JPH04278432A - 光導波管の伝送損失を測定する方法及び装置 - Google Patents
光導波管の伝送損失を測定する方法及び装置Info
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- JPH04278432A JPH04278432A JP3448891A JP3448891A JPH04278432A JP H04278432 A JPH04278432 A JP H04278432A JP 3448891 A JP3448891 A JP 3448891A JP 3448891 A JP3448891 A JP 3448891A JP H04278432 A JPH04278432 A JP H04278432A
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- coupling prism
- light wave
- coupling
- prism
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、一般的に光導波管の伝
送損失を測定する方法及び装置に係り、特に効果的に光
導波管の伝送損失を測定する方法及び装置に係る。
送損失を測定する方法及び装置に係り、特に効果的に光
導波管の伝送損失を測定する方法及び装置に係る。
【０００２】光波を伝送する光導波管は通常集積光回路
及び光通信装置で用いられ、光導波管の伝送損失は回路
及び通信装置の性能に直接に関連する。従って、光導波
管の伝送損失を効果的に測定するための技術を有するこ
とが望ましい。
及び光通信装置で用いられ、光導波管の伝送損失は回路
及び通信装置の性能に直接に関連する。従って、光導波
管の伝送損失を効果的に測定するための技術を有するこ
とが望ましい。
【０００３】
【従来の技術】縦形（指向性）ガイドイン／ガイドアウ
ト方法と呼ばれ、光導波管の伝送損失を測定する一つの
従来方法を説明する。これは、光波が導波管を通って伝
搬するよう導波管の良く仕上った端面から光導波管に入
射光波を結合し、次に逆端面から導波管を出る光波を結
合する。入射光波及び出射光波を測定することにより光
波の伝送損失を得ることができる。しかし、光導波管は
非常に薄く、その為光波を導波管の端面に結合すること
は容易ではない。更に、光導波管の端面のカッティング
、ポリッシング及びラッピングの処理は時間のかかる作
業である。光導波管の伝送損失がその全長で測定されう
るだけであり、導波管の異なる位置で伝送損失を測定す
ることは不可能である。
ト方法と呼ばれ、光導波管の伝送損失を測定する一つの
従来方法を説明する。これは、光波が導波管を通って伝
搬するよう導波管の良く仕上った端面から光導波管に入
射光波を結合し、次に逆端面から導波管を出る光波を結
合する。入射光波及び出射光波を測定することにより光
波の伝送損失を得ることができる。しかし、光導波管は
非常に薄く、その為光波を導波管の端面に結合すること
は容易ではない。更に、光導波管の端面のカッティング
、ポリッシング及びラッピングの処理は時間のかかる作
業である。光導波管の伝送損失がその全長で測定されう
るだけであり、導波管の異なる位置で伝送損失を測定す
ることは不可能である。
【０００４】上記方法の欠点を克服する為に光導波管の
伝送損失を測定する別な方法が提案される。図１に記載
の如く入射光波は、導波管１１３に結合されるプリズム
１１５ａにより導波管１１３に結合され、ある距離を伝
搬した後、光波は導波管１１３に結合された他のプリズ
ム１１５により導波管１１３から出る。
伝送損失を測定する別な方法が提案される。図１に記載
の如く入射光波は、導波管１１３に結合されるプリズム
１１５ａにより導波管１１３に結合され、ある距離を伝
搬した後、光波は導波管１１３に結合された他のプリズ
ム１１５により導波管１１３から出る。
【０００５】しかし、第２の方法の測定結果はプリズム
と導波管との間の結合係数に依存し、結合係数は、プリ
ズムにより導波管で生じた結合力の関数である。フィル
ムでの伝送損失の測定中、全ての結合力を一定値に保つ
ことは非常にむずかしい。従って、異なる長さの導波管
フィルムの伝送損失は正確には測定されなかった。
と導波管との間の結合係数に依存し、結合係数は、プリ
ズムにより導波管で生じた結合力の関数である。フィル
ムでの伝送損失の測定中、全ての結合力を一定値に保つ
ことは非常にむずかしい。従って、異なる長さの導波管
フィルムの伝送損失は正確には測定されなかった。
【０００６】結合係数の悪い影響を緩和する為、ワィ、
エッチ、ウォン、ピー、シー、ジョーサンド及びジィー
、エッチ、チャーチによる、１９８０年８月１日付で出
願された「アプライド フィジックス レターズ３
７（３）」の「光導波管の３プリズム損測定」なる題の
論文で第３の方法は開示された。図２に示す如く、入射
光波はプリズム１により導波管１３ａに結合され、導波
管１３ａを伝搬する光波はプリズム２及びプリズム３に
より導波管１３ａから夫々出る。即ち、入射光波の一部
を導波管１３ａから出るよう案内する可動プリズム２は
プリズム１及びプリズム３間に配置される。Ｐ２及びＰ
３をプリズム２及びプリズム３から夫々出る光波の出力
