JPH0480667A - 交流ベクトル検波装置 - Google Patents
交流ベクトル検波装置Info
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- JPH0480667A JPH0480667A JP19463190A JP19463190A JPH0480667A JP H0480667 A JPH0480667 A JP H0480667A JP 19463190 A JP19463190 A JP 19463190A JP 19463190 A JP19463190 A JP 19463190A JP H0480667 A JPH0480667 A JP H0480667A
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- 230000010354 integration Effects 0.000 claims abstract description 13
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims abstract description 11
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims abstract description 10
- 238000010521 absorption reaction Methods 0.000 abstract description 8
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 abstract description 7
- 238000012935 Averaging Methods 0.000 abstract description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 2
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 1
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- 238000012546 transfer Methods 0.000 description 1
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- Measurement Of Resistance Or Impedance (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
「産業上の利用分野」
この発明は各種の回路のインピーダンス特性、伝達特性
等を測定することに用いることができる交流ベクトル検
波装置に関する。
等を測定することに用いることができる交流ベクトル検
波装置に関する。
[従来の技術〕
第4図に従来の交流ベクトル検波装置を示す。
図中1は基準信号発生部を示す。この基準信号発生部1
から例えば正弦波の基準信号v、、、=Sinωtが測
定対象2に与えられる。
から例えば正弦波の基準信号v、、、=Sinωtが測
定対象2に与えられる。
測定対象2の応答出力信号はバッファ増幅器3を通して
位相検波器4A、4Bに入力される0位相検波器4A、
4Bの基準信号入力端子には基準信号発生部1から互に
直交する位相差を持つ、例えば正弦波sinωtと余弦
波cosωを又は直交する位相差を持つ方形波を与える
。
位相検波器4A、4Bに入力される0位相検波器4A、
4Bの基準信号入力端子には基準信号発生部1から互に
直交する位相差を持つ、例えば正弦波sinωtと余弦
波cosωを又は直交する位相差を持つ方形波を与える
。
位相検波器4A、4Bの検波出力は積分器5A。
5Bで積分され実数ベクトル成分VR,と、虚数ベクト
ル成分V1.とに分離され、スイッチS。
ル成分V1.とに分離され、スイッチS。
で選択されてAD変換器6でAD変換され、演夏表示器
7で演頁し、インピーダンス特性等が算出され表示され
る。尚8は積分器5A、5Bを構成するスイッチS、−
S、及びスイ、7チS、を切替制御する制御器を示す。
7で演頁し、インピーダンス特性等が算出され表示され
る。尚8は積分器5A、5Bを構成するスイッチS、−
S、及びスイ、7チS、を切替制御する制御器を示す。
「発明が解決しようとする課題」
積分器5A、5Bにおいて、積分開始に先だってスイッ
チS2及びS、がオンに制御され、積分コンデンサC1
及びC2の電荷を放電させ初期化する。
チS2及びS、がオンに制御され、積分コンデンサC1
及びC2の電荷を放電させ初期化する。
然し乍ら、積分コンデンサC1及びC2は理想コンデン
サでないから初期化しても初期化以前の電圧値によって
誘電体吸収電荷が残り、この誘電体吸収電荷によって測
定の安定度を悪化させたり、精度を悪くさせる。
サでないから初期化しても初期化以前の電圧値によって
誘電体吸収電荷が残り、この誘電体吸収電荷によって測
定の安定度を悪化させたり、精度を悪くさせる。
またリーク電流誤差、クロストーク誤差等も受は易い。
因みに実数ベクトル成分VR,と虚数ベクトル成分Vl
、は VR,=A−cos a+61 V [、=A−sinθ+ε2 で表わされ、C1,C2が誘電体吸収電荷及びリーク電
流誤差、クロストーク誤差の総和である。
、は VR,=A−cos a+61 V [、=A−sinθ+ε2 で表わされ、C1,C2が誘電体吸収電荷及びリーク電
流誤差、クロストーク誤差の総和である。
「課題を解決するための手段」
この発明では積分器に与える位相検波出力信号の極性を
1積分動作毎に反転させる極性切替手段を設ける。この
