JPH04259856A - ガスクロマトグラフ - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は、カラム内に固定相とし
て充填した充填剤と測定ガスとの吸着性の差を利用して
ガス分析を行なうガスクロマトグラフのアナライザ装置
に関するものである。

【０００２】

【従来の技術】石油化学プロセスや鉄鋼プロセスなどに
おいて、プロセスガスの成分分析を行うこの種のプロセ
ス用ガスクロマトグラフは、プロセスラインから分取し
たサンプルガスをサンプルコンディショナ装置によって
分析に必要な最適条件に整え、このサンプルガスをアナ
ライザ装置に供給して各ガス成分を分離、検出し、その
測定結果に基づいてプロセス工程を監視したり、各種制
御を行うようにしている。図９はこのようなガスクロマ
トグラフの従来例を示すもので、１Ａ、１Ｂはプロセス
ライン、２はサンプルコンディショナ装置、３はアナラ
イザ装置で、これらによってガスクロマトグラフを構成
している。サンプルコンディショナ装置２としては、サ
ンプルガスＳＧ中の重成分を完全に気化しその凝縮を防
止するベーパライザ（図示せず）、サンプルガスＳＧ中
のダストを除去するフィルタ（図示せず）、サンプルガ
スＳＧおよび標準ガスＨＧの流量を測定するロータメー
タ（図示せず）、標準ガスＨＧとサンプルガスＳＧの流
量を調整するニードル弁（図示せず）、流路を切り替え
る切換スイッチ（図示せず）等で構成され、これらをハ
ウジング４内に組み込み配管で接続している。一方、ア
ナライザ装置３は直列接続された第１、第２のカラム５
、６、サンプルバルブ７、バックフラッシュバルブ８、
検出器９、減圧弁（図示せず）、電気機器部１０、恒温
槽１１、加熱器１２等を備えている。恒温槽１１は、前
記第１、第２のカラム５、６、サンプルバルブ７、バッ
クフラッシュバルブ８、検出器９等を収納し、加熱器１
２によって加熱された空気の循環によって内部がサンプ
ルガスＳＧの分離分析に最適な温度に保持される。第１
のカラム５は、内径１ｍｍ〜４ｍｍ、長さ０．５〜３ｍ
程度で内部に固定相を充填したパックドカラムからなり
、炭素（Ｃ）の少ない低沸点成分を高速で効率よく分離
することができ、第２のカラム６は内径０．１ｍｍ〜４
ｍｍ、長さ０．５〜３ｍ程度で内壁に液相を塗布したキ
ャピラリカラムからなり、Ｃの少ない低沸点成分に対し
ては分離が困難であるが、Ｃの多い高沸点成分に対して
は高速で効率よく分離することができる特徴を有してい
る。分析に際しては、サンプルガスＳＧ中のＣの多い重
質成分（高沸点成分）は分析周期の短縮、カラム劣化の
保護のためバックフラッシュバルブ８によって排出して
測定せず、Ｃの少ない低沸点成分のみを第１のカラム５
によって高速で分離し、第２のカラム６はＣの多い範囲
を測定する時、その範囲内でＣの少ないガス成分（軽い
成分）を分離する。そして、第１、第２のカラム５、６
によって分離された各ガス成分は検出器９によって電気
信号に変換され、この電気信号は各ガス成分の濃度に比
例している。

【０００３】

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、このよ
うな構成からなる従来のガスクロマトグラフにあっては
、サンプルガスＳＧ、キャリアガスＣＧの吹き出し口の
数や、構成部品の配置構成等によって恒温槽１１内部の
温度分布を完全には均一にすることができず、また温度
の変動も生じるという問題があった。このため、カラム
５、６等の構成部品を最適温度条件に保持することがで
きず、成分濃度が本来のサンプル濃度と一致せず、正確
な測定が困難になる。例えば、液化し易いサンプルガス
ＳＧの場合、サンプルバルブ７、バックフラッシュバル
ブ８は高い温度に保持することが望ましく、また第２の
カラム６は分離能を向上させるため温度の変動がないこ
とが望ましい。また、上記の従来装置は、サンプルコン
ディショナ装置２とアナライザ装置３間のサンプル導入
部を配管１３によって接続すると共に、この部分での温
度低下を防止するため配管１３を二重管構造とし、スチ
ーム等で加熱、保温しているが、その構造が複雑で部品
点数が増加し、サンプルコンディショナ装置２とアナラ
イザ装置３の距離が近ければ、配管作業が困難となり、
逆に離れ過ぎていると、加熱保温に要する熱量を多く必
要とするという問題があった。さらに、電気部品を有す
る増幅器や温度制御装置からなる電気機器部１０は恒温
槽１１の上部に配置されているので、恒温槽１１や加熱
器１２による熱的影響が大きく、装置の信頼性が低下す
る。恒温槽１１内部においてサンプルバルブ７、カラム
５、６、検出器９等が配管、継手等によって接続されて
配設されているため、これらのメインテナンス作業が容
易でないなど、多くの問題があった。

