JPH04269012A - サンプリング位相比較器 - Google Patents
サンプリング位相比較器Info
- Publication number
- JPH04269012A JPH04269012A JP3050245A JP5024591A JPH04269012A JP H04269012 A JPH04269012 A JP H04269012A JP 3050245 A JP3050245 A JP 3050245A JP 5024591 A JP5024591 A JP 5024591A JP H04269012 A JPH04269012 A JP H04269012A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- microwave input
- phase comparator
- sampling phase
- signal
- field effect
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 238000005070 sampling Methods 0.000 title claims abstract description 30
- 230000005669 field effect Effects 0.000 claims abstract description 11
- 238000011084 recovery Methods 0.000 claims description 8
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 3
- 230000002411 adverse Effects 0.000 description 1
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 230000009022 nonlinear effect Effects 0.000 description 1
- 230000010355 oscillation Effects 0.000 description 1
- 230000006641 stabilisation Effects 0.000 description 1
- 238000011105 stabilization Methods 0.000 description 1
Landscapes
- Stabilization Of Oscillater, Synchronisation, Frequency Synthesizers (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、サンプリング位相比較
器に関し、特に、ＶＨＦ帯の基準信号とマイクロ波帯の
入力信号とを位相比較してこれらの位相差に対応した信
号を出力するサンプリング位相比較器に関する。
器に関し、特に、ＶＨＦ帯の基準信号とマイクロ波帯の
入力信号とを位相比較してこれらの位相差に対応した信
号を出力するサンプリング位相比較器に関する。
【０００２】
【従来の技術】従来、この種のサンプリング位相比較器
として、図２に示すものが知られている。
として、図２に示すものが知られている。
【０００３】同図において、１，２はＶＨＦ帯の基準信
号入力端、３はマイクロ波入力端、４，５，６は位相比
較出力端、７はステップリカバリダイオード、８，９は
ショットキーダイオードである。
号入力端、３はマイクロ波入力端、４，５，６は位相比
較出力端、７はステップリカバリダイオード、８，９は
ショットキーダイオードである。
【０００４】上記構成において、ステップリカバリダイ
オード７の両端に基準信号入力端１，２からＶＨＦ帯の
基準周波数信号を印加することにより、同ステップリカ
バリダイオード７はサンプリングクロックを発生する。 このサンプリングクロックをショットキーダイオード８
，９の一端に印加するとともに同ショットキーダイオー
ド８，９の他端にマイクロ波入力端３からマイクロ波入
力信号を印加すると、同ショットキーダイオード８，９
が同マイクロ波入力信号を検波し、位相比較出力端４，
５，６よりこれらの位相差に対応した信号を出力する。
オード７の両端に基準信号入力端１，２からＶＨＦ帯の
基準周波数信号を印加することにより、同ステップリカ
バリダイオード７はサンプリングクロックを発生する。 このサンプリングクロックをショットキーダイオード８
，９の一端に印加するとともに同ショットキーダイオー
ド８，９の他端にマイクロ波入力端３からマイクロ波入
力信号を印加すると、同ショットキーダイオード８，９
が同マイクロ波入力信号を検波し、位相比較出力端４，
５，６よりこれらの位相差に対応した信号を出力する。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】上述した従来のサンプ
リング位相比較器においては、サンプリング位相比較の
動作原理上、内部で種々の不要波を発生し、発生した不
要波がマイクロ波入力端から漏出するという課題があっ
た。
リング位相比較器においては、サンプリング位相比較の
動作原理上、内部で種々の不要波を発生し、発生した不
要波がマイクロ波入力端から漏出するという課題があっ
た。
【０００６】本発明は、上記課題にかんがみてなされた
もので、サンプリング位相比較においてできる限り不要
波を漏出させないようにすることが可能なサンプリング
位相比較器の提供を目的とする。
もので、サンプリング位相比較においてできる限り不要
波を漏出させないようにすることが可能なサンプリング
位相比較器の提供を目的とする。
【０００７】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
、請求項１にかかる発明は、ステップリカバリダイオー
