JPH04259857A - ガスクロマトグラフ - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は、カラム内に固定相とし
て充填した充填剤と測定ガスとの吸着性の差を利用して
ガス分析を行なうガスクロマトグラフに関するものであ
る。

【０００２】

【従来の技術】石油化学プロセスや鉄鋼プロセスなどに
おいて、プロセスガスの成分分析を行うこの種のプロセ
ス用ガスクロマトグラフは、プロセスラインから分取し
たサンプルガスをサンプルコンディショナ装置によって
分析に必要な最適条件に整え、このサンプルガスをアナ
ライザ装置に供給して各ガス成分を分離、検出し、その
測定結果に基づいてプロセス工程を監視したり、各種制
御を行うようにしている。図９はこのようなガスクロマ
トグラフの従来例を示すもので、１Ａ、１Ｂはプロセス
ライン、２はサンプルコンディショナ装置、３はアナラ
イザ装置で、これらによってガスクロマトグラフを構成
している。サンプルコンディショナ装置２としては、サ
ンプルガスＳＧ中の重成分を完全に気化しその凝縮を防
止するベーパライザ（図示せず）、サンプルガスＳＧ中
のダストを除去するフィルタ（図示せず）、サンプルガ
スＳＧおよび標準ガスＨＧの流量を測定するロータメー
タ（図示せず）、標準ガスＨＧとサンプルガスＳＧの流
量を調整するニードル弁（図示せず）、流路を切り替え
る切換スイッチ（図示せず）等で構成され、これらをハ
ウジング４内に組み込み配管で接続している。一方、ア
ナライザ装置３は直列接続された第１、第２のカラム５
、６、サンプルバルブ７、バックフラッシュバルブ８、
検出器９、減圧弁（図示せず）、電気機器部１０、恒温
槽１１、加熱器１２等を備えている。恒温槽１１は、前
記第１、第２のカラム５、６、サンプルバルブ７、バッ
クフラッシュバルブ８、検出器９等を収納し、加熱器１
２によって加熱された空気の循環によって内部がサンプ
ルガスＳＧの分離分析に最適な温度に保持される。第１
のカラム５は、内径１ｍｍ〜４ｍｍ、長さ０．５〜３ｍ
程度で内部に固定相を充填したパックドカラムからなり
、炭素（Ｃ）の少ない低沸点成分を高速で効率よく分離
することができ、第２のカラム６は内径０．１ｍｍ〜４
ｍｍ、長さ０．５〜３ｍ程度で内壁に液相を塗布したキ
ャピラリカラムからなり、Ｃの少ない低沸点成分に対し
ては分離が困難であるが、Ｃの多い高沸点成分に対して
は高速で効率よく分離することができる特徴を有してい
る。分析に際しては、サンプルガスＳＧ中のＣの多い重
質成分（高沸点成分）は分析周期の短縮、カラム劣化の
保護のためバックフラッシュバルブ８によって排出して
測定せず、Ｃの少ない低沸点成分のみを第１のカラム５
によって高速で分離し、第２のカラム６はＣの多い範囲
を測定する時、その範囲内でＣの少ないガス成分（軽い
成分）を分離する。そして、第１、第２のカラム５、６
によって分離された各ガス成分は検出器９によって電気
信号に変換され、この電気信号は各ガス成分の濃度に比
例している。

