JPH04276668A - 電荷注入型エレクトロルミネッセンス素子 - Google Patents
電荷注入型エレクトロルミネッセンス素子Info
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- JPH04276668A JPH04276668A JP3062598A JP6259891A JPH04276668A JP H04276668 A JPH04276668 A JP H04276668A JP 3062598 A JP3062598 A JP 3062598A JP 6259891 A JP6259891 A JP 6259891A JP H04276668 A JPH04276668 A JP H04276668A
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Landscapes
- Electroluminescent Light Sources (AREA)
- Led Devices (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、電場を印加することに
より発光する電荷注入型エレクトロルミネッセンス(以
下ELと略す)素子のうち、過電流による破壊が生じに
くい安定性の高い電荷注入型EL素子に関する。
より発光する電荷注入型エレクトロルミネッセンス(以
下ELと略す)素子のうち、過電流による破壊が生じに
くい安定性の高い電荷注入型EL素子に関する。
【0002】
【従来の技術】電荷注入型EL素子としては、発光ダイ
オード(以下LEDと略す)と有機ELの2種の発光素
子が知られている。これらは、いずれも電子と正孔とが
再結合する際に発生するエネルギーを利用して発光する
という点で共通のメカニズムを有する素子であるが、構
造や発光メカニズムに違いがある。図4は、LEDの構
造の一例を示したものである。図4によりLEDの構造
と発光メカニズムを説明する。n−GaP:Sから成る
N型基板1上には、N型半導体層2としてn−GaP:
Teを液層でエピタキシャル成長させ、その上にP型半
導体層3としてp−GaP:Zn,Oを液層でエピタキ
シャル成長させる。電極は、陰極4を前記の半導体膜を
成長させたのとは反対側の基板上に形成し、陽極5はP
型のp−GaP:Zn,O上に形成する。
オード(以下LEDと略す)と有機ELの2種の発光素
子が知られている。これらは、いずれも電子と正孔とが
再結合する際に発生するエネルギーを利用して発光する
という点で共通のメカニズムを有する素子であるが、構
造や発光メカニズムに違いがある。図4は、LEDの構
造の一例を示したものである。図4によりLEDの構造
と発光メカニズムを説明する。n−GaP:Sから成る
N型基板1上には、N型半導体層2としてn−GaP:
Teを液層でエピタキシャル成長させ、その上にP型半
導体層3としてp−GaP:Zn,Oを液層でエピタキ
シャル成長させる。電極は、陰極4を前記の半導体膜を
成長させたのとは反対側の基板上に形成し、陽極5はP
型のp−GaP:Zn,O上に形成する。
【0003】このようにして作製されたLEDは、N型
半導体層2とP型半導体層3とで形成されたPN接合面
にP側が正になるように数ボルトの電圧を印加すると、
正孔が多数存在するP型半導体層内にN型半導体層2よ
り電子が注入される。それらの電子や正孔は、P型半導
体層3中のZn,Oの働きにより励起子を形成し、それ
が再結合する時に赤色の発光が得られる。最近では、こ
のようなLEDを基板上にいくつも平面的に形成し、平
板ディスプレイを作製する研究が進んでいる。
半導体層2とP型半導体層3とで形成されたPN接合面
にP側が正になるように数ボルトの電圧を印加すると、
正孔が多数存在するP型半導体層内にN型半導体層2よ
り電子が注入される。それらの電子や正孔は、P型半導
体層3中のZn,Oの働きにより励起子を形成し、それ
が再結合する時に赤色の発光が得られる。最近では、こ
のようなLEDを基板上にいくつも平面的に形成し、平
板ディスプレイを作製する研究が進んでいる。
【0004】また、LEDのひとつのタイプとして最近
注目されているものに量子井戸型発光素子(以下QWD
と略す)が挙げられる。これはバンドギャップの異なっ
た複数の半導体の極めて薄い薄膜によって周期構造を形
成し、電荷を注入する時のバンドの傾きに応じて電子と
正孔のそれぞれの波動関数の局在した空間が重なるよう
に構成して有効にキャリアーが再結合することを期待し
たものである。図5はQWDの構造の一例を示したもの
である。図5を用いてQWDの構造と発光メカニズムを
説明する。
注目されているものに量子井戸型発光素子(以下QWD
と略す)が挙げられる。これはバンドギャップの異なっ
た複数の半導体の極めて薄い薄膜によって周期構造を形
成し、電荷を注入する時のバンドの傾きに応じて電子と
