JPH04256846A - Ｘ線像の作成方法と装置 - Google Patents
Ｘ線像の作成方法と装置Info
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- JPH04256846A JPH04256846A JP3244599A JP24459991A JPH04256846A JP H04256846 A JPH04256846 A JP H04256846A JP 3244599 A JP3244599 A JP 3244599A JP 24459991 A JP24459991 A JP 24459991A JP H04256846 A JPH04256846 A JP H04256846A
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- G—PHYSICS
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- G01T—MEASUREMENT OF NUCLEAR OR X-RADIATION
- G01T1/00—Measuring X-radiation, gamma radiation, corpuscular radiation, or cosmic radiation
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】この発明は、異なる原子番号を有
する種々の物質を含む測定対象物のＸ線透視像が記憶板
により撮影され、記憶板の光誘導ルミネセンスが少なく
とも一つの読み出し光線により誘発されて少なくとも一
つの検出器に供給されるコンピュータラジオグラフィに
よるＸ線像の作成方法に関する。
する種々の物質を含む測定対象物のＸ線透視像が記憶板
により撮影され、記憶板の光誘導ルミネセンスが少なく
とも一つの読み出し光線により誘発されて少なくとも一
つの検出器に供給されるコンピュータラジオグラフィに
よるＸ線像の作成方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】ディジタル・コンピュータラジオグラフ
ィにおいては周知のようにＸ線透視像がいわゆる記憶板
上に記憶され、後に像読み出し装置によりディジタル電
気信号へ変換されモニタスクリーン上で可視化される。 記憶蛍光板中ではＸ線が電荷へ変換される。この目的の
ために記憶板は、有機結合剤中に注入され透明な支持体
一般にフィルム上に塗布された記憶蛍光物質を含む。
ィにおいては周知のようにＸ線透視像がいわゆる記憶板
上に記憶され、後に像読み出し装置によりディジタル電
気信号へ変換されモニタスクリーン上で可視化される。 記憶蛍光板中ではＸ線が電荷へ変換される。この目的の
ために記憶板は、有機結合剤中に注入され透明な支持体
一般にフィルム上に塗布された記憶蛍光物質を含む。
【０００３】読み出し装置中では種々のＸ線強度の平面
状のパターンが一連の電気信号へ変換され、この電気信
号がＡ−Ｄ変換器を介して像構成コンピュータへ供給さ
れる。読み出し光線として一般にレーザ例えば６３３ｎ
ｍの波長を有するＨｅ−Ｎｅレーザの赤色光が用いられ
、この光が記憶蛍光物質の個々の画素で光誘導ルミネセ
ンスを引き起こす。記憶蛍光物質として一般にいわゆる
輝尽性蛍光体、例えば約３６０〜４２０ｎｍの放出波長
を有しユーロピウムにより活性化されたバリウムフッ化
物化合物ＢａＦＢｒ：Ｅｕが用いられ、この化合物は更
に適当な添加物を含むことができる（欧州特許出願公開
第０００７１０５ 号公報参照）。
状のパターンが一連の電気信号へ変換され、この電気信
号がＡ−Ｄ変換器を介して像構成コンピュータへ供給さ
れる。読み出し光線として一般にレーザ例えば６３３ｎ
ｍの波長を有するＨｅ−Ｎｅレーザの赤色光が用いられ
、この光が記憶蛍光物質の個々の画素で光誘導ルミネセ
ンスを引き起こす。記憶蛍光物質として一般にいわゆる
輝尽性蛍光体、例えば約３６０〜４２０ｎｍの放出波長
を有しユーロピウムにより活性化されたバリウムフッ化
物化合物ＢａＦＢｒ：Ｅｕが用いられ、この化合物は更
に適当な添加物を含むことができる（欧州特許出願公開
第０００７１０５ 号公報参照）。
【０００４】Ｘ線像技術では種々の材料類又は材料群を
相互に識別するという問題がしばしば生じる。例えば空
港での手荷物の透視検査の場合には金属物体と非金属物
体とを識別すべきである。例えば検出されたＸ線吸収体
が主としてヘアドライヤの金属製容器に起因するのか、
又はその中に隠されたプラスチック爆薬に起因するのか
を判定することが可能であるべきである。更に例えば材
料の積層体を識別可能とすべきである。例えばＸ線像上
に見えるパターンが身体組織中に存在するのか、又は組
