JPH04263837A - Ｘ線検査装置 - Google Patents
Ｘ線検査装置Info
- Publication number
- JPH04263837A JPH04263837A JP3290746A JP29074691A JPH04263837A JP H04263837 A JPH04263837 A JP H04263837A JP 3290746 A JP3290746 A JP 3290746A JP 29074691 A JP29074691 A JP 29074691A JP H04263837 A JPH04263837 A JP H04263837A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- detector
- detector elements
- elements
- ray image
- measurement area
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05G—X-RAY TECHNIQUE
- H05G1/00—X-ray apparatus involving X-ray tubes; Circuits therefor
- H05G1/08—Electrical details
- H05G1/26—Measuring, controlling or protecting
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05G—X-RAY TECHNIQUE
- H05G1/00—X-ray apparatus involving X-ray tubes; Circuits therefor
- H05G1/08—Electrical details
- H05G1/26—Measuring, controlling or protecting
- H05G1/30—Controlling
- H05G1/38—Exposure time
- H05G1/42—Exposure time using arrangements for switching when a predetermined dose of radiation has been applied, e.g. in which the switching instant is determined by measuring the electrical energy supplied to the tube
- H05G1/44—Exposure time using arrangements for switching when a predetermined dose of radiation has been applied, e.g. in which the switching instant is determined by measuring the electrical energy supplied to the tube in which the switching instant is determined by measuring the amount of radiation directly
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05G—X-RAY TECHNIQUE
- H05G1/00—X-ray apparatus involving X-ray tubes; Circuits therefor
- H05G1/08—Electrical details
- H05G1/64—Circuit arrangements for X-ray apparatus incorporating image intensifiers
Landscapes
- Health & Medical Sciences (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- Toxicology (AREA)
- Apparatus For Radiation Diagnosis (AREA)
- X-Ray Techniques (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、マトリクス状に配置さ
れた検出器要素によってＸ線イメージインテンシファイ
アの出力螢光面上の像輝度を検出するための検出器に関
する。
れた検出器要素によってＸ線イメージインテンシファイ
アの出力螢光面上の像輝度を検出するための検出器に関
する。
【０００２】
【従来の技術】この種の検出器においては、線量の現在
値を検出するためにその都度所望の測定領域が形成され
るようにマトリクス内の検出器要素が選択される。検出
器としてホトマルチプライヤーを使用する場合に比較し
て、選択され得る測定領域が著しく多くなる。
値を検出するためにその都度所望の測定領域が形成され
るようにマトリクス内の検出器要素が選択される。検出
器としてホトマルチプライヤーを使用する場合に比較し
て、選択され得る測定領域が著しく多くなる。
【０００３】冒頭で述べた種類の公知の検出器において
は、検出器要素は全て同じ大きさでかつ同じ形状をして
