JPH04259862A - プリント基板試験装置 - Google Patents
プリント基板試験装置Info
- Publication number
- JPH04259862A JPH04259862A JP3021780A JP2178091A JPH04259862A JP H04259862 A JPH04259862 A JP H04259862A JP 3021780 A JP3021780 A JP 3021780A JP 2178091 A JP2178091 A JP 2178091A JP H04259862 A JPH04259862 A JP H04259862A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- printed circuit
- circuit board
- voltage
- wiring
- electro
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Withdrawn
Links
Landscapes
- Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明はプリント基板に形成され
た配線の導通状態を試験するプリント基板試験装置に関
する。ここに、大型の電子計算機においては、数十枚の
薄い基板を重ね合わせた多層プリント基板が必要不可欠
となっているが、かかる多層プリント基板は、多くの配
線が複数の基板を経由しているため、基板完成後に導通
試験を行うことが必要となっている。
た配線の導通状態を試験するプリント基板試験装置に関
する。ここに、大型の電子計算機においては、数十枚の
薄い基板を重ね合わせた多層プリント基板が必要不可欠
となっているが、かかる多層プリント基板は、多くの配
線が複数の基板を経由しているため、基板完成後に導通
試験を行うことが必要となっている。
【０００２】
【従来の技術】従来、この種のプリント基板試験装置と
して、図３にその要部を概略的に示すようなものが提案
されている。図中、１はボード２にプローブ３を配列し
てなる、いわゆるネイルベッド、４はスイッチ群、５は
直流電源、６は電圧検出装置、７はプリント基板８を搭
載するプリント基板搭載台であり、このプリント基板試
験装置は、プローブ３をプリント基板８に押し当てて、
スイッチ群４のスイッチの切り替えによって配線を選択
して電圧の印加、測定を行い、配線の導通試験を行うと
いうものである。
して、図３にその要部を概略的に示すようなものが提案
されている。図中、１はボード２にプローブ３を配列し
てなる、いわゆるネイルベッド、４はスイッチ群、５は
直流電源、６は電圧検出装置、７はプリント基板８を搭
載するプリント基板搭載台であり、このプリント基板試
験装置は、プローブ３をプリント基板８に押し当てて、
スイッチ群４のスイッチの切り替えによって配線を選択
して電圧の印加、測定を行い、配線の導通試験を行うと
いうものである。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】ところが、近年、配線
の高密度化が進んでおり、これに対応してプローブ３の
数が増加している。このため、かかる従来のプリント基
板試験装置においては、プローブ３の圧力によってプリ
ント基板８を破壊してしまう場合があるという問題が生
じていた。
の高密度化が進んでおり、これに対応してプローブ３の
数が増加している。このため、かかる従来のプリント基
板試験装置においては、プローブ３の圧力によってプリ
ント基板８を破壊してしまう場合があるという問題が生
じていた。
【０００４】本発明は、かかる点に鑑み、プリント基板
の破壊を招くことなく、プリント基板に形成された配線
の導通試験を行うことができるようにしたプリント基板
試験装置を提供することを目的とする。
の破壊を招くことなく、プリント基板に形成された配線
の導通試験を行うことができるようにしたプリント基板
試験装置を提供することを目的とする。
【０００５】
【課題を解決するための手段】本発明によるプリント基
板試験装置は、導電性軟質素材からなる電圧印加手段と
、電気光学結晶の電気光学効果を利用して電圧を測定す
る電圧測定手段とを備え、前記電圧印加手段によってプ
リント基板の配線の一端に電圧を印加し、前記電圧測定
手段によって前記配線の他端の電圧を測定することによ
り、前記配線の導通試験を行うことができるように構成
するというものである。
板試験装置は、導電性軟質素材からなる電圧印加手段と
、電気光学結晶の電気光学効果を利用して電圧を測定す
る電圧測定手段とを備え、前記電圧印加手段によってプ
リント基板の配線の一端に電圧を印加し、前記電圧測定
手段によって前記配線の他端の電圧を測定することによ
り、前記配線の導通試験を行うことができるように構成
するというものである。
【０００６】
【作用】本発明においては、電圧の印加を導電性軟質素
材を用いて行い、電圧の測定を電気光学結晶を用いて非
接触で行うようにしているので、プリント基板を破壊す
るおそれがない。
材を用いて行い、電圧の測定を電気光学結晶を用いて非
接触で行うようにしているので、プリント基板を破壊す
るおそれがない。
【０００７】
【実施例】以下、図１及び図２を参照して、本発明の一
実施例について説明する。
実施例について説明する。
【０００８】図１は本発明の一実施例の要部を示す図で
