JPH0426422B2 - - Google Patents
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- Publication number
- JPH0426422B2 JPH0426422B2 JP59163201A JP16320184A JPH0426422B2 JP H0426422 B2 JPH0426422 B2 JP H0426422B2 JP 59163201 A JP59163201 A JP 59163201A JP 16320184 A JP16320184 A JP 16320184A JP H0426422 B2 JPH0426422 B2 JP H0426422B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- filter
- light
- measured
- compensation
- dirt
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N15/00—Investigating characteristics of particles; Investigating permeability, pore-volume or surface-area of porous materials
- G01N15/06—Investigating concentration of particle suspensions
- G01N15/0606—Investigating concentration of particle suspensions by collecting particles on a support
- G01N15/0618—Investigating concentration of particle suspensions by collecting particles on a support of the filter type
Landscapes
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Dispersion Chemistry (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の属する分野〕
この発明は空気中より微小塵埃を捕集するエヤ
フイルタの汚れ具合を検知する装置に関する。
フイルタの汚れ具合を検知する装置に関する。
従来エヤフイルタの汚れ具合はエヤフイルタの
目詰まりからエヤフイルタ面前後に圧力差が発生
するため、この圧力損失を測定する方法が一般的
であつた。近年、光により汚れ具合を検知する方
法がいくつか提案かれている。例えば特開昭57−
42480などの公知例があるが、これらはいずれも、
エヤフイルタの片側面に発光部を設け、他の片側
面に受光部を設け光がフイルタを透過するように
して、透過した光の量から汚れ具合を測定する光
透過性によるものである。また、発光部受光部は
フイルタ側近に取付られた固定式の検知装置であ
る。この検知装置ではフイルタが小さい場合は精
度良く測定できるが、フイルタの両面側に発光素
子、受光素子又はミラーを設置できない場合は採
用できず、また、フイルタが大きかつたり、多量
にある場合、この検知装置を大量に設置しなけれ
ばならない欠点がある。
目詰まりからエヤフイルタ面前後に圧力差が発生
するため、この圧力損失を測定する方法が一般的
であつた。近年、光により汚れ具合を検知する方
法がいくつか提案かれている。例えば特開昭57−
42480などの公知例があるが、これらはいずれも、
エヤフイルタの片側面に発光部を設け、他の片側
面に受光部を設け光がフイルタを透過するように
して、透過した光の量から汚れ具合を測定する光
透過性によるものである。また、発光部受光部は
フイルタ側近に取付られた固定式の検知装置であ
る。この検知装置ではフイルタが小さい場合は精
度良く測定できるが、フイルタの両面側に発光素
子、受光素子又はミラーを設置できない場合は採
用できず、また、フイルタが大きかつたり、多量
にある場合、この検知装置を大量に設置しなけれ
ばならない欠点がある。
また、フイルタ面の両側に発光及び受光素子、
ミラーを置いて検知装置を移動しつつ、任意のフ
イルタ面の汚れを測定する場合、エヤフイルタ前
後の気密を維持しながら、これを行なうには大が
かりな装置となつてしまう欠点がある。
ミラーを置いて検知装置を移動しつつ、任意のフ
イルタ面の汚れを測定する場合、エヤフイルタ前
後の気密を維持しながら、これを行なうには大が
かりな装置となつてしまう欠点がある。
この発明の目的は前記従来技術の欠点を解消
し、光をエヤフイルタの透過とせずに、エヤフイ
ルタ面からの散乱光とし、これを測定し、エヤフ
イルタの片側面から汚れ具合を検知しかつ移動す