正孔のそれぞれの波動関数の局在した空間が重なるよう
に構成して有効にキャリアーが再結合することを期待し
たものである。図5はQWDの構造の一例を示したもの
である。図5を用いてQWDの構造と発光メカニズムを
説明する。
【0005】N型のGaAs基板6上に、基板温度を2
00〜300℃に保ってN型半導体層として5〜50オ
ングストロームの厚みのZnSe層7を電子線加熱蒸着
法により成膜する。その上にP型半導体層としてZnT
e層8を形成するためにZnTeとLi3 Pを同時に
加熱して蒸発させ、p−ZnTe;Li,P薄膜を5〜
50オングストローム成膜する。これを複数回(例えば
100回)繰り返して膜厚約1000〜10000オン
グストロームの多層薄膜積層体量子井戸発光層9とする
。 陰極10を半導体膜を成長させたのとは反対側の基板上
に形成し、陽極11は多層薄膜積層体量子井戸発光層9
上に形成する。この素子においては多層薄膜積層体のG
aAs基板6に接するZnSe層7が電子注入層として
、また、陽極11と接するp−ZnTe;Li,P層が
正孔注入層として機能する。
00〜300℃に保ってN型半導体層として5〜50オ
ングストロームの厚みのZnSe層7を電子線加熱蒸着
法により成膜する。その上にP型半導体層としてZnT
e層8を形成するためにZnTeとLi3 Pを同時に
加熱して蒸発させ、p−ZnTe;Li,P薄膜を5〜
50オングストローム成膜する。これを複数回(例えば
100回)繰り返して膜厚約1000〜10000オン
グストロームの多層薄膜積層体量子井戸発光層9とする
。 陰極10を半導体膜を成長させたのとは反対側の基板上
に形成し、陽極11は多層薄膜積層体量子井戸発光層9
上に形成する。この素子においては多層薄膜積層体のG
aAs基板6に接するZnSe層7が電子注入層として
、また、陽極11と接するp−ZnTe;Li,P層が
正孔注入層として機能する。
【0006】このようにして作製されたQWDは、電圧
を印加すると陰極から注入された電子の波動関数はn−
ZnSe層内の導電帯の底付近に局在化し、陽極から注
入された正孔の波動関数はp−ZnTe;Li,P層内
の価電子帯の頂付近に局在化する。この量子井戸構造は
タイプ1’なので電界のかかっていない状態ではn−Z
nSe層内の導電帯の底とp−ZnTe;Li,P層内
の価電子帯の頂は空間的には重なっていないが、電界の
かかっている状態では図7に模式的に示すように、波動
関数はよりエネルギーの低い部分に局在化していくので
空間的に同一の位置を占めるようになる。そしてそれら
が再結合する時に青色の発光が得られる。
を印加すると陰極から注入された電子の波動関数はn−
ZnSe層内の導電帯の底付近に局在化し、陽極から注
入された正孔の波動関数はp−ZnTe;Li,P層内
の価電子帯の頂付近に局在化する。この量子井戸構造は
タイプ1’なので電界のかかっていない状態ではn−Z
nSe層内の導電帯の底とp−ZnTe;Li,P層内
の価電子帯の頂は空間的には重なっていないが、電界の
かかっている状態では図7に模式的に示すように、波動
関数はよりエネルギーの低い部分に局在化していくので
空間的に同一の位置を占めるようになる。そしてそれら
が再結合する時に青色の発光が得られる。
【0007】一方、図6は、有機EL素子の代表的な構
成を示している。図6を用いて有機EL素子の基本構造
、製造方法および動作メカニズムを説明する。図6にお
いてガラス基板12上に、透明電極13としてITOな
どの透明電極材料をスパッタ、真空蒸着法により成膜し
た後に、フォトリソグラフィの方法を用いて所定の形状
にパターニングする。その上に正孔輸送層14として、
TADなどの正孔に対し導電性の良い材料をキャスティ
ング法、印刷法、蒸着法、ラングミュアーブロジェット
法などを用いて成膜する。その上に発光層15として、
成を示している。図6を用いて有機EL素子の基本構造
、製造方法および動作メカニズムを説明する。図6にお
いてガラス基板12上に、透明電極13としてITOな
どの透明電極材料をスパッタ、真空蒸着法により成膜し
た後に、フォトリソグラフィの方法を用いて所定の形状
にパターニングする。その上に正孔輸送層14として、
TADなどの正孔に対し導電性の良い材料をキャスティ
ング法、印刷法、蒸着法、ラングミュアーブロジェット
法などを用いて成膜する。その上に発光層15として、
【0008】
【化1】
で表せるPEや
【0009】
【化2】
で表せるNSDや
【0010】
【化3】
で表せるDANなどの蛍光体を正孔輸送層と同様の方法
を用いて形成する。続いて発光層15の上に、電子輸送
層16として、
を用いて形成する。続いて発光層15の上に、電子輸送
層16として、
【0011】
【化4】
で表せるPBDなどを正孔輸送層と同様な方法で成膜す
る。その上にMgAl(マグネシウムアルミニウム)な
どにより上部電極17を真空蒸着法などを用いて成膜し
