JPH0426234B2 - - Google Patents

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JPH0426234B2
JPH0426234B2 JP59051991A JP5199184A JPH0426234B2 JP H0426234 B2 JPH0426234 B2 JP H0426234B2 JP 59051991 A JP59051991 A JP 59051991A JP 5199184 A JP5199184 A JP 5199184A JP H0426234 B2 JPH0426234 B2 JP H0426234B2
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Japan
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optical
thin film
light
amorphous silicon
silicon thin
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Yukikazu Hanamitsu
Setsuo Kotado
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Anritsu Corp
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Anritsu Corp
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    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01SDEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
    • H01S5/00Semiconductor lasers
    • H01S5/02Structural details or components not essential to laser action
    • H01S5/022Mountings; Housings
    • H01S5/023Mount members, e.g. sub-mount members
    • H01S5/02325Mechanically integrated components on mount members or optical micro-benches
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01SDEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
    • H01S5/00Semiconductor lasers
    • H01S5/06Arrangements for controlling the laser output parameters, e.g. by operating on the active medium
    • H01S5/068Stabilisation of laser output parameters
    • H01S5/0683Stabilisation of laser output parameters by monitoring the optical output parameters

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  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Electromagnetism (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Optical Integrated Circuits (AREA)
  • Semiconductor Lasers (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 この発明は光電変換器に関し、更に詳述すれ
ば、半導体レーザとその出力光を一定にするため
に同一基板上に集積して組み上げるための光電変
換器に関する。
[Detailed Description of the Invention] [Industrial Application Field] The present invention relates to a photoelectric converter, and more specifically, a semiconductor laser and a method for integrating and assembling the same on the same substrate in order to make the output light constant. Regarding photoelectric converters.

〔従来の技術〕[Conventional technology]

一般にレーザ光を発生するレーザ発光素子は内
部の発熱に伴い、温度が上昇しやすいものであ
る。なんとなれば、半導体レーザの光出力部、つ
まり、活性層は、幅が一般に1μm以下と狭く、
光出力断面積が小さい割に80mw以上の高出力が
出て、エネルギー密度が高いために発熱量が大き
いからである。レーザ発振によるこの発熱は、周
囲の温度によつて熱放散量が変わつて活性層自体
の温度も変化する。すると、熱平衡状態が変化
し、伝導帯と価電子帯に注入している電子や正孔
の数が変化し、再結合の生じる頻度が変化する。
このことによつて、半導体レーザの光出力のレベ
ルが変化する。また、半導体レーザ駆動電圧の揺
らぎによつても半導体レーザの光出力は大きく変
化する。こうした諸要因が光出力の不安定をもた
らしている。
Generally, a laser light emitting element that generates laser light tends to have a temperature rise due to internal heat generation. This is because the optical output part of a semiconductor laser, that is, the active layer, has a narrow width of generally 1 μm or less.
This is because it produces a high output of 80mW or more despite its small optical output cross-sectional area, and its high energy density generates a large amount of heat. The amount of heat dissipated from this heat generated by laser oscillation changes depending on the ambient temperature, and the temperature of the active layer itself also changes. This changes the thermal equilibrium state, changes the number of electrons and holes injected into the conduction band and valence band, and changes the frequency of recombination.
This changes the level of the optical output of the semiconductor laser. Furthermore, the optical output of the semiconductor laser changes greatly due to fluctuations in the semiconductor laser drive voltage. These factors cause instability in the optical output.

従来はこれを解決するために、熱伝導性の良い
物質、例えばダイヤモンドをヒートシンクとして
用いた。しかし、高価であり、かつ、密着剤とし
てInを使用するためにウエーハプロセス及びボン
デイングプロセスが増えるという欠点があつた。
Conventionally, to solve this problem, a material with good thermal conductivity, such as diamond, was used as a heat sink. However, it is expensive and has the drawbacks of increasing the wafer process and bonding process due to the use of In as an adhesive.

