JPH04279846A - Optical inspection instrument - Google Patents
Optical inspection instrumentInfo
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- JPH04279846A JPH04279846A JP4381891A JP4381891A JPH04279846A JP H04279846 A JPH04279846 A JP H04279846A JP 4381891 A JP4381891 A JP 4381891A JP 4381891 A JP4381891 A JP 4381891A JP H04279846 A JPH04279846 A JP H04279846A
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- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
Abstract
Description
【0001】0001
【産業上の利用分野】本発明は、光学式検査装置に係り
、詳しくは、レーザ光で物体表面を走査し、その反射光
の強度のダイナミックレンジを調整しながら検出する光
学式検査装置に関する。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an optical inspection device, and more particularly to an optical inspection device that scans the surface of an object with a laser beam and detects the reflected light while adjusting the dynamic range of the intensity.
【0002】近年、レーザ光で物体表面を走査し、その
反射光の強度を検出することによって、例えば、物体表
面の形状、濃淡、欠陥の有無等を判定する光学式検査装
置が数多く開発されている。[0002] In recent years, many optical inspection devices have been developed that scan the object surface with a laser beam and detect the intensity of the reflected light to determine, for example, the shape, shade, presence or absence of defects on the object surface. There is.
【0003】しかし、反射光の強度によって物体表面の
形状、濃淡、欠陥の有無を判定するためには、広い範囲
の強度分布に対応し、しかも微細な強度情報を正確に検
出できなければならない。However, in order to determine the shape, density, and presence or absence of defects on the surface of an object based on the intensity of reflected light, it is necessary to be able to deal with a wide range of intensity distribution and to accurately detect minute intensity information.
【0004】そこで、反射光の強度に合わせて反射光の
強度のダイナミックレンジを調整することが必要となる
。Therefore, it is necessary to adjust the dynamic range of the intensity of the reflected light in accordance with the intensity of the reflected light.
【0005】[0005]
【従来の技術】従来のこの種の光学式検査装置としては
、例えば、図5に示すようなものがある。2. Description of the Related Art An example of a conventional optical inspection device of this type is shown in FIG.
【0006】この光学式検査装置は、大別して、レーザ
光照射手段1、レーザ光検出手段2からなり、レーザ光
照射手段1は、光源3、走査系4から構成され、レーザ
光検出手段2は、光センサ5、強度判定部6、レンジ選
択部7、増幅部8、量子化部9から構成されている。This optical inspection device is roughly divided into a laser beam irradiation means 1 and a laser beam detection means 2. The laser beam irradiation means 1 is composed of a light source 3 and a scanning system 4. , an optical sensor 5, an intensity determination section 6, a range selection section 7, an amplification section 8, and a quantization section 9.
【0007】以上の構成において、まず、光源3から照
射されたレーザ光が単一の走査系4によって測定すべき
物体表面に走査され、その反射光が光センサ5によって
検出される。In the above configuration, first, the laser beam irradiated from the light source 3 is scanned by the single scanning system 4 onto the surface of the object to be measured, and the reflected light is detected by the optical sensor 5.
【0008】そして、光センサ5によって検出された反
射光の強度の検出信号が強度判定部6によって判定され
、この判定結果に基づいてレンジ選択部7によって増幅
部8の増幅レベルが切り替えられ、この増幅レベルに基
づいて増幅部8で増幅された反射光の強度が量子化部9
により量子化される。[0008] Then, the detection signal of the intensity of the reflected light detected by the optical sensor 5 is judged by the intensity judgment part 6, and based on this judgment result, the amplification level of the amplification part 8 is switched by the range selection part 7. The intensity of the reflected light amplified by the amplification unit 8 based on the amplification level is determined by the quantization unit 9.
quantized by
【0009】すなわち、反射光の強度が強度判定部6に
よって判定されることで、レンジ選択部7によって増幅
部8の増幅レベルが選択されて切り替えられ、ダイナミ
ックレンジの調整がなされる。That is, by determining the intensity of the reflected light by the intensity determining section 6, the range selecting section 7 selects and switches the amplification level of the amplifying section 8, thereby adjusting the dynamic range.