【０００３】

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、このよ
うな構成からなる従来のガスクロマトグラフにあっては
、サンプルガスＳＧ、キャリアガスＣＧの吹き出し口の
数や、構成部品の配置構成等によって恒温槽１１内部の
温度分布を完全には均一にすることができず、また温度
の変動も生じるという問題があった。このため、カラム
５、６等の構成部品を最適温度条件に保持することがで
きず、成分濃度が本来のサンプル濃度と一致せず、正確
な測定が困難になる。例えば、液化し易いサンプルガス
ＳＧの場合、サンプルバルブ７、バックフラッシュバル
ブ８は高い温度に保持することが望ましく、また第２の
カラム６は分離能を向上させるため温度の変動がないこ
とが望ましい。また、上記の従来装置は、サンプルコン
ディショナ装置２とアナライザ装置３間のサンプル導入
部をサンプル配管１３によって接続していたため、この
部分での温度低下を防止するためサンプル配管１３を二
重管構造とし、スチーム等で加熱、保温する必要があっ
た。そのため、配管構造が複雑で部品点数が増加し、サ
ンプルコンディショナ装置２とアナライザ装置３の距離
が近ければ、配管作業が困難となり、逆に離れ過ぎてい
ると、温度低下が大きくなり、加熱保温に要する熱量を
多く必要とするという問題があった。さらに、増幅器や
温度制御装置からなる電気機器部１０は恒温槽１１の上
部に加熱器１２と共に配置されているので、恒温槽１１
や加熱器１２による熱的影響が大きく、装置の信頼性が
低下する。恒温槽１１内部においてサンプルバルブ７、
カラム５、６、検出器９等が配管、継手等によって接続
されて配設されているため、これらのメインテナンス作
業が容易でないなど、多くの問題があった。

【０００４】したがって、本発明は上記したような従来
の問題点に鑑みてなされたもので、その目的とするとこ
ろは、サンプルガスの加熱保温を確実に行うことができ
、また装置の小型化およびメインテナンスの容易化を図
ると共に、加熱器や恒温槽による増幅器や温度制御装置
の電気部品への熱的影響を減少させ得るようにしたガス
クロマトグラフを提供することにある。

【０００５】

【課題を解決するための手段】本発明は上記目的を達成
するため、検出器およびヒータを内蔵したサンプルバル
ブと、その周囲に巻装された第１、第２のカラムを備え
たアナライザユニットを内設した恒温槽を中央に立設し
、その周囲下方にアナライザボ−ド、減圧弁、トランス
等を配設した楕円球状体からなるアナライザケースと、
プリント基板、コネクタ等を有して前記アナライザケー
スの外周に突設された円筒状のエレキハウジングと、キ
ャリアガス導入口、サンプルガスまたは標準ガス導入口
およびサンプルガス送出口を有し前記アナライザケース
の底部開口に嵌挿されたマニホールドと、前記マニホー
ルドの下面に密接固定されるハウジングブロックとを具
備し、前記ハウジングブロックに、サンプルガス供給口
、標準ガス供給口、キャリアガス供給口、バイパスベン
ト口、サンプルベント口、スチーム入口、スチーム出口
と、前記マニホールドのキャリアガス導入口、サンプル
ガスまたは標準ガス導入口およびサンプルガス送出口に
それぞれ連通するキャリアガス送出口、サンプルガスま
たは標準ガス送出口およびサンプルガス導入口と、これ
らの口を連通する連通路を形成し、また前記連通路の途
中にフィルタ、ロータメータ、ニードル弁、切換スイッ
チを配設して構成したものである。

【０００６】

【作用】本発明において、検出器、ヒータを内蔵したサ
ンプルバルブ、バルブの周囲に巻装された第１、第２の
カラムはアナライザユニットを形成し、組付け作業を容
易にする。エレキハウジングはアナライザケースに突設
されることで、恒温槽とプリント基板、コネクタ等とを
遠く離す。マニホールドと、ハウジングブロックとは互
いに密接され、キャリアガス導入口、サンプルガスまた
は標準ガス導入口およびサンプルガス送出口と、キャリ
アガス送出口、サンプルガスまたは標準ガス送出口およ
びサンプルガス導入口をそれぞれ連通させることで、サ
ンプル配管を不要にする。アナライザボード、トランス
等はアナライザケースの内部下方に配置されているため
、恒温槽による熱的影響が少ない。

