JPH0425800A - 荷電粒子阻止装置 - Google Patents
荷電粒子阻止装置Info
- Publication number
- JPH0425800A JPH0425800A JP13216090A JP13216090A JPH0425800A JP H0425800 A JPH0425800 A JP H0425800A JP 13216090 A JP13216090 A JP 13216090A JP 13216090 A JP13216090 A JP 13216090A JP H0425800 A JPH0425800 A JP H0425800A
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- Japan
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- container
- particle blocking
- electron beam
- water
- incident
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
この発明は、荷電粒子加速装置のターゲットに荷電粒子
ビームが入射したとき、荷電粒子が広がって、横方向に
散乱されるのを防止するようにした荷電粒子阻止装置に
関するものである。
ビームが入射したとき、荷電粒子が広がって、横方向に
散乱されるのを防止するようにした荷電粒子阻止装置に
関するものである。
３０ＭｅＶを越える高エネルギ電子モニタとして、ファ
ラデイカツブが使用されており、その原理は周知であり
、ここでの説明は省略するが、ファラデイカツブは線形
電子加速器で行われる種々の実験で線量の基準となるも
のであり、測定精度を９９％以上にする必要があること
を、三菱電機枝軸Ｖｏ１．４３．隆５・１９６９に記載
されている。この文献によるファラデイカツブの測定精
度を上げるための条件として、 ＋１１ 入射した電子ビームがファラデイカツブを貫
通しないこと、 （２１ファラデイカツブ開口部から入射電子ビームの後
方散乱によって、散乱電子が空気中へ逃げないようにす
ること、 （３） 入射電子ビームの非弾性散乱によって放出さ
れる２次粒子が空気中に逃げないようにすること、 が記載されている。
ラデイカツブが使用されており、その原理は周知であり
、ここでの説明は省略するが、ファラデイカツブは線形
電子加速器で行われる種々の実験で線量の基準となるも
のであり、測定精度を９９％以上にする必要があること
を、三菱電機枝軸Ｖｏ１．４３．隆５・１９６９に記載
されている。この文献によるファラデイカツブの測定精
度を上げるための条件として、 ＋１１ 入射した電子ビームがファラデイカツブを貫
通しないこと、 （２１ファラデイカツブ開口部から入射電子ビームの後
方散乱によって、散乱電子が空気中へ逃げないようにす
ること、 （３） 入射電子ビームの非弾性散乱によって放出さ
れる２次粒子が空気中に逃げないようにすること、 が記載されている。
これらはファラデイカツブの形状を考慮することによっ
て避けることができ、第２図に示すように、電子ビーム
入射部に筒状の穴をあけた構造にして、散乱電子、２次
粒子を確実に捕捉するようにしている。
て避けることができ、第２図に示すように、電子ビーム
入射部に筒状の穴をあけた構造にして、散乱電子、２次
粒子を確実に捕捉するようにしている。
すなわち、この第２図は荷電粒子阻止装置の構成を示す
半裁断面図であり、１は電子ビーム、２はターゲットで
あり、銅により形成されている。
半裁断面図であり、１は電子ビーム、２はターゲットで
あり、銅により形成されている。
ターゲット２の外周面は放射線遮蔽用の釦３で包囲され
ている。
ている。
この釦３は絶縁材５を介して容器４内に収納されている
。この容器４は鉄あるいはステンレス（ＳｔｌＳ）で形
成されている。容器４の外周面には、水冷管６が巻回さ
れており、この水冷管６内に冷却水を流通させて、容器
４を冷却するようになっている。
。この容器４は鉄あるいはステンレス（ＳｔｌＳ）で形
成されている。容器４の外周面には、水冷管６が巻回さ
れており、この水冷管６内に冷却水を流通させて、容器
４を冷却するようになっている。
また、上記電子ビーム１の入射部に形成した筒状の穴７
は入射ビームの広がりを仮定して、直径２００ｍとして
おり、穴フの深さは入射電子ビームの最大入射角を２０
°と仮定して、幾何学的に決定して、６００纏としてい
る。
は入射ビームの広がりを仮定して、直径２００ｍとして
おり、穴フの深さは入射電子ビームの最大入射角を２０
°と仮定して、幾何学的に決定して、６００纏としてい