また、従来は、不安定出力光を安定化させるた
めに半導体レーザの光出力をハーフミラーで反射
および透過させ、反射光を光電変換素子等で検知
し、その検知信号を電流・電圧制御駆動回路にフ
イードバツクさせることにより、半導体レーザの
光出力を安定させる方法を用いていた。しかし、
ハーフミラーを使用することによつて透過光と反
射光の角度を調節する作業に熟練度が要求され、
しかもハーフミラー自体の反射率分布のむらによ
り、一定の割合で透過光と反射光を分岐させるこ
とはむずかしいという欠点があつた。
Conventionally, in order to stabilize unstable output light, the optical output of a semiconductor laser is reflected and transmitted by a half mirror, the reflected light is detected by a photoelectric conversion element, etc., and the detection signal is sent to a current/voltage control drive circuit. A method was used to stabilize the optical output of the semiconductor laser by providing feedback to the semiconductor laser. but,
By using a half mirror, skill is required to adjust the angle of transmitted light and reflected light.
Moreover, due to the unevenness of the reflectance distribution of the half mirror itself, it is difficult to separate the transmitted light and the reflected light at a constant ratio.

更にまた、このような従来の装置、すなわち、
レーザ発光素子としての半導体レーザ、光分波器
としてのハーフミラー、受光素子としてのフオト
ダイオード、駆動回路としてFET(電界効果トラ
ンジスタ)などを使つた定出力半導体レーザ出力
装置を構成する場合、それぞれインターフエイス
を介して光及び電気回路で接続していた。この際
の光軸合わせ等の工程が複雑、かつ、困難であ
り、しかも、装置が大型になることなどの欠点が
あつた。従来の半導体レーザ出力装置における光
出力の不安定さは、レーザ測定器としての確度の
限界を自ら決定づけていた。例えば、光フアイバ
の伝播損失等を測定する場合に、フアイバへ入射
する半導体レーザの光出力が不安定であると、フ
アイバからの出射光も、入射光の強度変化に伴つ
て変化するので、光検出器の感度が安定していて
も、光フアイバの伝播損失等を精度良く検知する
ことができない等の事実があつた。
Furthermore, such conventional devices, namely:
When configuring a constant output semiconductor laser output device using a semiconductor laser as a laser emitting element, a half mirror as an optical demultiplexer, a photodiode as a light receiving element, and an FET (field effect transistor) as a drive circuit, each interface is required. They were connected by optical and electrical circuits through the FACE. The process of aligning the optical axis and the like at this time was complicated and difficult, and the apparatus had drawbacks such as an increase in size. The instability of the optical output in conventional semiconductor laser output devices has determined the limit of accuracy as a laser measuring device. For example, when measuring the propagation loss of an optical fiber, if the optical output of a semiconductor laser entering the fiber is unstable, the output light from the fiber will also change as the intensity of the incident light changes. Even if the sensitivity of the detector is stable, there have been cases where it is not possible to accurately detect propagation loss of the optical fiber.

そのため、上記欠点を取り除くため、第1図乃
至第3図に示すように、同一基板上に、レーザ発
光素子として半導体レーザ、光分波器として光導
波路分岐路、受光素子としてフオトダイオード駆
動回路としてFET(電界効果トランジスタ)およ
びインピーダンス素子を設けた装置、換言すれ
ば、集積化された定出力半導体レーザ素子が考え
られている。
Therefore, in order to eliminate the above drawbacks, as shown in FIGS. 1 to 3, on the same substrate, a semiconductor laser is used as a laser emitting element, an optical waveguide branch is used as an optical demultiplexer, and a photodiode drive circuit is used as a light receiving element. A device including an FET (field effect transistor) and an impedance element, in other words, an integrated constant output semiconductor laser device is being considered.