ることができる装置を提供するにある。
し、光をエヤフイルタの透過とせずに、エヤフイ
ルタ面からの散乱光とし、これを測定し、エヤフ
イルタの片側面から汚れ具合を検知しかつ移動す
ることができる装置を提供するにある。
この発明はエヤフイルタのガラス繊維網に空気
中の微小塵埃が附着捕集することによりガラス繊
維の反射率が変化することを利用し、エヤフィル
タの一片側のみからしか汚れを検知することがで
きない場合に、エヤフイルタの片側から光を当て
ガラス繊維面からの反射光をとらえるように、ま
た精度よく反射光をとらえるよう被測定エヤフイ
ルタと同一の製作表面をもつ小型フイルタを補償
用に用いるように構成したものである。
中の微小塵埃が附着捕集することによりガラス繊
維の反射率が変化することを利用し、エヤフィル
タの一片側のみからしか汚れを検知することがで
きない場合に、エヤフイルタの片側から光を当て
ガラス繊維面からの反射光をとらえるように、ま
た精度よく反射光をとらえるよう被測定エヤフイ
ルタと同一の製作表面をもつ小型フイルタを補償
用に用いるように構成したものである。
すなわち、本発明に係るエヤフイルタの汚れ検
出装置は、被測定エヤフイルタに光を照射し、受
光エネルギを電流電圧に変換してフイルタの汚れ
を検知する装置において、前記被測定フイルタに
向けられる発光素子および受光素子からなる測定
素子、前記被測定フイルタと等価の補償フイル
タ、および当該補償フイルタに向けられる発光素
子および受光素子からなる補償素子とを前記被測
定エヤフイルタの片側面に位置して移動可能な検
出部に搭載してなり、前記測定素子および補償素
子からの検出信号を同時に取込みつつそれらの比
を演算する演算手段を有し、この演算手段による
信号比により被測定フイルタの汚れ判別表示させ
る手段を備えたものである。
出装置は、被測定エヤフイルタに光を照射し、受
光エネルギを電流電圧に変換してフイルタの汚れ
を検知する装置において、前記被測定フイルタに
向けられる発光素子および受光素子からなる測定
素子、前記被測定フイルタと等価の補償フイル
タ、および当該補償フイルタに向けられる発光素
子および受光素子からなる補償素子とを前記被測
定エヤフイルタの片側面に位置して移動可能な検
出部に搭載してなり、前記測定素子および補償素
子からの検出信号を同時に取込みつつそれらの比
を演算する演算手段を有し、この演算手段による
信号比により被測定フイルタの汚れ判別表示させ
る手段を備えたものである。
かかる構成によれば、測定対象フイルタの反射
光はその汚れに依存するので、汚れの程度にした
がつて散乱光が多くなつて受光素子への受光光量
が減少する。一方、補償フイルタは清浄な状態の
ものを用いて同時に補償素子によつて反射光を受
光させることができ、この検出信号は汚れのない
状態に一致する。発明装置では、検出部を被測定
フイルタに沿つて移動させ、同一の環境で被測定
フイルタと補償フイルタからの反射光を受光さ
せ、検出信号の比を算出するようにしている。信
号比は連続的に検出され、汚れの程度に応じて信
号比の値が変化するので、容易に汚れを判定する
ことができる。
光はその汚れに依存するので、汚れの程度にした
がつて散乱光が多くなつて受光素子への受光光量
が減少する。一方、補償フイルタは清浄な状態の
ものを用いて同時に補償素子によつて反射光を受
光させることができ、この検出信号は汚れのない
状態に一致する。発明装置では、検出部を被測定
フイルタに沿つて移動させ、同一の環境で被測定
フイルタと補償フイルタからの反射光を受光さ
せ、検出信号の比を算出するようにしている。信
号比は連続的に検出され、汚れの程度に応じて信
号比の値が変化するので、容易に汚れを判定する
ことができる。
第１図は本発明の１実施例の系統図で被測定エ
ヤフイルタ１から一定距離面をガイド２１に沿つ
て移動する発光素子３と受光素子５が１体となつ
た検出端２２と補償フイルタ２と発光素子４、受
光素子６をもつ補償部９、受光素子から変換した
電圧を増幅する増幅器８、発光素子へ光を供給す
る光発生源７と光フアイバー１０をそれぞれ内蔵
し、移動手段１８をもつ検出部１１からなる。こ
の検出部からのアナログ電圧信号を、信号の伝達
距離により設ける増幅器１３とデジタル変換器１
４によりデジタル化し演算器１５により例えば補
償電圧Voと測定電圧Viの比ri（＝Vi／Vo）を計
算し記憶装置１６に記憶しておく。測定終了後、
記憶された値は表示器によりブラウン管１９また
はリスト２０に、例えば値の小さな順に記号を変
える等して、汚れの差異を表示する。また測定フ
イルムの金属面を検知した場合riは極端に大きな
値となり、異常値として判定することができ、こ
れにより測定点の移動を指示したり、測定値を削
除することもできる。検出端２２、補償部９の受
光、発光素子はフイルタ面に対し各々入射角、反
射角がほぼ等しくなる方向に振動によりズレが発
