JPH0426065B2 - - Google Patents
Info
- Publication number
- JPH0426065B2 JPH0426065B2 JP58137214A JP13721483A JPH0426065B2 JP H0426065 B2 JPH0426065 B2 JP H0426065B2 JP 58137214 A JP58137214 A JP 58137214A JP 13721483 A JP13721483 A JP 13721483A JP H0426065 B2 JPH0426065 B2 JP H0426065B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- phase
- signal
- input
- signals
- phase detection
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R25/00—Arrangements for measuring phase angle between a voltage and a current or between voltages or currents
- G01R25/04—Arrangements for measuring phase angle between a voltage and a current or between voltages or currents involving adjustment of a phase shifter to produce a predetermined phase difference, e.g. zero difference
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Measurement Of Resistance Or Impedance (AREA)
- Measuring Phase Differences (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は位相検波方法、特に位相曲がりに基づ
く誤差を除去するようにした位相検波方法に関す
る。
く誤差を除去するようにした位相検波方法に関す
る。
位相検波は２つの交流信号のうち一つを未知信
号、他方を基準信号とした場合、基準信号に対す
る未知信号の0゜成分や90゜成分を検出するために
使用される。未知信号が供試素子（コンデンサや
インダクタなど）の大きさを表わす場合、前述の
0゜成分や90゜成分は供試素子の抵抗分やリアクタ
ンス分の大きさを表わす。したがつてこれら抵抗
分等を正確に求めるには、正確に位相検波を行な
うことが必要である。
号、他方を基準信号とした場合、基準信号に対す
る未知信号の0゜成分や90゜成分を検出するために
使用される。未知信号が供試素子（コンデンサや
インダクタなど）の大きさを表わす場合、前述の
0゜成分や90゜成分は供試素子の抵抗分やリアクタ
ンス分の大きさを表わす。したがつてこれら抵抗
分等を正確に求めるには、正確に位相検波を行な
うことが必要である。
第１図は従来の位相検波方法を説明するための
位相検波回路のブロツク図、第２図は第１図に示
す２個の入力信号（未知の信号）のベクトル図、
第３図は第１図に示す２個の入力信号を発生する
具体的回路図である。第３図において、４を信号
源、７を高利得演算増幅器、５を供試素子（コン
デンサ、インダクタ等）、６を帰還抵抗器とする
と、 E2＝Ｒ／Ｘ＋jYE1（Ｘは抵抗分、Ｙはリアクタン ス分）となる。
位相検波回路のブロツク図、第２図は第１図に示
す２個の入力信号（未知の信号）のベクトル図、
第３図は第１図に示す２個の入力信号を発生する
具体的回路図である。第３図において、４を信号
源、７を高利得演算増幅器、５を供試素子（コン
デンサ、インダクタ等）、６を帰還抵抗器とする
と、 E2＝Ｒ／Ｘ＋jYE1（Ｘは抵抗分、Ｙはリアクタン ス分）となる。
一方第２図において、E3を基準信号（信号源
４の信号）とし、E3＝sin（ωt−θ）とすると、
E1＝Asin（ωt＋φA）、E2＝Bsin（ωt＋φB）と表わ
すことができる。φAは線路による位相曲り、φB
は供試素子５による位相曲がりである。
４の信号）とし、E3＝sin（ωt−θ）とすると、
E1＝Asin（ωt＋φA）、E2＝Bsin（ωt＋φB）と表わ
すことができる。φAは線路による位相曲り、φB
は供試素子５による位相曲がりである。
第１図において、位相検波器２の一方の入力端
子には、スイツチ１を介して２個の未知信号E1
またはE2が、他方の入力端子には基準信号E3が