いる。このことは実地上望まれている測定領域を実現す
ることができないことを示している。
は、検出器要素は全て同じ大きさでかつ同じ形状をして
いる。このことは実地上望まれている測定領域を実現す
ることができないことを示している。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】そこで、本発明は、選
択可能な測定領域の形状が器官の形状に応じて必要な形
状に従来技術よりも最適に整合し得るように、冒頭で述
べた種類の検出器を構成することを課題とする。
択可能な測定領域の形状が器官の形状に応じて必要な形
状に従来技術よりも最適に整合し得るように、冒頭で述
べた種類の検出器を構成することを課題とする。
【０００５】
【課題を解決するための手段】この課題を解決するため
に、本発明は、検出器要素が種々異なった形状および／
または大きさを有することを特徴とする。
に、本発明は、検出器要素が種々異なった形状および／
または大きさを有することを特徴とする。
【０００６】
【作用効果】本発明によれば、必要に応じて、直方体状
の測定領域、矩形状の測定領域、または同様に多角形状
の測定領域を実現することが可能となる。
の測定領域、矩形状の測定領域、または同様に多角形状
の測定領域を実現することが可能となる。
【０００７】本発明の好ましい実施態様によれば、中心
部の周りにグループ分けされた検出器要素は、多角形の
中央測定領域を選択可能であるように、三角形状に形成
される。この測定領域は多数の使用目的のために所望さ
れる丸形測定領域に良好に近付けられ得る。本発明の他
の実施態様によれば、検出器は接続板上に固定され、こ
の接続板はその背面で検出器要素のための集積回路を担
持する。検出器自体ならびにこの検出器に付属する回路
、特に検出器要素を選択するためのスイッチおよび増幅
器は単一の接続板上に取付けられる。この接続板は容器
内に調整可能に配置され、それゆえ調整が可能である。 容器からはこの場合には外部への接続のためにケーブル
が導出され得る。
部の周りにグループ分けされた検出器要素は、多角形の
中央測定領域を選択可能であるように、三角形状に形成
される。この測定領域は多数の使用目的のために所望さ
れる丸形測定領域に良好に近付けられ得る。本発明の他
の実施態様によれば、検出器は接続板上に固定され、こ
の接続板はその背面で検出器要素のための集積回路を担
持する。検出器自体ならびにこの検出器に付属する回路
、特に検出器要素を選択するためのスイッチおよび増幅
器は単一の接続板上に取付けられる。この接続板は容器
内に調整可能に配置され、それゆえ調整が可能である。 容器からはこの場合には外部への接続のためにケーブル
が導出され得る。
【０００８】
【実施例】次に本発明を図面に示された実施例に基づい
て詳細に説明する。
て詳細に説明する。
【０００９】図１には、Ｘ線発生器２から給電されるＸ
線管１が示されている。患者３にはＸ線が透過する。こ
のようにして空間的に変調されたＸ線はＸ線イメージイ
ンテンシファイア４の入力面に入射し、このＸ線イメー
ジインテンシファイア４はＸ線の強度分布を出力螢光面
で高い輝度を持つ可視像に変換する。この像はテレビジ
ョンカメラ５によって撮影され、テレビジョンセンター
６を介してディスプレイ装置７にて再生される。
線管１が示されている。患者３にはＸ線が透過する。こ
のようにして空間的に変調されたＸ線はＸ線イメージイ
ンテンシファイア４の入力面に入射し、このＸ線イメー
ジインテンシファイア４はＸ線の強度分布を出力螢光面
で高い輝度を持つ可視像に変換する。この像はテレビジ
ョンカメラ５によって撮影され、テレビジョンセンター
６を介してディスプレイ装置７にて再生される。
【００１０】Ｘ線イメージインテンシファイア４の出力
螢光面の可変領域における像の個々のセグメントの平均
像輝度または最大値の一定保持のために半導体検出器８
が現在値発信器として設けられ、この半導体検出器８は
相応する信号を測定変換器１０を介して比較器９の現在
値入力端に供給する。比較器９は目標値入力端１１を有
し、この目標値入力端１１にはＸ線イメージインテンシ
ファイア４の出力螢光面の測定領域における平均像輝度
の目標値に相当する信号が与えられる。現在値と目標値
との差に応じて、Ｘ線発生器２は現在値が目標値に等し
くなるように輝度調節装置１３によって制御される。目
標値の設定のために目標値発信器１２が設けられている
。
螢光面の可変領域における像の個々のセグメントの平均
像輝度または最大値の一定保持のために半導体検出器８
が現在値発信器として設けられ、この半導体検出器８は
相応する信号を測定変換器１０を介して比較器９の現在
値入力端に供給する。比較器９は目標値入力端１１を有
し、この目標値入力端１１にはＸ線イメージインテンシ
ファイア４の出力螢光面の測定領域における平均像輝度
の目標値に相当する信号が与えられる。現在値と目標値
との差に応じて、Ｘ線発生器２は現在値が目標値に等し
くなるように輝度調節装置１３によって制御される。目
標値の設定のために目標値発信器１２が設けられている
。
【００１１】半導体検出器８は、Ｘ線イメージインテン
シファイア４の出力螢光面とテレビジョンカメラ５との
間の光路に配置された半透過鏡１４によって、Ｘ線イメ