生しないように固定する。
ヤフイルタ１から一定距離面をガイド２１に沿つ
て移動する発光素子３と受光素子５が１体となつ
た検出端２２と補償フイルタ２と発光素子４、受
光素子６をもつ補償部９、受光素子から変換した
電圧を増幅する増幅器８、発光素子へ光を供給す
る光発生源７と光フアイバー１０をそれぞれ内蔵
し、移動手段１８をもつ検出部１１からなる。こ
の検出部からのアナログ電圧信号を、信号の伝達
距離により設ける増幅器１３とデジタル変換器１
４によりデジタル化し演算器１５により例えば補
償電圧Voと測定電圧Viの比ri（＝Vi／Vo）を計
算し記憶装置１６に記憶しておく。測定終了後、
記憶された値は表示器によりブラウン管１９また
はリスト２０に、例えば値の小さな順に記号を変
える等して、汚れの差異を表示する。また測定フ
イルムの金属面を検知した場合riは極端に大きな
値となり、異常値として判定することができ、こ
れにより測定点の移動を指示したり、測定値を削
除することもできる。検出端２２、補償部９の受
光、発光素子はフイルタ面に対し各々入射角、反
射角がほぼ等しくなる方向に振動によりズレが発
生しないように固定する。
第１図では検出部１１に移動手段１８を設けガ
イド２１上を移動して順次フイルタの汚れを測定
するようにしているが検出部１１を特開昭57−
10498に公知したフイルタ自動交換装置に積載し
て測定してもよい。
イド２１上を移動して順次フイルタの汚れを測定
するようにしているが検出部１１を特開昭57−
10498に公知したフイルタ自動交換装置に積載し
て測定してもよい。
測定及び測定結果の信号を自動交換機の起動信
号としたり交換する順序を決める事が可能とな
り、多量のフイルタがある設備では全てを一度に
交換せずに汚れ具合の進んだ順に交換する事がで
きる。
号としたり交換する順序を決める事が可能とな
り、多量のフイルタがある設備では全てを一度に
交換せずに汚れ具合の進んだ順に交換する事がで
きる。
本実施例によればエアフイルタにより隔離され
ている２つの空間で、反対側面に検知器、センサ
ーを設けることなく、片側面からのみ汚れを検知
することができ、フイルタ隔壁に余分な貫通穴を
必要とせず、汚れを空気がバイパスする心配もな
い。
ている２つの空間で、反対側面に検知器、センサ
ーを設けることなく、片側面からのみ汚れを検知
することができ、フイルタ隔壁に余分な貫通穴を
必要とせず、汚れを空気がバイパスする心配もな
い。
エヤフイルタが複数個ある場合、片側面を本発
明の検出装置を移動して順次汚れを測ることが可
能となる。
明の検出装置を移動して順次汚れを測ることが可
能となる。
また補償フイルタを測定開始する前に測定フイ
ルタと同一製作状態のものに変換しておくことに
よりフイルタの材質、構造の相違による測定精度
の変化を防止することができる。
ルタと同一製作状態のものに変換しておくことに
よりフイルタの材質、構造の相違による測定精度
の変化を防止することができる。
［発明の効果］
以上説明したように、本発明は、被測定エヤフ
イルタに光を照射し、受光エネルギを電流電圧に
変換してフイルタの汚れを検知する装置におい
て、前記被測定フイルタに向けられる発光素子お
よび受光素子からなる測定素子、前記被測定フイ
ルタと等価の補償フイルタ、および当該補償フイ
ルタに向けられる発光素子および受光素子からな
る補償素子とを前記被測定エヤフイルタの片側面
に位置して移動可能な検出部に搭載してなり、前
記測定素子および補償素子からの検出信号を同時
に取込みつつそれらの比を演算する演算手段を有
し、この演算手段による信号比により比測定フイ
ルタの汚れを判別表示させる手段を備えた構成と
したので、被測定フイルタと同一環境にて汚れの
程度に応じて変化する被測定フイルタからの散乱
光を受光すると同時に、汚れない補償フイルタか
らの散乱光を受光して両者の検出装置を取込み、
連続的に両信号の比を算出して汚れ判定を行うこ
とができるので、広範囲の比測定フイルタを移動
しつつ即時的にかつ連続的に汚れ判定ができると
いう優れた効果が得られる。
イルタに光を照射し、受光エネルギを電流電圧に
変換してフイルタの汚れを検知する装置におい
て、前記被測定フイルタに向けられる発光素子お
よび受光素子からなる測定素子、前記被測定フイ
ルタと等価の補償フイルタ、および当該補償フイ
ルタに向けられる発光素子および受光素子からな
る補償素子とを前記被測定エヤフイルタの片側面
に位置して移動可能な検出部に搭載してなり、前
記測定素子および補償素子からの検出信号を同時
に取込みつつそれらの比を演算する演算手段を有
し、この演算手段による信号比により比測定フイ
ルタの汚れを判別表示させる手段を備えた構成と
したので、被測定フイルタと同一環境にて汚れの
程度に応じて変化する被測定フイルタからの散乱
光を受光すると同時に、汚れない補償フイルタか