入力される。位相検波器２の出力信号は出力回路
３に印加される。出力回路３は後述するようにア
ナログデジタル（Ａ／Ｄ）変換回路を含む。
子には、スイツチ１を介して２個の未知信号E1
またはE2が、他方の入力端子には基準信号E3が
入力される。位相検波器２の出力信号は出力回路
３に印加される。出力回路３は後述するようにア
ナログデジタル（Ａ／Ｄ）変換回路を含む。
基準信号E3による２個の未知信号E1，E2の位
相検波は次のように行なわれる。まずスイツチ１
をｖ側に接続してE1に入力し、θ＝0゜として位相
検波すると第２図のａ成分が求まる。次にスイツ
チの位置をそのままにし、θ＝90゜とするとｂ成
分が求まる。同様にスイツチ１をｗ側に接続して
θ＝0゜，90゜に対して位相検波するとｃ，ｄ成分
が求まる。このようにａ，ｂ，ｃ，ｄ成分は時分
割で求められる。ここでａ，ｂ，ｃ，ｄ成分は例
えば出力回路３中のＡ／Ｄ変換回路にデユアルス
ロープ回路を使用し、ａ，ｂ，ｃ，ｄ成分をそれ
ぞれ一定期間T1だけ積分し、直流電圧ｅにより
放電することにより、放電期間T2，T3，T4，T5
によりそれぞれデジタル的に求められる。
相検波は次のように行なわれる。まずスイツチ１
をｖ側に接続してE1に入力し、θ＝0゜として位相
検波すると第２図のａ成分が求まる。次にスイツ
チの位置をそのままにし、θ＝90゜とするとｂ成
分が求まる。同様にスイツチ１をｗ側に接続して
θ＝0゜，90゜に対して位相検波するとｃ，ｄ成分
が求まる。このようにａ，ｂ，ｃ，ｄ成分は時分
割で求められる。ここでａ，ｂ，ｃ，ｄ成分は例
えば出力回路３中のＡ／Ｄ変換回路にデユアルス
ロープ回路を使用し、ａ，ｂ，ｃ，ｄ成分をそれ
ぞれ一定期間T1だけ積分し、直流電圧ｅにより
放電することにより、放電期間T2，T3，T4，T5
によりそれぞれデジタル的に求められる。
第４図は出力回路の動作を示したタイムチヤー
トである。そしてベクトル電圧｜E2／E1｜，Ｘ，Ｙ は次式で求められる。
トである。そしてベクトル電圧｜E2／E1｜，Ｘ，Ｙ は次式で求められる。
Ｘ＝T2・T3＋T4・T5／T2 2＋T4 2 Ｙ＝
T2・T5−T3・T4／T2 2＋T2 4
したがつて供試素子５の抵抗分や、リアクタンス
分を求めることができる。かかる関係について
は、特開昭53−30375号に述べられている。
分を求めることができる。かかる関係について
は、特開昭53−30375号に述べられている。
第１図に示した位相検波方法において、θ＝
0゜，90゜の切換えは、基準信号を作るために使用
されるクロツク信号を制御することにより行なわ
れ、これは例えば特開昭54−72657号に述べられ
ている。かかる制御は、正確な繰返し周期をもつ
クロツク信号の位相をづらす方式であるのでθ＝
0゜，90゜を正確に作り出すことができる。しかし
ながら、１個の位相検出器を用い、ａ，ｂ，ｃ，
ｄ成分を時分割で各別に求める方式であるため、
長時間を要し、ベクトル電圧比を求める場合には
測定スピードが遅くなる。
0゜，90゜の切換えは、基準信号を作るために使用
されるクロツク信号を制御することにより行なわ
れ、これは例えば特開昭54−72657号に述べられ
ている。かかる制御は、正確な繰返し周期をもつ
クロツク信号の位相をづらす方式であるのでθ＝
0゜，90゜を正確に作り出すことができる。しかし
ながら、１個の位相検出器を用い、ａ，ｂ，ｃ，
ｄ成分を時分割で各別に求める方式であるため、
長時間を要し、ベクトル電圧比を求める場合には
測定スピードが遅くなる。
第５図は従来の他の位相検波方法を説明するた
めの位相検波回路のブロツク図である。１１，１
２は位相検波器で各一方の入力端はスイツチ１の
共通端子へ、他方の入力端は位相信号発生器１３
に、出力端子は出力回路１４，１５にそれぞれ接
続される。出力回路１４，１５は第１図の出力回
路３と同様にＡ／Ｄ変換器を含むものとする。こ
こで位相検波器１１，１２への基準信号をE4，
E5，E4とE5との間の位相差90゜からの位相誤差を
ε、そして位相検波器１１，１２の変換効率の差
をαとする。E4，E5は次式で表わされる。
めの位相検波回路のブロツク図である。１１，１
２は位相検波器で各一方の入力端はスイツチ１の
共通端子へ、他方の入力端は位相信号発生器１３
に、出力端子は出力回路１４，１５にそれぞれ接
続される。出力回路１４，１５は第１図の出力回
路３と同様にＡ／Ｄ変換器を含むものとする。こ
こで位相検波器１１，１２への基準信号をE4，
E5，E4とE5との間の位相差90゜からの位相誤差を
ε、そして位相検波器１１，１２の変換効率の差
をαとする。E4，E5は次式で表わされる。
E4＝sin（ωt−θ）， E5＝（１＋α）cos（ωt