【０００４】したがって、本発明は上記したような従来
の問題点に鑑みてなされたもので、その目的とするとこ
ろは、温度変動を防止しサンプルガスの加熱保温を確実
に行うことができ、また装置の小型化およびメインテナ
ンスの容易化を図ると共に、加熱器や恒温槽による増幅
器や温度制御装置の電気部品への熱的影響を減少させ得
るようにしたガスクロマトグラフのアナライザ装置を提
供することにある。

【０００５】

【課題を解決するための手段】本発明は上記目的を達成
するため、楕円球状体からなるアナライザケースの下端
開口部にキャリアガス導入口、サンプルガスまたは標準
ガス導入口およびサンプルガス送出口を有するマニホー
ルドを嵌合配置し、このマニホールド上に恒温槽を配設
してその内部にヒータと検出器を備えたサンプルバルブ
を配設し、またこのバルブの外周上部には第１および第
２のカラムを、第２のカラムを内側にして巻回配置し、
前記アナライザケースの内底部の恒温槽周囲には電気部
品を載置したアナライザボード、トランスおよび減圧弁
を配設し、かつプリント基板、コネクタ等を内蔵する円
筒状ケースを前記アナライザケースの外周に突設したも
のである。

【０００６】

【作用】本発明において、恒温槽による熱は楕円球状体
からなるアナライザケースによって放熱される。したが
って、ケースの外周に突設された円筒状ケース内の電気
部品に対する熱影響は少ない。また、アナライザボード
、トランス等もアナライザケースの内部下方に配置され
ているため、恒温槽による熱的影響が少ない。マニホー
ルド上に配置されたサンプルバルブは内蔵するヒータと
恒温槽によって加熱保温されるため、最も高温に保持さ
れ、また第２のカラムは第１のカラムの内側に位置し、
温度変動が少ない。

【０００７】

【実施例】以下、本発明を図面に示す実施例に基づいて
詳細に説明する。図１は本発明に係るガスクロマトグラ
フのアナライザ装置を示す断面図、図２はガスクロマト
グラフをスタンションに取り付けた状態を示す外観斜視
図、図３はサンプルコンディショナ装置の内部構造を示
す斜視図、図４はハウジングブロックの外観斜視図、図
５は図４のＶ−Ｖ線断面図、図６は図４のＶＩ−ＶＩ線
断面図、図７はマニホールドの底面図、図８は図１のＶ
ＩＩＩ−ＶＩＩＩ線断面図である。

【０００８】図１および図２において、全体を符号２０
で示すガスクロマトグラフは、サンプルコンディショナ
装置２と、サンプルコンディショナ装置２上に設置され
たアナライザ装置３と、アナライザ装置３の前面に接続
固定された電気機器部２１とで構成され、スタンション
２２に複数個のボルト２３によりブラケット２４を介し
て固定されている。

【０００９】前記サンプルコンディショナ装置２の構成
等を図３〜図６に基づいて詳述すると、このコンディシ
ョナ装置２は、上面中央部が開放する箱型のハウジング
３０を備え、このハウジング３０内にはステンレス等の
金属からなるハウジングブロック３１が配設されている
。