【0010】0010
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、このよ
うな従来の光学式検査装置にあっては、光センサ5によ
って検出された検出信号を強度判定部6によって判定し
、判定結果に基づいてレンジ選択部7によって増幅部8
の増幅レベルを切り替えるという構成となっていたため
、以下に延べるような問題点があった。However, in such a conventional optical inspection device, the detection signal detected by the optical sensor 5 is judged by the intensity judgment section 6, and the range is selected based on the judgment result. Amplifying section 8 by section 7
Since the configuration was such that the amplification level was switched, there were problems as detailed below.
【0011】すなわち、従来例の光学式検査装置のダイ
ナミックレンジの調整は、強度判定部6により反射光の
強度が判定され、レンジ選択部7により増幅部8の増幅
レベルが選択されるまでの計算時間内に、光センサ5か
らの検出信号に急な変化がないことを前提条件としてい
るため、例えば、検査速度を上げるためにレーザ光の走
査速度を上げると、検出信号に前述の強度判定、及び増
幅レベル選択の計算が間に合わず、レーザ光の走査速度
をある所定速度よりも上に上げることができないという
問題点があった。That is, the adjustment of the dynamic range of the conventional optical inspection device involves calculations from the time when the intensity of the reflected light is determined by the intensity determination section 6 to the time when the amplification level of the amplification section 8 is selected by the range selection section 7. Since it is a prerequisite that there is no sudden change in the detection signal from the optical sensor 5 within the time, for example, if the scanning speed of the laser beam is increased to increase the inspection speed, the detection signal will be subject to the above-mentioned intensity judgment. Another problem is that calculations for selecting the amplification level cannot be made in time, making it impossible to increase the scanning speed of the laser beam above a certain predetermined speed.
【0012】[目的]そこで本発明は、ダイナミックレ
ンジの調整を行いつつ、走査速度の高速化を図った光学
式検査装置を提供することを目的としている。[Objective] Therefore, it is an object of the present invention to provide an optical inspection device that can increase the scanning speed while adjusting the dynamic range.
【0013】[0013]
【課題を解決するための手段】本発明による光学式検査
装置は上記目的達成のため、測定すべき物体表面にレー
ザ光を照射する第1レーザ光照射手段と、該第1レーザ
光照射手段と同一走査面上に所定の時間間隔をもって測
定すべき物体表面にレーザ光を照射する第2レーザ光照
射手段と、該第1、及び第2レーザ光照射手段によって
照射されたレーザ光の反射光の強度情報をそれぞれ別々
に検出する第1、及び第2レーザ光検出手段とを備え、
前記第1レーザ光検出手段の検出結果に基づいて第2レ
ーザ光検出手段の検出結果を調整するように構成してい
る。[Means for Solving the Problems] In order to achieve the above object, an optical inspection apparatus according to the present invention includes a first laser beam irradiation means for irradiating a laser beam onto the surface of an object to be measured; a second laser beam irradiation means for irradiating a laser beam onto the surface of an object to be measured at predetermined time intervals on the same scanning plane; comprising first and second laser beam detection means for separately detecting intensity information,
The detection result of the second laser light detection means is adjusted based on the detection result of the first laser light detection means.
【0014】なお、第2レーザ光検出手段の検出結果の
調整としては、第1レーザ光照射手段のレーザ光の照射
出力を調整することや、第2レーザ光検出手段のレーザ
光の検出増幅度を調整することが考えられる。The detection result of the second laser beam detection means may be adjusted by adjusting the laser beam irradiation output of the first laser beam irradiation means or by adjusting the detection amplification degree of the laser beam of the second laser beam detection means. It may be possible to adjust the
【0015】[0015]
【作用】本発明では、第2レーザ光照射手段の反射光の
強度が第2レーザ光検出手段により検出される前に予め
第1レーザ光検出手段によって第1レーザ光照射手段の
反射光の強度が検出され、この検出結果に基づいて第2
レーザ光検出手段の検出結果が調整される。[Operation] In the present invention, before the intensity of the reflected light from the second laser beam irradiation means is detected by the second laser beam detection means, the intensity of the reflected light from the first laser beam irradiation means is determined in advance by the first laser beam detection means. is detected, and based on this detection result, the second
The detection result of the laser beam detection means is adjusted.