ージインテンシファイア４の全出力像またはその一部分
（光学系の焦点距離の差により）が結像可能である面を
持つ。制御装置１５は所望の測定領域に応じて半導体検
出器８の１つの領域または複数の領域を電子的に選択す
る。半導体検出器８は測定領域の位置およびその形状と
大きさとに関して多数の測定領域を選択可能にする。
シファイア４の出力螢光面とテレビジョンカメラ５との
間の光路に配置された半透過鏡１４によって、Ｘ線イメ
ージインテンシファイア４の全出力像またはその一部分
（光学系の焦点距離の差により）が結像可能である面を
持つ。制御装置１５は所望の測定領域に応じて半導体検
出器８の１つの領域または複数の領域を電子的に選択す
る。半導体検出器８は測定領域の位置およびその形状と
大きさとに関して多数の測定領域を選択可能にする。
【００１２】図２には半導体検出器８の一例が拡大して
示されている。この半導体検出器８はマトリクス状に配
置されたホトダイオードエレメント８ａ、８ｂ等から構
成され、このホトダイオードエレメント８ａ、８ｂ等は
ワイヤ１６を介して端子１７に接続されている。ホトダ
イオードエレメント８ａ等は図２によれば種々異なった
形状および大きさを有している。即ち、例えば、ホトダ
イオードエレメント８ａと８ｅ、ホトダイオードエレメ
ント８ｂと８ｄ、ホトダイオードエレメント８ｇと８ｉ
がそれぞれ同じ形状および面積を有している。ホトダイ
オードエレメント８ａ、８ｅはホトダイオードエレメン
ト８ｂ、８ｃ、８ｄよりも大きい。ホトダイオードエレ
メント８ｇ、８ｉ等は三角形状に形成されている。
示されている。この半導体検出器８はマトリクス状に配
置されたホトダイオードエレメント８ａ、８ｂ等から構
成され、このホトダイオードエレメント８ａ、８ｂ等は
ワイヤ１６を介して端子１７に接続されている。ホトダ
イオードエレメント８ａ等は図２によれば種々異なった
形状および大きさを有している。即ち、例えば、ホトダ
イオードエレメント８ａと８ｅ、ホトダイオードエレメ
ント８ｂと８ｄ、ホトダイオードエレメント８ｇと８ｉ
がそれぞれ同じ形状および面積を有している。ホトダイ
オードエレメント８ａ、８ｅはホトダイオードエレメン
ト８ｂ、８ｃ、８ｄよりも大きい。ホトダイオードエレ
メント８ｇ、８ｉ等は三角形状に形成されている。
【００１３】ホトダイオードエレメント８ａ等はその都
度所望された測定領域を形成するために個別に選択可能
である。図３において暗黒に示された部分がホトダイオ
ードエレメントの選択例を示す。暗黒領域は結腸の概略
撮影に適する選択された領域を表している。半導体検出
器８に対するＸ線像の方位に応じて、選択された測定領
域も同様に方向付けされなければならない。それに従っ
て図４ないし図６には選択された領域の種々の例が示さ
れている。図３ないし図６は、暗黒領域をホトダイオー
ドエレメント８ａ等の適当な選択により電子的に例えば
９０゜ステップ回転させ得ることを示している。
度所望された測定領域を形成するために個別に選択可能
である。図３において暗黒に示された部分がホトダイオ
ードエレメントの選択例を示す。暗黒領域は結腸の概略
撮影に適する選択された領域を表している。半導体検出
器８に対するＸ線像の方位に応じて、選択された測定領
域も同様に方向付けされなければならない。それに従っ
て図４ないし図６には選択された領域の種々の例が示さ
れている。図３ないし図６は、暗黒領域をホトダイオー
ドエレメント８ａ等の適当な選択により電子的に例えば
９０゜ステップ回転させ得ることを示している。
【００１４】図７においては中央測定領域が暗く示され
ている。この中央測定領域は丸形測定領域に近似してお
り、三角形状のホトダイオードエレメント８ｇ等によっ
て形成されている。この測定領域は例えば心臓撮影およ
び頭蓋撮影に適する。
ている。この中央測定領域は丸形測定領域に近似してお
り、三角形状のホトダイオードエレメント８ｇ等によっ
て形成されている。この測定領域は例えば心臓撮影およ
び頭蓋撮影に適する。
【００１５】種々異なった形状および大きさを有する別
の測定領域はホトダイオードエレメント８ａ等を適当に
選択することにより選定可能である。
の測定領域はホトダイオードエレメント８ａ等を適当に
選択することにより選定可能である。
【００１６】図８は基板１８上にワイヤ１６、端子１７
を備えた半導体検出器８を示す。基板１８はフレキシブ
ルプリント板２０を備えた接続板１９上に配置されてい
る。接続板１９の背面には集積回路２１が配置され、こ
の集積回路２１はワイヤ２２によって端子１７とフレキ
シブルプリント板２０とに電気的に接続されている。集
積回路２１はホトダイオードエレメント８ａ等を選択す
るためのスイッチならびに増幅器を含んでいる。
を備えた半導体検出器８を示す。基板１８はフレキシブ
ルプリント板２０を備えた接続板１９上に配置されてい
る。接続板１９の背面には集積回路２１が配置され、こ
の集積回路２１はワイヤ２２によって端子１７とフレキ
シブルプリント板２０とに電気的に接続されている。集
積回路２１はホトダイオードエレメント８ａ等を選択す
るためのスイッチならびに増幅器を含んでいる。
【００１７】図８は接続板１９によってコンパクトに構
成することが可能であることを示している。
成することが可能であることを示している。
【００１８】図２によれば、半導体検出器８を構成する