【００１０】前記ハウジングブロック３１は、上下に対
向する略水平な上部および下部ブロック３１Ａ、３１Ｂ
と、これら両ブロック３１Ａ、３１Ｂを連結する略垂直
な連結部３１Ｃとで構成され、上部ブロック３１Ａの上
面には、キャリアガス送出口３２、サンプルガスまたは
標準ガス送出口３３、サンプルガス導入口３４および複
数個のねじ孔３５を有する小ブロック３６が止めねじ２
７により固定され、且つカバー２５（図１参照）によっ
て覆われている。また、上部ブロック３１Ａの前面には
２つのニードル弁調整用孔３７ａ、３７ｂが、左側面に
はキャリアガス供給口３８が、右側面にはバイパスベン
ト口３９およびサンプルベント口４０がそれぞれ開口さ
れている。そして、ハウジングブロック３１の内部には
前記キャリアガス送出口３２とキャリアガス供給口３８
を連通するキャリアガス用流路４１、前記サンプルガス
または標準ガス送出口３３、サンプルガス供給口４２又
は標準ガス供給口４３を接続するサンプルガスまたは標
準ガス用流路４４、前記バイパスベント口３９とサンプ
ルガスまたは標準ガス用流路４４の途中を接続するバイ
パスベント流路４５、サンプルガス導入口３４とサンプ
ルベント口４０を接続するサンプルベント流路４６、標
準ガス供給口４３と切換スイッチ４７を接続する標準ガ
ス流路４８およびスチーム流路４９が形成されている。 なお、図４において、２８は後述するマニホールド７２
を固定するボルト６５が下方から挿入されるボルト取付
用孔、２９はマニホールド７２を位置決めするための位
置決めピンである。

【００１１】前記サンプルガスまたは標準ガス用流路４
４とバイパスベント流路４５の途中にはそれぞれニード
ル弁５０、５１が配設されている。ニードル弁５０、５
１は前記ニードル弁調整用孔３７ａ、３７ｂにそれぞれ
挿入配置され、外部より調整されるように構成されてい
る。前記キャリアガス供給口３８にはキャリアガスＣＧ
が送給され、キャリアガス用流路４１を通ってアナライ
ザ装置３に送り込まれる。サンプルガス導入口３４には
アナライザ装置３によって分離分析された測定後のサン
プルガスＳＧが導かれ、サンプルベント流路４６を通っ
てサンプルベント口４０より廃棄される。

【００１２】前記下部ブロック３１Ｂの前面にはフィル
タ５２、５３をそれぞれ収納する２つのフィルタ取付用
孔５４ａ、５４ｂと、ベーパライザ５５を収納するベー
パライザ取付用孔５６が設けられ、下面には前記サンプ
ルガス供給口４２、標準ガス供給口４３、スチーム入口
５７およびスチーム出口５８が設けられ、内部には前記
フィルタ５２、５３およびベーパライザ５５に加えて切
換スイッチ４７が組み込まれている。前記サンプルガス
または標準ガス用流路４４の途中には前記ニードル弁５
０、フィルタ５２、５３、ベーパライザ５５、切換スイ
ッチ４７および第２のロータメータ６０が組み込まれて
いる。前記バイパスベント流路４５には、前記ニードル
弁５１に加えて第１のロータメータ５９が組み込まれて
いる。ベーパライザ５５はサンプルガス供給口４２とフ
ィルタ５２間の流路中に設けられている。標準ガス供給
口４３には標準ガスＨＧが導かれる。

【００１３】前記第１、第２のロータメータ５９、６０
はそれぞれテーパ管とフロートを有し、第１のロータメ
ータ５９でサンプルガスＳＧのバイパス流量を測定し、
第２のロータメータ６０でアナライザ入力流量を測定す
るもので、前記上部ブロック３１Ａと下部ブロック３１
Ｂ間に上下端を着脱自在に保持されて配設されている。 また、上部ブロック３１Ａと下部ブロック３１Ｂ間には
ハウジングブロック３１の温度を測定する温度計６２（
図４）が両ロータメータ５９、６０間に位置して配設さ
れている。第１のロータメータ５９は、フィルタ５２と
ニードル弁５１との間に設けられ、第２のロータメータ
６０はフィルタ５３とニードル弁５０との間に介在され
ている。

