JPH0425511B2 - - Google Patents
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- JPH0425511B2 JPH0425511B2 JP11361382A JP11361382A JPH0425511B2 JP H0425511 B2 JPH0425511 B2 JP H0425511B2 JP 11361382 A JP11361382 A JP 11361382A JP 11361382 A JP11361382 A JP 11361382A JP H0425511 B2 JPH0425511 B2 JP H0425511B2
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- G01—MEASURING; TESTING
- G01T—MEASUREMENT OF NUCLEAR OR X-RADIATION
- G01T1/00—Measuring X-radiation, gamma radiation, corpuscular radiation, or cosmic radiation
- G01T1/16—Measuring radiation intensity
- G01T1/161—Applications in the field of nuclear medicine, e.g. in vivo counting
- G01T1/164—Scintigraphy
- G01T1/1641—Static instruments for imaging the distribution of radioactivity in one or two dimensions using one or several scintillating elements; Radio-isotope cameras
- G01T1/1642—Static instruments for imaging the distribution of radioactivity in one or two dimensions using one or several scintillating elements; Radio-isotope cameras using a scintillation crystal and position sensing photodetector arrays, e.g. ANGER cameras
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Description
【発明の詳細な説明】 この発明はシンチレーシヨンカメラに関する。[Detailed description of the invention] This invention relates to a scintillation camera.
一般にシンチレーシヨンカメラには空間非直線
性とエネルギ不均一性の両者に基づく感度不均一
性が存在し、従来よりこれを補正するための提案
が種々なされてきている。しかし従来のものは感
度が犠牲になる等問題が多かつた。 In general, scintillation cameras have sensitivity non-uniformity based on both spatial non-linearity and energy non-uniformity, and various proposals have been made to correct this. However, the conventional method had many problems such as a sacrifice in sensitivity.
この発明は上記に鑑み、エネルギ不均一性に基
づく感度不均一性を感度を犠牲にすることなしに
実時間で補正することのできるシンチレーシヨン
カメラを提供することを目的とする。 In view of the above, an object of the present invention is to provide a scintillation camera that can correct sensitivity non-uniformity due to energy non-uniformity in real time without sacrificing sensitivity.
以下、この発明の一実施例について図面を参照
しながら説明する。第1図において、シンチレー
タ11の背面にライトガイド12を介して光電変
換器であるPMT(フオトマルチプライア)13が
多数配列されている。シンチレータ11の前面か
ら放射線が入射して発光が生じるとその光はライ
トガイド12を介して各PMT13に導かれ電気
的な出力に変換される。これらPMT13の出力
は位置及びエネルギ演算回路14に導かれ、位置
計算及びエネルギ計算が行なわれて位置信号X,
Y及びエネルギ信号Zが得られる。エネルギ信号
Zはサンプルホールド遅延回路15をへて主波高
分析器16、低補助波高分析器17、高補助波高
分析器18に送られる。これら波高分析器16,
17,18はエネルギ信号Zの波高値がそれぞれ
のウインド範囲内に入つていることを検出しそれ
ぞれUNBLANK1,UNBLANK2,
UNBLANK3の各々を発生する。各ウインド範
囲はウインドレベル設定回路19により与えら
れ、第2図に示すように主波高分析器16につい
てはLL1〜UL1の範囲、低補助波高分析器17
についてはLL2〜LL1の範囲、高補助波高分析
器18についてはUL1〜UL2の範囲となつてい
る。ウインドレベル設定回路19では放射性同位
元素の核種に応じたエネルギレベル(LEVEL)
とウインド範囲(WINDOW)とを任意に設定で
きるようになつている。WINDOWはLEVELに
対する%で設定される。LEVELはウインド範囲
の中心値である。LEVELとWINDOWとが設定
されると、WINDOWが20%であればLL1〜UL
1は20%であり、このときLL2〜LL1及びUL
1〜UL2はそれぞれ例えば5%程度とする。
UNBLANK1についてはOR回路22をへてそ
のまま表示装置25に輝度信号として送られる
が、UNBLANK2,3はそのまま送られる訳で
はなく、AND回路20,21でそれぞれゲート
されADMIT・L,ADMIT・Hの各々により許
容されたときのみOR回路22をへて表示装置2
5に輝度信号として送られる。表示装置25には
位置信号X,Yがそれぞれサンプルホールド遅延
回路23,24をへて送られてきており、これら
により定まる位置に輝点が表示される。 An embodiment of the present invention will be described below with reference to the drawings. In FIG. 1, a large number of PMTs (photomultipliers) 13, which are photoelectric converters, are arranged on the back side of a scintillator 11 via a light guide 12. When radiation is incident from the front surface of the scintillator 11 and light is emitted, the light is guided to each PMT 13 via the light guide 12 and converted into an electrical output. The outputs of these PMTs 13 are led to the position and energy calculation circuit 14, where position and energy calculations are performed, and the position signals X,
Y and an energy signal Z are obtained. The energy signal Z is sent through a sample and hold delay circuit 15 to a main wave height analyzer 16, a low auxiliary wave height analyzer 17, and a high auxiliary wave height analyzer 18. These wave height analyzers 16,
17 and 18 detect that the peak value of the energy signal Z is within the respective window ranges, and output UNBLANK1, UNBLANK2, and UNBLANK2, respectively.