【0016】すなわち、予め第1レーザ光検出手段によ
り検出信号の計算がなされるため、走査速度が高速され
ても第1レーザ光検出手段の検出結果に基づいて第2レ
ーザ光検出手段の検出結果のダイナミックレンジの調整
が行われる。That is, since the detection signal is calculated in advance by the first laser beam detection means, even if the scanning speed is increased, the detection result of the second laser beam detection means is based on the detection result of the first laser beam detection means. The dynamic range is adjusted.
【0017】[0017]
【実施例】以下、本発明を図面に基づいて説明する。図
1は本発明に係る光学式検査装置の実施例1を示す図で
あり、図1は本実施例の要部構成を示すブロック図であ
る。DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS The present invention will be explained below based on the drawings. FIG. 1 is a diagram showing a first embodiment of an optical inspection apparatus according to the present invention, and FIG. 1 is a block diagram showing the main part configuration of this embodiment.
【0018】まず、構成を説明する。First, the configuration will be explained.
【0019】なお、図1において、図5に示した従来例
に付された番号と同一番号は同一部分を示す。本実施例
の光学式検査装置は、大別して、第1レーザ光照射手段
1a、第2レーザ光照射手段1b、第1レーザ光検出手
段2a、第2レーザ光検出手段2bから構成されている
。In FIG. 1, the same numbers as those given to the conventional example shown in FIG. 5 indicate the same parts. The optical inspection device of this embodiment is roughly divided into a first laser beam irradiating means 1a, a second laser beam irradiating means 1b, a first laser beam detecting means 2a, and a second laser beam detecting means 2b.
【0020】また、第1レーザ光照射手段1aは、光源
3a、走査系4aから構成され、第2レーザ光照射手段
1bは、光源3b、走査系4bから構成されている。第
1レーザ光検出手段2aは、光センサ5a、強度判定部
6、レンジ選択部7、タイミング制御部10から構成さ
れ、第2レーザ光検出手段2bは、光センサ5b、量子
化部9から構成されている。The first laser beam irradiation means 1a is composed of a light source 3a and a scanning system 4a, and the second laser beam irradiation means 1b is composed of a light source 3b and a scanning system 4b. The first laser beam detection means 2a is composed of an optical sensor 5a, an intensity determination section 6, a range selection section 7, and a timing control section 10, and the second laser beam detection means 2b is composed of an optical sensor 5b and a quantization section 9. has been done.
【0021】次に作用を説明する。まず、図1に示すよ
うに、光源3aから照射された走査線上を先行するレー
ザ光Aからの検出信号A’が装置のダイナミックレンジ
の調整に利用される。Next, the operation will be explained. First, as shown in FIG. 1, a detection signal A' from a laser beam A that precedes a scanning line emitted from a light source 3a is used to adjust the dynamic range of the apparatus.
【0022】すなわち、レーザ光Aが走査系4aによっ
て測定すべき物体表面に走査され、レーザ光Aの反射光
が光センサ5aで検出信号A’として検出されて、検出
信号A’の信号強度が強度判定部6により判定される。That is, the laser beam A is scanned by the scanning system 4a on the surface of the object to be measured, the reflected light of the laser beam A is detected by the optical sensor 5a as the detection signal A', and the signal intensity of the detection signal A' is It is determined by the strength determining section 6.
