JPH0428068Y2 - - Google Patents

Description

【考案の詳細な説明】 （産業上の利用分野） 本考案は、側面に沿つて端子が設けられた電子
部品の電気的検査をするのに好適な電子部品検査
治具に関するものである。

（従来の技術） 高密度に配設されたプリント基板の回路パター
ンおよびこれらの回路パターンに実装されたIC
その他の電子部品の電気的特性を検査するため
に、多数のコンタクトプローブを回路パターンや
電子部品等の適宜な多数の検査点に同時に当接さ
せて種々の測定検査が行なわれている。

（考案が解決しようとする問題点） ところで、従来の電子部品検査治具は、プリン
ト基板等に対してコンタクトプローブを垂直方向
に相対移動させるもので、例えば第７図に示す
IC等の電子部品１の多数の端子２，２……の肩
部等の水平な検査点Ｐ，Ｐ……にコンタクトプロ
ーブを当接するものである。しかるに、近年、
IC等の電子部品３で端子４，４……が、第８図
のごとく、電子部品３の本体の側面から底面にか
けて電子部品３に沿つて密接状態に設けられたも
のがある。これは、プリント基板に電子部品３を
接着剤により接合するのに好適であるとともに、
より一層の高密度実装を図るためである。ここ
で、従来の電子部品検査治具では、第８図のごと
き電子部品３の端子４，４にコンタクトプローブ
を当接させることができず、測定検査することが
できないという問題点がある。

本考案の目的は、上記の従来の電子部品検査治
具の問題点を解決するためになされたもので、側
面に沿つて多数の端子が設けられた電子部品を検
査することができ、しかも電子部品を押し潰して
破壊することのない電子部品検査治具を提供する
ことにある。

（問題を解決するための手段） かかる目的を達成するために、本考案の電子部
品検査治具は、側面に沿つて多数の端子が設けら
れた電子部品が挿入嵌合できる凹部を移動検査治
具に形成し、前記電子部品の側面に対向する前記
凹部の内周に前記電子部品の端子にそれぞれ対応
して横方向から弾接するように弾接部材を配列
し、前記移動検査治具を摺動支持基台に対して分
離しないように上下動自在に配置するとともにコ
イルばねにより分離方向に弾性付勢し、さらに前
記弾接部材に上下伸縮自在の導電伸縮プローブを
当接させ、前記電子部品と前記摺動支持基台との
近接方向の相対移動により前記電子部品を前記凹
部に嵌合させて前記端子に横方向から前記弾接部
材を弾接させ、前記導電伸縮プローブを介して導
通接続するように構成されている。

（作用） 移動検査治具に電子部品が挿入嵌合できる凹部
を形成し、この凹部の内周に電子部品の多数の端
子にそれぞれ対応して横方向から弾接するように
弾接部材を配列し、移動検査治具を摺動支持基台
に上下動自在で分離方向に弾性付勢して配設した
ので、電子部品を凹部に嵌合させるように摺動支
持基台を相対移動させることで、電子部品の端子
に横方向から弾接部材をそれぞれ弾接させること
ができ、この弾接部材を適宜に検査装置に導通接
続することで、側面に沿つて端子が設けられた電
子部品を測定検査することができる。しかも、電
子部品を凹部に嵌合させるに必要とする以上の相
対移動距離を、弾力に抗して移動検査治具と摺動
支持基台とが近接して吸収でき、電子部品を押し
潰して破壊するようなことがない。さらに、弾接
部材に上下伸縮自在の導電伸縮プローブを当接さ
せて導通接続するようにしたので、弾接部材を導
電伸縮プローブで均一に押圧することができ、移
動検査治具と摺動支持基台との相対移動にこじり
等の力が作用することなく円滑に上下動がなし得
る。

（実施例の説明） 以下、本考案の実施例を第１図ないし第３図を
参照して説明する。第１図は、本考案の電子部品
検査治具を構成する摺動支持基台の平面図であ
り、第２図は、第１図のＡ−Ａで断面した本考案
の電子部品検査治具の断面図であり、第３図は、
第２図の導通端子舌片および枠体の一部切欠き斜
視図である。