Generate each of UNBLANK3. Each window range is given by a window level setting circuit 19, and as shown in FIG.
For the high auxiliary wave height analyzer 18, the range is from LL2 to LL1, and for the high auxiliary wave height analyzer 18, the range is from UL1 to UL2. The window level setting circuit 19 sets the energy level (LEVEL) according to the nuclide of the radioactive isotope.
and window range (WINDOW) can be set arbitrarily. WINDOW is set as a percentage of LEVEL. LEVEL is the center value of the window range. When LEVEL and WINDOW are set, if WINDOW is 20%, LL1 to UL
1 is 20%, and at this time LL2 to LL1 and UL
1 to UL2 are each about 5%, for example.
UNBLANK1 goes through the OR circuit 22 and is sent as a brightness signal to the display device 25, but UNBLANK2 and 3 are not sent as they are, but are gated by AND circuits 20 and 21, respectively, and ADMIT・L and ADMIT・H are respectively gated. The display device 2 passes through the OR circuit 22 only when permitted by
5 as a luminance signal. Position signals X and Y are sent to the display device 25 through sample and hold delay circuits 23 and 24, respectively, and a bright spot is displayed at a position determined by these signals.
ところでUNBLANK2,3を許容するための
信号ADMIT・L,ADMIT・Hは次のようにし
て作られる。位置信号X,Yがそれぞれサンプル
ホールド回路51,52をへてADコンバータ6
1,62の各々によりデイジタル化(たとえば
6bits)され、たとえばP−ROMで構成される波
高シフト量メモリ27に読出アドレスを指定する
信号として送られる。この波高シフト量メモリ2
7には予め測定された各位置に関するエネルギ信
号の波高値シフト量ΔZ及び補助波高分析器17,
18のいずれかを指定するための信号であるシフ
ト量ΔZの正・負に応じた1bitの信号が位置信号
X,Yで指定されるアドレス毎に書き込まれてい
る。一方、カウンタ28は自走式であり、例えば
0〜255まで放射線入射イベントには依存しない
独立したタイミングで順次カウントアツプしては
零に戻るようなサイクルを繰り返しており、その
出力が波高シフト量メモリ27から読み出された
シフト量ΔZの出力(例えば8bits)とともに読出
アドレスを指定する信号として頻度変換メモリ2
9(たとえばP−ROMで構成される)に送られ
る。この頻度変換メモリ29にはカウンタ28の
出力及び読み出された波高シフト量ΔZにより指
定されるアドレス毎に頻度に関する1bitのデータ
が第3図に示すように記憶されている。例えばシ
フト量ΔZが大きい程種々のカウント値に対し
「1」が読み出される確率が高くなるように「1」
と「0」の割合が予め設定されている。「1」が
読み出されるとパルス発生回路30により信号
ADMITが生じAND回路33,34に送られる。
他方、波高シフト量メモリ27から読み出された
シフト量ΔZの正・負に対応する1bitの信号はパ
ルス発生回路31に送られてこのパルス発生回路
31から出力されるパルスがAND回路33に送
られ、このパルスを反転回路32で反転したもの
がAND回路34に送られる。従つて、位置信号
X,Yで規定される位置におけるエネルギ信号波
高のシフト量ΔZが正の場合(第2図点線のよう
に高エネルギ側にシフトしている場合)はAND
回路33から信号ADMIT・Hが生じ、シフト量
ΔZが負である場合(第2図1点線のように低エ
ネルギ側にシフトしている場合)はAND回路3
4から信号ADMIT・Lが生じる。なお、第1図
の各回路のタイミング制御に関しては説明の便宜
上省略してある。 By the way, the signals ADMIT.L and ADMIT.H for allowing UNBLANK2 and UNBLANK3 are generated as follows. The position signals X and Y pass through sample and hold circuits 51 and 52, respectively, to the AD converter 6.