織の前又は後ろに位置する骨成分中に存在するのかを判
定することが必要とされるように、物理的観点から類似
のケースが医用Ｘ線診断でも生じる。
相互に識別するという問題がしばしば生じる。例えば空
港での手荷物の透視検査の場合には金属物体と非金属物
体とを識別すべきである。例えば検出されたＸ線吸収体
が主としてヘアドライヤの金属製容器に起因するのか、
又はその中に隠されたプラスチック爆薬に起因するのか
を判定することが可能であるべきである。更に例えば材
料の積層体を識別可能とすべきである。例えばＸ線像上
に見えるパターンが身体組織中に存在するのか、又は組
織の前又は後ろに位置する骨成分中に存在するのかを判
定することが必要とされるように、物理的観点から類似
のケースが医用Ｘ線診断でも生じる。
【０００５】平均の原子番号の分布からＸ線像を作成す
る公知の装置では、測定対象物が広いエネルギースペク
トルを有するＸ線により透視され、Ｘ線がエネルギー依
存性の異なる二つの検出器により記録される。例えば相
前後して配置された薄い及び厚い蛍光物質層を分離して
観察することができる。測定対象物の異なる物質は広帯
域のＸ線を異なる方法で硬化する。両検出器は異なるエ
ネルギー依存性のために異なってこの硬化に反応する。 両検出器により記録された像の比較から透視された材料
の組成が得られる。
る公知の装置では、測定対象物が広いエネルギースペク
トルを有するＸ線により透視され、Ｘ線がエネルギー依
存性の異なる二つの検出器により記録される。例えば相
前後して配置された薄い及び厚い蛍光物質層を分離して
観察することができる。測定対象物の異なる物質は広帯
域のＸ線を異なる方法で硬化する。両検出器は異なるエ
ネルギー依存性のために異なってこの硬化に反応する。 両検出器により記録された像の比較から透視された材料
の組成が得られる。
【０００６】
【発明が解決しようとする課題】この発明の課題は、コ
ンピュータラジオグラフィにより作成されたＸ線像上で
Ｘ線コントラストを引き起こす材料を分類することにあ
る。
ンピュータラジオグラフィにより作成されたＸ線像上で
Ｘ線コントラストを引き起こす材料を分類することにあ
る。
【０００７】
【課題を解決するための手段】この課題はこの発明に基
づき、異なる吸収特性曲線を有する少なくとも二つの記
憶蛍光物質の吸収率の比から平均の原子番号の分布が導
出されることにより解決される。この方法を実施するた
めの装置については請求項２以下に記載されている。
づき、異なる吸収特性曲線を有する少なくとも二つの記
憶蛍光物質の吸収率の比から平均の原子番号の分布が導
出されることにより解決される。この方法を実施するた
めの装置については請求項２以下に記載されている。
【０００８】
【作用効果】記憶板は種々のＸ線吸収特性曲線を有する
記憶蛍光物質、例えばユーロピウムにより活性化された
フッ化臭化バリウムＢａＦＢｒ：Ｅｕ、又はユーロピウ
ム及びサマリウムにより活性化された硫化ストロンチウ
ムＳｒＳ：Ｅｕ，Ｓｍ、又はタリウムにより活性化され
た臭化ルビジウムＲｂＢｒ：Ｔｌの混合物又は層を含む
。これらのＸ線記憶蛍光物質は下記の特性すなわち、１
．特にＸ線エネルギーに関係するＸ線吸収能力、２．読
み出し光線の刺激スペクトル、 ３．放出スペクトル、すなわち読み出し光線により誘発
される光誘導ルミネセンスの波長のうちの少なくとも一
つにおいて異なっている。
記憶蛍光物質、例えばユーロピウムにより活性化された
フッ化臭化バリウムＢａＦＢｒ：Ｅｕ、又はユーロピウ
ム及びサマリウムにより活性化された硫化ストロンチウ
ムＳｒＳ：Ｅｕ，Ｓｍ、又はタリウムにより活性化され
た臭化ルビジウムＲｂＢｒ：Ｔｌの混合物又は層を含む
。これらのＸ線記憶蛍光物質は下記の特性すなわち、１
．特にＸ線エネルギーに関係するＸ線吸収能力、２．読
み出し光線の刺激スペクトル、 ３．放出スペクトル、すなわち読み出し光線により誘発
される光誘導ルミネセンスの波長のうちの少なくとも一
つにおいて異なっている。
【０００９】コンピュータラジオグラフィによるＸ線像
のこの作成方法の場合には、Ｘ線フィルムとして記憶フ
ィルムが用いられ、この記憶フィルムが前記特性を有す
る記憶蛍光物質の混合物を含むことにより、材料の種類
が識別される。フィルムを構成する個々の記憶蛍光物質
中にＸ線撮影の際に生じた潜像が続いて分離して読み出
される。透視された対象物が種々の蛍光物質中に記憶さ
れた像上に現れるときの輝度の比較から、対象物のある
種の材料への従属性について推論することができる。従
ってこれらの材料をその平均原子番号により群へ分類す
ることができる。
のこの作成方法の場合には、Ｘ線フィルムとして記憶フ
ィルムが用いられ、この記憶フィルムが前記特性を有す
る記憶蛍光物質の混合物を含むことにより、材料の種類
が識別される。フィルムを構成する個々の記憶蛍光物質