マトリクスの行および列の種々異なった幅に基づいてホ
トダイオードエレメント８ａ等の種々異なった大きさが
得られる。種々異なった形状は例えば三角形状ホトダイ
オードエレメント８ｇ、８ｉ等を形成するためにホトダ
イオードエレメントを細分化することにより得られる。 これらの三角形状ホトダイオードエレメント８ｇ、８ｉ
等は多角形の中央測定領域の選択を可能にする。
マトリクスの行および列の種々異なった幅に基づいてホ
トダイオードエレメント８ａ等の種々異なった大きさが
得られる。種々異なった形状は例えば三角形状ホトダイ
オードエレメント８ｇ、８ｉ等を形成するためにホトダ
イオードエレメントを細分化することにより得られる。 これらの三角形状ホトダイオードエレメント８ｇ、８ｉ
等は多角形の中央測定領域の選択を可能にする。
【００１９】その都度選択されたホトダイオードエレメ
ント８ａ等の信号を個別に評価し、選択された測定領域
において例えばＸ線の直接照射を受けそれゆえ測定品質
を落とすホトダイオードエレメントを自動的に除外する
かもしくは無視するすめに、（ホトダイオードエレメン
ト８ａ等の種々異なった大きさの特性を考慮しながら）
個別測定値を互いに比較することが可能である。さらに
、全てのホトダイオードエレメント８ａ等（即ち、選択
されなかったホトダイオードエレメントも含めて）の信
号を個別評価することによって、Ｘ線の直接照射が検出
され、一次Ｘ線絞り２４（図１）を適当に駆動すること
により減少させられ得るかもしくは完全に除去され得る
。
ント８ａ等の信号を個別に評価し、選択された測定領域
において例えばＸ線の直接照射を受けそれゆえ測定品質
を落とすホトダイオードエレメントを自動的に除外する
かもしくは無視するすめに、（ホトダイオードエレメン
ト８ａ等の種々異なった大きさの特性を考慮しながら）
個別測定値を互いに比較することが可能である。さらに
、全てのホトダイオードエレメント８ａ等（即ち、選択
されなかったホトダイオードエレメントも含めて）の信
号を個別評価することによって、Ｘ線の直接照射が検出
され、一次Ｘ線絞り２４（図１）を適当に駆動すること
により減少させられ得るかもしくは完全に除去され得る
。
【００２０】半導体検出器８はまた直接撮影のためのイ
オン化室の代わりにも使用され得る。半導体検出器８は
この場合には予め定められた線量に到達後Ｘ線管１を自
動的に切離す。この場合にも同様に線量を決定する測定
領域の最適選択が可能である。
オン化室の代わりにも使用され得る。半導体検出器８は
この場合には予め定められた線量に到達後Ｘ線管１を自
動的に切離す。この場合にも同様に線量を決定する測定
領域の最適選択が可能である。
【００２１】図２においてはホトダイオードエレメント
８ａ等の交点に発光ダイオード２３が設けられている。 図２には２個の発光ダイオード２３だけが示されている
。全ての交点にこのような発光ダイオードを設けること
ができる。この発光ダイオードは制御装置１５（図１）
によって駆動され、その都度選択された測定領域を光学
的にマーキングする。テレビジョンカメラ５によって、
発光ダイオード２３から放出された光が受信され、それ
ゆえその都度選択された測定領域がディスプレイ装置７
のＸ線像に光学的に表示される。
８ａ等の交点に発光ダイオード２３が設けられている。 図２には２個の発光ダイオード２３だけが示されている
。全ての交点にこのような発光ダイオードを設けること
ができる。この発光ダイオードは制御装置１５（図１）
によって駆動され、その都度選択された測定領域を光学
的にマーキングする。テレビジョンカメラ５によって、
発光ダイオード２３から放出された光が受信され、それ
ゆえその都度選択された測定領域がディスプレイ装置７
のＸ線像に光学的に表示される。
【００２２】各ホトダイオードエレメント８ａ等の信号
は同時に評価され得る。その際、この信号の算術的平均
値または最大値が選択的に形成され得る。その都度撮影
された器官に応じてこの信号の重み付けを行うこともで
きる。
は同時に評価され得る。その際、この信号の算術的平均
値または最大値が選択的に形成され得る。その都度撮影
された器官に応じてこの信号の重み付けを行うこともで
きる。
【００２３】例えば図２においては分離線の形態にて示
されているホトダイオードエレメント８ａ等の間の光不
感応領域には金属膜を設けることができる。この金属膜
は光照射の際ホトダイオードエレメント８ａ等の境界、
従って組込まれた検出器の現在位置をディスプレイ装置
７上に表示可能である。
されているホトダイオードエレメント８ａ等の間の光不
感応領域には金属膜を設けることができる。この金属膜
は光照射の際ホトダイオードエレメント８ａ等の境界、
従って組込まれた検出器の現在位置をディスプレイ装置
７上に表示可能である。
【００２４】ホトダイオードエレメント８ａ等の大きさ
および形状が種々異なっているにも拘わらず、このホト
ダイオードエレメント８ａ等を中心部に対して点対称に
配置することによって、任意に選択された測定領域を９
０゜回転させることができる。これによって、検出器の
組込み位置および患者の位置決めに依存しないようにな
る。
および形状が種々異なっているにも拘わらず、このホト
ダイオードエレメント８ａ等を中心部に対して点対称に
配置することによって、任意に選択された測定領域を９