1 and 62, respectively (for example,
6 bits) and is sent as a signal specifying a read address to a pulse height shift amount memory 27 composed of, for example, a P-ROM. This wave height shift amount memory 2
7 includes a wave height shift amount ΔZ of the energy signal regarding each position measured in advance and an auxiliary wave height analyzer 17;
A 1-bit signal corresponding to the positive or negative of the shift amount ΔZ, which is a signal for specifying one of the 18 positions, is written for each address specified by the position signals X and Y. On the other hand, the counter 28 is self-propelled, and repeats a cycle in which it sequentially counts up from 0 to 255 at an independent timing that does not depend on the radiation incident event, and then returns to zero, and its output is the wave height shift amount. The output of the shift amount ΔZ read from the memory 27 (e.g. 8 bits) and the frequency conversion memory 2 as a signal specifying the read address.
9 (consisting of, for example, P-ROM). The frequency conversion memory 29 stores 1-bit data regarding the frequency for each address designated by the output of the counter 28 and the read wave height shift amount ΔZ, as shown in FIG. For example, the larger the shift amount ΔZ, the higher the probability that "1" will be read for various count values.
The ratio of "0" to "0" is set in advance. When “1” is read out, the pulse generation circuit 30 sends a signal.
ADMIT is generated and sent to AND circuits 33 and 34.
On the other hand, the 1-bit signal corresponding to the positive/negative of the shift amount ΔZ read from the wave height shift amount memory 27 is sent to the pulse generation circuit 31, and the pulse output from this pulse generation circuit 31 is sent to the AND circuit 33. This pulse is inverted by an inverting circuit 32 and sent to an AND circuit 34. Therefore, if the shift amount ΔZ of the energy signal wave height at the position defined by the position signals
The signal ADMIT・H is generated from the circuit 33, and if the shift amount ΔZ is negative (if it is shifted to the lower energy side as shown by the dotted line in FIG. 2), the AND circuit 3
4 produces the signal ADMIT.L. Note that timing control of each circuit in FIG. 1 is omitted for convenience of explanation.
上記の構成において放射線がシンチレータ11
のある位置に入射したとする。この位置ではエネ
ルギ信号波高のシフトがなく、エネルギスペクト
ルは第2図の実線で示すようであつたとする。す
ると波高シフト量メモリ27から読み出されるこ
の位置でのシフト量ΔZは零であり、頻度変換メ
モリ29からは常に「0」が読み出される。従つ
てこの位置に放射線が何個入射しても信号
ADMIT・H,ADMIT・Lはいずれも常に、つ
まり「確率零」で生じないことになる。そのため
低補助波高分析器17や高補助波高分析器18か
らUNBLANK2,UNBLANK3が生じたとし
てもAND回路20,21で阻止されてしまい、
結局主波高分析器16からのUNBLANK1のみ
が表示装置25に送られる。従つて第2図のLL
1〜UL1の範囲にエネルギ信号Zの波高が入つ
たときに表示装置25において輝点が表示され
る。 In the above configuration, radiation is transmitted to the scintillator 11
Suppose that it is incident on a certain position. Assume that at this position there is no shift in the energy signal wave height, and the energy spectrum is as shown by the solid line in FIG. Then, the shift amount ΔZ at this position read from the wave height shift amount memory 27 is zero, and "0" is always read from the frequency conversion memory 29. Therefore, no matter how many pieces of radiation are incident on this position, there is no signal.