る。
このような荷電粒子阻止装置において、電子ビーム１が
ターゲット２に衝突して発生する２次電子を測定するこ
とによって、電子ビームｌの線量を知ることができる。
ターゲット２に衝突して発生する２次電子を測定するこ
とによって、電子ビームｌの線量を知ることができる。
この電子ビーム１が消失するときに発生する放射線量を
減らし、かつ取扱を楽にするために、ターゲット２には
、銅の代わりに水を用いる場合がある。
減らし、かつ取扱を楽にするために、ターゲット２には
、銅の代わりに水を用いる場合がある。
第３図はターゲットに水を用いた場合の荷電粒子阻止装
置の構成を示す断面図であり、第２図と同一部分には、
同一符号を付しであるが、ターゲットとしての水７が容
器７ａ内に充填され、この容器７ａが絶縁物５を介して
容器４内に保持されている。
置の構成を示す断面図であり、第２図と同一部分には、
同一符号を付しであるが、ターゲットとしての水７が容
器７ａ内に充填され、この容器７ａが絶縁物５を介して
容器４内に保持されている。
この第３図の場合には、Ｉ ＧｅＶの電子ビーム１を消
失するための水７の飛程距離は１ｍ程度であり、電子ビ
ーム１が水７へ入射されると、この電子ビームｌは水７
の中を通過する間に水を電離させ、かつ放射線を発生す
るとともに、電子ビーム７はエネルギを消失する。
失するための水７の飛程距離は１ｍ程度であり、電子ビ
ーム１が水７へ入射されると、この電子ビームｌは水７
の中を通過する間に水を電離させ、かつ放射線を発生す
るとともに、電子ビーム７はエネルギを消失する。
従来のターゲットに水を使用した荷電粒子阻止装置は以
上のように構成されているので、水７に入射した電子ビ
ーム１が広がり、広がった電子ビームに対しては、十分
な水の長さが稼げず、容器４から電子ビーム１が洩れて
、完全にとまらないという課題があった。
上のように構成されているので、水７に入射した電子ビ
ーム１が広がり、広がった電子ビームに対しては、十分
な水の長さが稼げず、容器４から電子ビーム１が洩れて
、完全にとまらないという課題があった。
この発明は上記のような課題を解消するためになされた
もので、横方向の荷電粒子を阻止できる荷電粒子阻止装
置を得ることを目的とする。
もので、横方向の荷電粒子を阻止できる荷電粒子阻止装
置を得ることを目的とする。
この発明に係る荷電粒子阻止装置は、入口部分に荷電粒
子の飛程長の長さになる厚さで穴のあいた金属製の荷電
粒子阻止体を配置したものである。
子の飛程長の長さになる厚さで穴のあいた金属製の荷電
粒子阻止体を配置したものである。
この発明における荷電粒子阻止体は、荷電粒子の飛程長
の長さに相当する厚さを有するから、容器の横方向に洩
れてくる電子ビームを阻止する。
の長さに相当する厚さを有するから、容器の横方向に洩
れてくる電子ビームを阻止する。
以下、この発明の荷電粒子阻止装置の実施例について図
面に基づき説明する。第１図（＆）はその一実施例の全
体の構成を示す断面図であり、第１図（ｂｌはターゲッ
トの斜視図、第１図（ｃ）はターゲットに取り付けられ
る穴のあいた板の斜視図である。
面に基づき説明する。第１図（＆）はその一実施例の全
体の構成を示す断面図であり、第１図（ｂｌはターゲッ
トの斜視図、第１図（ｃ）はターゲットに取り付けられ
る穴のあいた板の斜視図である。
この第１図（ａｌないし第１図１０１において、第２図
および第３図と同一部分には同一符号を付して説明する
。を子ビームを入射するターゲットの直方体状の容器９
内に水７が充填されており、このターゲットの容器９の
電子ビーム１の入射する入口の部分には、第１図１０１
に示すような穴８ａをあけたアルミニウム製の板８が取
り付けられている。
および第３図と同一部分には同一符号を付して説明する
。を子ビームを入射するターゲットの直方体状の容器９
内に水７が充填されており、このターゲットの容器９の
電子ビーム１の入射する入口の部分には、第１図１０１
に示すような穴８ａをあけたアルミニウム製の板８が取
り付けられている。
この板８は第１図（ｂｌに示すように、電子ビーム１の
飛程長の長さになる厚さで、複数枚重ねて、容器９０入
口部分に取り付けられている。
飛程長の長さになる厚さで、複数枚重ねて、容器９０入
口部分に取り付けられている。
この容器９は第１図（ａｌより明らかなように、絶縁材
５を介して、荷電粒子阻止装置の容器４内に保持されて
いる。
５を介して、荷電粒子阻止装置の容器４内に保持されて
いる。
次に、動作について説明する。荷電粒子阻止装置へ入射
した電子ビーム１はほとんど直進し、ターゲットの容器
９内の水７でダンプされ、荷電粒子阻止装置の入口部で