パワーとし；ｒ２及びｒ３を夫々プリズム２及び３が導
波管１３ａに結合される際の結合係数とし；Ｉ（Ｚ）を
導波管に伝搬される光波の強度とし；αを導波管の減衰
係数とすると、下式が得られる。
エッチ、ウォン、ピー、シー、ジョーサンド及びジィー
、エッチ、チャーチによる、１９８０年８月１日付で出
願された「アプライド フィジックス レターズ３
７（３）」の「光導波管の３プリズム損測定」なる題の
論文で第３の方法は開示された。図２に示す如く、入射
光波はプリズム１により導波管１３ａに結合され、導波
管１３ａを伝搬する光波はプリズム２及びプリズム３に
より導波管１３ａから夫々出る。即ち、入射光波の一部
を導波管１３ａから出るよう案内する可動プリズム２は
プリズム１及びプリズム３間に配置される。Ｐ２及びＰ
３をプリズム２及びプリズム３から夫々出る光波の出力
パワーとし；ｒ２及びｒ３を夫々プリズム２及び３が導
波管１３ａに結合される際の結合係数とし；Ｉ（Ｚ）を
導波管に伝搬される光波の強度とし；αを導波管の減衰
係数とすると、下式が得られる。
【０００７】
Ｐ２＝ｒ２＊Ｉ（Ｚ２）
（１） Ｐ３＝ｒ３＊〔Ｉ（Ｚ２）
−Ｐ２〕ｅｘｐ 〔−α（Ｚ３−Ｚ２）〕
（２） ｒ２＝０の時、Ｐ３＝Ｐ３０となり、
ｒ２≠０の時、 Ｐ３＝Ｐ３０−ΔＰ３となる。
（１） Ｐ３＝ｒ３＊〔Ｉ（Ｚ２）
−Ｐ２〕ｅｘｐ 〔−α（Ｚ３−Ｚ２）〕
（２） ｒ２＝０の時、Ｐ３＝Ｐ３０となり、
ｒ２≠０の時、 Ｐ３＝Ｐ３０−ΔＰ３となる。
【０００８】上記の２つの式（１），（２） を用いて
、ｒ２及びｒ３を除去でき、下式を得る。 Ｉ（Ｚ）＝（Ｐ２＊Ｐ３０）／ΔＰ３＝（Ｐ２＊Ｐ
３０）／（Ｐ３０−Ｐ３）
（３）プリズム２及びプリズム３から出る
光波の出力パワーＰ２，Ｐ３だけを用いて導波管に伝搬
する光波の強度を得ることは可能であり、従って、導波
管を伝搬する光波の強度は結合係数ｒ２及びｒ３に依存
しない。導波管を囲む全ての状態が一定に保たれる場合
、異なる長さでの導波管の伝送損失は可動プリズム２を
単に動かし、それを対応する位置で導波管１３ａに結合
することにより測定されうる。しかし、３つのプリズム
は上記方法に用いられるべきである。プリズム２から出
る光波を案内するために２つのプリズム２，３を適当な
位置に離間させることが必要であり、従ってプリズム２
を動かすのに残された空間は制限される。更に、上記方
法は結合係数を一定に保つ詳細な機構を開示していない
。
、ｒ２及びｒ３を除去でき、下式を得る。 Ｉ（Ｚ）＝（Ｐ２＊Ｐ３０）／ΔＰ３＝（Ｐ２＊Ｐ
３０）／（Ｐ３０−Ｐ３）
（３）プリズム２及びプリズム３から出る
光波の出力パワーＰ２，Ｐ３だけを用いて導波管に伝搬
する光波の強度を得ることは可能であり、従って、導波
管を伝搬する光波の強度は結合係数ｒ２及びｒ３に依存
しない。導波管を囲む全ての状態が一定に保たれる場合
、異なる長さでの導波管の伝送損失は可動プリズム２を
単に動かし、それを対応する位置で導波管１３ａに結合
することにより測定されうる。しかし、３つのプリズム
は上記方法に用いられるべきである。プリズム２から出
る光波を案内するために２つのプリズム２，３を適当な
位置に離間させることが必要であり、従ってプリズム２
を動かすのに残された空間は制限される。更に、上記方
法は結合係数を一定に保つ詳細な機構を開示していない
。
【０００９】
【発明が解決しようとする課題】本発明の第１の目的は
、正確な測定が得られるよう、一定の結合係数で光導波
管の伝送損失を測定する方法を提供することである。
、正確な測定が得られるよう、一定の結合係数で光導波
管の伝送損失を測定する方法を提供することである。
【００１０】本発明の他の目的は、長さの最大範囲まで
光導波管の伝送損失を測定する方法を提供することであ
る。
光導波管の伝送損失を測定する方法を提供することであ
る。
【００１１】
【課題を解決するための手段】上記目的は、（１） 端
面を有し、光導波管を通って伝搬された光波を光導波管
から出るよう案内する光導波管を台に固定し；（２）
該第１の結合プリズムを光導波管に結合するよう光導波
管に接触させるよう第１の結合プリズムを駆動し；（３
） 光波が該第１の結合プリズムにより光導波管に入る
よう案内し、光導波管の後端面から出る光波の光パワー
Ｐ３０を検出し； （４） 該第２の結合プリズムを該第１の結合プリズム
からＺ１の距離に光導波管と結合するよう光導波管に接
触させるよう一定の大きさの力で第２の結合プリズムを
駆動し、該第２の結合プリズムから出る光波の光パワー
Ｐ２を検出し、 （５） 第１の結合プリズムがＺ１の距離で光導波管と
結合する際光導波管の後端面から出る光波の光パワーＰ
３を検出し、 （６） 式 Ｉ（Ｚ１）＝（Ｐ３０＊Ｐ２）／（
Ｐ３０−Ｐ３）を用いてＺ１の距離に光導波管を通過す
る光波の光強度Ｉ（Ｚ１）を計算し、 （７） 光導波管から離間して動かすよう第２の結合プ
リズムを駆動し、第１の結合プリズムからＺ２の距離で
光導波管と再び結合し、第２の結合プリズムから出る光
波の光パワーＰ２´を検出し； （８） 第１の結合プリズムがＺ２の距離で光導波管と
結合する際光導波管の後端面から出る光波の光パワーＰ
３´を検出し、 （９） 式 Ｉ（Ｚ２）＝（Ｐ３０＊Ｐ２´）／
（Ｐ３０−Ｐ３´）を用いてＺ１の距離に光導波管を通