【００１４】前記切換スイッチ４７は、下部ブロック３
１Ｂの右側面に設けられた切替つまみ６３を制御部から
の信号によって駆動するモータ等の駆動手段（もしくは
手動操作）によって回すことにより切り替えられるもの
で、標準ガスによる校正時にサンプルガスまたは標準ガ
ス用流路４４を標準ガス流路４８に接続し、サンプルガ
ス供給口４２と切換スイッチ４７間の流路６４を閉止す
るように構成されている。したがって、標準ガスによる
校正時において、サンプルガス供給口４２より導かれる
サンプルガスＳＧは、ベーパライザ５５−第１のロータ
メータ５９−ニードル弁５１−バイパスベント流路４５
を通ってバイパスベント口３９より廃棄され、標準ガス
供給口４３より供給される標準ガスＨＧは、切換スイッ
チ４７−フィルタ５３−第２のロータメータ６０−ニー
ドル弁５０−を経てアナライザ装置３に導かれる。この
時、前記流路６４は切換スイッチ４７によって閉止され
ている。

【００１５】一方、測定時（サンプルガス供給時）にお
いては標準ガスＨＧの代わりにサンプルガスＳＧがベー
パライザ５５−フィルタ５２−切換スイッチ４７−フィ
ルタ５３−第２のロータメータ６０−ニードル弁５０を
経てアナライザ装置３に導かれ、該サンプルガスＳＧの
分取が終わると、切換スイッチ４７が再び標準ガスＨＧ
による校正状態に切り替わり標準ガスＨＧの供給が再開
されるように構成されている。

【００１６】なお、ベーパライザ５５、フィルタ５２、
５３、ロータメータ５９、６０、切換スイッチ４７につ
いては従来周知のものであるため、その詳細な構成等に
ついては説明を省略する。

【００１７】前記上、下部ブロック３１Ａ、３１Ｂを連
結する連結部３１Ｃの内部には前記スチーム流路４９の
残り部分が形成されており、これにスチームＳＴを供給
することで前記ハウジングブロック３１が熱交換器を形
成し、サンプルガスＳＧを所定温度（１２０°Ｃ〜１５
０°Ｃ程度）に加熱保温するようにしている。スチーム
ＳＴの温度は１５０°Ｃ程度、圧力は１０Ｋｇｆ／ｃｍ
２以下である。

【００１８】次に前記アナライザ装置３の詳細を図１及
び図７に基づいて詳細に説明する。アナライザ装置３は
、長軸を前後方向に向けて前記サンプルコンディショナ
装置２の小ブロック３６上に設置固定される楕円球状体
からなるアルミダイキャスト製のアナライザケース７０
を備えており、このアナライザケース７０の下面開口部
７１には前記ハウジングブロック３１の小ブロック３６
上に前記ピン２９（図４）によって位置決めされて設置
され、小ブロック３６の下方側よりボルト６５によって
固定されるマニホールド７２が配設されている。マニホ
ールド７２の上面にはサンプルバルブ７３と、これを取
り囲む恒温槽７４が配設され、さらにケース内底部の恒
温槽周囲には電気部品を搭載したアナライザボ−ド７５
、キャリアガスＣＧの圧力を所定圧に減圧する減圧弁７
６、トランス７７等が配設されている。

【００１９】前記サンプルバルブ７３は、内部に形成さ
れた流体通路７８を切替え、測定時にサンプルガスＳＧ
を検出器８０へ導き、非測定時およびバックフラッシュ
時にはキャリアガスＣＧを検出器８０へ導くもので、例
えば周知の空気圧駆動式ダイヤフラム・バルブが使用さ
れることにより、センタープレート８１と、センタープ
レート８１の表裏面にそれぞれダイヤフラム８２、８３
を介して上下に対向配設された複数個のプランジャ８４
と、上下のプランジャ８４を交互に動作させる上、下ピ
ストン８５、８６等で構成され、サンプルガスＳＧとキ
ャリアガスＣＧのガス圧によってダイヤフラム８２、８
３を交互に弾性変形させ、上下のプランジャ８４をピス
トン８５、８６によって動作させてダイヤフラム８２、
８３に交互に押し付けることにより、流体通路７８の上
側ルートと下側ルートを交互に切り替えるように構成さ
れている。サンプルバルブ７３の周囲にはサンプルガス
ＳＧを各ガス成分に分離する第１、第２のカラム８７、
８８が、第２のカラム８８を内側にして巻装されている
。第１のカラム８７は前述したパックドカラム、第２の
カラム８８はキャピラリカラムとされる。そして、サン
プルバルブ７３の内部には、前記検出器８０とヒータ９
０が組み込まれており、このヒータ９０によってサンプ
ルバルブ７３および第１、第２のカラム８７、８８が所
定温度に加熱される。なお、サンプルバルブ７３自体は
、検出器８０およびヒータ９０を該バルブ内に組み込ん
だ点を除いて従来周知の空気圧駆動式ダイヤフラム・バ
ルブと同様に構成されるものであるため、これ以上の説
明を省略する。