第１図ないし第３図において、電子部品検査治
具１０は、摺動支持基台１１の中央部に支持孔１
２を上下に貫通させて穿設し、頭部に膨大部を有
する支持柱１３を支持孔１２を挿通して移動検査
治具２０に植設し、移動検査治具２０を摺動支持
基台１１の下に適宜な移動幅で分離しないように
上下動自在に配設する。また、摺動支持基台１１
に位置決め孔１４，１４を穿設し、移動検査治具
２０に挿入した位置決めピン１５，１５の上部を
この位置決め孔１４，１４に上下摺動可能に挿入
して移動検査治具２０を摺動支持基台１１に対し
て横方向にずれることなく上下方向にのみ移動可
能としている。さらに、摺動支持基台１１の下面
に有底孔１６，１６を設け、この有底孔１６，１
６と移動検査治具２０との間にコイルばね１７，
１７を縮設して移動検査治具２０を下方に摺動支
持基台１１より分離方向に弾性付勢する。

移動検査治具２０は、絶縁樹脂で成形された治
具基台２１に絶縁樹脂で成形された枠体２２をね
じ等により固定する。この枠体２２の内周形状
は、電子部品３の側方周囲を囲むように電子部品
３の平面形状より若干大きい形状で上下方向に貫
通させて形成し、その下部の内周形状を拡大した
拡大部２３を設け、さらに上端面２４に電子部品
３の多数の端子４，４……の配列にそれぞれ対応
して内側から外側に渡つて溝２５，２５……を形
成する。この溝２５，２５……に挿入されて枠体
２２と治具基台２１とで挾持される導通端子舌片
２６，２６……は、弾性を有する良導体の板金で
形成し、溝２５，２５……の内側端で折り曲げ
て、枠体２２の内周壁に沿つて垂下して、逆Ｌ字
状に形成する。さらに、導通端子舌片２６，２６
……の垂下した端部に枠体２２の拡大部２３に臨
んで内方に凸なる円孤状の当接部２７，２７……
を形成する。そして、枠体２２の内側に絶縁樹脂
で形成された挿入固定部材２８を挿入し、この挿
入固定部材２８と枠体２２の内周壁とにより導通
端子舌片２６，２６……の垂下した部分を挾持し
て当接部２７，２７……の位置がずれないように
固定する。また、治具基台２１と挿入固定部材２
８とに貫通して位置決めピン１５，１５の他端を
挿入固定して枠体２２と挿入固定部材２８で形成
する凹部を摺動支持基台１１に対して位置決めす
る。２９，２９は、挿入固定部材２８を治具基台
２１に固定する止めねじである。

さらに、移動検査治具２０の治具基台２１に溝
２５，２５……に挿入された導通端子舌片２６，
２６……に臨んでプローブ挿入孔３０，３０……
を設け、このプローブ挿入孔３０，３０……と対
応して摺動支持基台１１に上下伸縮自在の導電伸
縮プローブ３１，３１……を挿通固定し、導通端
子舌片２６，２６……に当接させる。この導電伸
縮プローブ３１，３１……は、従来公知のごと
く、導電性を有する保護筒にプランジヤーを抜け
落ちないように摺動自在に設け、保護筒に封入さ
れたコイルばねによりプランジヤーを突出方向に
弾性付勢し、プランジヤーの先端を導通端子舌片
１６，１６……に弾接させる構造のものである。
そして、この導電伸縮プローブ３１，３１……に
リード線３２，３２……を半田付けして図示しな
い検査装置に接続する。