０゜回転させることができる。これによって、検出器の
組込み位置および患者の位置決めに依存しないようにな
る。
【図１】本発明の思想を説明するためのＸ線診断装置を
示す概略図。
示す概略図。
【図２】本発明による検出器の一実施例を示す平面図。
【図３】図２に示された検出器における測定領域の形態
の１つを示す概略図。
の１つを示す概略図。
【図４】図２に示された検出器における測定領域の形態
の他の１つを示す概略図。
の他の１つを示す概略図。
【図５】図２に示された検出器における測定領域の形態
の別の１つを示す概略図。
の別の１つを示す概略図。
【図６】図２に示された検出器における測定領域の形態
のさらに別の１つを示す概略図。
のさらに別の１つを示す概略図。
【図７】図２に示された検出器における測定領域の形態
のさらに異なる別の１つを示す概略図。
のさらに異なる別の１つを示す概略図。
【図８】回路に接続された図２の検出器を示す概略図。
１ Ｘ線管
２ Ｘ線発生器
３ 患者
４ Ｘ線イメージインテンシファイア５ テレビジ
ョンカメラ ６ テレビジョンセンター ７ ディスプレイ装置 ８ 半導体検出器 ８ａ〜８ｉ ホトダイオードエレメント９ 比較器 １０ 測定変換器 １１ 目標値入力端 １２ 目標値発信器 １３ 輝度調節装置 １４ 半透過鏡 １５ 制御装置 １６ ワイヤ １７ 端子 １８ 基板 １９ 接続板 ２０ プリント板 ２１ 集積回路 ２２ ワイヤ ２３ 発光ダイオード ２４ 一次Ｘ線絞り
ョンカメラ ６ テレビジョンセンター ７ ディスプレイ装置 ８ 半導体検出器 ８ａ〜８ｉ ホトダイオードエレメント９ 比較器 １０ 測定変換器 １１ 目標値入力端 １２ 目標値発信器 １３ 輝度調節装置 １４ 半透過鏡 １５ 制御装置 １６ ワイヤ １７ 端子 １８ 基板 １９ 接続板 ２０ プリント板 ２１ 集積回路 ２２ ワイヤ ２３ 発光ダイオード ２４ 一次Ｘ線絞り
Claims (11)
- 【請求項１】 マトリクス状に配置されて所望の組合
わせにて選択可能である検出器要素（８ａ等）によって
、選択可能な測定領域におけるＸ線イメージインテンシ
ファイア（４）の出力螢光面上の像輝度を検出するため
に、検出器要素（８ａ等）は種々異なった形状および／
または大きさを有することを特徴とするＸ線イメージイ
ンテンシファイアの出力螢光面上の像輝度検出器。 - 【請求項２】 中心部の周りにグループ分けされた検
出器要素（８ｇ、８ｉ等）が、多角形の中央測定領域を
選択可能であるように、三角形状に形成されることを特
徴とする請求項１記載の検出器。 - 【請求項３】 マトリクスを形成する行および列の幅
が種々異なっていることを特徴とする請求項１または２
記載の検出器。 - 【請求項４】 検出器（８）は接続板（１８）上に固
定され、この接続板（１８）はその背面で検出器要素（
８ａ等）のための集積回路（２１）を担持することを特
徴とする請求項１ないし３の１つに記載の検出器。 - 【請求項５】 検出器要素（８ａ等）の交点に発光ダ
イオード（２３）が設けられ、この発光ダイオード（２
３）は、その都度選択された測定領域がＸ線像内に結像
するように駆動されることを特徴とする請求項１ないし
４の１つに記載の検出器。 - 【請求項６】 検出器要素（８ａ等）を構成する各ホ
トダイオードエレメントの信号の評価をを同時に行うこ
とが可能であることを特徴とする請求項１ないし４の１
つに記載の検出器。 - 【請求項７】 Ｘ線の直接照射を減少させるために一
次Ｘ線絞り（２４）が制御されることを特徴とする請求
項６記載の検出器。 - 【請求項８】 選択された検出器要素（８ａ等）の信
号の算術的平均値、または個々の検出器要素（８ａ等）
の信号の最大値、または一群の検出器要素（８ａ等）の
信号の最大値が選択的に形成されることを特徴とする請
求項６記載の検出器。 - 【請求項９】 その都度の器官に応じて個々の検出器
要素（８ａ等）の信号の重み付けが可能であることを特
徴とする請求項６または８記載の検出器。 - 【請求項１０】 検出器要素（８ａ等）の間の光不感
応領域に金属膜が設けられ、この金属膜は光照射の際検
出器要素（８ａ等）の境界、従って組込まれた検出器（
８）の現在位置をディスプレイ装置（７）上に表示可能
であることを特徴とする請求項１ないし４の１つに記載
の検出器。 - 【請求項１１】 検出器要素（８ａ等）の大きさおよ
び形状が種々異なっているにも拘わらず、検出器要素（
８ａ等）を中心部に対して点対称に配置することによっ
て、任意に選択された測定領域の形状を９０゜回転させ
得ることを特徴とする請求項１ないし１０の１つに記載
の検出器。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| EP90119637A EP0480096B1 (de) | 1990-10-12 | 1990-10-12 | Röntgendiagnostikanlage mit einem Röntgenbildverstärker und einem Detektor für die Bildhelligkeit auf dessen Ausgangsschirm |