中にＸ線撮影の際に生じた潜像が続いて分離して読み出
される。透視された対象物が種々の蛍光物質中に記憶さ
れた像上に現れるときの輝度の比較から、対象物のある
種の材料への従属性について推論することができる。従
ってこれらの材料をその平均原子番号により群へ分類す
ることができる。
【００１０】評価のためにまず記憶蛍光物質Ａの像中の
測定対象物の輝度ＨＡ が測定される。そして記憶蛍光
物質Ｂの像中の測定対象物の輝度ＨＢ が測定され、両
像中の測定対象物の輝度の比Ｑ＝ＨＢ ／ＨＡ が求め
られる。 両方の値ＨＡ 及びＱの比較により透視された測定対象
物の材料の種類すなわち平均原子番号が分かる。
測定対象物の輝度ＨＡ が測定される。そして記憶蛍光
物質Ｂの像中の測定対象物の輝度ＨＢ が測定され、両
像中の測定対象物の輝度の比Ｑ＝ＨＢ ／ＨＡ が求め
られる。 両方の値ＨＡ 及びＱの比較により透視された測定対象
物の材料の種類すなわち平均原子番号が分かる。
【００１１】記憶板を構成する種々の記憶蛍光物質中に
記憶された像は、例えば両蛍光物質の誘導ルミネセンス
の種々の刺激スペクトルに基づき分離して読み出すこと
ができる。刺激スペクトルが異なる場合には、まず記憶
蛍光物質Ａ中に記憶された像を波長ＬＡ の読み出し光
線により走査し、続いて記憶蛍光物質Ｂ中に記憶された
像を波長ＬＢ の読み出し光線により走査することがで
きる。両蛍光物質の刺激スペクトルが全く又は部分的に
重なる場合には、像を同一の読み出し光線により読み出
すことができるが、しかしながらこの場合には放出スペ
クトルでスペクトル的に分離できなければならない。そ
のとき両像は二つの光検出器により分離して記録できる
。 例えば光路中に相応の光学フィルタを用いることにより
、これらの光検出器のうちの一方は蛍光物質Ａの放出波
長ＥＡ に敏感であり他方は蛍光物質Ｂの放出波長ＥＢ
に敏感である。両記憶蛍光物質が異なる平均原子番号
を有するならば、Ｘ線に対する吸収能力が異なる形でＸ
線のエネルギーに関係する。なぜならばＸ線の質量吸収
係数μ／ρに対しては次式が成立するからである。 μ／ρ∝λ３ Ｚ３ ここでλはＸ線の波長、またＺは測定対象物の吸収性材
料の平均原子番号である。測定対象物が広いエネルギー
スペクトルを有するＸ線により透視されると、このＸ線
は硬化されすなわちその平均値は短い波長へ移動する。 硬化の程度は測定対象物の透視された材料の平均原子番
号に関係する。平均原子番号が大きいほど硬化は一層大
きい。この硬化に対しては両蛍光物質がその異なるエネ
ルギー依存性に基づき異なって反応する。透視された測
定対象物が蛍光物質Ａ及びＢの両像上に現れるときの輝
度の比は測定対象物の平均原子番号に関係する。従って
平均原子番号は輝度の比較から算定することができる。
記憶された像は、例えば両蛍光物質の誘導ルミネセンス
の種々の刺激スペクトルに基づき分離して読み出すこと
ができる。刺激スペクトルが異なる場合には、まず記憶
蛍光物質Ａ中に記憶された像を波長ＬＡ の読み出し光
線により走査し、続いて記憶蛍光物質Ｂ中に記憶された
像を波長ＬＢ の読み出し光線により走査することがで
きる。両蛍光物質の刺激スペクトルが全く又は部分的に
重なる場合には、像を同一の読み出し光線により読み出
すことができるが、しかしながらこの場合には放出スペ
クトルでスペクトル的に分離できなければならない。そ
のとき両像は二つの光検出器により分離して記録できる
。 例えば光路中に相応の光学フィルタを用いることにより
、これらの光検出器のうちの一方は蛍光物質Ａの放出波
長ＥＡ に敏感であり他方は蛍光物質Ｂの放出波長ＥＢ
に敏感である。両記憶蛍光物質が異なる平均原子番号
を有するならば、Ｘ線に対する吸収能力が異なる形でＸ
線のエネルギーに関係する。なぜならばＸ線の質量吸収
係数μ／ρに対しては次式が成立するからである。 μ／ρ∝λ３ Ｚ３ ここでλはＸ線の波長、またＺは測定対象物の吸収性材
料の平均原子番号である。測定対象物が広いエネルギー
スペクトルを有するＸ線により透視されると、このＸ線
は硬化されすなわちその平均値は短い波長へ移動する。 硬化の程度は測定対象物の透視された材料の平均原子番
号に関係する。平均原子番号が大きいほど硬化は一層大
きい。この硬化に対しては両蛍光物質がその異なるエネ
ルギー依存性に基づき異なって反応する。透視された測
定対象物が蛍光物質Ａ及びＢの両像上に現れるときの輝
度の比は測定対象物の平均原子番号に関係する。従って
平均原子番号は輝度の比較から算定することができる。
【００１２】材料の種類の同定のための記憶板の成分と
して二つの異なる記憶蛍光物質で十分である。二つを超
える記憶蛍光物質の使用により分類精度を高めることが
できる。
して二つの異なる記憶蛍光物質で十分である。二つを超
える記憶蛍光物質の使用により分類精度を高めることが