【００２０】前記マニホールド７２の下面には図７に示
すようにキャリアガス導入口９１、サンプルガスまたは
標準ガス導入口９２およびサンプルガス送出口９３が、
前記小ブロック３６（図４）の上面に開口するキャリア
ガス送出口３２、サンプルガスまたは標準ガス送出口３
３、サンプルガス導入口３４にそれぞれ対応接続するよ
うに形成されており、またこれらのキャリアガス導入口
９１、サンプルガスまたは標準ガス導入口９２およびサ
ンプルガス送出口９３は該マニホールド内に形成された
流路９５（図１）を介して前記サンプルバルブ７３の流
体通路７８に連通されている。なお、アナライザケース
７０は上面開口部９６に蓋体９７が螺合され、後述する
円筒状ケース１００と共に防爆ケースを形成している。 図７において、９８は前記ボルト６５（図１）がねじ込
まれるねじ孔、９９はサンプルコンディショナ装置２無
しの時のブラケット組み付け用ねじ孔である。

【００２１】図１および図８において、前記電気機器部
２１は、前記アナライザケース７０の前面に突設された
前記円筒状ケース１００を備えている。円筒状ケース１
００はアルミダイキャスト製で、内部には恒温槽温度制
御回路等のガスクロマトグラフ２０を駆動制御するため
のプリント基板１０１、プリント基板１０１を保持する
基板固定ブラケット１０２、１０３、化粧板１０４、接
地金具１０５、コネクタ１０６、１０７等が収納配置さ
れている。ケース側コネクタ１０７とアナライザ装置３
はコード１０８よって電気的に接続されている。また、
円筒状ケース１００の内周面上下部分には、軸線方向に
長い回り止め兼ガイド溝１１０、１１１が前記各基板固
定ブラケット１０２、１０３に対応して形成されている
。前記各基板固定ブラケット１０２、１０３の奥端には
前記各回り止め兼ガイド溝１１０、１１１に挿入される
突起１１２、１１３がそれぞれ突設されている。なお、
１２１は、蓋体１２０の開口部１２２を塞ぐガラス、１
２３は銘板である。

【００２２】このような構成からなる電気機器部２１に
おいて、プリント基板１０１の円筒状ケース１００内へ
の装着に際しては、各突起１１２、１１３を各回り止め
兼ガイド溝１１０、１１１に挿入してプリント基板１０
１を基板固定ブラケット１０２、１０３と共に円筒状ケ
ース１００内へ挿入する。すると、基板側コネクタ１０
６はケース側コネクタ１０７と対応一致して差し込み接
続され、完全に接続されると、突起１１２、１１３が回
り止め兼ガイド溝１１０、１１１の奥壁に当接してそれ
以上の挿入が阻止される。次いで、蓋体１２０を円筒状
ケース１００の前面側開口端部に螺合することで、プリ
ント基板１０１および蓋体１２０の取付け作業を完了す
る。この蓋体１２０の螺合操作において、接地金具１０
５との間の摩擦力によりプリント基板１０１および基板
固定ブラケット１０２、１０３に回転モーメントが作用
するが、回り止め兼ガイド溝１１０、１１１と突起１１
２、１１３によってブラケット１０２、１０３の回転を
防止しているため、プリント基板１０１、ブラケット１
０２、１０３、コネクタ１０６、１０７等が捻れたり、
破損することがない。