【０００７】

【実施例】以下、本発明を図面に示す実施例に基づいて
詳細に説明する。図１は本発明に係るガスクロマトグラ
フの一実施例を示す断面図、図２は同ガスクロマトグラ
フをスタンションに取り付けた状態を示す外観斜視図、
図３はサンプルコンディショナ装置の内部構造を示す斜
視図、図４はハウジングブロックの外観斜視図、図５は
図４のＶ−Ｖ線断面図、図６は図４のＶＩ−ＶＩ線断面
図、図７はマニホールドの底面図、図８は図１のＶＩＩ
Ｉ−ＶＩＩＩ線断面図である。

【０００８】図１および図２において、全体を符号２０
で示すガスクロマトグラフは、サンプルコンディショナ
装置２と、サンプルコンディショナ装置２上に設置され
たアナライザ装置３と、アナライザ装置３の前面に接続
固定された電気機器部２１とで構成され、スタンション
２２に複数個のボルト２３によりブラケット２４を介し
て固定されている。

【０００９】前記サンプルコンディショナ装置２の構成
等を図３〜図６に基づいて詳述すると、このコンディシ
ョナ装置２は、上面中央部が開放する箱型のハウジング
３０を備え、その内部にはステンレス等の金属からなる
ハウジングブロック３１が収納配置されている。

【００１０】前記ハウジングブロック３１は、上下に対
向する略水平な上部および下部ブロック３１Ａ、３１Ｂ
と、これら両ブロック３１Ａ、３１Ｂを連結する略垂直
な連結部３１Ｃとで構成され、上部ブロック３１Ａの上
面には、キャリアガス送出口３２、サンプルガスまたは
標準ガス送出口３３、サンプルガス導入口３４および複
数個のねじ孔３５を有する小ブロック３６が止めねじ２
７によって固定され、且つカバー２５（図１参照）によ
り覆われている。また、上部ブロック３１Ａの前面には
２つのニードル弁調整用孔３７ａ、３７ｂが、左側面に
はキャリアガス供給口３８が、右側面にはバイパスベン
ト口３９およびサンプルベント口４０がそれぞれ開口さ
れている。そして、ハウジングブロック３１の内部には
前記キャリアガス送出口３２とキャリアガス供給口３８
を連通するキャリアガス用流路４１、前記サンプルガス
または標準ガス送出口３３、サンプルガス供給口４２ま
たは標準ガス供給口４３を接続するサンプルガスまたは
標準ガス用流路４４、前記バイパスベント口３９とサン
プルガスまたは標準ガス用流路４４の途中を接続するバ
イパスベント流路４５、サンプルガス導入口３４とサン
プルベント口４０を接続するサンプルベント流路４６、
標準ガス供給口４３と切換スイッチ４７を接続する標準
ガス流路４８およびスチーム流路４９が形成されている
。なお、図４において、２８は後述するマニホールド７
２を固定するボルト６５が下方より挿通されるボルト取
付用孔、２９はマニホールド７２を位置決めするための
位置決めピンである。

【００１１】前記サンプルガスまたは標準ガス用流路４
４とバイパスベント流路４５の途中にはそれぞれニード
ル弁５０、５１が配設されている。ニードル弁５０、５
１は前記ニードル弁調整用孔３７ａ、３７ｂにそれぞれ
挿入配置され、外部より調整されるように構成されてい
る。前記キャリアガス供給口３８にはキャリアガスＣＧ
が送給され、キャリアガス用流路４１を通ってアナライ
ザ装置３に送り込まれる。サンプルガス導入口３４には
アナライザ装置３によって分離分析された測定後のサン
プルガスＳＧが導かれ、サンプルベント流路４６を通っ
てサンプルベント口４０より廃棄される。

