JPH0425662Y2 - - Google Patents

Description

【考案の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本考案はケーブル・テスターの入出力回路の改
良に関する。

〔従来の技術〕

近年、通信／伝送網の高度化に伴い、第４図に
示すように、多数の芯線１を有する多芯ケーブル
３が多用されるようになつている。

このような多芯ケーブル３においては、芯線１
の本数が増加するに従つて各芯線１の対応関係を
調べることが煩雑になつており、また、確実な伝
送状態を確保する観点から各芯線１間における高
い絶縁抵抗特性や耐圧特性が強く要求されてい
る。

そして、ケーブル３における芯線１の対応関係
を調べたり諸特性を検査する装置としてケーブ
ル・テスターＡが提供されるようになつており、
芯線１の両端間にケーブル・テスターの入出力回
路を接続してケーブル３の状態を検査することが
行われている。

例えば多芯ケーブル３の各芯線１の対応関係を
調べる場合、複数の出力回路５ａ，５ｂ…および
複数の入力回路７ａ，７ｂ…を備えたケーブル・
テスターＡを用い、多芯ケーブル３の一端におけ
る各芯線１に各出力回路の出力ピン６ａ，６ｂ…
を接続し、他端の各芯線１に各入力回路の入力ピ
ン８ａ，８ｂ…を接続し、各芯線１に試験信号を
加えて行き、いずれの入力回路７ａ，７ｂ…が対
応するか調べている。

〔考案が解決しようとする問題点〕

しかしながら、このようなケーブル・テスター
の入出力回路は、出力回路５ａ，５ｂ…と入力回
路７ａ，７ｂ…を別々に構成していたので、出力
回路５ａ，５ｂ…と入力回路７ａ，７ｂ…に各々
出力専用および入力専用の接続ピン６ａ，６ｂ
…、８ａ，８ｂ…を接続するとともにこれらを区
別してケーブル３に接続する必要が生じて煩雑で
ある。

また、入出力回路組以上に芯線１を有するケー
ブル３の導通を調べる場合、入力用の接続ピンが
不足する等、接続ピンの活用に制約が生じる不便
な点がある。

本考案はこのような従来の欠点を解決するため
になされたもので、１個の外部接続用ピンすなわ
ち外部接続端子を制御回路によつて出力用もしく
は入力用に切り換えるとともに試験信号の出力又
は入力機能をもたせ、その外部接続用端子の扱い
が簡単で、ケーブルへの接続制約の少ないケーブ
ル・テスターの入出力回路を目的とする。

〔問題点を解決するための手段〕

この問題点を解決するために本考案は、第１図
に示すように、試験信号を発生する信号発生回路
９の出力端に受信信号を処理する受信回路１１を
直接接続し、その信号発生回路９と受信回路１１
の接続点Ｐにその信号発生回路からの試験信号の
出力およびケーブルからの受信信号としての試験
信号の入力を兼ねる１個の入出力兼用端子１９を
接続し、その信号発生回路１９から試験信号が出
力されるとき少なくともその受信回路１１の動作
をOFFするとともにそれが出力されるときONす
る制御回路１３をその受信回路１１に接続して構
成されている。

〔作用〕

このような手段を有する本考案は、受信回路１
１のOFF状態時に信号発生回路９から試験信号
が出力されれば入出力兼用端子１９が出力端子と
なり、信号発生回路９から試験信号が出力されな
い状態で受信回路１１がON状態となれば、入出
力兼用端子１９に入力されたケーブルからの受信
信号が受信回路１１に加わつて入出力兼用端子１
９が入力端子となる。

すなわち、１個の入出力兼用端子１９を制御回
路１３の動作によつて出力端子および入力端子に
切り換え、試験信号の出力回路又は入力回路とし
て機能させることが可能となる。

〔実施例〕

以下本考案の実施例を説明する。

第１図は本考案に係るケーブル・テスターの入
出力回路の一実施例を示す回路図である。

図において、試験信号を発生する信号発生回路
９は出力側がオープンコレクタ構成となつた
TTL型の直流増幅回路であつて、所定の指示信
号によつて出力端が例えば5V程度の定電圧とな
る回路であり、その出力端には負荷抵抗Ｒおよび
ダイオードD1の並列回路が接続されている。な
お、ダイオードD1は信号発生回路９の出力端側
から順方向接続されている。

また、信号発生回路９の出力端とアース間には
ダイオードD2がアース側から順方向接続されて
いる。

信号発生回路９の出力端には、後述する受信信
号を処理するTTL増幅回路を有する受信回路１
１が接続されている。この受信回路１１は、受信
信号のレベルに応じて所定の検査結果を電気信号
として出力する回路である。