プリント基板等に実装された電子部品３に対し
て摺動支持基台１１がねじ３３，３３……で固定
される治具取付基台３４を近接方向に相対移動さ
せて移動検査治具２０の凹部で電子部品３を囲む
ように挿入嵌合させる。すると導通端子舌片２
６，２６……の当接部２７，２７……は拡大部２
３内で弾性変形して端子４，４……に横方向から
それぞれ弾接する。この結果、電子部品３の端子
４，４……は、導通端子舌片２６，２６……およ
び導電伸縮プローブ３１，３１……さらにリード
線３２，３２……を順次介して検査装置に導通接
続することができ、側面に沿つて端子４，４……
が設けられた電子部品３を測定検査することがで
きる。しかも、移動検査治具２０の凹部に電子部
品３を充分に挿入嵌合させるに必要とする以上の
近接方向の相対移動距離は、コイルばね１７，１
７の弾力に抗して移動検査治具２０と摺動支持基
台１１とが近接するとともに導電伸縮プローブ３
１，３１……が収縮して吸収でき、電子部品３を
押し潰して破壊することがない。さらに、導通端
子舌片２６，２６……に弾接する導電伸縮プロー
ブ３１，３１……の弾力は均一であり、移動検査
治具２０と摺動支持基台１１との相対移動にこじ
り等の力が作用することなく円滑に上下動がなし
得る。

第４図ないし第６図は、本考案の電子部品検査
治具の他の実施例である。第４図は、本考案の電
子部品検査治具の他の実施例の縦断面図であり、
第５図は、コンタクトピンの一実施例の断面図で
あり、第６図は、コンタクトピンの他の実施例の
断面図である。第４図において、第１図ないし第
３図と同一部材に同一符号を付して重複する説明
を省略する。

第４図において、電子部品検査治具４０は、移
動検査治具５０を支持柱１３により摺動支持基台
１１の下に適宜な移動幅で上下動自在に配設し、
また位置決めピン１５，１５で横方向にずれるこ
となく上下方向にのみ移動可能とし、さらにコイ
ルばね１７，１７で下方に弾性付勢する。

そして、移動検査治具５０は、絶縁樹脂で成形
した検査治具台５１の下面に電子部品３が挿入嵌
合できて側方周囲を囲むような凹部５２を形成
し、電子部品３に対向する凹部５２の内周に電子
部品３の多数の端子４，４……にそれぞれに対応
して内方に向けてコンタクトピン５３，５３……
を配列する。このコンタクトピン５３，５３……
は、例えば第５図のごとく、金属製の外筒５４に
コイルばね５５を封入し、このコイルばね５５の
弾力で鋼球５６を外筒５４の一端部に設けた小孔
から一部を突出するように弾性付勢し、この鋼球
５６が電子部品３の端子４，４……に弾接するよ
うに構成したものである。または、第６図のごと
く、外筒５４の一端部に設けた小孔から突起を突
出させる突起部材５７をコイルばね５５で弾性付
勢し、この突起部材５７が端子４，４……に弾接
するよう構成したものである。

さらに、移動検査治具５０の検査治具台５１に
コンタクトピン５３，５３……に臨んでプローブ
挿入孔５８，５８……を設け、このプローブ挿入
孔５８，５８……と対応して摺動支持基台１１に
上下伸縮自在の導電伸縮プローブ３１，３１……
を挿入固定し、コンタクトピン５３，５３……に
当接させる。

かかる構成においてプリント基板等に実装され
た電子部品３に対して摺動支持基台１１が固定さ
れる治具取付基台３４を近接方向に相対移動させ
て、移動検査治具５０の凹部５２に電子部品３を
挿入嵌合させる。すると、コンタクトピン５３，
５３……の鋼球５６，５６……若しくは突起部材
５７，５７……が電子部品３の端子４，４……に
それぞれ弾接して、端子４，４……をコンタクト
ピン５３，５３……と導電伸縮プローブ３１，３
１……およびリード線３２，３２……を介して検
査装置に導通接続できる。しかも、治具取付基台
３４の必要以上の相対移動距離は移動検査治具５
０と摺動支持基台１１とが近接するとともに導電
伸縮プローブ３１，３１……が収縮して吸収で
き、電子部品３を押し潰して破壊することがな
い。ここで、コンタクトピン５３，５３……の鋼
球５６，５６……若しくは突起部材５７，５７…
…は突出方向に往復移動のみ可能であり、電子部
品３に対して凹部５２で移動検査治具５０を位置
決めすれば、コンタクトピン５３，５３……を端
子４，４……に確実に弾接することができる。