発明の構成によれば積分器に与えられる位相検波出力信
号の極性が1積分動作毎に反転されるから、積分器に積
分させる積分電圧は1積分動作毎に極性が反転する。
1積分動作毎に反転させる極性切替手段を設ける。この
発明の構成によれば積分器に与えられる位相検波出力信
号の極性が1積分動作毎に反転されるから、積分器に積
分させる積分電圧は1積分動作毎に極性が反転する。
従って平均すると積分コンデンサに生しる誘電体吸収電
荷は除去され、またリーク電流誤差及びクロストーク誤
差も演算上で除去される。
荷は除去され、またリーク電流誤差及びクロストーク誤
差も演算上で除去される。
よってこの発明によれば測定の安定度を向上させること
ができ、また測定精度を高めることができる。
ができ、また測定精度を高めることができる。
「実施例」
第1図にこの発明の一実施例を示す。第1図において、
1は基準信号発生部、2は測定対象、3はバッファ増幅
器、4A、4Bは位相検波器、5A、5Bは積分器、6
はAD変換器、7は演算表示器、8は制御器を示す点は
従来の説明と同しである。
1は基準信号発生部、2は測定対象、3はバッファ増幅
器、4A、4Bは位相検波器、5A、5Bは積分器、6
はAD変換器、7は演算表示器、8は制御器を示す点は
従来の説明と同しである。
この発明においては積分器5A、5Bに入力する位相検
波出力信号の極性を1積分動作毎に反転させる極性切替
手段7を設けた構成を特徴とするものである。
波出力信号の極性を1積分動作毎に反転させる極性切替
手段7を設けた構成を特徴とするものである。
つまりこの例ではバッファ増幅器3として差動出力型の
バッファ増幅器を用い、このバッファ増幅器3の出力側
に極性切替手段9を設けた場合を示す、この例では極性
切替手段9をスイッチS。
バッファ増幅器を用い、このバッファ増幅器3の出力側
に極性切替手段9を設けた場合を示す、この例では極性
切替手段9をスイッチS。
によって構成した場合を示す、スイッチS、を積分器I
A、1Bの1積分動作毎に切替ることにより位相検波器
4Aと4Bの出力電圧の極性を切替ることかできる。
A、1Bの1積分動作毎に切替ることにより位相検波器
4Aと4Bの出力電圧の極性を切替ることかできる。
第2図に各スイッチS、〜S、の動作と、積分器5A、
5Bの動作を示す、積分器5Aと5Bに設けたスイッチ
S!とS、及びSlとS、、S。
5Bの動作を示す、積分器5Aと5Bに設けたスイッチ
S!とS、及びSlとS、、S。
とS、は第2図A、B、Cに示すように同時にオン、オ
フ動作し、積分器5Aと5Bは同時に積分とリセット動
作を繰返す。
フ動作し、積分器5Aと5Bは同時に積分とリセット動
作を繰返す。
つまりスイッチS、とShがオンになる毎に積分器5A
と5Bの積分電圧はリセットされる。このリセットの周
期Tが積分器5Aと5Bの1動作周期となる。積分動作
はスイッチS2とS、がオン、スイッチS1と34がオ
フの状態で実行される。
と5Bの積分電圧はリセットされる。このリセットの周
期Tが積分器5Aと5Bの1動作周期となる。積分動作
はスイッチS2とS、がオン、スイッチS1と34がオ
フの状態で実行される。
極性切替手段9を構成するスイッチS、は第2図Eに示
すように積分器5Aと5Bを構成するスイッチS、とS
、がオンの状態に戻され積分動作が終了したタイミング
で切替られる。
すように積分器5Aと5Bを構成するスイッチS、とS
、がオンの状態に戻され積分動作が終了したタイミング
で切替られる。
位相検波器4Aと4Bに入力される信号vllは第2図
Fに示すように極性切替手段9の切替によってA−si
n(ωt−+θ)と−A−sin(ωt、+θ)に極性
が切替られる。
Fに示すように極性切替手段9の切替によってA−si
n(ωt−+θ)と−A−sin(ωt、+θ)に極性
が切替られる。
位相検波器4Aと4Bの位相検波出力は極性切替器9の
切替動作に連動して正と負に反転し、この結集積分器5
Aと5Bの積分電圧は第2図GとHに示すように1動作
毎に極性が反転する。
切替動作に連動して正と負に反転し、この結集積分器5
Aと5Bの積分電圧は第2図GとHに示すように1動作
毎に極性が反転する。
スイッチS、により積分器5Aと5Bに積分させた電圧
VR,とVl、をAD変換器6に取込みAD変換し、そ
のAD変換結果を演夏器7に送り込む。
VR,とVl、をAD変換器6に取込みAD変換し、そ
のAD変換結果を演夏器7に送り込む。
演算器7では前回の測定値VR□、V11と今回の測定
値VR,2,V 1.zを平均化演算し真の実数部ベク
トル成分VR,と虚数部ベクトル成分V1、を算出する
。
値VR,2,V 1.zを平均化演算し真の実数部ベク
トル成分VR,と虚数部ベクトル成分V1、を算出する
。
VR−=y2CVR*+−VR−*)
v 1.−’A (V 1.+−v r、z)(変形実
施例) 第3図にこの発明の変形実施例を示す。この例では極性
切替手段9として、位相検波器4Aと4Bに与える基準
信号の極性を反転さセるように構成した場合を示す。
施例) 第3図にこの発明の変形実施例を示す。この例では極性
切替手段9として、位相検波器4Aと4Bに与える基準
信号の極性を反転さセるように構成した場合を示す。
このように構成しても上述と同様に動作することは容易
に理解できよう。
に理解できよう。
尚、上述の実施例では極性切替手段9の切替周期を積分
器5A、5Bの1積分周期毎として説明したが、必ずし
も1周期毎でなくてもよく、2〜3周期毎に切替えても
よい。
器5A、5Bの1積分周期毎として説明したが、必ずし
も1周期毎でなくてもよく、2〜3周期毎に切替えても
よい。
「発明の効果」
以上説明したように、この発明によれば積分器5Aと5
Bの積分電圧の極性を1積分動作毎に切替るように構成