【0023】この時点でレーザ光Aが照射されていた物
体表面上の点の検出に適したレーザ光の出力値がレンジ
選択部7により決定され、光源3bから走査系4bによ
って照射される次のレーザ光Bの走査がこの点に至るタ
イミングにタイミング制御部10によって光源3bから
照射されるレーザ光Bの出力が、先に決定された物体表
面上の点の検出に適したレーザ光の出力値に設定される
。The output value of the laser beam suitable for detecting the point on the object surface that has been irradiated with the laser beam A at this point is determined by the range selection section 7, and the output value of the laser beam that is suitable for detecting the point on the object surface that has been irradiated with the laser beam A at this point is determined by the range selection section 7, and the output value of the laser beam that is suitable for detecting the point on the object surface that has been irradiated with the laser beam A at this point is determined by the range selection section 7. The output of the laser beam B irradiated from the light source 3b by the timing control unit 10 at the timing when the scanning of the laser beam B reaches this point is the output value of the laser beam suitable for detecting the point on the object surface determined previously. is set to
【0024】そして、レーザ光Bの反射光が光センサ5
bで検出される検出信号B’が量子化部9により量子化
され、この操作が走査線上の各時点で繰り返されること
によってレーザ光Bの出力が常に最適値に設定される。Then, the reflected light of the laser beam B is transmitted to the optical sensor 5.
The detection signal B' detected at point b is quantized by the quantization unit 9, and this operation is repeated at each point on the scanning line, so that the output of the laser beam B is always set to the optimum value.
【0025】したがって、レーザ光Bの出力値の系列と
、検出信号B’を量子化した値の系列とから、ダイナミ
ックレンジが広く、かつ、精度の高い検出データを得る
ことができる。Therefore, detection data with a wide dynamic range and high accuracy can be obtained from the series of output values of the laser beam B and the series of quantized values of the detection signal B'.
【0026】図2,3は本発明に係る光学式検査装置の
実施例2を示す図であり、図2は本実施例の要部構成を
示すブロック図、図3は図2の具体的な回路構成を示す
ブロック図である。2 and 3 are diagrams showing a second embodiment of the optical inspection device according to the present invention, FIG. 2 is a block diagram showing the main part configuration of this embodiment, and FIG. 3 is a diagram showing the specific structure of FIG. FIG. 2 is a block diagram showing a circuit configuration.
【0027】なお、図2において、図1、5に示した実
施例1、及び従来例に付された番号と同一番号は同一部
分を示す。In FIG. 2, the same numbers as those given to the first embodiment and the conventional example shown in FIGS. 1 and 5 indicate the same parts.
【0028】本実施例の第1レーザ光検出手段2aは、
光センサ5a、強度判定部6、レンジ選択部7、タイミ
ング制御部10から構成され、第2レーザ光検出手段2
bは、光センサ5b、増幅部8、量子化部9から構成さ
れており、図3に示すように、強度判定部6は、A/D
コンバータ11、ルックアップテーブル12からなり、
レンジ選択部7は、バッファ13、マルチプレクサ14
,15 から構成され、量子化部9は、A/Dコンバー
タから構成されている。The first laser beam detection means 2a of this embodiment is as follows:
It is composed of an optical sensor 5a, an intensity determination section 6, a range selection section 7, and a timing control section 10, and the second laser beam detection means 2
b is composed of an optical sensor 5b, an amplifying section 8, and a quantizing section 9, and as shown in FIG.
Consisting of a converter 11 and a lookup table 12,
The range selection section 7 includes a buffer 13 and a multiplexer 14.
, 15, and the quantization section 9 is composed of an A/D converter.
【0029】本実施例では、実施例1のように、レンジ
選択部7によってレーザ光Bの出力を制御するのではな
く、増幅部8による検出信号B’の増幅度を切り替える
ものである。In this embodiment, unlike the first embodiment, the output of the laser beam B is not controlled by the range selection section 7, but the degree of amplification of the detection signal B' by the amplification section 8 is switched.
【0030】すなわち、検出信号A’がA/Dコンバー
タ11によってデジタル化され、このデジタル化された
値に対応する最適なレンジがルックアップテーブル12
から読み出され、バッファ13により一時、記憶保持さ
れる。そして、タイミング制御部10により現在の検出
信号より2走査前の検出信号A’によって計算された最
適なレンジがバッファ13から読み出され、このレンジ
にマルチプレクサ14,15 が切り替えられる。That is, the detection signal A' is digitized by the A/D converter 11, and the optimum range corresponding to this digitized value is determined from the look-up table 12.