なお、上記実施例にあつては、電子部品３の端
子４，４……に横方向から弾接する弾接部材とし
て導通端子舌片２６，２６……およびコンタクト
ピン５３，５３……を示したが、これらに限られ
ないことは勿論である。また、上記実施例にあつ
ては摺動支持基台１１に導電伸縮プローブ３１，
３１……を固定したが、移動検査治具２０，５０
に導通端子舌片２６，２６……若しくはコンタク
トピン５３，５３……に適宜に電気的接続した導
電伸縮プローブ３１，３１……を固定し、リード
線３２，３２……を接続した端子片を摺動支持基
台１１に固定し、この端子片に導電伸縮プローブ
３１，３１……を当接させるように構成しても良
い。さらに、本考案の電子部品検査治具の測定検
査の対象は、側面に沿つて端子が設けられた電子
部品であれば良く、ICに限られないことは勿論
である。

（考案の効果） 以上説明したように、本考案の電子部品検査治
具によれば、移動検査治具に電子部品が挿入嵌合
できる凹部を形成し、この凹部の内周に電子部品
の多数の端子にそれぞれ対応して横方向から弾接
するように弾接部材を配列し、移動検査治具を摺
動支持基台に上下動自在で分離方向に弾性付勢し
て配設したので、電子部品を凹部に嵌合させるよ
うに摺動支持基台を相対移動させることで、電子
部品の端子に横方向から弾接部材をそれぞれ弾接
させることができ、この弾接部材を適宜に検査装
置に導通接続することで、側面に沿つて端子が設
けられた電子部品を測定検査することができる。
しかも、電子部品を凹部に嵌合させるに必要とす
る以上の相対移動距離を、弾力に抗して移動検査
治具と摺動支持基台とが近接して吸収でき、電子
部品を押し潰して破壊するようなことがない。さ
らに、弾接部材に上下伸縮自在の導電伸縮プロー
ブを当接させて導通接続するようにしたので、弾
接部材を導電伸縮プローブを均一に押圧すること
ができ、移動検査治具と摺動支持基台との相対移
動にこじり等の力が作用することなく円滑に上下
動がなし得るという優れた効果を奏する。

【図面の簡単な説明】

第１図は、本考案の電子部品検査治具を構成す
る摺動支持基台の平面図であり、第２図は、第１
図のＡ−Ａで断面した本考案の電子部品検査治具
の断面図であり、第３図は、第２図の導通端子舌
片および枠体の一部切欠き斜視図であり、第４図
は、本考案の電子部品検査治具の他の実施例の縦
断面図であり、第５図は、コンタクトピンの一実
施例の断面図であり、第６図は、コンタクトピン
の他の実施例の断面図であり、第７図は、側方に
端子が張り出したIC等の電子部品の斜視図であ
り、第８図は、本考案の電子部品検査治具の対象
とする側面に沿つて端子が設けられたIC等の電
子部品の斜視図である。 １，３……電子部品、２，４……端子、１０，
４０……電子部品検査治具、１１……摺動支持基
台、１３……支持柱、１７……コイルばね、２
０，５０……移動検査治具、２１……治具基台、
２２……枠体、２６……導通端子舌片、３０，５
８……プローブ挿入孔、３１……導電伸縮プロー
ブ、５１……検査治具台、５２……凹部、５３…
…コンタクトピン。

Claims (1)

【実用新案登録請求の範囲】
1. 側面に沿つて多数の端子が設けられた電子部品
   が挿入嵌合できる凹部を移動検査治具に形成し、
   前記電子部品の側面に対向する前記凹部の内周に
   前記電子部品の端子にそれぞれ対応して横方向か
   ら弾接するように弾接部材を配列し、前記移動検
   査治具を摺動支持基台に対して分離しないように
   上下動自在に配置するとともにコイルばねにより
   分離方向に弾性付勢し、さらに前記弾接部材に上
   下伸縮自在の導電伸縮プローブを当接させ、前記
   電子部品と前記摺動支持基台との近接方向の相対
   移動により前記電子部品を前記凹部に嵌合させて
   前記端子に横方向から前記弾接部材を弾接させ、
   前記導電伸縮プローブを介して導通接続するよう
   に構成したことを特徴とする電子部品検査治具。