できる。
【００１３】
【実施例】次にこの発明に基づくＸ線像作成方法と装置
の一実施例を示す図面により、この発明を詳細に説明す
る。
の一実施例を示す図面により、この発明を詳細に説明す
る。
【００１４】図１に示すコンピュータラジオグラフィに
よるＸ線像作成方法を実施するための装置の一実施例で
は、Ｘ線管４に給電する高電圧発生器２が設けられてい
る。図１で符号の付けられていないＸ線は、例えばアル
ミニウムから成るフィルタ６として働く金属板、及び例
えば手荷物などの測定対象物８を透過する。測定対象物
８によりその吸収に応じて弱められたＸ線は記憶板１０
上に当たり、この記憶板はこの発明に基づき少なくとも
二つの記憶蛍光物質、例えばユーロピウムをドープされ
たフッ化臭化バリウムＢａＦＢｒ：Ｅｕと、ユーロピウ
ム及びサマリウムをドープされた硫化ストロンチウムＳ
ｒＳ：Ｅｕ，Ｓｍとの少なくとも二つの層又は混合物を
含む。この記憶板１０に当たったＸ線が記憶板１０中で
二つの潜像をそれぞれの記憶蛍光物質中に発生させる。 潜像は電位の井戸中に入り込んだ電子・正孔対の形で存
在する。
よるＸ線像作成方法を実施するための装置の一実施例で
は、Ｘ線管４に給電する高電圧発生器２が設けられてい
る。図１で符号の付けられていないＸ線は、例えばアル
ミニウムから成るフィルタ６として働く金属板、及び例
えば手荷物などの測定対象物８を透過する。測定対象物
８によりその吸収に応じて弱められたＸ線は記憶板１０
上に当たり、この記憶板はこの発明に基づき少なくとも
二つの記憶蛍光物質、例えばユーロピウムをドープされ
たフッ化臭化バリウムＢａＦＢｒ：Ｅｕと、ユーロピウ
ム及びサマリウムをドープされた硫化ストロンチウムＳ
ｒＳ：Ｅｕ，Ｓｍとの少なくとも二つの層又は混合物を
含む。この記憶板１０に当たったＸ線が記憶板１０中で
二つの潜像をそれぞれの記憶蛍光物質中に発生させる。 潜像は電位の井戸中に入り込んだ電子・正孔対の形で存
在する。
【００１５】これらの潜像の再現のために記憶板１０が
次々に、波長がそれぞれ用いられた記憶蛍光物質の刺激
領域に存在する二つのレーザ光源１２又は１３の読み出
し光線１４、１５により画素ごとに走査される。レーザ
光源１２、例えばフッ化臭化バリウムＢａＦＢｒ：Ｅｕ
のための６３３ｎｍの波長を有するＨｅ−Ｎｅレーザの
読み出し光線が、図示されていない偏向装置により行ご
とに記憶板１０にわたって導かれて記憶板１０が画素ご
とに走査され、同時に記憶板１０が行に対し垂直な方向
へ段階的に動かされる。同様に記憶板１０は続いてレー
ザ光源１３、例えば硫化ストロンチウムＳｒＳ：Ｅｕ，
Ｓｍのための１０６４ｎｍの波長を有するＮｄ：ＹＡＧ
レーザにより走査される。読み出し光線１４、１５を用
いた走査により記憶板１０上に存在するすべての画素が
行ごとに相前後して励起され発光する。両検出器１６、
１７がこの発明に基づき両記憶蛍光物質のそれぞれから
誘発された光誘導ルミネセンスを分離して検出し、走査
された画素の輝度を電気信号へ変換し、この電気信号が
再現回路２２へ供給され、この再現回路が検出器１６、
１７の個々のアナログ出力信号からモニタスクリーン２
６上に描き出すためのビデオ信号を作り出す。制御装置
２４が両レーザ光源１２、１３、再現回路２２及びモニ
タ２６のための制御クロック信号を発生させる。
次々に、波長がそれぞれ用いられた記憶蛍光物質の刺激
領域に存在する二つのレーザ光源１２又は１３の読み出
し光線１４、１５により画素ごとに走査される。レーザ
光源１２、例えばフッ化臭化バリウムＢａＦＢｒ：Ｅｕ
のための６３３ｎｍの波長を有するＨｅ−Ｎｅレーザの
読み出し光線が、図示されていない偏向装置により行ご
とに記憶板１０にわたって導かれて記憶板１０が画素ご
とに走査され、同時に記憶板１０が行に対し垂直な方向
へ段階的に動かされる。同様に記憶板１０は続いてレー
ザ光源１３、例えば硫化ストロンチウムＳｒＳ：Ｅｕ，
Ｓｍのための１０６４ｎｍの波長を有するＮｄ：ＹＡＧ
レーザにより走査される。読み出し光線１４、１５を用
いた走査により記憶板１０上に存在するすべての画素が
行ごとに相前後して励起され発光する。両検出器１６、
１７がこの発明に基づき両記憶蛍光物質のそれぞれから
誘発された光誘導ルミネセンスを分離して検出し、走査
された画素の輝度を電気信号へ変換し、この電気信号が
再現回路２２へ供給され、この再現回路が検出器１６、
１７の個々のアナログ出力信号からモニタスクリーン２
６上に描き出すためのビデオ信号を作り出す。制御装置
２４が両レーザ光源１２、１３、再現回路２２及びモニ
タ２６のための制御クロック信号を発生させる。
【００１６】図２の線図には線減衰係数μ［ｃｍ−１］
がＸ線のエネルギーＥ［ｋｅＶ］について記入されてい
る。この線図はユーロピウムをドープされたフッ化臭化