過する光波の光強度Ｉ（Ｚ２）を計算し、 （１０） 式 Ｌ＝１０＊（ＬＯＧ Ｉ
（Ｚ１）／ＬＯＧ Ｉ （Ｚ２））を用いて伝送損
失Ｌを計算することからなる。光導波管の伝送損失を測
定する方法で達成される。
面を有し、光導波管を通って伝搬された光波を光導波管
から出るよう案内する光導波管を台に固定し；（２）
該第１の結合プリズムを光導波管に結合するよう光導波
管に接触させるよう第１の結合プリズムを駆動し；（３
） 光波が該第１の結合プリズムにより光導波管に入る
よう案内し、光導波管の後端面から出る光波の光パワー
Ｐ３０を検出し； （４） 該第２の結合プリズムを該第１の結合プリズム
からＺ１の距離に光導波管と結合するよう光導波管に接
触させるよう一定の大きさの力で第２の結合プリズムを
駆動し、該第２の結合プリズムから出る光波の光パワー
Ｐ２を検出し、 （５） 第１の結合プリズムがＺ１の距離で光導波管と
結合する際光導波管の後端面から出る光波の光パワーＰ
３を検出し、 （６） 式 Ｉ（Ｚ１）＝（Ｐ３０＊Ｐ２）／（
Ｐ３０−Ｐ３）を用いてＺ１の距離に光導波管を通過す
る光波の光強度Ｉ（Ｚ１）を計算し、 （７） 光導波管から離間して動かすよう第２の結合プ
リズムを駆動し、第１の結合プリズムからＺ２の距離で
光導波管と再び結合し、第２の結合プリズムから出る光
波の光パワーＰ２´を検出し； （８） 第１の結合プリズムがＺ２の距離で光導波管と
結合する際光導波管の後端面から出る光波の光パワーＰ
３´を検出し、 （９） 式 Ｉ（Ｚ２）＝（Ｐ３０＊Ｐ２´）／
（Ｐ３０−Ｐ３´）を用いてＺ１の距離に光導波管を通
過する光波の光強度Ｉ（Ｚ２）を計算し、 （１０） 式 Ｌ＝１０＊（ＬＯＧ Ｉ
（Ｚ１）／ＬＯＧ Ｉ （Ｚ２））を用いて伝送損
失Ｌを計算することからなる。光導波管の伝送損失を測
定する方法で達成される。
【００１２】上記目的は、端面より光導波管を通って光
導波管から出るよう伝搬される光波を案内する端面を有
する光導波管をそれに固定する台と；第１の結合プリズ
ムクランプが固定され、台に固定された光導波管に対し
て変位されうるように、台上に取付けられた第１の結合
プリズムクランプと；光波を光導波管に入るよう案内す
る光導波管に結合するよう第１の結合プリズムクランプ
に固定された第１の結合プリズムと；第２の結合プリズ
ムクランプが固定され、台に固定された光導波管に対し
て変位されうるような方法で台上に取付けられた第２の
結合プリズムクランプと；第２の結合プリズムにより導
波管を通って光導波管から出るよう伝搬する光波の一部
を案内するよう光導波管に結合するよう第２の結合プリ
ズムクランプに固定された第２の結合プリズムと；第２
の結合プリズムを光導波管に結合し、光導波管と結合し
ないよう第２の結合プリズムを光導波管から離れて動か
すよう一定の力の大きさで台に固定された光導波管と接
触するよう第２の結合プリズムを駆動する手段と；該第
１の結合プリズムと第２の結合プリズム間の距離を調整
する手段と；第２の結合プリズムから出る光波の光パワ
ーを検出する第１のセンサと；光導波管の端面から出る
光波の光パワーを検出する第２のセンサとからなる、光
導波管の伝送損失を測定する装置で達成される。
導波管から出るよう伝搬される光波を案内する端面を有
する光導波管をそれに固定する台と；第１の結合プリズ
ムクランプが固定され、台に固定された光導波管に対し
て変位されうるように、台上に取付けられた第１の結合
プリズムクランプと；光波を光導波管に入るよう案内す
る光導波管に結合するよう第１の結合プリズムクランプ
に固定された第１の結合プリズムと；第２の結合プリズ
ムクランプが固定され、台に固定された光導波管に対し
て変位されうるような方法で台上に取付けられた第２の
結合プリズムクランプと；第２の結合プリズムにより導
波管を通って光導波管から出るよう伝搬する光波の一部
を案内するよう光導波管に結合するよう第２の結合プリ
ズムクランプに固定された第２の結合プリズムと；第２
の結合プリズムを光導波管に結合し、光導波管と結合し
ないよう第２の結合プリズムを光導波管から離れて動か
すよう一定の力の大きさで台に固定された光導波管と接
触するよう第２の結合プリズムを駆動する手段と；該第
１の結合プリズムと第２の結合プリズム間の距離を調整
する手段と；第２の結合プリズムから出る光波の光パワ
ーを検出する第１のセンサと；光導波管の端面から出る
光波の光パワーを検出する第２のセンサとからなる、光
導波管の伝送損失を測定する装置で達成される。
【００１３】
【実施例】本発明は、下記の説明及び添付図面を参照し
てより充分に理解されうる。
てより充分に理解されうる。
【００１４】図３に示す如く、光波から出る光波は導波
管１３の後端面で光波の出力パワーＰ３０を測定するよ
う第１の結合プリズム１１により導波管１３に結合され
る。先ず、第２の結合プリズム１５は導波管１３に結合
されないことに注意すべきである。次に、第２の結合プ
リズム１５は第２の結合プリズム１５により導波管１３
からの光波の一部を結合するよう導波管１３に結合する
よう駆動される。この後、第２の結合プリズム１５から
出る光波のパワーＰ２及び導波管１３の後端面から出る
光波のパワーＰ３が測定される。Ｐ２及びＰ３を式（３