あり、図中、９は試験の対象であるプリント基板、１０
はプリント基板９を搭載するプリント基板搭載台であっ
て、このプリント基板搭載台１０は、直流電源１１から
直流電圧が印加され、プリント基板搭載台１０と接触し
ているプリント基板面の配線に直流電圧を印加できるよ
うにされている。
あり、図中、９は試験の対象であるプリント基板、１０
はプリント基板９を搭載するプリント基板搭載台であっ
て、このプリント基板搭載台１０は、直流電源１１から
直流電圧が印加され、プリント基板搭載台１０と接触し
ているプリント基板面の配線に直流電圧を印加できるよ
うにされている。
【０００９】また、１２は導電性ゴムローラであり、こ
の導電性ゴムローラ１２は、ゴムローラ駆動手段１３に
よって駆動され、ガイド機構１４にガイドされて矢印１
５の方向に回転移動できるように構成されている。また
、この導電性ゴムローラ１２には直流電源１１から所定
の直流電圧が印加される。
の導電性ゴムローラ１２は、ゴムローラ駆動手段１３に
よって駆動され、ガイド機構１４にガイドされて矢印１
５の方向に回転移動できるように構成されている。また
、この導電性ゴムローラ１２には直流電源１１から所定
の直流電圧が印加される。
【００１０】また、１６は導電性ゴムローラ１２と平面
上、直角方向に配された導電性ゴムローラであり、この
導電性ゴムローラ１６は、ゴムローラ駆動手段１３によ
って駆動され、ガイド機構１７にガイドされて矢印１８
の方向に回転移動できるように構成されている。また、
この導電性ゴムローラ１６にも直流電源１１から所定の
直流電圧が印加される。
上、直角方向に配された導電性ゴムローラであり、この
導電性ゴムローラ１６は、ゴムローラ駆動手段１３によ
って駆動され、ガイド機構１７にガイドされて矢印１８
の方向に回転移動できるように構成されている。また、
この導電性ゴムローラ１６にも直流電源１１から所定の
直流電圧が印加される。
【００１１】また、１９はレーザ光源、２０はレーザ光
、２１はハーフミラー、２２はレンズ、２３は偏光面保
存ファイバ、２４は電気光学結晶であり、この電気光学
結晶２４を含む偏光面保存ファイバ２３の先端部が、い
わゆるプローブ２５とされており、プローブ２５はプロ
ーブ駆動手段２６によってプリント基板９上を自在に移
動可能とされている。なお、電気光学結晶２４は、図２
にその断面図を示すように、そのレーザ光入射面及びプ
リント基板側面にそれぞれ透明導電膜２７及び高反射率
の反射膜２８が被着形成されており、透明導電膜２７は
接地電圧とされている。
、２１はハーフミラー、２２はレンズ、２３は偏光面保
存ファイバ、２４は電気光学結晶であり、この電気光学
結晶２４を含む偏光面保存ファイバ２３の先端部が、い
わゆるプローブ２５とされており、プローブ２５はプロ
ーブ駆動手段２６によってプリント基板９上を自在に移
動可能とされている。なお、電気光学結晶２４は、図２
にその断面図を示すように、そのレーザ光入射面及びプ
リント基板側面にそれぞれ透明導電膜２７及び高反射率
の反射膜２８が被着形成されており、透明導電膜２７は
接地電圧とされている。
【００１２】また、図１において、２９は電気光学結晶
２４に被着形成された反射膜２８によって反射されてく
るレーザ光の偏光状態から配線の電圧を解析する電圧解
析部、３０はこの装置全体を制御する制御部である。
２４に被着形成された反射膜２８によって反射されてく
るレーザ光の偏光状態から配線の電圧を解析する電圧解
析部、３０はこの装置全体を制御する制御部である。
【００１３】かかる本実施例においては、次のようにし
てプリント基板９に形成された配線の導通試験が行われ
る。まず、試験の対象であるプリント基板９をプリント
基板搭載台１０に搭載し、制御部３０の指示に従って，
一方の導電性ゴムローラ１２をプリント基板９の端部に
押し当てて、接触した配線に電圧を印加させながら回転
移動させると共に、設計データに基づいて、現在、電圧
が印加させている配線の端部にプローブ２５を移動させ
て、その電圧を測定する。配線に断線がなければ、導電
性ゴムローラ１２によって印加された電圧が検出される
。これによって、プリント基板９の一面側、かつ、矢印
１５の方向に両端部を有する配線の導通試験を行うこと
ができる。
てプリント基板９に形成された配線の導通試験が行われ
る。まず、試験の対象であるプリント基板９をプリント
基板搭載台１０に搭載し、制御部３０の指示に従って，
一方の導電性ゴムローラ１２をプリント基板９の端部に
押し当てて、接触した配線に電圧を印加させながら回転
移動させると共に、設計データに基づいて、現在、電圧
が印加させている配線の端部にプローブ２５を移動させ
て、その電圧を測定する。配線に断線がなければ、導電
性ゴムローラ１２によって印加された電圧が検出される
。これによって、プリント基板９の一面側、かつ、矢印
１５の方向に両端部を有する配線の導通試験を行うこと
ができる。
【００１４】次に、他方の導電性ゴムローラ１６をプリ
ント基板９の端部に押し当てて導電性ゴムローラ１２の
場合と同様に電圧測定を行う。これによって、プリント
基板９の一面側、かつ、矢印１８の方向に両端部を有す
る配線の導通試験を行うことができる。
ント基板９の端部に押し当てて導電性ゴムローラ１２の
場合と同様に電圧測定を行う。これによって、プリント
基板９の一面側、かつ、矢印１８の方向に両端部を有す
る配線の導通試験を行うことができる。