| AT90119637.8 | 1990-10-12 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH04263837A true JPH04263837A (ja) | 1992-09-18 |
| JP3188293B2 JP3188293B2 (ja) | 2001-07-16 |
Family
ID=8204613
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP29074691A Expired - Lifetime JP3188293B2 (ja) | 1990-10-12 | 1991-10-09 | Ｘ線検査装置 |
Country Status (4)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US5164583A (ja) |
| EP (1) | EP0480096B1 (ja) |
| JP (1) | JP3188293B2 (ja) |
| DE (1) | DE59006446D1 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2021520029A (ja) * | 2018-04-20 | 2021-08-12 | エーエスエムエル ネザーランズ ビー．ブイ． | 広アクティブ領域高速検出器のピクセル形状及びセクション形状の選択 |
Families Citing this family (16)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH06153077A (ja) * | 1992-11-10 | 1994-05-31 | Hitachi Medical Corp | Ｘ線ｔｖカメラ装置 |
| DE4300829C2 (de) * | 1993-01-14 | 1996-08-29 | Siemens Ag | Röntgendiagnostikeinrichtung |
| US5461658A (en) * | 1993-05-21 | 1995-10-24 | U.S. Philips Corporation | X-ray examination apparatus |
| US5528656A (en) * | 1994-09-19 | 1996-06-18 | Annis; Martin | Method and apparatus for sampling an object |
| JPH10511222A (ja) * | 1995-10-10 | 1998-10-27 | フィリップス エレクトロニクス エヌ ベー | 露光制御システムを有するｘ線検査装置 |
| US5872602A (en) * | 1995-12-13 | 1999-02-16 | Johnson; Robert E. | Fluoroscopic imaging system with image enhancement apparatus and method |
| US5867554A (en) * | 1996-06-20 | 1999-02-02 | Siemens Aktiengesellschaft | Spiral scan computed tomography apparatus having a modular surface detector for radiation |
| DE19702739A1 (de) * | 1997-01-27 | 1998-07-30 | Philips Patentverwaltung | Röntgeneinrichtung mit einer Primärblendenanordnung |
| FR2760528B1 (fr) * | 1997-03-05 | 1999-05-21 | Framatome Sa | Procede et dispositif d'examen photothermique d'un materiau |
| US6546075B1 (en) | 1999-05-10 | 2003-04-08 | Epsirad Inc. | Energy sensitive detection systems |
| US6795526B2 (en) | 2002-03-04 | 2004-09-21 | Ge Medical Systems Global Technology Co., Llc | Automatic exposure control for a digital image acquisition system |
| US7006598B2 (en) * | 2002-08-09 | 2006-02-28 | Canon Kabushiki Kaisha | Imaging method and apparatus with exposure control |
| US7148487B2 (en) | 2002-08-27 | 2006-12-12 | Canon Kabushiki Kaisha | Image sensing apparatus and method using radiation |