Both ADMIT・H and ADMIT・L always occur, that is, with a “probability of zero”, they do not occur. Therefore, even if UNBLANK2 and UNBLANK3 are generated from the low auxiliary wave height analyzer 17 and the high auxiliary wave height analyzer 18, they will be blocked by the AND circuits 20 and 21.
Eventually, only UNBLANK1 from the main wave height analyzer 16 is sent to the display device 25. Therefore, LL in Figure 2
When the wave height of the energy signal Z falls within the range of 1 to UL1, a bright spot is displayed on the display device 25.
シンチレータ11の他の位置に放射線が入射し
たとする。この入射位置ではエネルギ信号Zの波
高は高エネルギ側にずれ、エネルギスペクトルは
第2図点線で示すようになると予め測定されてい
るとする。このとき波高シフト量メモリ27から
シフト量ΔZが読み出されその大きさに応じた頻
度で頻度変換メモリ29から「1」が読み出され
る。またこのときのシフト量ΔZは正であるから
パルス発生回路31から「1」の信号が生じる。
その結果この位置に多数個の放射線が入射したと
きその中の一定の割合のものについてAND回路
33から信号ADMIT・Hが生じることになる。
従つてこのときにはLL1〜UL1の範囲にエネル
ギ信号Zの波高があることを示すUNBLANK1
の全てと、UL1〜UL2の範囲にあることを示す
高補助波高分析器18からのUNBLANK3のう
ちの一定割合のものが輝度信号として表示装置2
5に送られ、輝点が表わされる。 Assume that radiation is incident on another position of the scintillator 11. It is assumed that it has been previously measured that at this incident position, the wave height of the energy signal Z shifts to the high energy side, and the energy spectrum becomes as shown by the dotted line in FIG. At this time, the shift amount ΔZ is read out from the wave height shift amount memory 27, and "1" is read out from the frequency conversion memory 29 at a frequency corresponding to its magnitude. Further, since the shift amount ΔZ at this time is positive, a signal of "1" is generated from the pulse generation circuit 31.
As a result, when a large number of radiations are incident on this position, a signal ADMIT.H is generated from the AND circuit 33 for a certain percentage of the radiations.
Therefore, in this case, UNBLANK1 indicates that the wave height of the energy signal Z is in the range of LL1 to UL1.
All of , and a certain percentage of UNBLANK3 from the high auxiliary wave height analyzer 18 indicating that it is in the range of UL1 to UL2 are displayed as a luminance signal on the display device 2.
5, and a bright spot is displayed.
さらにエネルギスペクトルが第2図1点鎖線で
示すように低エネルギ側にずれるような位置に放
射線が入射した場合には、シフト量ΔZは負であ
るためAND回路34から信号ADMIT・Lがシ
フト量ΔZに応じた頻度で生じる。そのためこの
ときはUNBLANK1の全てに加えてエネルギ信
号Zの波高がLL2〜LL1に入つたことに応じて
生じる低補助波高分析器17からのUNBLANK
2の一定割合のものが表示装置25に輝度信号と
して送られる。従つてこのときにはLL1〜UL1
の範囲に入つた回数の全てが輝点として表示され
るとともに、LL2〜LL1の範囲に入つた回数の
うちの一定割合(頻度)のものが輝点として表示
されることになる。 Furthermore, when radiation is incident at a position where the energy spectrum shifts to the lower energy side as shown by the dashed line in FIG. Occurs at a frequency depending on ΔZ. Therefore, in this case, in addition to all of UNBLANK1, UNBLANK from low auxiliary wave height analyzer 17 generated in response to the wave height of energy signal Z entering LL2 to LL1
2 is sent to the display device 25 as a luminance signal. Therefore, at this time, LL1 to UL1
All of the times that fall within the range are displayed as bright spots, and a certain percentage (frequency) of the times that fall within the range of LL2 to LL1 are displayed as bright spots.