−θ−ε） 第６図はE4（θ＝0゜）を基準としたE1，E2のベ
クトル図である。スイツチ１を接点ｖ側に接続し
たとき、位相検波器１１の出力XA＝Acos（φA＋
θ）、位相検波器１２の出力YA＝Ａ（１＋α）sin
（φA＋θ＋ε）となる。そしてθ＝0゜のときXA＝
ａ＝AcosφA，YA＝ｇ＝Ａ（１＋α）sin（φA＋ε）
となる。即ちｇ成分中にα，εが誤差成分として
含まれる。同様にスイツチ１をｗ側に接続し、未
知入力信号E2を入力とし、θ＝0゜としたとき、位
相検波器１１の出力XB＝ｃ＝BcosφB、位相検波
器１２の出力YB＝ｈ＝Ｂ（１＋α）sin（φB＋ε）
となる。
−θ−ε） 第６図はE4（θ＝0゜）を基準としたE1，E2のベ
クトル図である。スイツチ１を接点ｖ側に接続し
たとき、位相検波器１１の出力XA＝Acos（φA＋
θ）、位相検波器１２の出力YA＝Ａ（１＋α）sin
（φA＋θ＋ε）となる。そしてθ＝0゜のときXA＝
ａ＝AcosφA，YA＝ｇ＝Ａ（１＋α）sin（φA＋ε）
となる。即ちｇ成分中にα，εが誤差成分として
含まれる。同様にスイツチ１をｗ側に接続し、未
知入力信号E2を入力とし、θ＝0゜としたとき、位
相検波器１１の出力XB＝ｃ＝BcosφB、位相検波
器１２の出力YB＝ｈ＝Ｂ（１＋α）sin（φB＋ε）
となる。
したがつてベクトル電圧比｜E2／E1｜，Ｘ，
Ｙを求めたとき、α，εが誤差として含まれる欠
点がある。一方、位相検波器を２個使用している
ので第１図に示した位相検波方法に比較し測定ス
ピードを1/2に短縮できる利点がある。
Ｙを求めたとき、α，εが誤差として含まれる欠
点がある。一方、位相検波器を２個使用している
ので第１図に示した位相検波方法に比較し測定ス
ピードを1/2に短縮できる利点がある。
本発明は第１図で説明した測定精度と第２図で
説明した測定スピードとの両者の利点を有する位
相検波方法を提供せんとするものである。本発明
による位相検波方法によれば、２個の位相検波器
の一方の入力端に印加される基準信号の位相をあ
る角度だけ順次ずらして複数回の測定を行ない、
これら測定値を平均することにより正確な値が求
められる。
説明した測定スピードとの両者の利点を有する位
相検波方法を提供せんとするものである。本発明
による位相検波方法によれば、２個の位相検波器
の一方の入力端に印加される基準信号の位相をあ
る角度だけ順次ずらして複数回の測定を行ない、
これら測定値を平均することにより正確な値が求
められる。
以下本発明の動作を説明する。
本発明による位相検波方法は第５図に示した位
相検波回路により実現できる。E4＝sin（ωt−
θ），E5＝（１＋α）cos（ωt−θ−ε）とすると、
θをある角度だけ順次正確にずらし、各E4，E5
に対する位相検波器１１，１２の出力信号が求め
られる。角度θと測定回数(i)との関係は次式で表
わされる。
相検波回路により実現できる。E4＝sin（ωt−
θ），E5＝（１＋α）cos（ωt−θ−ε）とすると、
θをある角度だけ順次正確にずらし、各E4，E5
に対する位相検波器１１，１２の出力信号が求め
られる。角度θと測定回数(i)との関係は次式で表
わされる。
θ＝（2π／Ｎ）・ｉ
ここでＮ＝１，２，３，……とすると、ｉは０
から（Ｎ−１）までである。即ちＮ＝４とした場
合90゜づつ角度をずらし、４回の測定が行なわれ
る。即ち、Ｎ＝４のとき、ｉ＝０，１，２，３と
なり、θ＝0゜，90゜，180゜，270゜で４回の測定が行
なわれる。前述したXA，YAは次式で表わされ
る。
から（Ｎ−１）までである。即ちＮ＝４とした場
合90゜づつ角度をずらし、４回の測定が行なわれ
る。即ち、Ｎ＝４のとき、ｉ＝０，１，２，３と
なり、θ＝0゜，90゜，180゜，270゜で４回の測定が行
なわれる。前述したXA，YAは次式で表わされ
る。
XA（2π／Ｎ・ｉ）＝Acos（φA＋2π／Ｎｉ）
YA（2π／Ｎ・ｉ）＝Ａ（１＋α）sin（φA＋2π／Ｎ
ｉ＋ ε） そして未知信号E1，E2のベクトル電圧比は次
式で表わされる。
ｉ＋ ε） そして未知信号E1，E2のベクトル電圧比は次
式で表わされる。
Ｎ＝４とした場合、θ＝0゜，90゜，180゜，270゜と
してそれぞれの場合のXA，YA，XB，YBを求め、
｜各E2／E1｜を求め、次に平均した｜E2／E1｜が求 められる。
してそれぞれの場合のXA，YA，XB，YBを求め、
｜各E2／E1｜を求め、次に平均した｜E2／E1｜が求 められる。
Ｎ＝４の場合、上記式の計算結果によれば、誤
差は約α／50，ε／50となり、精度は50倍向上す
る。またＮ＝８とすると、約α／250000，ε／
250000となり、実質的に誤差は零になる。
差は約α／50，ε／50となり、精度は50倍向上す