| WO2006014764A2 (en) | 2004-07-20 | 2006-02-09 | Medtronic, Inc. | Implantable cerebral spinal fluid drainage device and method of draining cerebral spinal fluid |
| WO2007148262A1 (en) * | 2006-06-22 | 2007-12-27 | Philips Intellectual Property & Standards Gmbh | X-ray image apparatus and method of imaging an object under examination |
| KR101911314B1 (ko) * | 2012-03-30 | 2018-10-24 | 삼성전자주식회사 | 엑스선 검출기 |
Family Cites Families (9)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4414682A (en) * | 1980-11-17 | 1983-11-08 | American Science And Engineering, Inc. | Penetrating radiant energy imaging system with multiple resolution |
| DE3225061A1 (de) * | 1982-07-05 | 1984-01-05 | Siemens AG, 1000 Berlin und 8000 München | Roentgendiagnostikeinrichtung |
| DE3402888A1 (de) * | 1984-01-27 | 1985-08-01 | Siemens AG, 1000 Berlin und 8000 München | Roentgendiagnostikanlage |
| NL8502569A (nl) * | 1985-09-20 | 1987-04-16 | Philips Nv | Roentgenonderzoekapparaat met een locaal opgedeelde hulpdetector. |
| JP2606207B2 (ja) * | 1987-03-25 | 1997-04-30 | 株式会社島津製作所 | 画像撮影装置 |
| DE8714009U1 (de) * | 1987-10-19 | 1989-02-16 | Siemens AG, 1000 Berlin und 8000 München | Röntgendiagnostikvorrichtung |
| DE3825703A1 (de) * | 1988-07-28 | 1990-02-01 | Siemens Ag | Roentgendiagnostikeinrichtung mit rechteckfoermiger detektoranordnung |
| DE3877960D1 (de) * | 1988-10-05 | 1993-03-11 | Siemens Ag | Roentgendiagnostikanlage mit einem detektor fuer die mittlere bildhelligkeit. |
| JP2890553B2 (ja) * | 1989-11-24 | 1999-05-17 | 株式会社島津製作所 | Ｘ線像撮像装置 |
-
1990
- 1990-10-12 EP EP90119637A patent/EP0480096B1/de not_active Expired - Lifetime
- 1990-10-12 DE DE59006446T patent/DE59006446D1/de not_active Expired - Fee Related
-
1991
- 1991-09-03 US US07/754,073 patent/US5164583A/en not_active Expired - Lifetime
- 1991-10-09 JP JP29074691A patent/JP3188293B2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2021520029A (ja) * | 2018-04-20 | 2021-08-12 | エーエスエムエル ネザーランズ ビー．ブイ． | 広アクティブ領域高速検出器のピクセル形状及びセクション形状の選択 |
| US11594395B2 (en) | 2018-04-20 | 2023-02-28 | Asml Netherlands B.V. | Pixel shape and section shape selection for large active area high speed detector |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| EP0480096B1 (de) | 1994-07-13 |
| EP0480096A1 (de) | 1992-04-15 |
| US5164583A (en) | 1992-11-17 |
| DE59006446D1 (de) | 1994-08-18 |