、さらにフォトリソグラフィ法によってパターニングす
ることによりドットマトリックス型あるいはセグメント
型の有機EL素子が完成する。
る。その上にMgAl(マグネシウムアルミニウム)な
どにより上部電極17を真空蒸着法などを用いて成膜し
、さらにフォトリソグラフィ法によってパターニングす
ることによりドットマトリックス型あるいはセグメント
型の有機EL素子が完成する。
【0012】駆動は、通常、透明電極を陽極、上部電極
を陰極とし、直流のパルス電圧を印加させることによっ
て行う。電子は上部電極から電子輸送層を通って、また
、正孔は透明電極から正孔輸送層を通って、いずれも発
光層に注入され、そこで励起子を生成する。励起子は、
発光層内の再結合中心を介して再結合し、発光が得られ
る。電子輸送層は正孔を、正孔輸送層は電子を通さない
性質を持つ方が、キャリアが発光層内に閉じ込められる
ため発光効率が良くなる。この有機ELでは、発光効率
0.51m/W程度の高発光効率の素子が報告されてい
る。
を陰極とし、直流のパルス電圧を印加させることによっ
て行う。電子は上部電極から電子輸送層を通って、また
、正孔は透明電極から正孔輸送層を通って、いずれも発
光層に注入され、そこで励起子を生成する。励起子は、
発光層内の再結合中心を介して再結合し、発光が得られ
る。電子輸送層は正孔を、正孔輸送層は電子を通さない
性質を持つ方が、キャリアが発光層内に閉じ込められる
ため発光効率が良くなる。この有機ELでは、発光効率
0.51m/W程度の高発光効率の素子が報告されてい
る。
【0013】このような有機ELは、一般にアモルファ
ス状態での素子を形成するため、大面積の平板型ディス
プレイへの応用が容易であり、しかも、衝突励起型EL
素子と比べて、低電圧で動作し、しかも高効率の蛍光体
の種類が豊富でカラー化も容易であるという特徴がある
ことから、新タイプの平板型ディスプレイとしての応用
が期待されている。
ス状態での素子を形成するため、大面積の平板型ディス
プレイへの応用が容易であり、しかも、衝突励起型EL
素子と比べて、低電圧で動作し、しかも高効率の蛍光体
の種類が豊富でカラー化も容易であるという特徴がある
ことから、新タイプの平板型ディスプレイとしての応用
が期待されている。
【0014】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、従来の
電荷注入型EL素子は、ピンホールなどの膜の欠陥があ
るとそこに電流が集中し、その際発生するジュール熱に
より素子が破壊を起こすという重大な欠点があった。こ
れは、特にディスプレイ等のように大きい面積の素子を
製造する場合は非常に重要な問題となる。単に歩留が悪
くコストアップの要因になるだけではなく、素子の信頼
性を低下させることにもつながる。
電荷注入型EL素子は、ピンホールなどの膜の欠陥があ
るとそこに電流が集中し、その際発生するジュール熱に
より素子が破壊を起こすという重大な欠点があった。こ
れは、特にディスプレイ等のように大きい面積の素子を
製造する場合は非常に重要な問題となる。単に歩留が悪
くコストアップの要因になるだけではなく、素子の信頼
性を低下させることにもつながる。
【0015】
【課題を解決するための手段】本発明は上記の問題点を
解決するためになされたものであって、発光領域と陰極
側電極との間にN型半導体層または電子輸送層を有し、
前記発光領域と陽極側電極との間にP型半導体層または
正孔輸送層を有し、前記陽極と前記陰極との間に直流電
圧を印加することにより発光領域に電子と正孔を注入し
、前記電子と前記正孔とが再結合する際に放出されるエ
ネルギーを利用して発光する電荷注入型エレクトロルミ
ネッセンス素子であって、前記N型半導体層または電子
輸送層と前記陰極側電極との間、または前記P型半導体
層または正孔輸送層と前記陽極側電極との間のいずれか
一方に、導電性微粉末をバインダーで固定した電流制限
層を挿入したことを特徴とする電荷注入型エレクトロル
ミネッセンス素子である。
解決するためになされたものであって、発光領域と陰極
側電極との間にN型半導体層または電子輸送層を有し、
前記発光領域と陽極側電極との間にP型半導体層または
正孔輸送層を有し、前記陽極と前記陰極との間に直流電
圧を印加することにより発光領域に電子と正孔を注入し
、前記電子と前記正孔とが再結合する際に放出されるエ
ネルギーを利用して発光する電荷注入型エレクトロルミ
ネッセンス素子であって、前記N型半導体層または電子
輸送層と前記陰極側電極との間、または前記P型半導体
層または正孔輸送層と前記陽極側電極との間のいずれか
一方に、導電性微粉末をバインダーで固定した電流制限
層を挿入したことを特徴とする電荷注入型エレクトロル
ミネッセンス素子である。
【0016】前記電流制限層としては、3×103 Ω
・cmから1×106 Ω・cmの抵抗率を有する導電
性微粉末をバインダー樹脂等を用いて固められる。ゴミ
やほこりなどの混入によりピンホール等の欠陥を生じに