【００１５】次に、プリント基板９の面を逆にして、以
上のことを繰り返す。これにより、両端部をプリント基
板９の他面に有する配線の導通試験を行うことができる
。
上のことを繰り返す。これにより、両端部をプリント基
板９の他面に有する配線の導通試験を行うことができる
。
【００１６】なお、プリント基板９の一面及び他面にそ
れぞれ一端及び他端を有する配線の導通試験は、プリン
ト基板９の一面をプリント基板搭載台１０に接触させた
状態でプリント基板搭載台１０に電圧を印加し、配線の
他端の電圧を測定することで行うことができる。
れぞれ一端及び他端を有する配線の導通試験は、プリン
ト基板９の一面をプリント基板搭載台１０に接触させた
状態でプリント基板搭載台１０に電圧を印加し、配線の
他端の電圧を測定することで行うことができる。
【００１７】かかる本実施例によれば、電圧の印加を導
電性ゴムローラ１２、１６及びプリント基板搭載台１０
を用いて行い、電圧の測定を電気光学結晶２４を用いて
非接触で行うようにしているので、プリント基板９を破
壊するおそれがない。
電性ゴムローラ１２、１６及びプリント基板搭載台１０
を用いて行い、電圧の測定を電気光学結晶２４を用いて
非接触で行うようにしているので、プリント基板９を破
壊するおそれがない。
【００１８】なお、上述の実施例においては、電圧印加
手段を導電性ゴムローラ１２、１６で構成した場合につ
いて説明したが、電圧印加手段は、軟質導電性素材であ
れば良く、ローラでない場合には、これをステップ方式
で移動し、プリント基板９に押しあてることで、種々の
配線の一端部に電圧を印加することができる。
手段を導電性ゴムローラ１２、１６で構成した場合につ
いて説明したが、電圧印加手段は、軟質導電性素材であ
れば良く、ローラでない場合には、これをステップ方式
で移動し、プリント基板９に押しあてることで、種々の
配線の一端部に電圧を印加することができる。
【００１９】
【発明の効果】本発明によれば、電圧の印加を導電性軟
質素材を用いて行い、電圧の測定を電気光学結晶を用い
て非接触で行うようにしているので、プリント基板を破
壊することなく、プリント基板の配線の導通試験を行う
ことができる。
質素材を用いて行い、電圧の測定を電気光学結晶を用い
て非接触で行うようにしているので、プリント基板を破
壊することなく、プリント基板の配線の導通試験を行う
ことができる。
【図１】本発明の一実施例の要部を示す図である。
【図２】電気光学結晶を示す断面図である。
【図３】従来のプリント基板試験装置である。
９ プリント基板
１０ プリント基板搭載台
１２、１６ 導電性ゴムローラ
１４、１７ ガイド機構
２３ 偏光面保存ファイバ
２４ 電気光学結晶
２５ プローブ
Claims (3)
- 【請求項１】導電性軟質素材からなる電圧印加手段と、
電気光学結晶の電気光学効果を利用して電圧を測定する
電圧測定手段とを備え、前記電圧印加手段によってプリ
ント基板の配線の一端に電圧を印加し、前記電圧測定手
段によって前記配線の他端の電圧を測定することにより
、前記配線の導通試験を行うことができるように構成さ
れていることを特徴とするプリント基板試験装置。 - 【請求項２】前記電圧印加手段は、導電性ゴムローラで
あることを特徴とする請求項１記載のプリント基板試験
装置。 - 【請求項３】前記プリント基板を搭載するプリント基板
搭載台に電圧を印加し、該プリント基板搭載台と接触し
ているプリント基板面の配線に電圧を印加できるように
構成されていることを特徴とする請求項１又は２記載の
プリント基板試験装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3021780A JPH04259862A (ja) | 1991-02-15 | 1991-02-15 | プリント基板試験装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3021780A JPH04259862A (ja) | 1991-02-15 | 1991-02-15 | プリント基板試験装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH04259862A true JPH04259862A (ja) | 1992-09-16 |
Family
ID=12064578
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP3021780A Withdrawn JPH04259862A (ja) | 1991-02-15 | 1991-02-15 | プリント基板試験装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH04259862A (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2000097985A (ja) * | 1998-09-23 | 2000-04-07 | Delaware Capital Formation Inc | 間隔が密な試験場所用走査試験機 |
| US6268719B1 (en) | 1998-09-23 | 2001-07-31 | Delaware Capital Formation, Inc. | Printed circuit board test apparatus |