ドの両端にＶＨＦ帯の基準周波数信号を印加してサンプ
リングクロックを発生し、同サンプリングクロックをシ
ョットキーダイオードの一端に印加するとともに同ショ
ットキーダイオードの他端にマイクロ波入力信号を印加
して同マイクロ波入力信号を検波することにより、同マ
イクロ波入力信号の位相を検出するサンプリング位相比
較器において、上記マイクロ波入力信号を増幅して上記
ショットキーダイオードの他端に入力せしめる増幅器を
備えた構成としてある。
、請求項１にかかる発明は、ステップリカバリダイオー
ドの両端にＶＨＦ帯の基準周波数信号を印加してサンプ
リングクロックを発生し、同サンプリングクロックをシ
ョットキーダイオードの一端に印加するとともに同ショ
ットキーダイオードの他端にマイクロ波入力信号を印加
して同マイクロ波入力信号を検波することにより、同マ
イクロ波入力信号の位相を検出するサンプリング位相比
較器において、上記マイクロ波入力信号を増幅して上記
ショットキーダイオードの他端に入力せしめる増幅器を
備えた構成としてある。
【０００８】また、請求項２にかかる発明は、請求項１
に記載のサンプリング位相比較器において、上記増幅器
を、電界効果トランジスタで構成してある。
に記載のサンプリング位相比較器において、上記増幅器
を、電界効果トランジスタで構成してある。
【０００９】
【作用】上記のように構成した請求項１にかかる発明に
おいては、ステップリカバリダイオードの両端にＶＨＦ
帯の基準周波数信号を印加して発生させたサンプリング
クロックをショットキーダイオードの一端に印加すると
ともに同ショットキーダイオードの他端にマイクロ波入
力信号を印加して同マイクロ波入力信号を検波する際に
、増幅器が上記マイクロ波入力信号を増幅して上記ショ
ットキーダイオードの他端に入力せしめる。
おいては、ステップリカバリダイオードの両端にＶＨＦ
帯の基準周波数信号を印加して発生させたサンプリング
クロックをショットキーダイオードの一端に印加すると
ともに同ショットキーダイオードの他端にマイクロ波入
力信号を印加して同マイクロ波入力信号を検波する際に
、増幅器が上記マイクロ波入力信号を増幅して上記ショ
ットキーダイオードの他端に入力せしめる。
【００１０】また、上記のように構成した請求項２にか
かる発明においては、電界効果トランジスタが上記マイ
クロ波入力信号を増幅して上記ショットキーダイオード
の他端に入力せしめる。
かる発明においては、電界効果トランジスタが上記マイ
クロ波入力信号を増幅して上記ショットキーダイオード
の他端に入力せしめる。
【００１１】
【実施例】以下、図面にもとづいて本発明の実施例を説
明する。図１は、本発明の一実施例にかかるサンプリン
グ位相比較器の回路図であり、従来のものと同一または
対応する部分については同一の符号を付してある。
明する。図１は、本発明の一実施例にかかるサンプリン
グ位相比較器の回路図であり、従来のものと同一または
対応する部分については同一の符号を付してある。
【００１２】同図において、１０は電界効果トランジス
タ、１１はゲートバイアス供給端、１２はドレインバイ
アス供給端である。
タ、１１はゲートバイアス供給端、１２はドレインバイ
アス供給端である。
【００１３】次に、上記構成からなる本実施例の動作を
説明する。基準信号入力端１，２に供給する基準入力信
号の周波数をｆＲＥＦ とし、マイクロ波入力端３に入
力するマイクロ波入力信号の周波数をｆｕ とすると、
ステップリカバリダイオード７で発生した周波数ｆＲＥ
Ｆ のクロックの高調波（周波数：ｎ×ｆＲＥＦ （ｎ
＝１，２，…））とマイクロ波入力信号とがショットキ
ーダイオード８，９に印加され、その非線形作用（いわ
ゆるダイオードの２乗特性）により、周波数ｆｕ±ｎ×
ｆＲＥＦの多数の信号が出力される。
説明する。基準信号入力端１，２に供給する基準入力信
号の周波数をｆＲＥＦ とし、マイクロ波入力端３に入
力するマイクロ波入力信号の周波数をｆｕ とすると、
ステップリカバリダイオード７で発生した周波数ｆＲＥ
Ｆ のクロックの高調波（周波数：ｎ×ｆＲＥＦ （ｎ
＝１，２，…））とマイクロ波入力信号とがショットキ
ーダイオード８，９に印加され、その非線形作用（いわ
ゆるダイオードの２乗特性）により、周波数ｆｕ±ｎ×
ｆＲＥＦの多数の信号が出力される。
【００１４】位相比較器としての動作は、周波数ｆｕ＝
ｎｕ×ｆＲＥＦ （ｎｕ は特定の正の整数）の信号が
使用され、その他の信号は不要波となる。
ｎｕ×ｆＲＥＦ （ｎｕ は特定の正の整数）の信号が
使用され、その他の信号は不要波となる。
【００１５】通常、サンプリング位相比較器はマイクロ
波帯のＶＣＯの周波数安定化のためのＡＰＣ回路に使用
され、同ＶＣＯの発振信号の一部をサンプリング位相比
較器のマイクロ波入力端へ入力しているが、従来のサン
プリング位相比較器では上述した不要波がこのＶＣＯ側
に漏出してしまい、ＶＣＯ出力信号に悪影響を与えてい
た。
波帯のＶＣＯの周波数安定化のためのＡＰＣ回路に使用
され、同ＶＣＯの発振信号の一部をサンプリング位相比
較器のマイクロ波入力端へ入力しているが、従来のサン
プリング位相比較器では上述した不要波がこのＶＣＯ側
に漏出してしまい、ＶＣＯ出力信号に悪影響を与えてい
た。
【００１６】マイクロ波入力端３から入力されたマイク
ロ波信号は電界効果トランジスタ１０によりＳ２１分だ
け増幅されてショットキーダイオード８，９に入力され
、上述した検波作用を経て位相比較出力端４，５，６か
ら所定の信号が出力される。
ロ波信号は電界効果トランジスタ１０によりＳ２１分だ
け増幅されてショットキーダイオード８，９に入力され
、上述した検波作用を経て位相比較出力端４，５，６か
ら所定の信号が出力される。
【００１７】一方、ショットキーダイオード８，９で発
生した不要波は電界効果トランジスタ１０のドレインに