バリウムＢａＦＢｒ：Ｅｕに対する特性曲線Ａ、及びユ
ーロピウム及びサマリウムをドープされた硫化ストロン
チウムＳｒＳ：Ｅｕ，Ｓｍに対する特性曲線Ｂを示す。 約３７ｋｅＶを超える主なエネルギー成分を有するＸ線
は、フッ化臭化バリウム中では硫化ストロンチウム中よ
り非常に強く吸収される。透視される測定対象物８の平
均の原子番号従って用いられるＸ線の硬化が高いほど、
硫化ストロンチウム中に記憶される像の強度がフッ化臭
化バリウム中に記憶される像の強度に比べて一層弱くな
る。
がＸ線のエネルギーＥ［ｋｅＶ］について記入されてい
る。この線図はユーロピウムをドープされたフッ化臭化
バリウムＢａＦＢｒ：Ｅｕに対する特性曲線Ａ、及びユ
ーロピウム及びサマリウムをドープされた硫化ストロン
チウムＳｒＳ：Ｅｕ，Ｓｍに対する特性曲線Ｂを示す。 約３７ｋｅＶを超える主なエネルギー成分を有するＸ線
は、フッ化臭化バリウム中では硫化ストロンチウム中よ
り非常に強く吸収される。透視される測定対象物８の平
均の原子番号従って用いられるＸ線の硬化が高いほど、
硫化ストロンチウム中に記憶される像の強度がフッ化臭
化バリウム中に記憶される像の強度に比べて一層弱くな
る。
【００１７】図１に示す装置でＸ線源として、タングス
テン陽極を備え例えば７０ｋＶの電圧により駆動される
Ｘ線管４が用いられ、かつＸ線経路中に例えば３．６ｍ
ｍ厚のアルミニウム板がフィルタ６として用いられると
、Ｘ線フルエンス［相対単位φ］がエネルギーＥ［ｋｅ
Ｖ］について記入されている図３に示すように、このＸ
線の平均エネルギーは約４１．４ｋｅＶとなる。
テン陽極を備え例えば７０ｋＶの電圧により駆動される
Ｘ線管４が用いられ、かつＸ線経路中に例えば３．６ｍ
ｍ厚のアルミニウム板がフィルタ６として用いられると
、Ｘ線フルエンス［相対単位φ］がエネルギーＥ［ｋｅ
Ｖ］について記入されている図３に示すように、このＸ
線の平均エネルギーは約４１．４ｋｅＶとなる。
【００１８】このＸ線により図４の一覧表に示すように
、種々の材料すなわち例えば原子番号Ｚ＝２６を有する
鉄、原子番号Ｚ＝１３を有するアルミニウム及び平均原
子番号Ｚ＝２．９を有するプレクシガラスが種々の厚さ
の層を透視され、それぞれの層を通り抜けたＸ線のエネ
ルギースペクトルが計算される。周知のエネルギー変換
係数を用いて両記憶蛍光物質Ａ、Ｂ中で電子・正孔対の
形で吸収されたエネルギーが得られ、透視された層が当
該記憶蛍光物質中に現れるときの輝度に対する尺度とし
てこのエネルギーを用いようとするものである。読み出
し光線により放出される光誘導ルミネセンスは周知のよ
うに吸収されたＸ線エネルギーに比例する。そのように
定義され計算された輝度は、材料により影響されず弱め
られていないＸ線の記憶板１０のフッ化臭化バリウム成
分上での輝度を１に等しいと置くという方法で標準化さ
れた。図４に示すようにまず鉄（Ｚ＝２６）から成る板
が０．００５〜０．５ｃｍの異なる七つの厚さで透視さ
れた。これらの板は図４の一番下の行に示されている。 その際これらの鉄板が記憶板のフッ化臭化バリウム成分
上にもたらす輝度が計算された。これらの輝度は一覧表
の一番上の行に示されている。０．１ｃｍの厚さを有す
る鉄板は記憶板のフッ化臭化バリウム成分上に例えば０
．１０６の輝度を有して現れる。
、種々の材料すなわち例えば原子番号Ｚ＝２６を有する
鉄、原子番号Ｚ＝１３を有するアルミニウム及び平均原
子番号Ｚ＝２．９を有するプレクシガラスが種々の厚さ
の層を透視され、それぞれの層を通り抜けたＸ線のエネ
ルギースペクトルが計算される。周知のエネルギー変換
係数を用いて両記憶蛍光物質Ａ、Ｂ中で電子・正孔対の
形で吸収されたエネルギーが得られ、透視された層が当
該記憶蛍光物質中に現れるときの輝度に対する尺度とし
てこのエネルギーを用いようとするものである。読み出
し光線により放出される光誘導ルミネセンスは周知のよ
うに吸収されたＸ線エネルギーに比例する。そのように
定義され計算された輝度は、材料により影響されず弱め
られていないＸ線の記憶板１０のフッ化臭化バリウム成
分上での輝度を１に等しいと置くという方法で標準化さ
れた。図４に示すようにまず鉄（Ｚ＝２６）から成る板
が０．００５〜０．５ｃｍの異なる七つの厚さで透視さ
れた。これらの板は図４の一番下の行に示されている。 その際これらの鉄板が記憶板のフッ化臭化バリウム成分
上にもたらす輝度が計算された。これらの輝度は一覧表
の一番上の行に示されている。０．１ｃｍの厚さを有す
る鉄板は記憶板のフッ化臭化バリウム成分上に例えば０
．１０６の輝度を有して現れる。
【００１９】続いて比較のために別の二つの材料すなわ
ちアルミニウム（Ｚ＝１３）とプレクシガラス（Ｚ＝２
．９）とが透視され、しかもやはり表に同様に示された
種々の厚さを有する七つのブロックが透視され、これら