【００１２】前記下部ブロック３１Ｂの前面にはフィル
タ５２、５３をそれぞれ収納する２つのフィルタ取付用
孔５４ａ、５４ｂと、ベーパライザ５５を収納するベー
パライザ取付用孔５６が設けられ、下面には前記サンプ
ルガス供給口４２、標準ガス供給口４３、スチーム入口
５７およびスチーム出口５８が設けられ、内部には前記
フィルタ５２、５３およびベーパライザ５５に加えて切
換スイッチ４７が組み込まれている。前記サンプルガス
または標準ガス用流路４４の途中には前記ニードル弁５
０、フィルタ５２、５３、ベーパライザ５５、切換スイ
ッチ４７および第２のロータメータ６０が組み込まれて
いる。前記バイパスベント流路４５には、前記ニードル
弁５１に加えて第１のロータメータ５９が組み込まれて
いる。ベーパライザ５５はサンプルガス供給口４２とフ
ィルタ５２間の流路中に設けられている。標準ガス供給
口４３には標準ガスＨＧが導かれる。

【００１３】前記第１、第２のロータメータ５９、６０
はそれぞれテーパ管とフロートで構成され、第１のロー
タメータ５９でサンプルガスＳＧのバイパス流量を測定
し、第２のロータメータ６０でアナライザ入力流量を測
定するもので、前記上部ブロック３１Ａと下部ブロック
３１Ｂ間に上下端を着脱自在に保持されて配設されてい
る。また、上部ブロック３１Ａと下部ブロック３１Ｂ間
にはハウジングブロック３１の温度を測定する温度計６
２（図４）が両ロータメータ５９、６０間に位置して配
設されている。なお、第１のロータメータ５９はフィル
タ５２とニードル弁５１との間に設けられ、第２のロー
タメータ６０はフィルタ５３とニードル弁５０との間に
介在されている。

【００１４】前記切換スイッチ４７は、下部ブロック３
１Ｂの右側面に設けられた切替つまみ６３を制御部から
の信号によって駆動するモータ等の駆動手段（もしくは
手動操作）によって回すことにより切り替えられるもの
で、標準ガスによる校正時にサンプルガスまたは標準ガ
ス用流路４４を標準ガス流路４８に接続し、サンプルガ
ス供給口４２と切換スイッチ４７間の流路６４を閉止す
るように構成されている。したがって、標準ガスによる
校正時において、サンプルガス供給口４２より導かれる
サンプルガスＳＧは、ベーパライザ５５−第１のロータ
メータ５９−ニードル弁５１−バイパスベント流路４５
を通ってバイパスベント口３９より廃棄され、標準ガス
供給口４３より供給される標準ガスＨＧは、切換スイッ
チ４７−フィルタ５３−第２のロータメータ６０−ニー
ドル弁５０−を経てアナライザ装置３に導かれる。この
時、前記流路６４は切換スイッチ４７によって閉止され
ている。

【００１５】一方、測定時（サンプルガス供給時）にお
いては標準ガスＨＧの代わりにサンプルガスＳＧがベー
パライザ５５−フィルタ５２−切換スイッチ４７−フィ
ルタ５３−第２のロータメータ６０−ニードル弁５０を
経てアナライザ装置３に導かれ、該サンプルガスＳＧの
分取が終わると、切換スイッチ４７が再び標準ガスＨＧ
による校正状態に切り替わり標準ガスＨＧの供給が再開
されるように構成されている。

【００１６】なお、ベーパライザ５５、フィルタ５２、
５３、ロータメータ５９、６０、切換スイッチ４７につ
いては従来周知のものであるため、その詳細な構成等に
ついては説明を省略する。

【００１７】前記上、下部ブロック３１Ａ、３１Ｂを連
結する連結部３１Ｃの内部には前記スチーム流路４９の
一部分が形成されており、これにスチームＳＴを供給す
ることで前記ハウジングブロック３１が熱交換器を形成
し、サンプルガスＳＧを所定温度（１２０°Ｃ〜１５０
°Ｃ程度）に加熱保温するようにしている。スチームＳ
Ｔの温度は１５０°Ｃ程度、圧力は１０Ｋｇｆ／ｃｍ２
　以下である。