くくし、また、抵抗体が無数の点接触の集まりから成る
ようにするために1μm以上の膜厚に固めるのが好まし
い。また、厚みの上限は200μm以下とするのが好ま
しい。
・cmから1×106 Ω・cmの抵抗率を有する導電
性微粉末をバインダー樹脂等を用いて固められる。ゴミ
やほこりなどの混入によりピンホール等の欠陥を生じに
くくし、また、抵抗体が無数の点接触の集まりから成る
ようにするために1μm以上の膜厚に固めるのが好まし
い。また、厚みの上限は200μm以下とするのが好ま
しい。
【0017】導電性微粉末としては、Cuをコートした
ZnS、MnO2、PbS,CuO,PbO,Tb4
O7 ,Eu2 O3 ,PrO2 、カーボン、チタ
ン酸バリウムなどが、単体、あるいは、混合物の形で用
いられる。 コントラストを上げるために、黒色または暗色の物質が
好んで使われる。導電性微粉末の粒径は、1μm以下が
好ましく、さらに望ましくは0.2μm以下であると良
い。
ZnS、MnO2、PbS,CuO,PbO,Tb4
O7 ,Eu2 O3 ,PrO2 、カーボン、チタ
ン酸バリウムなどが、単体、あるいは、混合物の形で用
いられる。 コントラストを上げるために、黒色または暗色の物質が
好んで使われる。導電性微粉末の粒径は、1μm以下が
好ましく、さらに望ましくは0.2μm以下であると良
い。
【0018】バインダーには、例えば、ビニル系樹脂、
ポリエステル系樹脂、ポリアミド系樹脂、セルロース系
樹脂、ポリウレタン系樹脂、エポキシ系樹脂、メラミン
系樹脂、シリコーン系樹脂、尿素系樹脂などが挙げられ
るが、特に水酸基、カルボキシル基、スルホニル基、ニ
トロ基などの極性基や、エポキシ基、イソシアヌル基、
シラノール基などの反応性基を有した樹脂が好適に用い
られる。また、粉体とバインダーとして用いられる樹脂
の体積混合比率は、粉体:バインダー樹脂で、2:8〜
6:4の範囲にあることが好ましい。対象となる電荷注
入型EL素子としては、LED、QWD、有機EL等と
くに限定されるものではない。
ポリエステル系樹脂、ポリアミド系樹脂、セルロース系
樹脂、ポリウレタン系樹脂、エポキシ系樹脂、メラミン
系樹脂、シリコーン系樹脂、尿素系樹脂などが挙げられ
るが、特に水酸基、カルボキシル基、スルホニル基、ニ
トロ基などの極性基や、エポキシ基、イソシアヌル基、
シラノール基などの反応性基を有した樹脂が好適に用い
られる。また、粉体とバインダーとして用いられる樹脂
の体積混合比率は、粉体:バインダー樹脂で、2:8〜
6:4の範囲にあることが好ましい。対象となる電荷注
入型EL素子としては、LED、QWD、有機EL等と
くに限定されるものではない。
【0019】
【作用】微粉末をバインダーで固定した電流制限層は、
膜が厚いのでゴミやほこりなどの混入によりピンホール
等の欠陥が生じにくく、また、その層の中の抵抗体は無
数の点接触の集まりから成っている。そのためピンホー
ル等の欠陥が本発明にかかる電流制限層では生じにくい
。また、電流制限層の下の素子部分に欠陥があり、その
領域に相当する電流制限層部分に局所的に電流が集中し
ても、まず、一番抵抗の高い点接触部分が発熱し、その
周辺のバインダーが膨脹あるいは分解とガス化を起こし
、点接触部分での微粉末同士の接触が離れることにより
その部分の抵抗が大きくなり、電流を減少させ、ジュー
ル熱による破壊を未然に防ぐ作用がある。
膜が厚いのでゴミやほこりなどの混入によりピンホール
等の欠陥が生じにくく、また、その層の中の抵抗体は無
数の点接触の集まりから成っている。そのためピンホー
ル等の欠陥が本発明にかかる電流制限層では生じにくい
。また、電流制限層の下の素子部分に欠陥があり、その
領域に相当する電流制限層部分に局所的に電流が集中し
ても、まず、一番抵抗の高い点接触部分が発熱し、その
周辺のバインダーが膨脹あるいは分解とガス化を起こし
、点接触部分での微粉末同士の接触が離れることにより
その部分の抵抗が大きくなり、電流を減少させ、ジュー
ル熱による破壊を未然に防ぐ作用がある。
【0020】
【実施例】以下、本発明を実施例により説明する。図1
、図2、図3は、それぞれ本発明の電荷注入型エレクト
ロルミネッセンス素子の実施例1、2、3の一部断面図
で、図4、図5、図6は従来の技術の電荷注入型エレク
トロルミネッセンス素子の一部断面図である。 実施例1 p−GaNから成るN型基板24上に、ジメチルZnと
セレン化水素を種原料に用いて、有機金属化合物の熱分
解反応を利用したmetal organicche
mical vapor deposition法
(以下MOCVD法と略す)によりP型半導体層として
p−ZnSe:Li層25を50nm、続いてその上に
N型半導体層としてn−ZnSe:I層26を50nm
の膜厚でエピタキシャル成長させた。続いて、MnO2
粉末を樹脂とシンナーからなる混合液に分散させた塗料
をスプレイー法を用いて塗布、乾燥させ、抵抗率が1.