制御回路１３は少なくとも第１、第２の制御回
路１５，１７を有し、第１の制御回路１５は負荷
抵抗Ｒを介して信号発生回路９の出力端に接続さ
れており、第１の制御回路１５からの制御信号が
例えば5V程度のＨレベルになると信号発生回路
９がOFF状態となる一方、その制御信号がＬレ
ベルの時には信号発生回路９がON状態となるよ
うに構成されている。

第２の制御回路１７は受信回路１１に接続され
ており、第２の制御回路１７からの制御信号がＨ
レベルの時に受信回路１１がOFF状態になり、
Ｌレベル時にON状態となるように構成されてい
る。

そして、第１、第２の制御回路１５，１７は信
号発生回路９がON状態時には受信回路１１が
OFF状態になり、信号発生回路９がOFF状態の
時に受信回路１１がON状態となるように制御信
号を出力するようになつている。

信号発生回路９と受信回路１１の接続点Ｐすな
わち上述した信号発生回路９の出力端には、外部
接続用の入出力兼用端子１９が接続されている。
この入出力兼用端子１９は、被検査物たるケーブ
ルの芯線に接続してケーブルの状態を検査するも
のであり、実際には接続ピンが接続される。

なお、本考案のケーブル・テスターの入出力回
路においては、信号発生回路９から試験信号が出
力されない状態では、受信回路１１のON状態時
に信号発生回路９をOFF状態にする必要はない
が、信号発生回路９を破損させないように、受信
回路１１のON時に信号発生回路９をOFF状態に
することが好ましい。

次に、このケーブル・テスターの入出力回路の
動作を説明する。

例えば、制御回路１３の第１の制御回路１５か
らの制御信号がＬレベルであり、第２の制御回路
１７からの制御信号がＨレベルのときには、信号
発生回路９がON状態となるとともに受信回路１
１がOFF状態となり、信号発生回路９から所定
の試験信号、例えば5Vの定電圧が入出力兼用端
子１９に印加され定電流が出力され、ケーブルの
芯線に試験信号が出力可能となる。すなわち、入
出力兼用端子１９が出力専用端子となる。

一方、第１の制御回路１５からの制御信号がＨ
レベルで、第２の制御回路１７からの制御信号が
Ｌレベルの場合には、信号発生回路９がOFF状
態となるとともに受信回路１１がON状態とな
り、芯線を伝播する信号が入出力兼用端子１９を
介して受信回路１１に受信されれば、受信回路１
１にて所定の処理がなされ、検査結果が出力され
る。すなわち、入出力兼用端子１９が入力専用端
子となる。

なお、入出力兼用端子１９から大きな信号が入
力された場合、信号発生回路９の出力端にはダイ
オードD1，D2が接続されているので、その入力
信号がダイオードD1，D2に流れて、信号発生回
路９の破損が防止される。

このように本考案のケーブル・テスターの入出
力回路は、制御回路１３の制御により入出力兼用
端子１９が入力端子となつたり出力端子に変化
し、いずれの端子としても使用可能となるうえ、
出力もしくは入力回路として選択的に機能させる
ことが可能となる。

次いで本考案のケーブル・テスターの入出力回
路を用いて、例えば多芯ケーブルの芯線の導通を
調べる場合を第２図を参照して説明する。

本考案の入出力回路２１ａ，２１ｂ…を複数備
えたケーブル・テスターＢにおいて、各入出力回
路２１ａ，２１ｂ…をケーブル２３の両端におけ
る各芯線２５に任意に接続し、制御手段２７によ
つて各入出力回路２１ａ，２１ｂ…中の制御回路
１３を制御して例えば１の入出力回路２１ａのみ
を出力回路とし、残り２１ｂ…を全て入力回路に
設定する。

そして、試験信号を出力回路２１ａから加え、
各入力回路を順次ONさせるようにスキヤンさせ
ながらその試験信号が受信信号として得られる入
力回路２１ｂ…を調べれば、その入力回路２１ｂ
…の接続された端子が出力回路２１ａに接続され
た対応する芯線２５の端子であることが分かる。

さらに、別の１の入出力回路２１ａ…を入力回
路に選定するとともに、残りを出力回路に選定し
て検査すれば、別の芯線における対応関係も検査
でき、順次これを繰り返せば、全ての芯線の対応
関係を検査できる。

そのように本考案の入出力回路２１ａ…を用い
たケーブル・テスターＢは、制御手段２７を介し
て特定の入出力回路のみ入力回路に選定したり、
入出力回路を順次出力回路もしくは入力回路とし
て変化させることも可能である。

第３図は本考案のケーブル・テスターの入出力
回路の他の実施例を示す回路図である。

すなわち、信号発生回路９と受信回路１１の接
続点Ｐには、１回路複接点型のスイツチ２９の一
方の固定接点２９ａが接続されており、他方の固
定接点２９ｂにはマイナス電位が接続されてい
る。可動接点２９ｃは２回路単接触型のスイツチ
３１一方の回路における固定接点３１ａに接続さ
れており、可動接点３１ｂは他方の回路にける可
動接点３１ｃおよび入出力兼用端子１９に接続さ
れている。また、固定接点３１ｄにはプラスの電
位が接続されている。