The data is read from the buffer 13 and temporarily stored in the buffer 13. Then, the optimum range calculated by the timing control section 10 using the detection signal A' two scans before the current detection signal is read out from the buffer 13, and the multiplexers 14 and 15 are switched to this range.
【0031】一方、検出信号B’はマルチプレクサ14
に入力され、増幅部8によって各レンジ別に増幅され、
A/Dコンバータによってデジタル値の量子化データに
変換される。On the other hand, the detection signal B' is sent to the multiplexer 14
and is amplified for each range by the amplifying section 8,
The A/D converter converts the data into digital quantized data.
【0032】したがって、常に、検出信号B’が最適な
レンジで増幅され、量子化されたデータが得られる。Therefore, the detection signal B' is always amplified within the optimum range and quantized data is obtained.
【0033】このように本実施例では、第2レーザ光照
射手段の反射光の強度を第2レーザ光検出手段によって
検出する前に、予め第1レーザ光検出手段によって第1
レーザ光照射手段の反射光の強度を検出でき、この検出
結果に基づいて第2レーザ光検出手段の検出結果を調整
することができる。As described above, in this embodiment, before the intensity of the reflected light from the second laser beam irradiation means is detected by the second laser beam detection means, the first laser beam detection means
The intensity of the reflected light from the laser beam irradiation means can be detected, and the detection result of the second laser beam detection means can be adjusted based on this detection result.
【0034】したがって、走査速度を高速化した場合に
おいても第1レーザ光検出手段の検出結果に基づいて第
2レーザ光検出手段の検出結果のダイナミックレンジの
調整ができ、検査速度を上げることができる。Therefore, even when the scanning speed is increased, the dynamic range of the detection result of the second laser light detection means can be adjusted based on the detection result of the first laser light detection means, and the inspection speed can be increased. .
【0035】なお、上記実施例1、及び2の光学系は、
光源、走査系共にそれぞれ2組用いて構成しているが、
図4に示すように、光源、及び走査系を1組のレーザ光
源16、ビームエクスパンダ17、ビームスプリッタ1
8a,18b 、ポリゴンスキャナミラー19、スキャ
ンレンズ20で構成し、光センサとして、例えば、光電
子像倍管等を用いてもよい。The optical systems of Examples 1 and 2 above are as follows:
It is constructed using two sets of light sources and scanning systems each.
As shown in FIG. 4, the light source and scanning system are composed of a set of laser light source 16, beam expander 17, and beam splitter 1.
8a, 18b, a polygon scanner mirror 19, and a scan lens 20, and a photoelectron image intensifier, for example, may be used as the optical sensor.
【0036】この場合、以上の構成において、レーザ光
源16から照射したレーザ光は、ビームスプリッタ18
a によって2分され、一方は光路αを通ってポリゴン
スキャナミラー19に、他方はビームスプリッタ18b
で反射され、光路βを通ってポリゴンスキャナミラー
19に照射される。このとき、ビームスプリッタ18a
,18b のそれぞれの角度は光路α、及び光路βを通
るレーザ光がポリゴンスキャナミラー19の同じ点で反
射するように調整されている。In this case, in the above configuration, the laser light emitted from the laser light source 16 is transmitted to the beam splitter 18.
a, one passes through the optical path α to the polygon scanner mirror 19, and the other passes through the beam splitter 18b.
The light is reflected by the light beam, passes through the optical path β, and is irradiated onto the polygon scanner mirror 19. At this time, the beam splitter 18a
, 18b are adjusted so that the laser beams passing through the optical paths α and β are reflected at the same point on the polygon scanner mirror 19.
【0037】ここで、光路αと光路βとがなす角度をθ
(rad) 、ポリゴンスキャナミラー19の回転速度
をu(rad/sec) とすると、走査面上で2つの
走査光はθ/2u(sec)の時間差をもって同じ点を
走査する。Here, the angle formed by the optical path α and the optical path β is θ
(rad) and the rotation speed of the polygon scanner mirror 19 is u (rad/sec), then the two scanning lights scan the same point on the scanning plane with a time difference of θ/2u (sec).