このように入射位置に応じてエネルギ信号波高
に不均一性が存在しているときでも波高分析器の
ウインド範囲を高エネルギ側あるいは低エネルギ
側に広げるとともに、広げた範囲のものをシフト
量に応じて所定の頻度で取り込むように構成した
ため、本来のウインド範囲のものは除外すること
がないので、感度を犠牲にすることなく、エネル
ギ不均一性に基づく感度不均一性を実時間で補正
することができる。 In this way, even when there is non-uniformity in the energy signal wave height depending on the incident position, the window range of the wave height analyzer can be expanded to the high energy side or the low energy side, and the expanded range can be adjusted according to the shift amount. Since the configuration is configured to capture data at a predetermined frequency, the original window range is not excluded, so sensitivity non-uniformity based on energy non-uniformity can be corrected in real time without sacrificing sensitivity. I can do it.
なお、自走式のカウンタ28の代りに乱数発生
器を用いこの乱数発生器の出力により頻度変換メ
モリ29のアドレスを指定する等の他の構成によ
りシフト量ΔZから頻度を変換することができる。
とくに波高シフト量メモリ27と頻度変換メモリ
29とを一体にし、シフト量ΔZを書き込んでお
くことなしに、各位置に関する予め測定されたシ
フト量に基づいて決められた頻度に応じて1bit信
号の「1」,「0」の割合が定められた1bit信号が
書き込まれているメモリを用い、位置信号とカウ
ント値とで直接「0」か「1」の頻度に関する信
号が得られるよう構成することもできる。 Note that the frequency can be converted from the shift amount ΔZ using other configurations such as using a random number generator instead of the self-running counter 28 and specifying the address of the frequency conversion memory 29 based on the output of the random number generator.
In particular, the wave height shift amount memory 27 and the frequency conversion memory 29 are integrated, and the 1-bit signal is converted into a 1-bit signal according to a frequency determined based on a pre-measured shift amount for each position, without writing the shift amount ΔZ. It is also possible to use a memory in which a 1-bit signal with a predetermined ratio of 1 and 0 is written, so that a signal related to the frequency of 0 or 1 can be directly obtained from the position signal and count value. can.
また主波高分析器16のウインド範囲を狭くし
てシフト量が零の場合でも補助波高分析器17,
18を用いるように構成したり、補助波高分析器
17,18をさらに多数設けて精度を向上させる
ようにしてもよい。 Furthermore, even if the window range of the main wave height analyzer 16 is narrowed and the shift amount is zero, the auxiliary wave height analyzer 17,
18, or a larger number of auxiliary wave height analyzers 17, 18 may be provided to improve accuracy.
さらに上記の実施例では頻度変換メモリ29に
書き込まれている頻度に関するデータはシフト量
ΔZの絶対値に応じて定められているが、シフト
量ΔZの符号に応じて異なるよう書き込んでおい
てもよい。 Further, in the above embodiment, the data regarding the frequency written in the frequency conversion memory 29 is determined according to the absolute value of the shift amount ΔZ, but it may be written differently depending on the sign of the shift amount ΔZ. .