）に代入すると、下記が得られる。
管１３の後端面で光波の出力パワーＰ３０を測定するよ
う第１の結合プリズム１１により導波管１３に結合され
る。先ず、第２の結合プリズム１５は導波管１３に結合
されないことに注意すべきである。次に、第２の結合プ
リズム１５は第２の結合プリズム１５により導波管１３
からの光波の一部を結合するよう導波管１３に結合する
よう駆動される。この後、第２の結合プリズム１５から
出る光波のパワーＰ２及び導波管１３の後端面から出る
光波のパワーＰ３が測定される。Ｐ２及びＰ３を式（３
）に代入すると、下記が得られる。
【００１５】
Ｉ（Ｚ）＝（Ｐ３０＊Ｐ２）／（Ｐ３０−Ｐ３）ここで
、Ｉ（Ｚ）は導波管１３でのビームの強度であり、Ｚは
導波管１３に結合する第１の結合プリズム１１と第２の
結合プリズム１５との間の距離である。
、Ｉ（Ｚ）は導波管１３でのビームの強度であり、Ｚは
導波管１３に結合する第１の結合プリズム１１と第２の
結合プリズム１５との間の距離である。
【００１６】各測定で結合係数を一定に保つため、結合
力は各結合動作で一定に保たれるべきである。このため
に、マイクロメータ１２２，１６２は、測定動作中結合
力を一定にするよう導波管１３上の結合プリズム１１，
１５を動かすのに用いられる。
力は各結合動作で一定に保たれるべきである。このため
に、マイクロメータ１２２，１６２は、測定動作中結合
力を一定にするよう導波管１３上の結合プリズム１１，
１５を動かすのに用いられる。
【００１７】図４に示す如く、導波管での伝送損失を測
定する装置は、台８と、台８上に固定された第１の結合
プリズムクランプ１２と、台８上に固定された第２の結
合プリズムクランプ１６と、横マイクロメータ２１とか
らなる。動作中、Ｈｅ−Ｎｅレーザ又はＩＲ半導体レー
ザである光波源４からなる入射ビームは、光波を２つの
素子ビームに分割するビームスプリッタ５を通る。一つ
は、基準光波パワーＰｒを検波するセンサ６に直接案内
され、他は偏向され、集束レンズ７を通過し、次に台８
上に取付けられた第１の結合プリズムクランプ１２によ
り導波管１３に結合される第１の結合プリズム１１に入
る。
定する装置は、台８と、台８上に固定された第１の結合
プリズムクランプ１２と、台８上に固定された第２の結
合プリズムクランプ１６と、横マイクロメータ２１とか
らなる。動作中、Ｈｅ−Ｎｅレーザ又はＩＲ半導体レー
ザである光波源４からなる入射ビームは、光波を２つの
素子ビームに分割するビームスプリッタ５を通る。一つ
は、基準光波パワーＰｒを検波するセンサ６に直接案内
され、他は偏向され、集束レンズ７を通過し、次に台８
上に取付けられた第１の結合プリズムクランプ１２によ
り導波管１３に結合される第１の結合プリズム１１に入
る。
【００１８】台８は並進段９と回転段１０とからなるプ
ラットホーム上に取付けられる。回転段１０の角位置を
調整し、並進段９のＸ−，Ｙ−，Ｚ−軸をその正確な位
置に変位させた後、プリズム１１と導波管１３との間で
誘起された結合圧は、入射光波が導波管１３に結合され
うるよう第１の結合プリズムクランプ１２により調整さ
れうる。導波管１３を通って伝搬した後、入射光波は導
波管１３の後端面から出て、導波管１３の後端面から出
る光波のパワーＰ３０は導波管１３の後端面近くに配置
されたセンサ１４により検出される。この後、第２の結
合プリズム１５を導波管１３を結合するよう導き、その
間に誘起された結合圧を調整し、これにより導波管１３
を通って伝搬する光波の一部は、第２の結合プリズム１
５から入来する光波のパワーＰ２を検出するセンサ１８
に届くよう第２の結合プリズム１５及び集束レンズ１７
を貫通するよう案内されうる。しかし、光波の一部はセ
ンサ１４に届くよう導波管１３を通って更に伝搬し、導
波管１３の後端面からの入来光波のパワーはＰ３０から
Ｐ３に減少される。全てのセンサ６，１４及び１８は、
センサ６，１４及び１８により検出されたデータを計算
し、記録するコンピュータ２０に結合されたパワー計１
９に結合される。台８上に取付けられたマイクロメータ
２１は、第１の結合プリズム１１と第２の結合プリズム
１５との間の距離を変えるよう第２の結合プリズムクラ
ンプ１６を変位させるのに用いられる。第１の結合プリ
ズム１１と第２の結合プリズム１５との間の距離を単に
変えることにより上記動作を繰り返した場合、下式を用
いることにより同じ導波管１３の異なる光路長を伝搬し
た後光パワーの損失（Ｌ）を得る。
ラットホーム上に取付けられる。回転段１０の角位置を
調整し、並進段９のＸ−，Ｙ−，Ｚ−軸をその正確な位
置に変位させた後、プリズム１１と導波管１３との間で
誘起された結合圧は、入射光波が導波管１３に結合され
うるよう第１の結合プリズムクランプ１２により調整さ
れうる。導波管１３を通って伝搬した後、入射光波は導
波管１３の後端面から出て、導波管１３の後端面から出
る光波のパワーＰ３０は導波管１３の後端面近くに配置
されたセンサ１４により検出される。この後、第２の結
合プリズム１５を導波管１３を結合するよう導き、その
間に誘起された結合圧を調整し、これにより導波管１３
を通って伝搬する光波の一部は、第２の結合プリズム１
５から入来する光波のパワーＰ２を検出するセンサ１８
に届くよう第２の結合プリズム１５及び集束レンズ１７