そして、これらのスイツチ２９，３１は、信号
発生回路９もしくは受信回路１１がON状態の時
に入出力兼用端子１９が接続点Ｐに接続されるよ
うに回路構成されている。この状態では、可動接
点２９ｃと固定接点２９ａが接続され、可動接点
３１ｂと固定接点３１ａが接続されるとともに可
動接点３１ｃが開放となつた状態において、入出
力兼用端子１９が出力端子もしくは入力端子とな
る。

他方、可動接点２９ｃが固定接点２９ｂに切り
換え接続されたときには、マイナス電圧が入出力
兼用端子１９に接続され、可動接点３１ｂが開放
となる一方、可動接点３１ｃが固定接点３１ｄに
接続された時にはプラス電位が入出力兼用端子１
９に接続されるようになつている。

なお、スイツチ２９，３１は、制御回路１３に
よつて切り換え動作させてもよく、別の手段によ
つて動作させてもよい。

そして、この実施例においては、２個のスイツ
チ２９，３１を用いる例を示したが、本考案の実
施に当たつては、接続点Ｐと入出力兼用端子１９
間に信号発生回路９の出力信号とは別の試験信号
を入出力兼用端子１９に選択的に切り換え接続可
能なスイツチを挿入すればよく、スイツチの数に
限定ない。

〔考案の効果〕

以上説明したように本考案のケーブル・テスタ
ーの入出力回路は、信号発生回路と受信回路の接
続点に外部接続用の１個の入出力兼用端子を接続
し、その信号発生回路から試験信号が出力される
とき少なくともその受信回路の動作をOFFする
とともにそれが出力されないときONする制御回
路をその受信回路に接続したので、制御回路の動
作によつて１個の入出力兼用端子を出力端子およ
び入力端子に切り換え機能させ、ケーブルの試験
信号の出力回路又は入力回路とすることができ
る。

しかも、ケーブルの芯線との接続端子としては
入力側もしくは出力側に区別して接続する必要は
なくて扱いが容易であるうえ、芯線に接続してか
ら端子を入力もしくは出力に任意に選定可能とな
り、接続端子の制約が極めて少なくなる。

【図面の簡単な説明】

第１図は本考案のケーブル・テスターの入出力
回路の一実施例を示す回路図、第２図は第１図の
入出力回路の使用例を示す図、第３図は本考案の
ケーブル・テスターの入出力回路の他の実施例を
示す回路図、第４図は従来のケーブルテスターの
入出力回路の概略を示す図である。 １，２５……芯線、３，２３……ケーブル、５
ａ，５ｂ……出力回路、７ａ，７ｂ……入力回
路、９……信号発生回路、１１……受信回路、１
３……制御回路、１５……第１の制御回路、１７
……第２の制御回路、１９……入出力兼用端子、
２１ａ，２１ｂ……入出力回路、２９，３１……
スイツチ、Ａ，Ｂ……ケーブル・テスター、Ｐ…
…接続点。

Claims (1)

1. 【実用新案登録請求の範囲】 (1) ケーブルに試験信号を出力するとともに前記
   ケーブルから得られる試験信号を受信して前記
   ケーブルの状態を検査するケーブル・テスター
   の入出力回路において、 前記ケーブルへ出力する前記試験信号を発生
   する信号発生回路と、 この信号発生回路の出力端に入力端が直接接
   続され受信信号を処理する受信回路と、 前記信号発生回路と前記受信回路の接続点に
   接続され前記信号発生回路からの前記試験信号
   の出力と、前記受信信号として前記ケーブルか
   らの前記試験信号の入力を兼ねる外部接続用の
   １個の入出力兼用端子と、 前記信号発生回路から前記試験信号が出力さ
   れるとき前記受信回路の動作をOFFし、前記
   試験信号が出力されないとき前記受信回路の動
   作をONする制御回路と、 を具備することを特徴とするケーブル・テスタ
   ーの入出力回路。 (2) 前記制御回路が、前記受信回路のON時に前
   記信号発生回路をOFFするものである実用新
   案登録請求の範囲第１項記載のケーブル・テス
   ターの入出力回路。 (3) 前記信号発生回路と前記受信回路の接続点と
   前記入出力兼用端子間に、前記信号発生回路か
   らの出力とは別の試験信号を前記入出力兼用端
   子に選択的に切り換え接続するスイツチが挿入
   されてなる実用新案登録請求の範囲第１項もし
   くは第２項記載のケーブル・テスターの入出力
   回路。