5×105 Ω・cmで膜厚が20μmの電流制限層2
9を形成し、その上に陽極側電極として、AuZn(金
亜鉛)層28を電子ビーム蒸着法で100nmの膜厚で
成膜した。最後に陰極側電極として、AuSi(金シリ
コン)層27を半導体膜を成長させたのとは反対側の基
板上に形成した。 このようにして作製されたLEDは、N型半導体層とP
型半導体層とで形成されたPN接合面に数十Vの電圧を
印加すると、P型半導体層内に多数存在する正孔にN型
半導体層より電子が注入され、それらが再結合する時に
、青色の発光が得られる。作製したn−ZnSe:I層
26の抵抗率は102 Ω・cm程度であり、抵抗が大
きいためこのN型半導体層には大きな電界がかかる。従
来の電流制限層がない場合には、N型半導体層の部分に
存在する微少な欠陥が引金となって破壊を起こすことが
多かったが、本実施例では、電流制限層の効果により、
全く破壊が起こらなかった。
、図2、図3は、それぞれ本発明の電荷注入型エレクト
ロルミネッセンス素子の実施例1、2、3の一部断面図
で、図4、図5、図6は従来の技術の電荷注入型エレク
トロルミネッセンス素子の一部断面図である。 実施例1 p−GaNから成るN型基板24上に、ジメチルZnと
セレン化水素を種原料に用いて、有機金属化合物の熱分
解反応を利用したmetal organicche
mical vapor deposition法
(以下MOCVD法と略す)によりP型半導体層として
p−ZnSe:Li層25を50nm、続いてその上に
N型半導体層としてn−ZnSe:I層26を50nm
の膜厚でエピタキシャル成長させた。続いて、MnO2
粉末を樹脂とシンナーからなる混合液に分散させた塗料
をスプレイー法を用いて塗布、乾燥させ、抵抗率が1.
5×105 Ω・cmで膜厚が20μmの電流制限層2
9を形成し、その上に陽極側電極として、AuZn(金
亜鉛)層28を電子ビーム蒸着法で100nmの膜厚で
成膜した。最後に陰極側電極として、AuSi(金シリ
コン)層27を半導体膜を成長させたのとは反対側の基
板上に形成した。 このようにして作製されたLEDは、N型半導体層とP
型半導体層とで形成されたPN接合面に数十Vの電圧を
印加すると、P型半導体層内に多数存在する正孔にN型
半導体層より電子が注入され、それらが再結合する時に
、青色の発光が得られる。作製したn−ZnSe:I層
26の抵抗率は102 Ω・cm程度であり、抵抗が大
きいためこのN型半導体層には大きな電界がかかる。従
来の電流制限層がない場合には、N型半導体層の部分に
存在する微少な欠陥が引金となって破壊を起こすことが
多かったが、本実施例では、電流制限層の効果により、
全く破壊が起こらなかった。
【0021】実施例2
透明なガラス基板30(商品名corning 70
59ガラス)上に、透明電極31としてITO(錫ドー
プ酸化インジウム)を反応性スパッタ法を用いて約50
0nmの厚さに成膜した後、フォトリソグラフィ法によ
り1mm当り5本のピッチでストライプ状にパターニン
グした。次に基板温度を280℃に保ってP型半導体層
32としてZnTeとLi3 Pを同時に加熱して蒸発
させ、p−ZnTe:Li,P薄膜を10オングストロ
ーム成膜した。さらにN型半導体層33としてZnSe
を電子線加熱によって蒸発させ、n−ZnSe薄膜を1
0オングストローム成膜した。これを250回繰り返し
て膜厚約5000オングストロームの多層薄膜積層体量
子井戸発光層34を形成した。続いて、MnO2粉末を
樹脂とシンナーとの混合液に分散させた塗料をスプレイ
ー法を用いて塗布、乾燥させ、抵抗率が1.5×105
Ω・cmで膜厚が20μmの電流制限層29を形成し
、その上に陰極側電極35として、Al(アルミニウム
)を電子ビーム蒸着法で1μmの膜厚で成膜した。この
ようにして作製されたQWDは、ITOを陽極側電極、
Alを陰極側電極にして電圧を印加すると、緑色の発光
が得られた。従来の電流制限層がないQWDの場合には
、接合構造が多数存在するので高電界で発光させねばな
らず、その様な高電界下では破壊を起こすことが多かっ
たが、本実施例では、電流制限層の効果により、全く破
壊が起こらなかった。
59ガラス)上に、透明電極31としてITO(錫ドー
プ酸化インジウム)を反応性スパッタ法を用いて約50
0nmの厚さに成膜した後、フォトリソグラフィ法によ
り1mm当り5本のピッチでストライプ状にパターニン
グした。次に基板温度を280℃に保ってP型半導体層
32としてZnTeとLi3 Pを同時に加熱して蒸発
させ、p−ZnTe:Li,P薄膜を10オングストロ
ーム成膜した。さらにN型半導体層33としてZnSe
を電子線加熱によって蒸発させ、n−ZnSe薄膜を1
0オングストローム成膜した。これを250回繰り返し
て膜厚約5000オングストロームの多層薄膜積層体量
子井戸発光層34を形成した。続いて、MnO2粉末を
樹脂とシンナーとの混合液に分散させた塗料をスプレイ
ー法を用いて塗布、乾燥させ、抵抗率が1.5×105
Ω・cmで膜厚が20μmの電流制限層29を形成し
、その上に陰極側電極35として、Al(アルミニウム