を貫通するよう案内されうる。しかし、光波の一部はセ
ンサ１４に届くよう導波管１３を通って更に伝搬し、導
波管１３の後端面からの入来光波のパワーはＰ３０から
Ｐ３に減少される。全てのセンサ６，１４及び１８は、
センサ６，１４及び１８により検出されたデータを計算
し、記録するコンピュータ２０に結合されたパワー計１
９に結合される。台８上に取付けられたマイクロメータ
２１は、第１の結合プリズム１１と第２の結合プリズム
１５との間の距離を変えるよう第２の結合プリズムクラ
ンプ１６を変位させるのに用いられる。第１の結合プリ
ズム１１と第２の結合プリズム１５との間の距離を単に
変えることにより上記動作を繰り返した場合、下式を用
いることにより同じ導波管１３の異なる光路長を伝搬し
た後光パワーの損失（Ｌ）を得る。
【００１９】
Ｌ＝１０＊（ＬＯＧ（Ｉ１）／ＬＯＧ（Ｉ２））ここで
、Ｉ１，Ｉ２は夫々第１の結合プリズム１１からの距離
Ｚ１，Ｚ２での光強度である。
、Ｉ１，Ｉ２は夫々第１の結合プリズム１１からの距離
Ｚ１，Ｚ２での光強度である。
【００２０】図５に示す如く、台８は回転段１０に係合
される並進段９上に取付けられ；並進段９と回転段１０
はニューポートコーポレーション（米国カンパニー）に
より販売されており、ここではそれらの詳細な構造に関
しては説明はしない。並進段９と回転段１０を調整する
ことにより、台８の姿勢は光波の入射角に整合するよう
調整されうる。
される並進段９上に取付けられ；並進段９と回転段１０
はニューポートコーポレーション（米国カンパニー）に
より販売されており、ここではそれらの詳細な構造に関
しては説明はしない。並進段９と回転段１０を調整する
ことにより、台８の姿勢は光波の入射角に整合するよう
調整されうる。
【００２１】図６乃至図８は、夫々本発明による導波管
１３での伝送損失を測定する装置の正面図、平面図及び
背面図を示す。詳細に構造を説明するため、伝送損失を
測定する装置は図９乃至図１４に夫々示される幾つかの
主要部分に分割される。図７に示す如く、第１の結合プ
リズムクランプ１２及び第２の結合プリズムクランプ１
６は夫々フレーム１２１，１６１と、マイクロメータ１
２２，１６２とプリズム保持器１２３，１６３とからな
る。台８（図８参照）上に形成された一対の案内レール
８１はフレーム１２１，１６１の摺動動作を案内するフ
レーム１２１，１６１の溝１２２ａ，１６２ａと係合さ
れる。２つのフレーム１２１，１６１を台８に一時的に
固定する２つの止めねじ１２４，１６４が設けられる。 プリズム保持器１２３，１６３の下部に夫々形成された
２つの凹部１２５，１６５は２つのプリズム１１，１５
を収容するよう設けられ、２つのねじ１２６，１６６は
２つのプリズム１１，１５をプリズム保持器１２３，１
６３に固定するよう設けられる。２つのプリズム保持器
１２３，１６３は、２つのフレーム１２１，１６１内に
収容されたばね１２１ａ，１６１ａを付勢することによ
りマイクロメータ１２２，１６２により上向き又は下向
きに動くよう駆動される。従って、２つのプリズム１１
，１５は導波管１３に結合するよう駆動されうる。
１３での伝送損失を測定する装置の正面図、平面図及び
背面図を示す。詳細に構造を説明するため、伝送損失を
測定する装置は図９乃至図１４に夫々示される幾つかの
主要部分に分割される。図７に示す如く、第１の結合プ
リズムクランプ１２及び第２の結合プリズムクランプ１
６は夫々フレーム１２１，１６１と、マイクロメータ１
２２，１６２とプリズム保持器１２３，１６３とからな
る。台８（図８参照）上に形成された一対の案内レール
８１はフレーム１２１，１６１の摺動動作を案内するフ
レーム１２１，１６１の溝１２２ａ，１６２ａと係合さ
れる。２つのフレーム１２１，１６１を台８に一時的に
固定する２つの止めねじ１２４，１６４が設けられる。 プリズム保持器１２３，１６３の下部に夫々形成された
２つの凹部１２５，１６５は２つのプリズム１１，１５
を収容するよう設けられ、２つのねじ１２６，１６６は
２つのプリズム１１，１５をプリズム保持器１２３，１
６３に固定するよう設けられる。２つのプリズム保持器
１２３，１６３は、２つのフレーム１２１，１６１内に
収容されたばね１２１ａ，１６１ａを付勢することによ
りマイクロメータ１２２，１６２により上向き又は下向
きに動くよう駆動される。従って、２つのプリズム１１
，１５は導波管１３に結合するよう駆動されうる。
【００２２】図１０（Ａ）及び（Ｂ）に示す如く、マイ
クロメータ２１は止めねじ２１２及び案内レール８１上
に設けられたブロック２１１により台８の案内レール８
１の一つに固定される。ばね２１３は、ブロック２１１
及び第２の結合プリズムクランプ１６を互いに離れるよ
う動かすべく付勢するようブロック２１１と第２の結合
プリズムクランプ１６との間に保持される。従って、第
１の結合プリズムクランプ１２と第２の結合プリズムク
ランプ１６との間の距離はマイクロメータ２１を調整す
ることにより調整されうる。
クロメータ２１は止めねじ２１２及び案内レール８１上
に設けられたブロック２１１により台８の案内レール８
１の一つに固定される。ばね２１３は、ブロック２１１
及び第２の結合プリズムクランプ１６を互いに離れるよ
う動かすべく付勢するようブロック２１１と第２の結合