広がり、容器９の横から洩れてくる電子ビームはアルミ
ニウム製の板８でダンプされる。
した電子ビーム１はほとんど直進し、ターゲットの容器
９内の水７でダンプされ、荷電粒子阻止装置の入口部で
広がり、容器９の横から洩れてくる電子ビームはアルミ
ニウム製の板８でダンプされる。
この板８の合計の厚さは電子ビーム１の飛程長の長さに
なっており、電子ビーム１を阻止することができる。
なっており、電子ビーム１を阻止することができる。
なお、上記実施例では、板８を用いた場合を例示したが
、板でない構造物でもよく、要は電子ビーム１を阻止す
るのに必要な長さ、すなわち、飛程長の長さの厚さを有
する電子ビーム阻止体であればよい。
、板でない構造物でもよく、要は電子ビーム１を阻止す
るのに必要な長さ、すなわち、飛程長の長さの厚さを有
する電子ビーム阻止体であればよい。
また、上記実施例では、板８として、アルミニウム類の
場合について例示したが、銅や鉄などの材料でもよく、
さらに、電子ビームのみでなく、要は荷電粒子であれば
適用でき、したがって、それを阻止するのに、上記電子
ビーム阻止体と同様の荷電粒子阻止体を設ければよい。
場合について例示したが、銅や鉄などの材料でもよく、
さらに、電子ビームのみでなく、要は荷電粒子であれば
適用でき、したがって、それを阻止するのに、上記電子
ビーム阻止体と同様の荷電粒子阻止体を設ければよい。
以上のように、この発明によれば、荷電粒子の入射口の
部分に荷電粒子の飛程長の長さの厚さになる荷電粒子阻
止体を設けるように構成したので、荷電粒子の横方向の
散乱を阻止することができる効果がある。
部分に荷電粒子の飛程長の長さの厚さになる荷電粒子阻
止体を設けるように構成したので、荷電粒子の横方向の
散乱を阻止することができる効果がある。
第１図＋８＋はこの発明の一実施例による荷電粒子阻止
装置の構成を示す断面図、第１図（ｂｌは同上実施例に
おけるターゲットの容器の斜視図、第１図ｆｃ）は同上
実施例におけるターゲットの入口に設ける板の斜視図、
第２図および第３図はそれぞれ従来の荷電粒子阻止装置
の断面図である。 １・・・電子ビーム、４，９・・・容器、５・・・絶縁
材、７・・・水、８・・・板、８ａ・・・穴。 なお、図中、同一符号は同一、又は相当部分を示す。 代理人 大 岩 増 雄 第 図 ８ａ二六 第 図 第 図
装置の構成を示す断面図、第１図（ｂｌは同上実施例に
おけるターゲットの容器の斜視図、第１図ｆｃ）は同上
実施例におけるターゲットの入口に設ける板の斜視図、
第２図および第３図はそれぞれ従来の荷電粒子阻止装置
の断面図である。 １・・・電子ビーム、４，９・・・容器、５・・・絶縁
材、７・・・水、８・・・板、８ａ・・・穴。 なお、図中、同一符号は同一、又は相当部分を示す。 代理人 大 岩 増 雄 第 図 ８ａ二六 第 図 第 図
Claims (1)
- 荷電粒子を入射し水を充填したターゲットの容器と、こ
のターゲットの容器の上記荷電粒子の入口部分に取り付
けられ上記荷電粒子の飛程長の長さとなる厚さを有しか
つ上記荷電粒子が入射する穴を有する荷電粒子阻止体と
、絶縁体を介して上記ターゲットの容器を収納する容器
とを備えた荷電粒子阻止装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP13216090A JPH0425800A (ja) | 1990-05-21 | 1990-05-21 | 荷電粒子阻止装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP13216090A JPH0425800A (ja) | 1990-05-21 | 1990-05-21 | 荷電粒子阻止装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0425800A true JPH0425800A (ja) | 1992-01-29 |
Family
ID=15074769
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP13216090A Pending JPH0425800A (ja) | 1990-05-21 | 1990-05-21 | 荷電粒子阻止装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0425800A (ja) |
-
1990
- 1990-05-21 JP JP13216090A patent/JPH0425800A/ja active Pending
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