【００２３】かくしてこのような構成からなるガスクロ
マトグラフ２０のアナライザ装置３によれば、アナライ
ザケースの下端開口部７１を塞ぐマニホールド７２にキ
ャリアガス導入口９１、サンプルガスまたは標準ガス導
入口９２およびサンプルガス送出口９３を設け、これら
をサンプルコンディショナ装置２の小ブロック３６（図
４）の上面に開口するキャリアガス送出口３２、サンプ
ルガスまたは標準ガス送出口３３、サンプルガス導入口
３４にそれぞれ直接接続しているので、配管を必要とせ
ず、サンプルガスＳＧの温度低下を防止することができ
、また配管を必要としなければ構造が簡単で継手等の部
品さらには組立作業工数を削減することができる。また
、恒温槽温度制御回路等のプリント基板１０１、コネク
タ１０６、１０７等の電気部品を、アナライザケース７
０の前面に突設した円筒状ケース１００内に収納配置し
、恒温槽７４から遠く離しているので、恒温槽７４によ
る熱的影響が少なく、装置の信頼性を向上させる。さら
にまた、サンプルバルブ７３を恒温槽７４の内部に配設
し、サンプルバルブ７３内に検出器８０とヒータ９０を
組込み、外周に第１、第２のカラム８７、８８を配設し
ているので、バルブ７３およびカラム８７、８８を良好
に加熱保温することができる。また、アナライザケース
７０は楕円球状体に形成されて表面積が大きく、恒温槽
７４による熱を効果的に放熱する。また、アナライザボ
ード７５、減圧弁７６、トランス７７等はアナライザケ
ース７０の内底部に配設されているため、恒温槽７４に
よる熱的影響を少なくすることができる。

【００２４】

【発明の効果】以上説明したように本発明に係るガスク
ロマトグラフのアナライザ装置によれば、アナライザケ
ースを楕円球状体に形成しているので、その表面積が大
きく、放熱効果大で、内部の温度変動を軽減防止するこ
とができ、サンプルガスの加熱保温を良好に行うことが
できる。また、恒温槽による増幅器や温度制御装置のプ
リント基板、コネクタ、アナライザボード、トランス、
減圧弁等への熱的影響も少なくすることができる。さら
にまた、サンプルバルブ内に検出器およびヒータを組み
込んでユニット化しているので、これらの取付作業が簡
単である上、バルブおよび検出器を効果的に加熱保温す
ることができる。また第２のカラムをサンプルバルブの
外周に巻装し、その外側に第１のカラムを巻装している
ので、第２のカラムの加熱保温も良好で、分離能を向上
させることができる。加えて、アナライザケースと円筒
状ケースとで耐圧防爆ケースを形成し、これらの内部に
アナライザ構成部品を収納配置しているので、アナライ
ザ装置自体を小型化することができるなど、その効果は
大である。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明に係るガスクロマトグラフのアナライザ
装置を示す断面図である。

【図２】ガスクロマトグラフをスタンションに取り付け
た状態を示す外観斜視図である。

【図３】サンプルコンディショナ装置の内部構造を示す
斜視図である。

【図４】ハウジングブロックの外観斜視図である。

【図５】図４のＶ−Ｖ線断面図である。

【図６】図４のＶＩ−ＶＩ線断面図である。

【図７】マニホールドの底面図である。

【図８】図１のＶＩＩＩ−ＶＩＩＩ線断面図である。

【図９】ガスクロマトグラフの従来例を示す正面図であ
る。

【符号の説明】

２　　サンプルコンディショナ装置 ３　　アナライザ装置 ２０　　ガスクロマトグラフ ７０　　アナライザケース ７２　　マニホールド ７３　　サンプルバルブ ７４　　恒温槽 ７５　　アナライザボ−ド ７６　　減圧弁 ７７　　トランス ８０　　検出器 ８７　　第１のカラム ８８　　第２のカラム ９０　　ヒータ ９１　　キャリアガス導入口 ９２　　サンプルガスまたは標準ガス導入口９３　　サ
ンプルガス送出口 １００　　円筒状ケース １０１　　プリント基板 １０６　　１０７　　コネクタ

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】　　楕円球状体からなるアナライザケース
   の下端開口部にキャリアガス導入口、サンプルガスまた
   は標準ガス導入口およびサンプルガス送出口を有するマ
   ニホールドを嵌合配置し、このマニホールド上に恒温槽
   を配設してその内部にヒータと検出器を備えたサンプル
   バルブを配設し、またこのバルブの外周上部には第１お
   よび第２のカラムを、第２のカラムを内側にして巻回配
   置し、前記アナライザケースの内底部の恒温槽周囲には
   電気部品を載置したアナライザボード、トランスおよび
   減圧弁を配設し、かつプリント基板、コネクタ等を内蔵
   する円筒状ケースを前記アナライザケースの外周に突設
   したことを特徴とするガスクロマトグラフのアナライザ
   装置。