【００１８】次に前記アナライザ装置３の詳細を図１及
び図７に基づいて詳細に説明する。アナライザ装置３は
、長軸を前後方向に向けて前記サンプルコンディショナ
装置２の小ブロック３６上に設置固定される楕円球状体
からなるアルミダイキャスト製のアナライザケース７０
を備えており、このアナライザケース７０の下面開口部
７１には前記ハウジングブロック３１の小ブロック３６
上に前記ピン（図４）２９によって位置決めされて設置
され、小ブロック３６の下方側からボルト６５によって
固定されるマニホールド７２が配設されている。マニホ
ールド７２の上面にはサンプルバルブ７３と、これを取
り囲む恒温槽７４が配設され、さらにケース内底部の恒
温槽周囲には電気部品を搭載したアナライザボ−ド７５
、キャリアガスＣＧの圧力を所定圧に減圧する減圧弁７
６、トランス７７等が配設されている。

【００１９】前記サンプルバルブ７３は、内部に形成さ
れた流体通路７８を切替え、測定時にサンプルガスＳＧ
を検出器８０へ導き、非測定時およびバックフラッシュ
時にはキャリアガスＣＧを検出器８０へ導くもので、例
えば周知の空気圧駆動式ダイヤフラム・バルブが使用さ
れることにより、センタープレート８１と、センタープ
レート８１の表裏面にそれぞれダイヤフラム８２、８３
を介して上下に対向配設された複数個のプランジャ８４
と、上下のプランジャ８４を交互に動作させる上、下ピ
ストン８５、８６等で構成され、サンプルガスＳＧとキ
ャリアガスＣＧのガス圧によってダイヤフラム８２、８
３を交互に弾性変形させ、上下のプランジャ８４をピス
トン８５、８６によって動作させてダイヤフラム８２、
８３に交互に押し付けることにより、流体通路７８の上
側ルートと下側ルートを交互に切り替えるように構成さ
れている。サンプルバルブ７３の周囲にはサンプルガス
ＳＧを各ガス成分に分離する第１、第２のカラム８７、
８８が、第２のカラム８８を内側にして巻装されている
。第１のカラム８７は前述したパックドカラム、第２の
カラム８８はキャピラリカラムとされる。そして、サン
プルバルブ７３は、内部に前記検出器８０と、前記第１
、第２のカラム８７、８８を所定温度に加熱するヒータ
９０が組み込まれており、これらと前記カラム８７、８
８とでアナライザユニットを形成している。なお、サン
プルバルブ７３自体は、検出器８０およびヒータ９０を
該バルブ内に組み込んだ点を除いて従来周知の空気圧駆
動式ダイヤフラム・バルブと同様に構成されるものであ
るため、これ以上の説明を省略する。

【００２０】前記マニホールド７２の下面には図７に示
すようにキャリアガス導入口９１、サンプルガスまたは
標準ガス導入口９２およびサンプルガス送出口９３が、
前記小ブロック３６（図４）の上面に開口するキャリア
ガス送出口３２、サンプルガスまたは標準ガス送出口３
３、サンプルガス導入口３４にそれぞれ対応接続するよ
うに形成されており、またこれらのキャリアガス導入口
９１、サンプルガスまたは標準ガス導入口９２およびサ
ンプルガス送出口９３は該マニホールド内に形成された
流路９５（図１）を介して前記サンプルバルブ７３の流
体通路７８に連通されている。なお、アナライザケース
７０は上面開口部９６に蓋体９７が螺合され、後述する
エレキハウジング１００と共に防爆ケースを形成してい
る。また、図７において、９８は前記ボルト６５がねじ
込まれるねじ孔、９９はサンプルコンディショナ装置３
無しの時のブラケット組み付け用ねじ孔である。