る。またＮ＝８とすると、約α／250000，ε／
250000となり、実質的に誤差は零になる。
第７図は第５図に示した出力回路の動作を示し
たタイムチヤートであり、本発明による位相検波
方法の測定シーケンスの一例を示したタイムチヤ
ートである。第７図は出力回路１４，１５中に
Ａ／Ｄ変換器を含み、Ｎ＝４とした場合のシーケ
ンスである。第７Ａ図は位相検波器１１の出力信
号をＡ／Ｄ変換するシーケンス、第７Ｂ図は位相
検波器１２の出力信号をＡ／Ｄ変換するシーケン
スを示しており、それぞれスイツチ１をｖ側に接
続した場合を示している。XA，YAはT6〜T13を
測定することによりデジタル信号に変換される。
同様にスイツチ１をｗ側に接続し同様な測定を行
なうことによりXB，YBはデジタル信号に変換さ
れる。これらデジタル信号を演算装置（図示せ
ず）により前述した数式に基づき処理することに
より、高精度を測定を行なうことができる。
たタイムチヤートであり、本発明による位相検波
方法の測定シーケンスの一例を示したタイムチヤ
ートである。第７図は出力回路１４，１５中に
Ａ／Ｄ変換器を含み、Ｎ＝４とした場合のシーケ
ンスである。第７Ａ図は位相検波器１１の出力信
号をＡ／Ｄ変換するシーケンス、第７Ｂ図は位相
検波器１２の出力信号をＡ／Ｄ変換するシーケン
スを示しており、それぞれスイツチ１をｖ側に接
続した場合を示している。XA，YAはT6〜T13を
測定することによりデジタル信号に変換される。
同様にスイツチ１をｗ側に接続し同様な測定を行
なうことによりXB，YBはデジタル信号に変換さ
れる。これらデジタル信号を演算装置（図示せ
ず）により前述した数式に基づき処理することに
より、高精度を測定を行なうことができる。
また本発明においては位相検波器を２個使用す
るので、未知信号E1，E2の0゜成分、90゜成分の各
測定に対して第１図の場合に比べて２倍の時間を
使用することができる。換言すれば、第１図の場
合と本発明の場合とを同一測定時間とした場合、
本発明では２倍のＳ／Ｎ比を得ることができる。
同一Ｓ／Ｎ比を得る場合には1/2の測定時間でよ
い。
るので、未知信号E1，E2の0゜成分、90゜成分の各
測定に対して第１図の場合に比べて２倍の時間を
使用することができる。換言すれば、第１図の場
合と本発明の場合とを同一測定時間とした場合、
本発明では２倍のＳ／Ｎ比を得ることができる。
同一Ｓ／Ｎ比を得る場合には1/2の測定時間でよ
い。
以上説明したことより明らかなように、本発明
によれば高速且つ高精度で位相検波を行なうこと
ができる。
によれば高速且つ高精度で位相検波を行なうこと
ができる。
第１図は従来の位相検波方法を説明するための
位相検波回路のブロツク図、第２図は第１図に示
す２個の入力信号のベクトル図、第３図は第１図
に示す２個の入力信号を発生する具体的回路図、
第４図は第１図に示した出力回路の動作を示した
タイムチヤート、第５図は従来の他の位相検波方
法を説明するための位相検波回路のブロツク図、
第６図は第５図に示す２個の入力信号のベクトル
図、第７図は第５図に示した出力回路の動作を示
したタイムチヤートである。 １……スイツチ、２，１１，１２……位相検波
器、１３……位相信号発生器、３，１４，１５…
…出力回路、４……信号源、５……供試素子。
位相検波回路のブロツク図、第２図は第１図に示
す２個の入力信号のベクトル図、第３図は第１図
に示す２個の入力信号を発生する具体的回路図、
第４図は第１図に示した出力回路の動作を示した
タイムチヤート、第５図は従来の他の位相検波方
法を説明するための位相検波回路のブロツク図、
第６図は第５図に示す２個の入力信号のベクトル
図、第７図は第５図に示した出力回路の動作を示
したタイムチヤートである。 １……スイツチ、２，１１，１２……位相検波
器、１３……位相信号発生器、３，１４，１５…
…出力回路、４……信号源、５……供試素子。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １ 第１、第２位相検波器の一方の入力端子に第
１交流信号E1または第２交流信号E2を入力し、
第１位相検波器の他方の入力端子に第１基準信号
を入力し、第２位相検波器の他方の入力端子に第
１基準信号とほぼ90゜離れた第２基準信号を入力
して第１、第２交流信号E1，E2を順次位相検波
すると共に、前記第１、第２基準信号の位相関係
を維持しながら前記第１、第２基準信号の位相を
予定量だけ順次づらして第１、第２交流信号E1，
E2を複数回位相検波し、そして第１、第２位相
検波器の出力信号より第１、第２交流信号E1，
E2のベクトル電圧比を平均して求めるようにし
た位相検波方法。 ２ 第１交流信号E1は供試素子に生づる電圧を