入力され、Ｓ１２分だけ低減されて同電界効果トランジ
スタ１０のゲートに現れる。
生した不要波は電界効果トランジスタ１０のドレインに
入力され、Ｓ１２分だけ低減されて同電界効果トランジ
スタ１０のゲートに現れる。
【００１８】すなわち、ショットキーダイオード８，９
で発生する不要波は増幅器のＳ１２分だけ低減されてマ
イクロ波入力端３へ伝わるため、従来のものに比べてマ
イクロ波入力端３での不要波のレベルはＳ１２分だけ低
いことになる。
で発生する不要波は増幅器のＳ１２分だけ低減されてマ
イクロ波入力端３へ伝わるため、従来のものに比べてマ
イクロ波入力端３での不要波のレベルはＳ１２分だけ低
いことになる。
【００１９】このとき、増幅器のＳ２１は最悪ゲイン０
でもよいため、同増幅器の周波特性を広帯域とすること
ができ、サンプリング位相比較器としても使用周波数帯
の制限は問題とならない。
でもよいため、同増幅器の周波特性を広帯域とすること
ができ、サンプリング位相比較器としても使用周波数帯
の制限は問題とならない。
【００２０】
【発明の効果】以上説明したように本発明は、ショット
キーダイオードとマイクロ波入力端との間に増幅器を介
在しているため、ショットキーダイオードで発生する不
要波が同マイクロ波入力端へ漏出する際に低減され、サ
ンプリング位相比較においてできる限り不要波を漏出さ
せないようにすることが可能なサンプリング位相比較器
を提供することができる。
キーダイオードとマイクロ波入力端との間に増幅器を介
在しているため、ショットキーダイオードで発生する不
要波が同マイクロ波入力端へ漏出する際に低減され、サ
ンプリング位相比較においてできる限り不要波を漏出さ
せないようにすることが可能なサンプリング位相比較器
を提供することができる。
【図１】本発明の一実施例にかかるサンプリング位相比
較器の回路図である。
較器の回路図である。
【図２】従来のサンプリング位相比較器の回路図である
。
。
１，２…基準信号入力端
３…マイクロ波入力端
４，５，６…位相比較出力端
７…ステップリカバリダイオード
８，９…ショットキーダイオード
１０…電界効果トランジスタ
Claims (2)
- 【請求項１】 ステップリカバリダイオードの両端にＶ
ＨＦ帯の基準周波数信号を印加してサンプリングクロッ
クを発生し、同サンプリングクロックをショットキーダ
イオードの一端に印加するとともに、同ショットキーダ
イオードの他端にマイクロ波入力信号を印加して同マイ
クロ波入力信号を検波することにより、同マイクロ波入
力信号の位相を検出するサンプリング位相比較器におい
て、上記マイクロ波入力信号を増幅して上記ショットキ
ーダイオードの他端に入力せしめる増幅器を具備するこ
とを特徴とするサンプリング位相比較器。 - 【請求項２】上記請求項１に記載のサンプリング位相比
較器において、上記増幅器を、電界効果トランジスタで
構成したことを特徴とするサンプリング位相比較器。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3050245A JPH04269012A (ja) | 1991-02-25 | 1991-02-25 | サンプリング位相比較器 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3050245A JPH04269012A (ja) | 1991-02-25 | 1991-02-25 | サンプリング位相比較器 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH04269012A true JPH04269012A (ja) | 1992-09-25 |
Family
ID=12853608
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP3050245A Pending JPH04269012A (ja) | 1991-02-25 | 1991-02-25 | サンプリング位相比較器 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH04269012A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2007029566A1 (ja) * | 2005-09-05 | 2007-03-15 | Advantest Corporation | サンプリング装置および試験装置 |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS50145064A (ja) * | 1974-05-10 | 1975-11-21 | ||
| JPH0316304A (ja) * | 1990-05-31 | 1991-01-24 | Nec Corp | 位相比較回路 |
-
1991
- 1991-02-25 JP JP3050245A patent/JPH04269012A/ja active Pending
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS50145064A (ja) * | 1974-05-10 | 1975-11-21 | ||
| JPH0316304A (ja) * | 1990-05-31 | 1991-01-24 | Nec Corp | 位相比較回路 |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2007029566A1 (ja) * | 2005-09-05 | 2007-03-15 | Advantest Corporation | サンプリング装置および試験装置 |
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