【００２１】図１および図８において、前記電気機器部
２１は、前記アナライザケース７０の前面に突設された
前記エレキハウジング１００を備えている。エレキハウ
ジング１００はアルミダイキャストによって円筒状に形
成され、内部には恒温槽温度制御回路等のガスクロマト
グラフ２０を駆動制御するためのプリント基板１０１、
プリント基板１０１を保持する基板固定ブラケット１０
２、１０３、化粧板１０４、接地金具１０５、コネクタ
１０６、１０７等が収納配置されている。ケース側コネ
クタ１０７とアナライザ装置３はコード１０８よって電
気的に接続されている。また、エレキハウジング１００
の内周面上下部分には、軸線方向に長い回り止め兼ガイ
ド溝１１０、１１１が前記各基板固定ブラケット１０２
、１０３に対応して形成されている。前記各基板固定ブ
ラケット１０２、１０３の奥端には前記各回り止め兼ガ
イド溝１１０、１１１に挿入される突起１１２、１１３
がそれぞれ突設されている。なお、１２１は、蓋体１２
０の開口部１２２を塞ぐガラス、１２３は銘板である。

【００２２】このような構成からなる電気機器部２１に
おいて、プリント基板１０１のエレキハウジング１００
内への装着に際しては、各突起１１２、１１３を各回り
止め兼ガイド溝１１０、１１１に挿入してプリント基板
１０１を基板固定ブラケット１０２、１０３と共にエレ
キハウジング１００内へ挿入する。すると、基板側コネ
クタ１０６はケース側コネクタ１０７と対応一致して差
し込み接続され、完全に接続されると、突起１１２、１
１３が回り止め兼ガイド溝１１０、１１１の奥壁に当接
してそれ以上の挿入を阻止される。次いで、蓋体１２０
をエレキハウジング１００の前面側開口部に螺合するこ
とで、プリント基板１０１および蓋体１２０の取付け作
業を完了する。この蓋体１２０の螺合操作において、接
地金具１０５との間の摩擦力によりプリント基板１０１
および基板固定ブラケット１０２、１０３に回転モーメ
ントが作用するが、回り止め兼ガイド溝１１０、１１１
と突起１１２、１１３によってブラケット１０２、１０
３の回転を防止しているため、プリント基板１０１、ブ
ラケット１０２、１０３、コネクタ１０６、１０７等が
捻れたり、破損することがない。

【００２３】かくしてこのような構成からなるガスクロ
マトグラフ２０によれば、アナライザケースの下端開口
部７１を塞ぐマニホールド７２にキャリアガス導入口９
１、サンプルガスまたは標準ガス導入口９２およびサン
プルガス送出口９３を設け、これらをサンプルコンディ
ショナ装置２の小ブロック３６（図４）の上面に開口す
るキャリアガス送出口３２、サンプルガスまたは標準ガ
ス送出口３３、サンプルガス導入口３４にそれぞれ直接
接続しているので、サンプルガスＳＧの温度低下を防止
することができ、またサンプル配管を必要としなければ
構造が簡単で継手等の部品さらには組立作業工数を削減
することができる。また、サンプルバルブ７３に検出器
８０とヒータ９０を組込み、バルブ７３と検出器８０を
バルブ内に形成した流体通路７８によって接続し、バル
ブ外周に第１、第２のカラム８７、８８を巻装してアナ
ライザユニットを形成し、このユニットを恒温槽７４内
に配設しているので、バルブ７３と検出器８０の配管接
続が不要で、アナライザケース７０の蓋体９７と恒温槽
７４の上部を開けば、アナライザユニットを簡単に取り
出すことができ、メインテナンスが容易である。さらに
恒温槽温度制御回路等のプリント基板１０１、コネクタ
１０６、１０７等の電気部品を、アナライザケース７０
の前面に突設したエレキハウジング１００内に収納配置
し、恒温槽７４から遠く離しているので、恒温槽７４に
よる熱的影響が少なく、装置の信頼性を向上させる。ま
た、アナライザケース７０は楕円球状体に形成されて表
面積が大きく、恒温槽７４による熱を効果的に放熱する
。また、アナライザボード７５、減圧弁７６、トランス
７７等はアナライザケース７０の内底部に配設されてい
るため、恒温槽７４による熱的影響を少なくすることが
できる。