【0038】すなわち、走査面での反射光は実施例1、
及び2と同様に、全く同じ光路をたどり、光センサに検
出される。That is, the reflected light on the scanning surface is
Similar to and 2, it follows exactly the same optical path and is detected by the optical sensor.
【0039】したがって、本実施例を適用することによ
って、実施例1、及び2の光源、走査系が簡略化でき、
装置の小型化、及び低コスト化に貢献できる。また、上
記実施例2では検出信号A’をそのままA/Dコンバー
タ11に入力しているが、これに限らず、A/Dコンバ
ータ11に入力する前にログアンプを通すことにより、
より広いダイナミックレンジのデータを取り扱うことが
できる。Therefore, by applying this embodiment, the light source and scanning system of Embodiments 1 and 2 can be simplified;
It can contribute to miniaturization and cost reduction of devices. In addition, in the second embodiment, the detection signal A' is input to the A/D converter 11 as it is, but the invention is not limited to this, and by passing it through a log amplifier before inputting it to the A/D converter 11,
It can handle data with a wider dynamic range.
【0040】[0040]
【発明の効果】本発明では、第2レーザ光照射手段の反
射光の強度を第2レーザ光検出手段によって検出する前
に、予め第1レーザ光検出手段によって第1レーザ光照
射手段の反射光の強度を検出でき、この検出結果に基づ
いて第2レーザ光検出手段の検出結果を調整することが
できる。According to the present invention, before the second laser beam detection means detects the intensity of the reflected light from the second laser beam irradiation means, the first laser beam detection means detects the reflected light from the first laser beam irradiation means in advance. The intensity of the laser beam can be detected, and the detection result of the second laser beam detection means can be adjusted based on this detection result.
【0041】したがって、走査速度を高速化した場合に
おいても第1レーザ光検出手段の検出結果に基づいて第
2レーザ光検出手段の検出結果のダイナミックレンジの
調整ができ、検査速度を上げることができる。Therefore, even when the scanning speed is increased, the dynamic range of the detection result of the second laser light detection means can be adjusted based on the detection result of the first laser light detection means, and the inspection speed can be increased. .
【図1】本発明実施例1の要部構成を示すブロック図で
ある。FIG. 1 is a block diagram showing the main configuration of a first embodiment of the present invention.
【図2】本発明実施例2の要部構成を示すブロック図で
ある。FIG. 2 is a block diagram showing the main configuration of a second embodiment of the present invention.
【図3】図2の具体的な回路構成を示すブロック図であ
る。FIG. 3 is a block diagram showing a specific circuit configuration of FIG. 2;
【図4】本発明実施例3の光学系の構成を示す図である
。FIG. 4 is a diagram showing the configuration of an optical system according to Example 3 of the present invention.
【図5】従来例の要部構成を示すブロック図である。FIG. 5 is a block diagram showing the main part configuration of a conventional example.