らの散乱光を受光して両者の検出装置を取込み、
連続的に両信号の比を算出して汚れ判定を行うこ
とができるので、広範囲の比測定フイルタを移動
しつつ即時的にかつ連続的に汚れ判定ができると
いう優れた効果が得られる。
第１図は本発明に係るエヤフイルタ汚れ検出装
置の１実施例の系統図である。 １……被測定エヤフイルタ，２……補償用小型
フイルタ，３……発光素子，４……発光素子，５
……受光素子，６……受光素子，７……光発生
源，８……増幅器，９……補償部，１０……光フ
アイバー，１１……検出部，１２……信号線，１
３……増幅器，１４……デジタル変換器、１５…
…演算器，１６……記憶装置，１７……表示器，
１８……移動手段，１９……ブラウン管，２０…
…プリンタ，２１……ガイド，２２……検出端。
置の１実施例の系統図である。 １……被測定エヤフイルタ，２……補償用小型
フイルタ，３……発光素子，４……発光素子，５
……受光素子，６……受光素子，７……光発生
源，８……増幅器，９……補償部，１０……光フ
アイバー，１１……検出部，１２……信号線，１
３……増幅器，１４……デジタル変換器、１５…
…演算器，１６……記憶装置，１７……表示器，
１８……移動手段，１９……ブラウン管，２０…
…プリンタ，２１……ガイド，２２……検出端。
Claims (1)
- １ 被測定エヤフイルタに光を照射し、受光エネ
ルギを電流電圧に変換してフイルタの汚れを検知
する装置において、前記被測定フイルタに向けら
れる発光素子および受光素子からなる測定素子、
前記被測定フイルタと等価の補償フイルタ、およ
び当該補償フイルタに向けられる発光素子および
受光素子からなる補償素子とを前記被測定エヤフ
イルタの片側面に位置して移動可能な検出部に搭
載してなり、前記測定素子および補償素子からの
検出信号を同時に取込みつつそれらの比を演算す
る演算手段を有し、この演算手段による信号比に
より比測定フイルタの汚れ判別表示させる手段を
備えたことを特徴とするエヤフイルタの汚れ検出
装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP16320184A JPS6140545A (ja) | 1984-07-31 | 1984-07-31 | エヤフイルタ汚れ検出装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP16320184A JPS6140545A (ja) | 1984-07-31 | 1984-07-31 | エヤフイルタ汚れ検出装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6140545A JPS6140545A (ja) | 1986-02-26 |
| JPH0426422B2 true JPH0426422B2 (ja) | 1992-05-07 |
Family
ID=15769200
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP16320184A Granted JPS6140545A (ja) | 1984-07-31 | 1984-07-31 | エヤフイルタ汚れ検出装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6140545A (ja) |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH02253141A (ja) * | 1989-03-27 | 1990-10-11 | Matsushita Electric Works Ltd | 空気清浄器の除塵フィルタの汚れ度検出装置 |
| CN104422641A (zh) * | 2013-09-02 | 2015-03-18 | 张卿 | 气体颗粒物测量仪 |
Family Cites Families (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5126081A (ja) * | 1974-08-28 | 1976-03-03 | Omron Tateisi Electronics Co | Dakudokei |
| JPS5531902A (en) * | 1978-08-29 | 1980-03-06 | Shigeru Tsubono | Measuring unit for floor dirt |
-
1984
- 1984-07-31 JP JP16320184A patent/JPS6140545A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS6140545A (ja) | 1986-02-26 |
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