プリズムクランプ１６との間に保持される。従って、第
１の結合プリズムクランプ１２と第２の結合プリズムク
ランプ１６との間の距離はマイクロメータ２１を調整す
ることにより調整されうる。
【００２３】図１１は図４に示されたセンサ１８を固定
する固定フレーム１８１を示す斜視図である。図１１に
示す如く、固定フレーム１８１は２つの止めねじ１８２
により第２の結合プリズム保持器１６３に固定され、セ
ンサ１８は２つの止めねじ１８３により固定フレーム１
８１に固定される。図１２は図３に示された集束レンズ
１７を固定する固定フレーム１７１を示す斜視図である
。図１２に示す如く、固定フレーム１８１の下に配置さ
れた固定フレーム１７１は固定フレーム１８１と同様の
構造を有するので、固定フレーム１７１の構造の説明を
ここでは省く。この配置によりプリズム１５からの入来
光波は容易にセンサ１８に案内されうる。
する固定フレーム１８１を示す斜視図である。図１１に
示す如く、固定フレーム１８１は２つの止めねじ１８２
により第２の結合プリズム保持器１６３に固定され、セ
ンサ１８は２つの止めねじ１８３により固定フレーム１
８１に固定される。図１２は図３に示された集束レンズ
１７を固定する固定フレーム１７１を示す斜視図である
。図１２に示す如く、固定フレーム１８１の下に配置さ
れた固定フレーム１７１は固定フレーム１８１と同様の
構造を有するので、固定フレーム１７１の構造の説明を
ここでは省く。この配置によりプリズム１５からの入来
光波は容易にセンサ１８に案内されうる。
【００２４】図１３は図４に示されたセンサ１４を固定
する固定フレーム１４１を示す斜視図である。センサ１
４はねじ１４５により固定フレーム１４１のリング１４
４の中央開口に固定され、固定フレーム１４１は止めね
じ１４２により台８の案内レール８１に固定される。
する固定フレーム１４１を示す斜視図である。センサ１
４はねじ１４５により固定フレーム１４１のリング１４
４の中央開口に固定され、固定フレーム１４１は止めね
じ１４２により台８の案内レール８１に固定される。
【００２５】図１４はセンサ１４を固定する別な固定フ
レーム１４１ａを示す斜視図である。図１４に示す如く
マイクロメータ１４３は、センサ１４の高さが測定さる
べき異なる厚さのフィルムに整合するよう調整されうる
よう、固定フレーム１４１ａの上、下動作を駆動する固
定フレーム１４１上に設けられる。
レーム１４１ａを示す斜視図である。図１４に示す如く
マイクロメータ１４３は、センサ１４の高さが測定さる
べき異なる厚さのフィルムに整合するよう調整されうる
よう、固定フレーム１４１ａの上、下動作を駆動する固
定フレーム１４１上に設けられる。
【００２６】上記の如くマイクロメータ１２２，１６２
は、測定動作中結合力を一定に保つよう導波管１３に結
合プリズム１１，１５を付勢するよう用いられ、これに
より正確な測定が得られる。
は、測定動作中結合力を一定に保つよう導波管１３に結
合プリズム１１，１５を付勢するよう用いられ、これに
より正確な測定が得られる。
【００２７】又、３つのプリズムを用いる代わりに、２
つのプリズムは光導波管での伝送損失を測定するのに用
いられ、これにより伝送損失の測定はその最大範囲まで
なされうる。
つのプリズムは光導波管での伝送損失を測定するのに用
いられ、これにより伝送損失の測定はその最大範囲まで
なされうる。
【００２８】本発明を最も実際的で、望ましい実施例で
あると最近に考えられる用語で説明したが、本発明が上
記実施例に限定される必要がないことが理解さるべきで
ある。逆に請求項の精神及び範囲内に含まれる種々の変
更及び同様な配置を含むものであり、その範囲は全ての
かかる変更及び同様な構造を含むよう最も広い解釈が許
されるべきである。
あると最近に考えられる用語で説明したが、本発明が上
記実施例に限定される必要がないことが理解さるべきで
ある。逆に請求項の精神及び範囲内に含まれる種々の変
更及び同様な配置を含むものであり、その範囲は全ての
かかる変更及び同様な構造を含むよう最も広い解釈が許
されるべきである。
【図１】光導波管の伝送損失を測定する従来の方法を示
す概略図である。
す概略図である。
【図２】光導波管の伝送損失を測定する別な従来の方法
を示す概略図である。
を示す概略図である。
【図３】本発明による光導波管の伝送損失を測定する方
法を示す概略図である。
法を示す概略図である。
【図４】本発明による光導波管の伝送損失を測定する装
置の構造を示す概略図である。
置の構造を示す概略図である。
【図５】本発明による並進段及び回転段に係合される光
導波管の伝送損失を測定する装置を示す概略図である。
導波管の伝送損失を測定する装置を示す概略図である。
【図６】本発明による光導波管の伝送損失を測定する装
置の正面図である。
置の正面図である。
【図７】図６の装置の平面図である。
【図８】図６の装置の背面図である。
【図９】本発明による光導波管の伝送損失を測定する装
置の主要部分の構造を示す斜視図である。
置の主要部分の構造を示す斜視図である。
【図１０】（Ａ），（Ｂ）は夫々マイクロメータの平面
図及び正面図である。
図及び正面図である。
【図１１】図４のセンサ１８を固定する固定フレームの
斜視図である。
斜視図である。