1 レーザ光照射手段
1a 第1レーザ光照射手段
1b 第2レーザ光照射手段
2 レーザ光検出手段
2a 第1レーザ光検出手段
2b 第2レーザ光検出手段
3 光源
3a,3b 光源
4 走査系
4a,4b 走査系
5 光センサ
5a,5b 光センサ
6 強度判定部
7 レンジ選択部
8 増幅部
9 量子化部
10 タイミング制御部
11 A/Dコンバータ
12 ルックアップテーブル
13 バッファ
14,15 マルチプレクサ
16 レーザ光源
17 ビームエクスパンダ
18a,18b ビームスプリッタ19 ポ
リゴンスキャナミラー
20 スキャンレンズ1 Laser light irradiation means 1a First laser light irradiation means 1b Second laser light irradiation means 2 Laser light detection means 2a First laser light detection means 2b Second laser light detection means 3 Light sources 3a, 3b Light sources 4 Scanning systems 4a, 4b Scanning system 5 Optical sensor 5a, 5b Optical sensor 6 Intensity determination section 7 Range selection section 8 Amplification section 9 Quantization section 10 Timing control section 11 A/D converter 12 Lookup table 13 Buffers 14, 15 Multiplexer 16 Laser light source 17 Beam Ex Panda 18a, 18b Beam splitter 19 Polygon scanner mirror 20 Scan lens
Claims (3)
する第1レーザ光照射手段と、該第1レーザ光照射手段
と同一走査面上に所定の時間間隔をもって測定すべき物
体表面にレーザ光を照射する第2レーザ光照射手段と、
該第1、及び第2レーザ光照射手段によって照射された
レーザ光の反射光の強度情報をそれぞれ別々に検出する
第1、及び第2レーザ光検出手段と、を備え、前記第1
レーザ光検出手段の検出結果に基づいて第2レーザ光検
出手段の検出結果を調整することを特徴とする光学式検
査装置。1. First laser beam irradiation means for irradiating a laser beam onto the surface of an object to be measured; a second laser beam irradiation means for irradiating;
first and second laser light detection means for separately detecting intensity information of reflected light of the laser light irradiated by the first and second laser light irradiation means,
An optical inspection device characterized in that the detection result of the second laser light detection means is adjusted based on the detection result of the laser light detection means.
に基づいて前記第1レーザ光照射手段のレーザ光の照射
出力を調整することを特徴とする請求項1の光学式検査
装置。2. The optical inspection apparatus according to claim 1, wherein the laser beam irradiation output of the first laser beam irradiation means is adjusted based on the detection result of the first laser beam detection means.
に基づいて前記第2レーザ光検出手段のレーザ光の検出
増幅度を調整することを特徴とする請求項1の光学式検
査装置。3. The optical inspection apparatus according to claim 1, wherein the detection amplification degree of the laser beam of said second laser beam detection means is adjusted based on the detection result of said first laser beam detection means.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4381891A JPH04279846A (en) | 1991-03-08 | 1991-03-08 | Optical inspection instrument |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4381891A JPH04279846A (en) | 1991-03-08 | 1991-03-08 | Optical inspection instrument |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH04279846A true JPH04279846A (en) | 1992-10-05 |
Family
ID=12674329
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP4381891A Withdrawn JPH04279846A (en) | 1991-03-08 | 1991-03-08 | Optical inspection instrument |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH04279846A (en) |
Cited By (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH05118826A (en) * | 1991-10-28 | 1993-05-14 | Matsushita Electric Works Ltd | Shape detecting apparatus |
| JP2001235429A (en) * | 2000-02-24 | 2001-08-31 | Topcon Corp | Surface inspection equipment |
| JP2008020362A (en) * | 2006-07-13 | 2008-01-31 | Hitachi High-Technologies Corp | Surface inspection method and inspection apparatus |
| JP2008275540A (en) * | 2007-05-02 | 2008-11-13 | Hitachi High-Technologies Corp | Pattern defect inspection apparatus and method |
| CN100462715C (en) * | 2004-02-25 | 2009-02-18 | 安立株式会社 | Printed solder inspection device |
| JP2011141195A (en) * | 2010-01-07 | 2011-07-21 | Hitachi High-Technologies Corp | Substrate inspection method and substrate inspection apparatus |
| JP2015010959A (en) * | 2013-06-28 | 2015-01-19 | 三菱重工業株式会社 | Inspection apparatus, inspection method and program |
| WO2019159334A1 (en) * | 2018-02-16 | 2019-08-22 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | Defect inspection device |
-
1991
- 1991-03-08 JP JP4381891A patent/JPH04279846A/en not_active Withdrawn
Cited By (9)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
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| JP2001235429A (en) * | 2000-02-24 | 2001-08-31 | Topcon Corp | Surface inspection equipment |
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| WO2019159334A1 (en) * | 2018-02-16 | 2019-08-22 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | Defect inspection device |
| US11143600B2 (en) | 2018-02-16 | 2021-10-12 | Hitachi High-Tech Corporation | Defect inspection device |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
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| A300 | Application deemed to be withdrawn because no request for examination was validly filed |
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