)を電子ビーム蒸着法で1μmの膜厚で成膜した。この
ようにして作製されたQWDは、ITOを陽極側電極、
Alを陰極側電極にして電圧を印加すると、緑色の発光
が得られた。従来の電流制限層がないQWDの場合には
、接合構造が多数存在するので高電界で発光させねばな
らず、その様な高電界下では破壊を起こすことが多かっ
たが、本実施例では、電流制限層の効果により、全く破
壊が起こらなかった。
【0022】実施例3
透明なガラス基板(商品名corning 7059
ガラス)30上に、透明電極31としてITOを反応性
スパッタ法を用いて約500nmの厚さに成膜した後、
フォトリソグラフィ法により1mm当り5本のピッチで
ストライプ状にパターニングした。その上に前記TAD
からなる正孔輸送層32を蒸着法により成膜した。その
後正孔輸送層32の上に、PEとNSDとANの蛍光体
の混合物からなる発光層33を蒸着法により形成した。 さらにその上にPBDからなる電子輸送層34を蒸着法
により成膜した。続いて、MnO2粉末を樹脂とシンナ
ーとの混合液に分散させた塗料をスプレイー法を用いて
塗布し、乾燥させ、抵抗率が1.5×105 Ω・cm
で膜厚が10μmの電流制限層29を形成し、最後に陰
極側電極として、MgAl(マグネシウムアルミニウム
合金)電極35を電子ビーム蒸着法で1μmの膜厚で成
膜し、さらにフォトリソグラフィ法によってパターニン
グすることによってドットマトリックス型の有機EL素
子を作成した。駆動は、通常、透明電極31を陽極、M
gAl電極35を陰極とし、直流のパルス電圧を印加さ
せることによって行う。電子はMgAl電極から電子輸
送層を通って、また、正孔は、透明電極から正孔輸送層
を通って、いずれも発光層に注入され、発光層内で励起
子を生成する。発生した励起子は、さらに発光層内の再
結合中心を介して再結合し発光が生ずる。この有機EL
では従来の技術では生じていた破壊が全く生じなかった
。
ガラス)30上に、透明電極31としてITOを反応性
スパッタ法を用いて約500nmの厚さに成膜した後、
フォトリソグラフィ法により1mm当り5本のピッチで
ストライプ状にパターニングした。その上に前記TAD
からなる正孔輸送層32を蒸着法により成膜した。その
後正孔輸送層32の上に、PEとNSDとANの蛍光体
の混合物からなる発光層33を蒸着法により形成した。 さらにその上にPBDからなる電子輸送層34を蒸着法
により成膜した。続いて、MnO2粉末を樹脂とシンナ
ーとの混合液に分散させた塗料をスプレイー法を用いて
塗布し、乾燥させ、抵抗率が1.5×105 Ω・cm
で膜厚が10μmの電流制限層29を形成し、最後に陰
極側電極として、MgAl(マグネシウムアルミニウム
合金)電極35を電子ビーム蒸着法で1μmの膜厚で成
膜し、さらにフォトリソグラフィ法によってパターニン
グすることによってドットマトリックス型の有機EL素
子を作成した。駆動は、通常、透明電極31を陽極、M
gAl電極35を陰極とし、直流のパルス電圧を印加さ
せることによって行う。電子はMgAl電極から電子輸
送層を通って、また、正孔は、透明電極から正孔輸送層
を通って、いずれも発光層に注入され、発光層内で励起
子を生成する。発生した励起子は、さらに発光層内の再
結合中心を介して再結合し発光が生ずる。この有機EL
では従来の技術では生じていた破壊が全く生じなかった
。
【0023】
【発明の効果】本発明によれば、電流集中による破壊現
象を防ぐことが出来る。そのため発光素子としての信頼
性が高くなる。また発光素子の製作歩留が向上する。
象を防ぐことが出来る。そのため発光素子としての信頼
性が高くなる。また発光素子の製作歩留が向上する。
【図1】本発明の実施例1で示されるLEDの一部断面
図
図
【図2】本発明の実施例2で示されるQWDの一部断面
図
図
【図3】本発明の実施例3で示される有機ELの一部断
面図
面図
【図4】従来技術のLEDの一部断面図
【図5】従来技
術のQWDの一部断面図
術のQWDの一部断面図
【図6】従来技術の有機ELの
一部断面図
一部断面図
【図7】QWDの多層薄膜周期構造に電界が
かかっている場合のエネルギー準位と波動関数が局在化
した様子を説明する図
かかっている場合のエネルギー準位と波動関数が局在化
した様子を説明する図
1 n−GaP:SからなるN型基板2
N型半導体層n−GaP:Te3 P型半導体層
p−GaP:Zn,O4 陰極 5 陽極 6 GaAs基板 7 ZnSe層 8 ZnTe層 9 多層薄膜積層体量子井戸発光層10
陰極 11 陽極 12 ガラス基板 13 透明電極 14 正孔輸送層 15 発光層 16 電子輸送層 17 上部電極 18 価電子帯の頂 19 仮想の価電子帯頂 20 正孔の波動関数 21 導電帯の底 22 仮想の導電帯底 23 電子の波動関数 24 p−GaNからなるN型基板25
p−ZnSe:Li層 26 n−ZnSe:I層 27 AuSi層 28 AuZn層 29 電流制限層 30 ガラス基板 31 透明電極 32 TADからなる正孔輸送層33 P