のブロックはアルミニウムに対しては尺度約１：３でま
たプレクシガラスに対しては尺度約１：４で示されてい
る。これらの厚さはそれぞれアルミニウムのブロックと
プレクシガラスのブロックとが、記憶板のフッ化臭化バ
リウム成分上で鉄板と同じ輝度で現れるように選択され
た。例えば０．１ｃｍ厚の鉄板と１．６３ｃｍ厚のアル
ミニウム板と７．６ｃｍ厚のプレクシガラス板が、記憶
板１０のフッ化臭化バリウム成分上で表の第４列に示す
ように同じ輝度すなわち０．１０６をもたらす。従って
７．６ｃｍ厚のプレクシガラスと１．６３ｃｍ厚のアル
ミニウムと０．１ｃｍ厚の鉄のブロックはＸ線像ではそ
れ自体識別できない。
ちアルミニウム（Ｚ＝１３）とプレクシガラス（Ｚ＝２
．９）とが透視され、しかもやはり表に同様に示された
種々の厚さを有する七つのブロックが透視され、これら
のブロックはアルミニウムに対しては尺度約１：３でま
たプレクシガラスに対しては尺度約１：４で示されてい
る。これらの厚さはそれぞれアルミニウムのブロックと
プレクシガラスのブロックとが、記憶板のフッ化臭化バ
リウム成分上で鉄板と同じ輝度で現れるように選択され
た。例えば０．１ｃｍ厚の鉄板と１．６３ｃｍ厚のアル
ミニウム板と７．６ｃｍ厚のプレクシガラス板が、記憶
板１０のフッ化臭化バリウム成分上で表の第４列に示す
ように同じ輝度すなわち０．１０６をもたらす。従って
７．６ｃｍ厚のプレクシガラスと１．６３ｃｍ厚のアル
ミニウムと０．１ｃｍ厚の鉄のブロックはＸ線像ではそ
れ自体識別できない。
【００２０】この発明に基づき補助的に記憶板の硫化ス
トロンチウム成分上の像の輝度が観察される。これらの
輝度が種々の板又はブロックに対して計算され、それぞ
れ硫化ストロンチウム記憶板上の輝度対フッ化臭化バリ
ウム記憶板上の輝度の比が形成される。これらの比の数
値の列が図４においてプレクシガラスに対しては符号Ｑ
Ｐｌ、アルミニウムに対しては符号ＱＡｌ、また鉄に対
しては符号ＱＦｅで示されている。これらの列から種々
の材料はこれらの輝度比Ｑにおいて相互に異なるが、例
えば０．１ｃｍの鉄、１．６３ｃｍのアルミニウム及び
７．６ｃｍのプレクシガラスが記憶板のフッ化臭化バリ
ウム成分上ですべて同じ輝度、すなわち第４列に示すよ
うな０．１０６を有するということが分かる。平均の原
子番号Ｚを測定するために、記憶板の硫化ストロンチウ
ム成分上の輝度を求めて比Ｑを形成することができる。 例えば第４列に示すようにＱ＝０．４６５が得られると
、材料は鉄であるか又は鉄と同じ平均原子番号Ｚを有す
る化合物である。Ｑ＝０．４９１が得られると、材料は
アルミニウムであるか又はアルミニウムと同じ平均原子
番号Ｚを有する材料である。Ｑ＝０．５７６が得られる
と、材料はプレクシガラスであるか又は少なくともプレ
クシガラスと同じ平均原子番号Ｚを有する化合物である
。原子番号Ｚを有するすべての他の元素又は平均原子番
号Ｚを有するすべての他の化合物も特性的なＱ値により
同定することができる。記憶板１０上での二つを超える
記憶蛍光物質の混合により精度を高めることができる。
トロンチウム成分上の像の輝度が観察される。これらの
輝度が種々の板又はブロックに対して計算され、それぞ
れ硫化ストロンチウム記憶板上の輝度対フッ化臭化バリ
ウム記憶板上の輝度の比が形成される。これらの比の数
値の列が図４においてプレクシガラスに対しては符号Ｑ
Ｐｌ、アルミニウムに対しては符号ＱＡｌ、また鉄に対
しては符号ＱＦｅで示されている。これらの列から種々
の材料はこれらの輝度比Ｑにおいて相互に異なるが、例
えば０．１ｃｍの鉄、１．６３ｃｍのアルミニウム及び
７．６ｃｍのプレクシガラスが記憶板のフッ化臭化バリ
ウム成分上ですべて同じ輝度、すなわち第４列に示すよ
うな０．１０６を有するということが分かる。平均の原
子番号Ｚを測定するために、記憶板の硫化ストロンチウ
ム成分上の輝度を求めて比Ｑを形成することができる。 例えば第４列に示すようにＱ＝０．４６５が得られると
、材料は鉄であるか又は鉄と同じ平均原子番号Ｚを有す
る化合物である。Ｑ＝０．４９１が得られると、材料は
アルミニウムであるか又はアルミニウムと同じ平均原子
番号Ｚを有する材料である。Ｑ＝０．５７６が得られる
と、材料はプレクシガラスであるか又は少なくともプレ
クシガラスと同じ平均原子番号Ｚを有する化合物である
。原子番号Ｚを有するすべての他の元素又は平均原子番
号Ｚを有するすべての他の化合物も特性的なＱ値により
同定することができる。記憶板１０上での二つを超える
記憶蛍光物質の混合により精度を高めることができる。
【００２１】図１に示す実施例では記憶された情報の読
み出しのために、二つのレーザ光源１２、１３及び二つ
の分離された検出器１６、１７が用いられている。しか
しながら読み出しのために、感度領域が両記憶蛍光物質