具体的に説明すると、第1図は従来の光電変換
器を用いた定出力半導体レーザ素子を示す図であ
り、第2図aはそのA−A断面図を示す図であ
り、第2図bはその平面図を機能的な模式で表わ
した図である。第1図において、まず、絶縁性基
板1上に一部段差を設け、レーザ発光素子として
半導体レーザ2を配設する。半導体レーザの光出
力は薄膜で作られた光導波路3で光分波器4へ導
びかれる。LiNbO3等強誘電体基板は光不導体で
あるがTi等の不純物を拡散することにより光良
導体となるので、強誘電体の一部にTi拡散領域
を形成することにより光導波路3を形成すること
ができる。また、光不導体よりなる強誘電体基板
や各種誘電体基板上の一部に光良導体のカルコゲ
ナイドアモルフアス薄膜(As−Se−S−Ge)を
堆積させることにより光導波路3を形成すること
ができる。光分波器4の従来例としては第3図に
示すようにLiNbO3等の誘電体上にTi拡散導波路
を近接して配列することにより形成する。
Specifically, FIG. 1 is a diagram showing a constant output semiconductor laser device using a conventional photoelectric converter, FIG. 2a is a cross-sectional view taken along line A-A, and FIG. is a functional schematic representation of the plan view. In FIG. 1, first, a part of the step is provided on an insulating substrate 1, and a semiconductor laser 2 is provided as a laser emitting element. The optical output of the semiconductor laser is guided to an optical demultiplexer 4 through an optical waveguide 3 made of a thin film. Although a ferroelectric substrate such as LiNbO 3 is an optical nonconductor, it becomes a good optical conductor by diffusing impurities such as Ti, so the optical waveguide 3 is formed by forming a Ti diffusion region in a part of the ferroelectric material. be able to. Furthermore, the optical waveguide 3 can be formed by depositing a chalcogenide amorphous thin film (As-Se-S-Ge), which is a good optical conductor, on a part of a ferroelectric substrate made of an optical nonconductor or various dielectric substrates. can. As shown in FIG. 3, a conventional optical demultiplexer 4 is formed by arranging Ti diffusion waveguides close to each other on a dielectric material such as LiNbO 3 .

ここで分波された半導体レーザの光出力の一部
はフオトダイオード等で構成される受光素子5へ
同じく光導波路3を通じて送られる。受光素子5
では受光された光量に対応した電気信号を制御駆
動回路6へ送る。フオトダイオードは従来の半導
体集積回路技術で作られる。ここで制御駆動回路
6は、電気信号と基準電気信号入力端子7から入
力される基準電気信号と比較してその大小を判別
し、常に半導体レーザの光出力が一定レベルとな
るように制御する。制御はレーザ駆動電圧・電流
を制御することにより行う。
A part of the optical output of the semiconductor laser demultiplexed here is also sent through the optical waveguide 3 to a light receiving element 5 composed of a photodiode or the like. Light receiving element 5
Then, an electric signal corresponding to the amount of light received is sent to the control drive circuit 6. Photodiodes are made using conventional semiconductor integrated circuit technology. Here, the control drive circuit 6 compares the electrical signal with a reference electrical signal inputted from the reference electrical signal input terminal 7 to determine the magnitude thereof, and controls the optical output of the semiconductor laser so that it is always at a constant level. Control is performed by controlling laser drive voltage and current.

つまり、この従来例の要旨とする光電変換器を
列挙すると、次の通りである。
That is, the photoelectric converters that are the gist of this conventional example are listed as follows.

(イ) 光分波器として光導波路分岐路を用いて、半
導体レーザの光出力の一部を検出用として分波
する。取り出した光出力を光導波路で受光素子
まで誘導し、光電変換するようにしている。
(a) Using an optical waveguide branch as an optical demultiplexer, a part of the optical output of the semiconductor laser is demultiplexed for detection. The extracted optical output is guided to a light-receiving element using an optical waveguide, where it is photoelectrically converted.

(ロ) 光導波路を半導体回路の製造技術、ホトエツ
チング等によつて同一基板上に構成している。
(b) Optical waveguides are constructed on the same substrate using semiconductor circuit manufacturing technology, photoetching, etc.