EとNSDとANとからなる発光層34 PBD
からなる電子輸送層35 MgAl電極
N型半導体層n−GaP:Te3 P型半導体層
p−GaP:Zn,O4 陰極 5 陽極 6 GaAs基板 7 ZnSe層 8 ZnTe層 9 多層薄膜積層体量子井戸発光層10
陰極 11 陽極 12 ガラス基板 13 透明電極 14 正孔輸送層 15 発光層 16 電子輸送層 17 上部電極 18 価電子帯の頂 19 仮想の価電子帯頂 20 正孔の波動関数 21 導電帯の底 22 仮想の導電帯底 23 電子の波動関数 24 p−GaNからなるN型基板25
p−ZnSe:Li層 26 n−ZnSe:I層 27 AuSi層 28 AuZn層 29 電流制限層 30 ガラス基板 31 透明電極 32 TADからなる正孔輸送層33 P
EとNSDとANとからなる発光層34 PBD
からなる電子輸送層35 MgAl電極
【化5】
Claims (1)
- 【請求項1】 発光領域と陰極側電極との間にN型半
導体層または電子輸送層を有し、前記発光領域と陽極側
電極との間にP型半導体層または正孔輸送層を有し、前
記陽極と前記陰極との間に直流電圧を印加することによ
り発光領域に電子と正孔を注入し、前記電子と前記正孔
とが再結合する際に放出されるエネルギーを利用して発
光する電荷注入型エレクトロルミネッセンス素子におい
て、前記N型半導体層または電子輸送層と前記陰極側電
極との間、または前記P型半導体層または正孔輸送層と
前記陽極側電極との間のいずれか一方に、導電性微粉末
をバインダーで固定した電流制限層を挿入したことを特
徴とする電荷注入型エレクトロルミネッセンス素子。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3062598A JPH04276668A (ja) | 1991-03-04 | 1991-03-04 | 電荷注入型エレクトロルミネッセンス素子 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3062598A JPH04276668A (ja) | 1991-03-04 | 1991-03-04 | 電荷注入型エレクトロルミネッセンス素子 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH04276668A true JPH04276668A (ja) | 1992-10-01 |
Family
ID=13204928
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP3062598A Pending JPH04276668A (ja) | 1991-03-04 | 1991-03-04 | 電荷注入型エレクトロルミネッセンス素子 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH04276668A (ja) |
Cited By (9)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2000056123A1 (en) * | 1999-03-17 | 2000-09-21 | Tdk Corporation | Organic el device |
| WO2000056124A1 (fr) * | 1999-03-17 | 2000-09-21 | Tdk Corporation | Dispositif el organique |
| WO2000056122A1 (fr) * | 1999-03-16 | 2000-09-21 | Tdk Corporation | Dispositif el organique |
| WO2000074444A1 (fr) * | 1999-05-27 | 2000-12-07 | Tdk Corporation | Diode electroluminescente |
| WO2000076277A1 (fr) * | 1999-06-07 | 2000-12-14 | Tdk Corporation | Ecran organique electroluminescent |
| EP1145337A1 (en) * | 1998-12-16 | 2001-10-17 | Cambridge Display Technology Limited | Organic light-emitting devices |
| US6445126B1 (en) | 1998-08-13 | 2002-09-03 | Tdk Corporation | Organic electroluminescent device |
| JP2003521094A (ja) * | 2000-01-25 | 2003-07-08 | コーニンクレッカ フィリップス エレクトロニクス エヌ ヴィ | エレクトロルミネセント素子 |
| WO2009008535A1 (ja) * | 2007-07-11 | 2009-01-15 | Sumitomo Chemical Company, Limited | 自発光型素子及び照明装置並びに表示装置 |
