この平均値に一定のレベル値を加算したも
のを合否判定レベルとすることを特徴とする超音波探傷
装置の信号処理方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1344454A JPH03199961A (ja) | 1989-12-27 | 1989-12-27 | 超音波探傷装置の信号処理方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1344454A JPH03199961A (ja) | 1989-12-27 | 1989-12-27 | 超音波探傷装置の信号処理方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH03199961A true JPH03199961A (ja) | 1991-08-30 |
Family
ID=18369394
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1344454A Pending JPH03199961A (ja) | 1989-12-27 | 1989-12-27 | 超音波探傷装置の信号処理方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH03199961A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US7343827B2 (en) * | 2005-11-08 | 2008-03-18 | M-I L.L.C. | System and process for break detection in porous elements for screening or filtering |
| JP2009229064A (ja) * | 2008-03-19 | 2009-10-08 | Hitachi-Ge Nuclear Energy Ltd | 超音波検査方法および超音波検査装置 |
-
1989
- 1989-12-27 JP JP1344454A patent/JPH03199961A/ja active Pending
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US7343827B2 (en) * | 2005-11-08 | 2008-03-18 | M-I L.L.C. | System and process for break detection in porous elements for screening or filtering |
| JP2009229064A (ja) * | 2008-03-19 | 2009-10-08 | Hitachi-Ge Nuclear Energy Ltd | 超音波検査方法および超音波検査装置 |
| US8250923B2 (en) | 2008-03-19 | 2012-08-28 | Hitachi-Ge Nuclear Energy, Ltd. | Ultrasonic inspection method and ultrasonic inspection apparatus |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JPH03199961A (ja) | 超音波探傷装置の信号処理方法 | |
| US4253337A (en) | Ultrasonic nondestructive testing method | |
| JP3831285B2 (ja) | 超音波探傷装置及び超音波探傷方法 | |
| JPS6229023B2 (ja) | ||
| JP2761928B2 (ja) | 非破壊検査方法及び装置 | |
| JPH05172790A (ja) | 管台内面疵検査方法および装置 | |
| JPS61138160A (ja) | 超音波探傷装置 | |
| JPS6232359A (ja) | 超音波探傷におけるｓｎ比改善のための信号処理方法 | |
| JP2004012369A (ja) | 超音波探傷装置及び超音波探傷方法 | |
| Kobayashi et al. | Signal processing method for scanning-acoustic-tomography defect detection based on correlation between ultrasound waveforms | |
| SU1272206A1 (ru) | Способ неразрушающего контрол качества поверхностного сло деталей | |
| Jax | Flaw detection and leak testing in components during internal pressure loading with the help of acoustic emission analysis | |
| SU1486918A1 (ru) | Способ контроля .качества многослойных листовых изделий | |
| JPH02227662A (ja) | 鋼板用超音波自動探傷装置 | |
| KR910002657B1 (ko) | 관(管)의 초음파 탐상(探傷)법 | |
| JPH054009U (ja) | 超音波探傷装置 | |
| JPS62207957A (ja) | 超音波探傷方法 | |
| JPS60256051A (ja) | 非破壊検査装置 | |
| JPH075154A (ja) | 打音によるコンクリート製品良否の自動判定方法 | |
| JPH075155A (ja) | 超音波自動疵種判別方法 | |
| ZALESSKII et al. | System for the digital recording of ultrasonic flaw-detection results in automatic inspection | |
| SU1698747A1 (ru) | Способ определени координат источников акустической эмиссии | |
| JPS6048700B2 (ja) | 表面波法超音波探傷装置 | |
| JPS60142248A (ja) | 分割型集束探触子による超音波探傷方法 | |
| JPS643555A (en) | Apparatus for inspecting deterioration of metallic material |