〔発明が解決しようとする課題〕[Problem to be solved by the invention]

しかしながら、第1図乃至第3図に示す光分波
器4では、ここで分波される半導体レーザの光出
力の割合を適宜に設定することが困難である。ま
た、光分波器4と受光素子5とが個々に形成され
ているため光分波器4で分波された半導体レーザ
の光出力を、光導波路3を通して受光素子5へ伝
播する。そのため、光電変換器を小型化するのに
限界がある。
However, in the optical demultiplexer 4 shown in FIGS. 1 to 3, it is difficult to appropriately set the ratio of the optical output of the semiconductor laser to be demultiplexed. Further, since the optical demultiplexer 4 and the light receiving element 5 are formed individually, the optical output of the semiconductor laser demultiplexed by the optical demultiplexer 4 is propagated to the light receiving element 5 through the optical waveguide 3. Therefore, there is a limit to miniaturizing the photoelectric converter.

〔課題を解決するための手段〕[Means to solve the problem]

本発明では前記従来例の光分波器と受光素子の
機能を兼ね備え、かつ集積化、一体化できる超小
形構造の光電変換器を用いて光導波路を伝播する
半導体レーザの光出力の一部を電気信号に変換す
る。
In the present invention, a part of the optical output of a semiconductor laser propagating through an optical waveguide is converted using a photoelectric converter with an ultra-small structure that has both the functions of an optical demultiplexer and a photodetector as in the conventional example and can be integrated and integrated. Convert to electrical signal.

〔作用〕[Effect]

このように構成された光電変換器は、レーザ光
の波長と吸収すべき光量は、p形アモルフアスシ
リコン薄膜13の組成および光導波路における凹
部20の長さの組み合わせで構成できる。また吸
収した光量に応じた光エネルギーを電気信号に変
えることができる。
In the photoelectric converter configured in this manner, the wavelength of the laser beam and the amount of light to be absorbed can be configured by a combination of the composition of the p-type amorphous silicon thin film 13 and the length of the recess 20 in the optical waveguide. It is also possible to convert optical energy into electrical signals according to the amount of absorbed light.

〔実施例〕〔Example〕

次に本発明の構成を図面を参照しながら説明す
る。
Next, the configuration of the present invention will be explained with reference to the drawings.

第4図は本発明の一実施例であり、前記光分波
器4と受光素子5を一つにした機能を有する光集
積回路(以下、光ICという。)用の光電変換器を
示す図である。
FIG. 4 is an embodiment of the present invention, and is a diagram showing a photoelectric converter for an optical integrated circuit (hereinafter referred to as optical IC) having the function of combining the optical demultiplexer 4 and the light receiving element 5. It is.