-
1991
- 1991-03-04 JP JP3062598A patent/JPH04276668A/ja active Pending
Cited By (18)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6445126B1 (en) | 1998-08-13 | 2002-09-03 | Tdk Corporation | Organic electroluminescent device |
| US7005196B1 (en) | 1998-12-16 | 2006-02-28 | Cambridge Display Technology Limited | Organic light-emitting devices |
| US7255939B2 (en) | 1998-12-16 | 2007-08-14 | Cambridge Display Technology Ltd. | Organic light-emitting devices |
| EP1145337A1 (en) * | 1998-12-16 | 2001-10-17 | Cambridge Display Technology Limited | Organic light-emitting devices |
| JP2005209647A (ja) * | 1998-12-16 | 2005-08-04 | Cambridge Display Technol Ltd | 有機発光デバイス |
| US6262433B1 (en) | 1999-03-16 | 2001-07-17 | Tdk Corporation | Organic electroluminescent device |
| WO2000056122A1 (fr) * | 1999-03-16 | 2000-09-21 | Tdk Corporation | Dispositif el organique |
| US6249085B1 (en) | 1999-03-17 | 2001-06-19 | Tdk Corporation | Organic electroluminescent device with a high-resistance inorganic hole injecting and transporting layer |
| US6288487B1 (en) | 1999-03-17 | 2001-09-11 | Tdk Corporation | Organic electroluminescent device with a high-resistance inorganic electron injecting and transporting layer |
| WO2000056123A1 (en) * | 1999-03-17 | 2000-09-21 | Tdk Corporation | Organic el device |
| WO2000056124A1 (fr) * | 1999-03-17 | 2000-09-21 | Tdk Corporation | Dispositif el organique |
| US6180963B1 (en) | 1999-05-27 | 2001-01-30 | Tdk Corporation | Light emitting diode |
| WO2000074444A1 (fr) * | 1999-05-27 | 2000-12-07 | Tdk Corporation | Diode electroluminescente |
| WO2000076277A1 (fr) * | 1999-06-07 | 2000-12-14 | Tdk Corporation | Ecran organique electroluminescent |
| US6369507B1 (en) | 1999-06-07 | 2002-04-09 | Tdk Corporation | Organic EL display apparatus with a switching device |
| JP2003521094A (ja) * | 2000-01-25 | 2003-07-08 | コーニンクレッカ フィリップス エレクトロニクス エヌ ヴィ | エレクトロルミネセント素子 |
| JP4834270B2 (ja) * | 2000-01-25 | 2011-12-14 | コーニンクレッカ フィリップス エレクトロニクス エヌ ヴィ | エレクトロルミネセント素子 |
| WO2009008535A1 (ja) * | 2007-07-11 | 2009-01-15 | Sumitomo Chemical Company, Limited | 自発光型素子及び照明装置並びに表示装置 |
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