【図１２】図３の集束レンズを固定する固定フレームの
斜視図である。
斜視図である。
【図１３】図４のセンサ１４を固定する固定フレームの
斜視図である。
斜視図である。
【図１４】図４のセンサ１４を固定する固定フレームの
他の例の斜視図である。
他の例の斜視図である。
１，２，３，１１５，１１５´ プリズム４ 光波
源 ５ ビームスプリッタ ６，１４，１８ センサ ７，１７ 集束レンズ ８ 台 ９ 並進段 １０ 回転段 １１，１５ 結合プリズム １２，１６ 結合プリズムクランプ １３，１３ａ，１１３ 導波管 １９ パワー計 ２０ コンピュータ ２１，１２２，１４３，１６２ マイクロメータ８１
案内レール １２１，１４１，１６１，１７１，１８１ フレーム
１２１ａ，１６１ａ，２１３ ばね １２２ａ，１６２ａ 溝 １２３，１６３ プリズム保持器 １２４，１２６，１４５，１６４，１６６ ねじ１２
５，１６５ 凹部 １４２，１７２，１７３，１８２，１８３，２１２
止めねじ １４４ リング ２１１ ブロック
源 ５ ビームスプリッタ ６，１４，１８ センサ ７，１７ 集束レンズ ８ 台 ９ 並進段 １０ 回転段 １１，１５ 結合プリズム １２，１６ 結合プリズムクランプ １３，１３ａ，１１３ 導波管 １９ パワー計 ２０ コンピュータ ２１，１２２，１４３，１６２ マイクロメータ８１
案内レール １２１，１４１，１６１，１７１，１８１ フレーム
１２１ａ，１６１ａ，２１３ ばね １２２ａ，１６２ａ 溝 １２３，１６３ プリズム保持器 １２４，１２６，１４５，１６４，１６６ ねじ１２
５，１６５ 凹部 １４２，１７２，１７３，１８２，１８３，２１２
止めねじ １４４ リング ２１１ ブロック
Claims (9)
- 【請求項１】 端面より光導波管を通って光導波管か
ら出るよう伝搬される光波を案内する端面を有する光導
波管をそれに固定する台と；該第１の結合プリズムクラ
ンプが固定され、該台に固定された光導波管に対して変
位されうるような方法で、該台上に取付けられた第１の
結合プリズムクランプと；該第１の結合プリズムクラン
プに固定され光波を光導波管に入るよう案内する光導波
管に結合する第１の結合プリズムと；該第２の結合プリ
ズムクランプが固定され、該台に固定された光導波管に
対して変位されうるような方法で該台上に取付けられた
第２の結合プリズムクランプと；該第２の結合プリズム
クランプに固定され該第２の結合プリズムにより導波管
を通って光導波管から出るよう伝搬する光波の一部を案
内するよう光導波管に結合する第２の結合プリズムと；
該第２の結合プリズムを光導波管に結合するようよう一
定の力の大きさで該台に固定された光導波管と接触し、
光導波管と結合しないよう該第２の結合プリズムを光導
波管から離れて動かすべく該第２の結合プリズムを駆動
する手段と；該第１の結合プリズムと該第２の結合プリ
ズム間の距離を調整する手段と；該第２の結合プリズム
から出る光波の光パワーを検出する第１のセンサと；光
導波管の端面から出る光波の光パワーを検出する第２の
センサとからなる、光導波管の伝送損失を測定する装置
。 - 【請求項２】 該調整手段は、該台上に形成された一
対の案内レールと；該第１の結合プリズムクランプに形
成され、該台に対して変位するべく該第１の結合プリズ
ムクランプを案内するよう該一対の案内レールと整合す
る第１の案内手段と；該第２の結合プリズムクランプに
形成され、該台に対して変位するべく該第２の結合プリ
ズムクランプを案内するよう該一対の案内レールと整合
する第２の案内手段とからなる請求項１の光導波管の伝
送損失を測定する装置。 - 【請求項３】 該台に固定され、該台に対して変位す
るべく、該第１の結合プリズムクランプを駆動し、その
変位した距離を計算する第１の駆動手段と；該台に固定
され、該台に対して変位するべく該第２の結合プリズム
クランプを駆動し、その変位した距離を計算する第２の
駆動手段とを更に有する光導波管の伝送損失を測定する
装置。 - 【請求項４】 該第１の結合プリズムを光導波管に結
合し、光導波管と結合しないよう第１の結合プリズムを
光導波管から離れて動かすよう一定の大きさの力で該台
に固定された光導波管と接触するよう該第２の結合プリ
ズムを駆動する第３の手段を更に有する請求項３の光導
波管の伝送損失を測定する装置。 - 【請求項５】 該第１のセンサと該第２の結合プリズ
ム間に配置され、該第２の結合プリズムから出る光波を
集束する第１の集束レンズを更に有する請求項４の光導
波管の伝送損失を測定する装置。 - 【請求項６】 該付勢手段はマイクロメータである請
求項１の光導波管の伝送損失を測定する装置。 - 【請求項７】 該第３の駆動手段はマイクロメータで
ある請求項４の光導波管の伝送損失を測定する装置。 - 【請求項８】 （１） 端面を有し、光導波管を通っ
て伝搬された光波を光導波管から出るよう案内する光導
波管を台に固定し； （２） 該第１の結合プリズムを光導波管に結合するよ
う光導波管に接触させるよう第１の結合プリズムを駆動
し；（３） 光波が該第１の結合プリズムにより光導波
管に入るよう案内し、光導波管の端面から出る光波の光
パワーＰ３０を検出し； （４） 該第２の結合プリズムを該第１の結合プリズム
からＺ１の距離に光導波管と結合するよう光導波管に接