表す信号であり、第２交流信号E2は前記供試素
子に流れる電流を表す信号である特許請求の範囲
第１項に記載の位相検波方法。
Priority Applications (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP58137214A JPS6028306A (ja) | 1983-07-27 | 1983-07-27 | 位相検波方法 |
| US06/634,907 US4654585A (en) | 1983-07-27 | 1984-07-26 | Phase detection method |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP58137214A JPS6028306A (ja) | 1983-07-27 | 1983-07-27 | 位相検波方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6028306A JPS6028306A (ja) | 1985-02-13 |
| JPH0426065B2 true JPH0426065B2 (ja) | 1992-05-06 |
Family
ID=15193453
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP58137214A Granted JPS6028306A (ja) | 1983-07-27 | 1983-07-27 | 位相検波方法 |
Country Status (2)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US4654585A (ja) |
| JP (1) | JPS6028306A (ja) |
Families Citing this family (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS62204166A (ja) * | 1986-03-04 | 1987-09-08 | Yokogawa Hewlett Packard Ltd | ベクトル電圧比測定装置 |
| GB2382878B (en) * | 2001-12-04 | 2005-09-07 | Adwel Internat Ltd | A method and apparatus for testing laminated cores of electrical machines |
| JP6809695B2 (ja) * | 2016-08-30 | 2021-01-06 | 株式会社エヌエフホールディングス | 非同期ｆｒａ |
Family Cites Families (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5263372A (en) * | 1975-10-31 | 1977-05-25 | Hewlett Packard Yokogawa | Vector voltage ratio measuring device |
| US4048566A (en) * | 1976-01-05 | 1977-09-13 | Motorola Inc. | Suppressed carrier automatic gain control circuitry |
| US4196475A (en) * | 1976-09-02 | 1980-04-01 | Genrad, Inc. | Method of and apparatus for automatic measurement of impedance or other parameters with microprocessor calculation techniques |
| JPS55101868A (en) * | 1979-01-30 | 1980-08-04 | Yokogawa Hewlett Packard Ltd | Device for measuring vector voltage ratio |
| US4253118A (en) * | 1979-07-02 | 1981-02-24 | Zenith Radio Corporation | Synchronous detection system |
| JPS56126769A (en) * | 1980-03-11 | 1981-10-05 | Yokogawa Hewlett Packard Ltd | Impedance meter |