すなわち、第4図は光エネルギーの吸収・発熱
に伴う熱電効果を利用した光電変換器19を示す
図で、第4図中、1は絶縁性基板(強誘電体基
板)、3は光導波路、13はp形アモルフアスシ
リコン薄膜、14はn形アモルフアスシリコン薄
膜、15,16は電極、17は半導体レーザの入
力光、8は半導体レーザの出力光を示す。第4図
中のp形アモルフアスシリコン薄膜13は光吸
収・発熱作用を行い、対をなすように設けられた
n形アモルフアスシリコン薄膜14とで熱電体を
形成する。本実施例では、埋め込み型光導波路
(例えば、LiNbO3基板にTi拡散により形成する)
を用いているので、光導波路3の一部をエツチン
グで除去し、除去された凹部20は強誘電体基板
上に堆積されたp形アモルフアスシリコン薄膜1
3で埋め込まれる。p形アモルフアスシリコン薄
膜13は、光吸収特性に波長依存性があり、か
つ、吸収係数の大きさとしては101〜103cm-1程度
である。したがつて、光導波路3の凹部20の長
さを1〜10μmにすれば、p形アモルフアスシリ
コン薄膜13の領域で吸収されるレーザ光の光量
は0.1〜100%になる。この場合、レーザ光の波長
と吸収すべき光量が決定されれば、p形アモルフ
アスシリコン薄膜13の組成および光導波路にお
ける凹部20の長さの組み合わせで構成できる。
凹部20のp形アモルフアスシリコン薄膜13
は、レーザ光の吸収により発熱し高温となる。凹
部20近傍のp形アモルフアスシリコン薄膜13
の一部に接して設けられたn形アモルフアスシリ
コン薄膜14は、p形アモルフアスシリコン薄膜
13とで熱電対を構成し、凹部近傍が温接点を、
各アモルフアスシリコン薄膜13,14と互いに
分離して設けられた電極15,16が冷接点を形
成する。一般にアモルフアスシリコン薄膜は熱伝
導性が良いので、検出感度を高めるため、各アモ
ルフアスシリコン薄膜13,14の形状は第4図
のようにストリツプ線状となる。
That is, FIG. 4 is a diagram showing a photoelectric converter 19 that utilizes the thermoelectric effect accompanying absorption of light energy and heat generation. In FIG. 4, 1 is an insulating substrate (ferroelectric substrate), 3 is an optical waveguide, 13 is a p-type amorphous silicon thin film, 14 is an n-type amorphous silicon thin film, 15 and 16 are electrodes, 17 is the input light of the semiconductor laser, and 8 is the output light of the semiconductor laser. The p-type amorphous silicon thin film 13 in FIG. 4 absorbs light and generates heat, and forms a thermoelectric body with the n-type amorphous silicon thin film 14 provided as a pair. In this example, a buried optical waveguide (for example, formed on a LiNbO 3 substrate by Ti diffusion) is used.
Since a part of the optical waveguide 3 is removed by etching, the removed recess 20 is a p-type amorphous silicon thin film 1 deposited on a ferroelectric substrate.
Embedded in 3. The p-type amorphous silicon thin film 13 has wavelength dependence in light absorption characteristics, and has an absorption coefficient of approximately 10 1 to 10 3 cm −1 . Therefore, if the length of the recess 20 of the optical waveguide 3 is set to 1 to 10 μm, the amount of laser light absorbed in the region of the p-type amorphous silicon thin film 13 will be 0.1 to 100%. In this case, once the wavelength of the laser beam and the amount of light to be absorbed are determined, it can be configured by combining the composition of the p-type amorphous silicon thin film 13 and the length of the recess 20 in the optical waveguide.
P-type amorphous silicon thin film 13 in recess 20
generates heat due to absorption of laser light and becomes high temperature. P-type amorphous silicon thin film 13 near the recess 20
The n-type amorphous silicon thin film 14 provided in contact with a part of the p-type amorphous silicon thin film 13 constitutes a thermocouple, and the vicinity of the recess serves as a hot junction.
Each amorphous silicon thin film 13, 14 and electrodes 15, 16 provided separately from each other form a cold contact. Generally, amorphous silicon thin films have good thermal conductivity, so in order to increase detection sensitivity, each amorphous silicon thin film 13, 14 has a strip shape as shown in FIG.

導電率が大きく、かつ、ゼーベツク係数のアモ
ルフアスシリコン薄膜の形成法に関しては、「熱
電対素子」(特願昭56−108728号)で述べた方法
を用いる。
As for the method of forming an amorphous silicon thin film with high conductivity and Seebeck coefficient, the method described in "Thermocouple Element" (Japanese Patent Application No. 108728/1982) is used.

以上のごとく、本実施例では、半導体で形成さ
れた接合部が有する熱電効果、光起電力効果、広
義の光導電効果、更にはP−i−n構造の有する
光逓倍効果のいずれかと、光透過性のある半導体
のもつ光吸収特性を組み合わせることにより、半
導体に入射される光エネルギーの一部を半導体に
吸収させて光電変換し、光エネルギーを電気信号
に変える一方で、吸収されなかつた大部分の入射
光エネルギーを通過させることにより入射された
光エネルギーの大きさを検出する新しい型の光検
出器を用いているものである。
As described above, in this example, the thermoelectric effect, the photovoltaic effect, the photoconductive effect in a broad sense, which the junction part formed of the semiconductor has, and the optical multiplication effect of the P-i-n structure, and the optical By combining the light absorption properties of transparent semiconductors, a portion of the light energy incident on the semiconductor is absorbed by the semiconductor and photoelectrically converted, converting the light energy into an electrical signal, while the large portion that is not absorbed is It uses a new type of photodetector that detects the magnitude of incident light energy by passing the incident light energy through a portion.