| JP3188293B2 (ja) | 2001-07-16 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JP3188293B2 (ja) | Ｘ線検査装置 | |
| US4517594A (en) | X-Ray diagnostic installation | |
| JP2786441B2 (ja) | Ｘ線検査装置 | |
| US5751783A (en) | Detector for automatic exposure control on an x-ray imaging system | |
| JP3197560B2 (ja) | 画像装置のダイナミックレンジを改善するための方法 | |
| KR100402194B1 (ko) | 고속응답교정장치를구비한열감지시스템및균일성보정적용방법 | |
| EP0775414B1 (en) | Apparatus and method for converting an optical image of an object into a digital representation | |
| JPH05505253A (ja) | 改良型測光用多フォトダイオードアレイ | |
| US6635879B2 (en) | Apparatus for and method of detecting radiation source | |
| JPH087841Y2 (ja) | Ｘ線診断装置 | |
| EP0754315B1 (en) | Apparatus for making x-ray images | |
| JP2001311778A (ja) | Ｘ線診断装置 | |
| US3912936A (en) | X-ray image intensifier system | |
| CA1077167A (en) | Infrared line scanning instrument | |
| JPH05269121A (ja) | 輝度制御を含むｘ線画像装置 | |
| US5155753A (en) | X-ray diagnostics installation which permits adjustment of the position or size of the dominant region of the image | |
| US5144646A (en) | X-ray diagnotics installation with brightness controlled by a dominant region of the image | |
| JP2000111649A (ja) | 放射線検出システム | |
| GB2143101A (en) | Enhanced dynamic range image converter | |
| JP2769405B2 (ja) | 液晶表示パネルの二次元配光分布測定装置 | |
| JPS6224748B2 (ja) | ||
| US3617752A (en) | Light collection and detection apparatus comprising plural light sensors so spaced that the composite response is independent of source position | |
| JP2002512764A (ja) | 露出制御手段を含むｘ線検査装置 | |
| US6901134B2 (en) | Arrangement comprising electrical elements | |
| JP2000031447A (ja) | Ｘ線画像センサ |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20010405 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090511 Year of fee payment: 8 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100511 Year of fee payment: 9 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100511 Year of fee payment: 9 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110511 Year of fee payment: 10 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110511 Year of fee payment: 10 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120511 Year of fee payment: 11 |
|
| EXPY | Cancellation because of completion of term | ||
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120511 Year of fee payment: 11 |