| US6788078B2 (en) | 2001-11-16 | 2004-09-07 | Delaware Capital Formation, Inc. | Apparatus for scan testing printed circuit boards |
| JP2009300333A (ja) * | 2008-06-16 | 2009-12-24 | Shinko Electric Ind Co Ltd | インターポーザ、プローブカード及び回路試験装置 |
-
1991
- 1991-02-15 JP JP3021780A patent/JPH04259862A/ja not_active Withdrawn
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2000097985A (ja) * | 1998-09-23 | 2000-04-07 | Delaware Capital Formation Inc | 間隔が密な試験場所用走査試験機 |
| US6268719B1 (en) | 1998-09-23 | 2001-07-31 | Delaware Capital Formation, Inc. | Printed circuit board test apparatus |
| US6788078B2 (en) | 2001-11-16 | 2004-09-07 | Delaware Capital Formation, Inc. | Apparatus for scan testing printed circuit boards |
| US7071716B2 (en) | 2001-11-16 | 2006-07-04 | Delaware Capital Formation, Inc. | Apparatus for scan testing printed circuit boards |
| JP2009300333A (ja) * | 2008-06-16 | 2009-12-24 | Shinko Electric Ind Co Ltd | インターポーザ、プローブカード及び回路試験装置 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JP3150324B2 (ja) | 薄膜トランジスタ基板の検査方法および薄膜トランジスタ基板の配線修正方法 | |
| JP3214415B2 (ja) | 基板検査装置および基板検査方法 | |
| KR0142014B1 (ko) | 표시장치의 검사장치 및 검사방법 | |
| JPH04259862A (ja) | プリント基板試験装置 | |
| JP2834935B2 (ja) | アクティブマトリクス型表示素子及びその製造方法 | |
| JPH05256794A (ja) | アクティブマトリックス液晶ディスプレイ基板の検査装置および検査装置用電気光学素子 | |
| JP3075223B2 (ja) | プリント基板検査装置およびその検査方法 | |
| JP2002310933A (ja) | 回路基板の検査装置および検査方法ならびに電気光学素子 | |
| KR20110138652A (ko) | 디스플레이 패널 검사를 위한 프로브 유닛 | |
| KR100212276B1 (ko) | 정전기 방전 수단을 가지는 액정 패널, 액정 패널검사용 프루브장치 및 검사방법 | |
| TWI426286B (zh) | 基板電性的量測設備 | |
| JP2673241B2 (ja) | コンタクト検査方法及びプロービング方法 | |
| JP3533946B2 (ja) | 液晶表示パネルの検査装置及び液晶表示パネルの検査方法 | |
| JP2003107119A (ja) | 配線の電気特性表示装置および配線検査方法 | |
| JP2002014131A (ja) | 回路基板の検査方法及び検査装置 | |
| JP4483269B2 (ja) | ディスプレイパネルの点灯検査装置 | |
| JPH06331711A (ja) | 非接触マルチプローブ | |
| JPH0658975A (ja) | 基板試験装置 | |
| JP4046590B2 (ja) | 信頼性試験方法 | |
| JPH0784010A (ja) | 非接触マルチプローブ | |
| JP2003228297A (ja) | 平面表示装置の製造方法、及びこれに用いる検査用押圧具 | |
| JP3177330B2 (ja) | アクティブマトリクス表示装置の検査装置及び検査方法 | |
| JP3072207B2 (ja) | ディスプレイパネル用検査装置 | |
| JP2001004968A (ja) | 液晶表示装置及びその検査装置 | |
| CN102411099A (zh) | 基板电性的测量设备 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A300 | Application deemed to be withdrawn because no request for examination was validly filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300 Effective date: 19980514 |