の放出波長を検出するような共通な検出器を用いること
もできる。ユーロピウムをドープされたフッ化臭化バリ
ウムは例えばほぼ３９０ｎｍの放射最大値を有しほぼ３
５０〜４４０ｎｍの領域で放出する。セリウム及びサマ
リウムをドープされた硫化ストロンチウムの放出領域は
約４３０ｎｍの放射最大値を有し約３８０〜４８０ｎｍ
の領域にある。
み出しのために、二つのレーザ光源１２、１３及び二つ
の分離された検出器１６、１７が用いられている。しか
しながら読み出しのために、感度領域が両記憶蛍光物質
の放出波長を検出するような共通な検出器を用いること
もできる。ユーロピウムをドープされたフッ化臭化バリ
ウムは例えばほぼ３９０ｎｍの放射最大値を有しほぼ３
５０〜４４０ｎｍの領域で放出する。セリウム及びサマ
リウムをドープされた硫化ストロンチウムの放出領域は
約４３０ｎｍの放射最大値を有し約３８０〜４８０ｎｍ
の領域にある。
【００２２】波長の刺激領域が重なる記憶蛍光物質を備
えた装置の特に有利な別の実施例では、共通なレーザ光
源を読み出しのために用いることもできる。この実施例
では記憶板１０は例えば、約３００〜４００ｎｍの領域
の放出波長と約３７０ｎｍの放射最大値とを有しタリウ
ムをドープされた臭化ルビジウムＲｂＢｒ：Ｔｌ、及び
約４００〜４６０ｎｍの領域の放射波長と約４３０ｎｍ
の放射最大値とを有しタリウムをドープされたヨウ化ル
ビジウムＲｂＩ：Ｔｌを含むことができる。これらの記
憶蛍光物質は共通なレーザ光源、例えば約７５０ｎｍの
励起波長を有するＧａＡｌＡｓレーザにより走査するこ
とができる。装置のこの実施例は、読み出しを前記の放
出波長の場合に二つの検出器により共通な一工程で行う
ことができるという長所を有する。検出器１６、１７と
して例えば相応の光学フィルタを備えた光電子増倍管を
用いることができる。
えた装置の特に有利な別の実施例では、共通なレーザ光
源を読み出しのために用いることもできる。この実施例
では記憶板１０は例えば、約３００〜４００ｎｍの領域
の放出波長と約３７０ｎｍの放射最大値とを有しタリウ
ムをドープされた臭化ルビジウムＲｂＢｒ：Ｔｌ、及び
約４００〜４６０ｎｍの領域の放射波長と約４３０ｎｍ
の放射最大値とを有しタリウムをドープされたヨウ化ル
ビジウムＲｂＩ：Ｔｌを含むことができる。これらの記
憶蛍光物質は共通なレーザ光源、例えば約７５０ｎｍの
励起波長を有するＧａＡｌＡｓレーザにより走査するこ
とができる。装置のこの実施例は、読み出しを前記の放
出波長の場合に二つの検出器により共通な一工程で行う
ことができるという長所を有する。検出器１６、１７と
して例えば相応の光学フィルタを備えた光電子増倍管を
用いることができる。
【図１】この発明に基づくＸ線像作成装置の一実施例の
配置図である。
配置図である。
【図２】図１に示す記憶板の二つの異なる記憶蛍光物質
の吸収特性曲線を示す線図である。
の吸収特性曲線を示す線図である。
【図３】図１に示すＸ線の量子スペクトルを示す線図で
ある。
ある。
【図４】種々の厚さの異なる材料に対し二つの異なる記
憶蛍光物質上の像の輝度比を一覧表としてまとめた図で
ある。
憶蛍光物質上の像の輝度比を一覧表としてまとめた図で
ある。
２ 高電圧発生器
４ Ｘ線管
６ フィルタ
８ 測定対象物
１０ 記憶板
１２、１３ レーザ光源
１４、１５ 光線
１６、１７ 検出器
２２ 再現回路
２４ 制御装置
２６ モニタ
Claims (5)
- 【請求項１】 異なる原子番号を有する種々の物質を
含む測定対象物のＸ線透視像が記憶板により撮影され、
記憶板の光誘導ルミネセンスが少なくとも一つの読み出
し光線により誘発されて少なくとも一つの検出器に供給
されるコンピュータラジオグラフィによるＸ線像の作成
方法において、異なる吸収特性曲線（Ａ、Ｂ）を有する
少なくとも二つの記憶蛍光物質の吸収率の比から平均の
原子番号Ｚの分布が導出されることを特徴とするＸ線像
の作成方法。 - 【請求項２】 記憶板（１０）が異なる吸収特性曲線
（Ａ、Ｂ）を有する少なくとも二つの異なる記憶蛍光物
質を含み、それにより測定対象物（８）の種々の物質群
が両記憶蛍光物質中で異なる強度の像をもたらすように
し、これらの記憶蛍光物質が読み出し光線の刺激スペク
トル及び／又は光誘導ルミネセンスの放出スペクトルに
おいて異なるようにし、放出の検出のために少なくとも
一つの検出器（１６、１７）が設けられることを特徴と
する請求項１記載の方法を実施するための装置。 - 【請求項３】 記憶板（１０）の異なる記憶蛍光物質
に対し共通な読み出し光線が用いられることを特徴とす
る請求項２記載の装置。 - 【請求項４】 記憶板（１０）の異なる記憶蛍光物質
に対しそれぞれ別個の読み出し光線が用いられることを
特徴とする請求項２記載の装置。 - 【請求項５】 放出の検出のために共通な検出器が設