【００２４】

【発明の効果】以上説明したように本発明に係るガスク
ロマトグラフによれば、アナライザ装置とサンプルコン
ディショナ装置の流体通路口を直接接続し、サンプル配
管を不要にしているので、サンプルガスの温度低下を防
止することができ、また組立作業も簡単で継手等の部品
点数を削減することができる。また、本発明はサンプル
バルブの内部に検出器とヒータを組込み、外周に２つの
カラムを巻装してこれらをユニット化しているので、バ
ルブと検出器間の配管を不要とし、メインテナンスを容
易にする。また、増幅器や温度制御装置のプリント基板
、コネクタ等をエレキハウジング内に収納配置し、恒温
槽から離しているので、恒温槽による熱的影響も少なく
、装置の信頼性を向上させることができるなど、その効
果は大である。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明に係るガスクロマトグラフの一実施例を
示す断面図である。

【図２】同ガスクロマトグラフをスタンションに取り付
けた状態を示す外観斜視図である。

【図３】サンプルコンディショナ装置の内部構造を示す
斜視図である。

【図４】ハウジングブロックの外観斜視図である。

【図５】図４のＶ−Ｖ線断面図である。

【図６】図４のＶＩ−ＶＩ線断面図である。

【図７】マニホールドの底面図である。

【図８】図１のＶＩＩＩ−ＶＩＩＩ線断面図である。

【図９】ガスクロマトグラフの従来例を示す正面図であ
る。

【符号の説明】

２　　サンプルコンディショナ装置 ３　　アナライザ装置 ２０　　ガスクロマトグラフ ３１　　ハウジングブロック ３２　　サンプルガス送出口 ３３　　サンプルガスまたは標準ガス送出口３４　　サ
ンプルガス導入口 ３８　　キャリアガス供給口 ３９　　バイパスベント口 ４０　　サンプルベント口 ４２　　サンプルガス供給口 ４３　　標準ガス供給口 ４７　　切換スイッチ ５０、５１　　ニードル弁 ５２、５３　　フィルタ ５７　　スチーム入口 ５８　　スチーム出口 ５９、６０　　ロータメータ ７０　　アナライザケース ７２　　マニホールド ７３　　サンプルバルブ ７４　　恒温槽 ７５　　アナライザボ−ド ７６　　減圧弁 ７７　　トランス ８０　　検出器 ８７　　第１のカラム ８８　　第２のカラム ９０　　ヒータ ９１　　キャリアガス導入口 ９２　　サンプルガスまたは標準ガス導入口９３　　サ
ンプルガス送出口 １００　　エレキハウジング １０１　　プリント基板 １０６　　１０７　　コネクタ

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】　　検出器およびヒータを内蔵したサンプ
   ルバルブと、その周囲に巻装された第１、第２のカラム
   を備えたアナライザユニットを内設した恒温槽を中央に
   立設し、その周囲下方にアナライザボ−ド、減圧弁、ト
   ランス等を配設した楕円球状体からなるアナライザケー
   スと、プリント基板、コネクタ等を有して前記アナライ
   ザケースの外周に突設された円筒状のエレキハウジング
   と、キャリアガス導入口、サンプルガスまたは標準ガス
   導入口およびサンプルガス送出口を有し前記アナライザ
   ケースの底部開口に嵌挿されたマニホールドと、前記マ
   ニホールドの下面に密接固定されるハウジングブロック
   とを具備してなり、前記ハウジングブロックには、サン
   プルガス供給口、標準ガス供給口、キャリアガス供給口
   、バイパスベント口、サンプルベント口、スチーム入口
   、スチーム出口と、前記マニホールドのキャリアガス導
   入口、サンプルガスまたは標準ガス導入口およびサンプ
   ルガス送出口にそれぞれ連通するキャリアガス送出口、
   サンプルガスまたは標準ガス送出口およびサンプルガス
   導入口と、これらの口を連通する連通路が形成され、ま
   た前記連通路の途中にはフィルタ、ロータメータ、ニー
   ドル弁、切換スイッチが配設されていることを特徴とす
   るガスクロマトグラフ。