まエネルギウインド設定条件(LEVEL,
WINDOW)に応じて波高シフト量メモリ27の
内容や頻度変換メモリ29の内容を書き変えるよ
うにしたり、あるいはこれらの間に読み出された
シフト量ΔZのゲイン調整回路を挿入して設定条
件に応じてシフト量ΔZを縮小または拡大してみ
たり、あるいは補助波高分析器17,18のウイ
ンド範囲LL2,UL2を変更するようにしてもよ
い。このようにWINDOWの設定に応じて変更す
るようにしたのは、一般にウインド範囲を拡げる
とエネルギ信号波高のシフト量が同じでも感度の
変化が小さくなるためである。またLEVELに応
じて上記のように変えるのは、放射線エネルギが
高いとエネルギ分解能が高くなつてWINDOW及
びシフト量ΔZの割合が同一の条件では感度変化
が小さくなるためである。また入射放射線のエネ
ルギが変わつても各位置でのシフト量ΔZの割合
は略一定と近似できるので、波高シフト量メモリ
27の内容はこの意味で固定でもよいが、厳密に
は入射放射線のエネルギが変わるとシンチレータ
11内で吸収の平均深さが変わるため、多少のエ
ネルギ依存性(これは光学系の構成、例えばライ
トガイド12におけるマスクの有無等による)を
持つので、これに対応しようとすれば使用すべき
シフト量ΔZの値や頻度をLEVELに応じて変える
ことが望ましいからである。 Energy window setting conditions (LEVEL,
WINDOW), the contents of the wave height shift amount memory 27 and the contents of the frequency conversion memory 29 may be rewritten according to the setting conditions, or a gain adjustment circuit for the read shift amount ΔZ may be inserted between these. The shift amount ΔZ may be reduced or enlarged, or the window ranges LL2 and UL2 of the auxiliary wave height analyzers 17 and 18 may be changed. The reason why it is changed in accordance with the WINDOW setting in this way is that, in general, when the window range is expanded, the change in sensitivity becomes smaller even if the shift amount of the energy signal wave height is the same. Further, the reason why it is changed as described above according to LEVEL is that when the radiation energy is high, the energy resolution becomes high and the sensitivity change becomes small under the condition that the ratio of WINDOW and shift amount ΔZ is the same. Furthermore, even if the energy of the incident radiation changes, the ratio of the shift amount ΔZ at each position can be approximated as being approximately constant, so the contents of the wave height shift amount memory 27 may be fixed in this sense, but strictly speaking, the energy of the incident radiation If the change occurs, the average depth of absorption within the scintillator 11 changes, so there is some energy dependence (this depends on the configuration of the optical system, for example, the presence or absence of a mask in the light guide 12, etc.). This is because it is desirable to change the value and frequency of the shift amount ΔZ to be used depending on LEVEL.
以上、実施例について説明したように、この発
明によれば、感度を犠牲にすることなしにエネル
ギ不均一性に基づく感度不均一性を実時間で補正
することができる。 As described above with respect to the embodiments, according to the present invention, sensitivity non-uniformity based on energy non-uniformity can be corrected in real time without sacrificing sensitivity.
第1図はこの発明の一実施例のブロツク図、第
2図はエネルギスペクトルを示すグラフ、第3図
は頻度変換メモリの内容を表わす模式図である。
11……シンチレータ、12……ライトガイ
ド、13……PMT、14……位置及びエネルギ
演算回路、25……表示装置。
FIG. 1 is a block diagram of an embodiment of the present invention, FIG. 2 is a graph showing an energy spectrum, and FIG. 3 is a schematic diagram showing the contents of a frequency conversion memory. 11... scintillator, 12... light guide, 13... PMT, 14... position and energy calculation circuit, 25... display device.
Claims (1)
発光が導かれる多数の光電変換器と、これら多数
の光電変換器の出力により位置信号及びエネルギ
信号を計算して出力する位置及びエネルギ演算回
路と、エネルギ信号の波高が所定のエネルギウイ
ンド範囲内であるときにアンブランク信号を生じ
る主波高分析器と、前記のエネルギウインド範囲
に隣接するエネルギウインド範囲を有しエネルギ
信号の波高がこれらの各エネルギウインド範囲内
であるときにそれぞれアンブランク信号を生じる
複数の補助波高分析器と、予め測定された各位置
に関するエネルギ信号の波高シフト量及びこの波
高シフト量に基づいて決められた補助波高分析器
指定信号とが記憶されており前記位置信号で読出
アドレス指定されるシフト量記憶手段と、読み出
されたシフト量を頻度に変換する手段と、前記主
波高分析器からのアンブランク信号とともに前記
指定信号で指定された補助波高分析器からのアン
ブランク信号が上記頻度変換手段により定められ
る頻度で入力され上記位置信号により指定される
位置に点を表示する表示装置とからなるシンチレ
ーシヨンカメラ。 2 シンチレータと、このシンチレータにおける
発光が導かれる多数の光電変換器と、これら多数
の光電変換器の出力により位置信号及びエネルギ
信号を計算して出力する位置及びエネルギ演算回
路と、エネルギ信号の波高が所定のエネルギウイ
ンド範囲内であるときにアンブランク信号を生じ
る主波高分析器と、前記のエネルギウインド範囲
に隣接するエネルギウインド範囲を有しエネルギ
信号の波高がこれらの各エネルギウインド範囲内
であるときにそれぞれアンブランク信号を生じる
複数の補助波高分析器と、予め測定された各位置
に関するエネルギ信号の波高シフト量に基づいて
決められた補助波高分析器指定信号が前記位置信
号により指定されるアドレス毎に記憶されてお
り、且つ前記測定された各位置のシフト量により
定められた頻度に応じた信号が前記位置信号及び
ランダム信号により指定されるアドレス毎に記憶
され、前記位置信号及びランダム信号で読出アド
レス指定される記憶手段と、前記主波高分析器か
らのアンブランク信号とともに前記読み出された
指定信号で指定された補助波高分析器からのアン
ブランク信号が前記読み出された頻度で入力され
前記位置信号により指定される位置に点を表示す