したがら、積分コンデンサc1と02の積分電圧は直流
的に0レヘルとなる。
Bの積分電圧の極性を1積分動作毎に切替るように構成
したがら、積分コンデンサc1と02の積分電圧は直流
的に0レヘルとなる。
このために積分コンデンサclとCtに誘電体吸収が起
きることを阻止され、誘電体9収による誤差が除去され
る。
きることを阻止され、誘電体9収による誤差が除去され
る。
また積分器5Aと5Bを構成する演算増幅器の電流加箕
点に流れ込むリークit流によるリーク誤差及びクロス
トーク誤差は演算器7において平均化演算により打消さ
れ除去される。
点に流れ込むリークit流によるリーク誤差及びクロス
トーク誤差は演算器7において平均化演算により打消さ
れ除去される。
従って、この発明によれば測定の安定度が向上し、精度
の高い交流ベクトル検波装置を提供することができる。
の高い交流ベクトル検波装置を提供することができる。
第1図はこの発明の一実施例を示す接続図、第2図は第
1図の動作を説明するための波形図、第3図はこの発明
の変形実施例を示す接続図、第4図は従来の技術を説明
するための接続図である。 1:基準信号発生部、2:測定対象、3:バッファ増幅
器、4A、4B:位相検波器、5A、5B;積分器、6
:AD変換器、7:演算器、8:制御器、 9:極性切替手段。
1図の動作を説明するための波形図、第3図はこの発明
の変形実施例を示す接続図、第4図は従来の技術を説明
するための接続図である。 1:基準信号発生部、2:測定対象、3:バッファ増幅
器、4A、4B:位相検波器、5A、5B;積分器、6
:AD変換器、7:演算器、8:制御器、 9:極性切替手段。
Claims (1)
- (1)A、被測定回路に正弦波信号を与える基準信号発
生部と、 B、被測定回路の応答出力信号を互に直交する位相差を
持つ基準信号で位相検波する二つの位相検波器と、 C、二つの位相検波器の検波出力を積分する二つの積分
器と、 D、この二つの積分器の積分電圧を除算し、該測定回路
のインピーダンスを算出する演算器と、 E、上記二つの位相検波器の出力信号の極性を上記積分
器の積分動作毎に反転させる極性切替手段と、 によって構成した交流ベクトル検波装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP19463190A JPH0480667A (ja) | 1990-07-23 | 1990-07-23 | 交流ベクトル検波装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP19463190A JPH0480667A (ja) | 1990-07-23 | 1990-07-23 | 交流ベクトル検波装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0480667A true JPH0480667A (ja) | 1992-03-13 |
Family
ID=16327729
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP19463190A Pending JPH0480667A (ja) | 1990-07-23 | 1990-07-23 | 交流ベクトル検波装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0480667A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US7260481B1 (en) | 2006-03-17 | 2007-08-21 | Tanita Corporation | Vector detecting device and living-body complex impedance measuring apparatus having the vector detecting device |
| JP2012032365A (ja) * | 2010-01-26 | 2012-02-16 | Hioki Ee Corp | 測定装置 |
| JP2018036089A (ja) * | 2016-08-30 | 2018-03-08 | 株式会社エヌエフ回路設計ブロック | 非同期fraおよび同期検波器 |
-
1990
- 1990-07-23 JP JP19463190A patent/JPH0480667A/ja active Pending
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US7260481B1 (en) | 2006-03-17 | 2007-08-21 | Tanita Corporation | Vector detecting device and living-body complex impedance measuring apparatus having the vector detecting device |
| JP2007248446A (ja) * | 2006-03-17 | 2007-09-27 | Tanita Corp | ベクトル検波装置及びこれを備えた生体複素インピーダンス測定装置 |
| JP2012032365A (ja) * | 2010-01-26 | 2012-02-16 | Hioki Ee Corp | 測定装置 |
| JP2018036089A (ja) * | 2016-08-30 | 2018-03-08 | 株式会社エヌエフ回路設計ブロック | 非同期fraおよび同期検波器 |
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