けられることを特徴とする請求項４記載の装置。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| EP90116903A EP0473815A1 (de) | 1990-09-03 | 1990-09-03 | Verfahren und Vorrichtung zum Herstellen von Röntgenbildern |
| AT90116903.7 | 1990-09-03 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH04256846A true JPH04256846A (ja) | 1992-09-11 |
Family
ID=8204425
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP3244599A Withdrawn JPH04256846A (ja) | 1990-09-03 | 1991-08-28 | Ｘ線像の作成方法と装置 |
Country Status (2)
| Country | Link |
|---|---|
| EP (1) | EP0473815A1 (ja) |
| JP (1) | JPH04256846A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN116148283A (zh) * | 2021-11-22 | 2023-05-23 | 株式会社森田制作所 | 读取装置 |
| JP2023076421A (ja) * | 2021-11-22 | 2023-06-01 | 株式会社モリタ製作所 | 読取装置 |
Family Cites Families (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP0081227B1 (en) * | 1981-12-07 | 1987-03-18 | Albert Macovski | Energy-selective x-ray recording and readout system |
| JPS5983486A (ja) * | 1982-11-04 | 1984-05-14 | Fuji Photo Film Co Ltd | 放射線画像のエネルギ−・サブトラクシヨン方法およびその方法に用いられる蓄積性螢光体シ−ト、蓄積性螢光体シ−ト積層体並びに蓄積性螢光体シ−トフイルタ積層体 |
| JPS6170547A (ja) * | 1984-09-13 | 1986-04-11 | Fuji Photo Film Co Ltd | 放射線画像情報読取方法 |
-
1990
- 1990-09-03 EP EP90116903A patent/EP0473815A1/de not_active Withdrawn
-
1991
- 1991-08-28 JP JP3244599A patent/JPH04256846A/ja not_active Withdrawn
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN116148283A (zh) * | 2021-11-22 | 2023-05-23 | 株式会社森田制作所 | 读取装置 |
| JP2023076421A (ja) * | 2021-11-22 | 2023-06-01 | 株式会社モリタ製作所 | 読取装置 |
| EP4209809A1 (en) * | 2021-11-22 | 2023-07-12 | J. Morita Manufacturing Corporation | Radiography image reading apparatus |
| EP4671863A3 (en) * | 2021-11-22 | 2026-02-25 | J. Morita Manufacturing Corporation | Radiography image reading apparatus |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| EP0473815A1 (de) | 1992-03-11 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A300 | Application deemed to be withdrawn because no request for examination was validly filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300 Effective date: 19981112 |