| US4459543A (en) * | 1981-10-01 | 1984-07-10 | Gould Inc. | Automatic phase compensation circuit |
-
1983
- 1983-07-27 JP JP58137214A patent/JPS6028306A/ja active Granted
-
1984
- 1984-07-26 US US06/634,907 patent/US4654585A/en not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS6028306A (ja) | 1985-02-13 |
| US4654585A (en) | 1987-03-31 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US3875501A (en) | Pulse width modulation type resistance deviation measuring apparatus | |
| US4816745A (en) | Method and arrangement for measuring the resistance ratio in a resistance half-bridge | |
| EP0104999B1 (en) | Gain switching device with reduced error for watt meter | |
| JPS5875074A (ja) | 容量あるいは他のパラメ−タの測定装置 | |
| RU2161773C2 (ru) | Устройство для определения угла | |
| US3281689A (en) | R. m. s. meter circuit using linear resistors and voltage biased diodes to approximate the square law characteristic | |
| JPS61292067A (ja) | 電力量測定方法 | |
| JPH0426065B2 (ja) | ||
| JPH0455273B2 (ja) | ||
| GB2093292A (en) | Apparatus and methods for analogue-to-digital conversion and for deriving in-phase and quadrature components of voltage and current in an impedance | |
| JP2589817Y2 (ja) | Ｌｃｒテスタ | |
| RU2099722C1 (ru) | Измеритель малых сопротивлений | |
| RU2196998C2 (ru) | Способ измерения постоянной составляющей гармонического сигнала | |
| SU1064227A1 (ru) | Устройство дл измерени угла сдвига фазы синусоидальных напр жений | |
| EP0465476A1 (en) | A sampling circuit | |
| JPH0351748Y2 (ja) | ||
| JP3171466B2 (ja) | ベクトル電圧比測定方法およびベクトル電圧比測定装置 | |
| SU1624352A1 (ru) | Устройство дл измерени сопротивлений | |
| SU1758568A1 (ru) | Устройство дл измерени среднеквадратического значени напр жени | |
| SU1232962A1 (ru) | Цифровой измеритель температуры | |
| SU1336233A1 (ru) | Устройство дл измерени дифференциальной нелинейности цифроаналоговых преобразователей | |
| JPH0480667A (ja) | 交流ベクトル検波装置 | |
| SU938399A1 (ru) | Способ аналого-цифрового преобразовани и устройство дл его осуществлени | |
| JPS62254069A (ja) | 電力変換装置の電圧，電流検出方式 | |
| SU1174867A1 (ru) | Измеритель больших посто нных токов |