触させるよう第２の結合プリズムを駆動し、該第２の結
合プリズムから出る光波の光パワーＰ２を検出し、（５
） 該第１の結合プリズムが光導波管と結合する際光導
波管の端面から出る光波の光パワーＰ３を検出し、
（６） 式 Ｉ（Ｚ１）＝（Ｐ３０＊Ｐ２）／（Ｐ３
０−Ｐ３）を用いてＺ１の距離に光導波管を通過する光
波の光強度Ｉ（Ｚ１）を計算することからなる光導波管
の所定の長さを通って伝搬する光波の強度を測定する方
法。 - 【請求項９】 （１） 端面を有し、光導波管を通っ
て伝搬された光波を光導波管から端面より出るよう案内
する光導波管を台に固定し； （２） 該第１の結合プリズムを光導波管に結合するよ
う光導波管に接触する第１の結合プリズムを駆動し；（
３） 光波が該第１の結合プリズムにより光導波管に入
るよう案内し、光導波管の後端面から出る光波の光パワ
ーＰ３０を検出し； （４） 該第２の結合プリズムを該第１の結合プリズム
からＺ１の距離に光導波管と結合するよう光導波管に接
触させるよう一定の大きさの力で第２の結合プリズムを
駆動し、該第２の結合プリズムから出る光波の光パワー
Ｐ２を検出し、 （５） 該第１の結合プリズムがＺ１の距離で光導波管
と結合する際光導波管の後端面から出る光波の光パワー
Ｐ３を検出し、 （６） 式 Ｉ（Ｚ１）＝（Ｐ３０＊Ｐ２）／（
Ｐ３０−Ｐ３）を用いてＺ１の距離に光導波管を通過す
る光波の光強度Ｉ（Ｚ１）を計算し、 （７） 光導波管から離れて動かすよう該第２の結合プ
リズムを駆動し、該第１の結合プリズムからＺ２の距離
で光導波管と再び結合し、該第２の結合プリズムから出
る光波の光パワーＰ２´を検出し、 （８） 該第１の結合プリズムがＺ２の距離で光導波管
と結合する際光導波管の後端面から出る光波の光パワー
Ｐ３´を検出し、 （９） 式 Ｉ（Ｚ２）＝（Ｐ３０＊Ｐ２´）／
（Ｐ３０−Ｐ３´）を用いてＺ１の距離で光導波管を通
過する光波の光強度Ｉ（Ｚ２）を計算し、 （１０） 式 Ｌ＝１０＊（ＬＯＧ Ｉ
（Ｚ１）／ＬＯＧ Ｉ （Ｚ２））を用いて伝送損
失Ｌを計算することからなる、光導波管の伝送損失を測
定する方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3448891A JPH04278432A (ja) | 1991-02-28 | 1991-02-28 | 光導波管の伝送損失を測定する方法及び装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3448891A JPH04278432A (ja) | 1991-02-28 | 1991-02-28 | 光導波管の伝送損失を測定する方法及び装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH04278432A true JPH04278432A (ja) | 1992-10-05 |
Family
ID=12415627
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP3448891A Pending JPH04278432A (ja) | 1991-02-28 | 1991-02-28 | 光導波管の伝送損失を測定する方法及び装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH04278432A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100459998B1 (ko) * | 2002-12-05 | 2004-12-04 | 전자부품연구원 | 광 도파로의 손실 및 모드패턴 측정시스템 |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH01219534A (ja) * | 1988-02-29 | 1989-09-01 | Fujitsu Ltd | 光導波路損失測定方法及び装置 |
| JPH02141640A (ja) * | 1988-11-24 | 1990-05-31 | Sony Corp | 光導波路の測定装置 |
-
1991
- 1991-02-28 JP JP3448891A patent/JPH04278432A/ja active Pending
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH01219534A (ja) * | 1988-02-29 | 1989-09-01 | Fujitsu Ltd | 光導波路損失測定方法及び装置 |
| JPH02141640A (ja) * | 1988-11-24 | 1990-05-31 | Sony Corp | 光導波路の測定装置 |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100459998B1 (ko) * | 2002-12-05 | 2004-12-04 | 전자부품연구원 | 광 도파로의 손실 및 모드패턴 측정시스템 |
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