る表示装置とからなるシンチレーシヨンカメラ。[Claims] 1. A scintillator, a number of photoelectric converters to which light emission from the scintillator is guided, and a position and energy calculation circuit that calculates and outputs position signals and energy signals based on the outputs of these many photoelectric converters. a main wave height analyzer that generates an unblank signal when the wave height of the energy signal is within a predetermined energy window range; and a main wave height analyzer that generates an unblank signal when the wave height of the energy signal is within a predetermined energy window range; A plurality of auxiliary wave height analyzers each generating an unblank signal when within the window range, a wave height shift amount of the energy signal for each position measured in advance, and an auxiliary wave height analyzer designation determined based on this wave height shift amount. a shift amount storage means in which a signal is stored and whose read address is specified by the position signal; a means for converting the read shift amount into a frequency; A scintillation camera comprising a display device which receives an unblank signal from the auxiliary wave height analyzer specified by the frequency converter at a frequency determined by the frequency conversion means and displays a point at a position specified by the position signal. 2. A scintillator, a large number of photoelectric converters to which the light emitted from the scintillator is guided, a position and energy calculation circuit that calculates and outputs position signals and energy signals from the outputs of these large number of photoelectric converters, and a position and energy calculation circuit that calculates and outputs position signals and energy signals, and a main wave height analyzer that generates an unblank signal when it is within a predetermined energy window range; and a main wave height analyzer that has an energy window range adjacent to the energy window range and when the wave height of the energy signal is within each of these energy window ranges. a plurality of auxiliary wave height analyzers that generate unblank signals, respectively, and an auxiliary wave height analyzer designation signal determined based on the amount of wave height shift of the energy signal for each position measured in advance for each address specified by the position signal. and a signal corresponding to the frequency determined by the measured shift amount of each position is stored for each address specified by the position signal and the random signal, and is read out using the position signal and the random signal. The unblank signal from the auxiliary wave height analyzer specified by the read designated signal is inputted at the read frequency, and the unblank signal from the main wave height analyzer is inputted to the memory means to be addressed, and the unblank signal from the auxiliary wave height analyzer specified by the read designation signal is A scintillation camera consisting of a display device that displays a point at a position specified by a position signal.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11361382A JPS593378A (en) | 1982-06-30 | 1982-06-30 | scintillation camera |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11361382A JPS593378A (en) | 1982-06-30 | 1982-06-30 | scintillation camera |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS593378A JPS593378A (en) | 1984-01-10 |
| JPH0425511B2 true JPH0425511B2 (en) | 1992-05-01 |
Family
ID=14616651
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP11361382A Granted JPS593378A (en) | 1982-06-30 | 1982-06-30 | scintillation camera |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS593378A (en) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4755679A (en) * | 1986-06-19 | 1988-07-05 | Wong Wai Hoi | Method and apparatus for maximizing counts of a PET camera |
-
1982
- 1982-06-30 JP JP11361382A patent/JPS593378A/en active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS593378A (en) | 1984-01-10 |
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