〔発明の効果〕〔Effect of the invention〕

上記のごとく、本発明の光電変換器によれば、
レーザ光の波長と吸収すべき光量が決定されれ
ば、その光量は、p形アモルフアスシリコン薄膜
13の組成および光導波路3における凹部20の
長さの組み合わせで構成できる。さらに、凹部2
0近傍のp形アモルフアスシリコン薄膜13の一
部に接して設けられたn形アモルフアスシリコン
薄膜14は、p形アモルフアスシリコン薄膜13
とで熱電対を構成する。そのため、吸収された光
量の光エネルギーを電気信号に変換し、光分波器
と受光素子の機能を備えることができる。
As mentioned above, according to the photoelectric converter of the present invention,
Once the wavelength of the laser beam and the amount of light to be absorbed are determined, the amount of light can be configured by a combination of the composition of the p-type amorphous silicon thin film 13 and the length of the recess 20 in the optical waveguide 3. Furthermore, recess 2
The n-type amorphous silicon thin film 14 provided in contact with a part of the p-type amorphous silicon thin film 13 near 0 is the p-type amorphous silicon thin film 13.
and constitute a thermocouple. Therefore, the optical energy of the amount of absorbed light can be converted into an electrical signal, and it can have the functions of an optical demultiplexer and a light receiving element.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of drawings]

第1図は従来の光電変換器を用いた定出力半導
体レーザ素子を示す図、第2図aは第1図におけ
るA−A断面図、第2図bは第1図に係る平面図
を機能的な模式で表わした図、第3図は従来の光
IC用光分波器、第4図aは本発明の一実施例を
示す図、第4図bは第4図aのa部拡大図を示す
図である。 1……絶縁性基板、2……レーザ発光素子(半
導体レーザ)、3……光導波路、4……光分波器、
5……受光素子、6……制御駆動回路、7……基
準電気信号入力端子、8……光出力、9……分波
された光出力、13……p形アモルフアスシリコ
ン薄膜、14……n形アモルフアスシリコン薄
膜、15,16……電極、17……光入力、19
……光電変換器、20……凹部。
Figure 1 is a diagram showing a constant output semiconductor laser device using a conventional photoelectric converter, Figure 2a is a sectional view taken along line AA in Figure 1, and Figure 2b is a functional plan view of Figure 1. Figure 3 shows the conventional light
Optical demultiplexer for IC, FIG. 4a is a diagram showing an embodiment of the present invention, and FIG. 4b is an enlarged view of part a of FIG. 4a. 1... Insulating substrate, 2... Laser emitting element (semiconductor laser), 3... Optical waveguide, 4... Optical demultiplexer,
5... Light receiving element, 6... Control drive circuit, 7... Reference electric signal input terminal, 8... Optical output, 9... Separated optical output, 13... P-type amorphous silicon thin film, 14... ...N-type amorphous silicon thin film, 15, 16... Electrode, 17... Light input, 19
...Photoelectric converter, 20 ... recess.

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 1 絶縁性を有する基板1と、該基板と一体に形
成された光導波路3と、光透過性のp形アモルフ
アスシリコン薄膜13と、光透過性のn形アモル
フアスシリコン薄膜14と、前記p形アモルフア
スシリコン薄膜に設けられた電極15と、前記n
形アモルフアスシリコン薄膜に設けられた電極1
6と、前記光導波路の一部に設けられた凹部20
とから成り、前記p形アモルフアスシリコン薄膜
とn形アモルフアスシリコン薄膜は少なくとも一
部が前記凹部で重なり、かつ、前記光導波路をよ
こぎるようにして前記基板上に集積された光電変
換器。
1 An insulating substrate 1, an optical waveguide 3 formed integrally with the substrate, a light-transmissive p-type amorphous silicon thin film 13, a light-transmissive n-type amorphous silicon thin film 14, and the p-type amorphous silicon thin film 14. The electrode 15 provided on the amorphous silicon thin film and the n
Electrode 1 provided on amorphous silicon thin film
6, and a recess 20 provided in a part of the optical waveguide.
and the p-type amorphous silicon thin film and the n-type amorphous silicon thin film are integrated on the substrate so that at least a portion thereof overlaps in the recess and crosses the optical waveguide.
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