JPH048374Y2 - - Google Patents

Description

【考案の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本考案は、回路基板の表面に実装される電子部
品を、電気的検査する場合のコンタクトプローブ
に関する。

〔従来の技術〕

従来、回路基板上に取付けられた電子部品の電
気的検査を行なう場合には、円筒状のスリーブ内
に、接触ピンを突出させた状態でプランジヤを摺
動自在に配設すると共に、このプランジヤをスプ
リングにより外方に押圧付勢するようにした、コ
ンタクトプローブを検査装置のプローブ取付板に
挿着し、このコンタクトプローブの接触ピンを回
路基板の検査点や電子部品と回路基板との半田接
合点等に接触させる方法を採つている。

ところで、最近、回路基板上に取付けられる電
子部品にはデイスクリード部品以外に、チツプ部
品を使用する傾向にあり、第１図に示すように、
チツプ部品１は左右の側面に電極部１ａ，１ｂを
有し、回路基板２の表面に半田付け、又は導電性
接着剤により接合される。従つて、前記チツプ部
品１を検査する場合は電極部１ａ，１ｂの側面に
コンタクトプローブを接触させる必要がある。

〔考案が解決しようとする問題点〕

ところが、従来のコンタクトプローブでは、チ
ツプ部品の電極部側面に接触させることができ
ず、また、電極部の上表面部に接触させようとし
ても、電極の領域が大変狭く、チツプ部品の位置
ズレも有ることから、常に正確さをもつてコンタ
クトプローブを当接させることが困難であつた。

本考案はかかる現況に鑑みなされたもので、回
路基板上に実装されたチツプ部品の性能検査を正
確に成し得るコンタクトプローブを提供するもの
である。

〔問題点を解決するための手段〕

本考案は、筒状スリーブ体と、該筒状スリーブ
体の一端側に固着された一対の貫通孔を有する絶
縁性の蓋体と、該蓋体に当接させて前記筒状スリ
ーブ体内に配設されたコイルスプリングと、前記
コイルスプリングの押圧付勢力を受け、且つ前記
筒状スリーブ体内に摺動可能に配設された絶縁性
の摺動部材と、該摺動部材に両端が突出した状態
で抜け止め保持されている２本の触針とからな
り、前記摺動部材におけるコイルスプリングとの
当接面の反対側の面中央部に押圧支柱を突設し、
該押圧支柱側に突出した前記触針の接触部を前記
押圧支柱よりもさらに突出させるとともに前記押
圧支柱を中心にして外方向へ対称的に略く字状で
その先端間距離をチツプ部品より広く形成し、一
方、前記摺動部材の他端側に突出した触針は前記
蓋体に設けた一対の貫通孔内に移動自在に挿通さ
れ、外部に突出しているようにし、前記摺動部材
は前記筒状スリーブ体内から抜け止めされ、前記
押圧支柱の先端を前記チツプ部品の上面に当接さ
せて前記筒状スリーブ体を前記チツプ部品側に押
圧すると、前記コイルスプリングの弾力に抗して
前記摺動部材が前記筒状スリーブ体内で摺動し、
前記筒状スリーブ体の他端部により前記略く字状
の触針が内側に押圧されて２本の前記触針により
前記チツプ部品の側面電極部を挾持するように構
成されており、もつてこれらの検査を容易かつ正
確になし得るようにしたことを特徴とする。

〔実施例〕

以下、本考案の一実施例を第１図ないし第２図
を参照して説明する。

第１図において、１はチツプ部品、２は回路基
板である。３はプローブ取付板で、回路基板方向
に向かつて移動自在に検査装置（図示せず）に取
付けられている。

４は筒状スリーブ体であつて、上端内部には貫
通孔５ａ，５ｂが一定間隔をもつて設けられてい
る蓋体５が固着されている。前記蓋体５の内側中
央部には、凹部５ｃが形成され、コイルスプリン
グ６の一端部が位置するようになつている。

前記コイルスプリング６を介して更にプラスチ
ツク等絶縁性材料から成る摺動部材７が、下端部
中央に押圧支柱７ａを一体的に設け、前記筒状ス
リーブ体４の内部に摺動自在に配設されており、
抜止部４ａにより抜け止めされている。

前記摺動部材７には、軸方向に線材若しくは帯
板材による２本１組の触針８，９が固着されてお
り、且つ上端側に直線的に突出させ、該直線部が
前記蓋体５に設けた貫通孔５ａ，５ｂ内を移動自
在に外部まで突出しており、リード線１０，１１
に接続されている。

一方、前記触針８，９の他端は前記摺動部材７
から押圧支柱７ａよりもさらに突出させるととも
に、押圧支柱７ａに対して対称的に略く字状に外
方向へ偏倚して接触部８ａ，９ａを形成してい
る。尚、接触部８ａ，９ａの先端間の距離ｌは、
チツプ部品１の長さｌよりやや大なる寸法に広く
設定しておく。また、接触部８ａ，９ａの略く字
状は、筒状スリーブ体４の下端部の径より大きく
形成されている。

次に作用について説明する。

第１図はプローブ取付板３が上方に位置してい
る状態を示しており、検査されるチツプ部品１と
触針８，９の接触部８ａ，９ａの先端部は非接触
の状態にある。次に動作を開始すると、プローブ
取付板３と共に、触針７，８等が下降する。次い
で、摺動部材７の押圧支柱７ａの先端部がチツプ
部品１の上面に当接する。更にプローブ取付板３
は下降を続け、摺動部材７は停止するから、コイ
ルスプリング６が圧縮されながら、筒状スリーブ
体４が下降を続け、該筒状スリーブ体４の下端部
が触針８，９の接触部８ａ，９ａの略く字状上部
に接触する。

更に、筒状スリーブ体４が下降してくると、前
記接触部８ａ，９ａは内側に押圧され、その結果
第２図に示す如くチツプ部品１の両側面１ａ，１
ｂの電極部を挾圧保持するように接触し、閉回路
となつて電気的性能検査が行なわれるのである。

検査が終了すれば、次の回路基板と交換するた
め、プローブ取付板３を上昇させることによつ
て、第１図の状態に戻るものである。

尚、筒状スリーブ体４は円筒状でも角筒状でも
良いことは言うまでもなく、触針８，９の接触部
８ａ，９ａには外周部のみ絶縁被覆を施すことに
よつて隣り合つた別の接触部との接触事故による
検査不良の心配も解消される。

更に、筒状スリーブ体４の下端部に合成樹脂製
のリング１２を装着させることによつて接触部７
ａの摩耗に耐え得るものとなる。

〔考案の効果〕

以上説明したように、本考案は摺動部材の押圧
支柱により検査すべきチツプ部品を、予め押えつ
けた後、略く字状に形成した触針の接触部上部を
筒状スリーブ体の下端部が押圧して内側に変形さ
せるので、接触部の先端がチツプ部品の側面電極
部を挾圧するかたちで接触導通がとれ、安定した
検査が行なわれるばかりか、チツプ部品が多少位
置ズレを生じていても、何ら支障なく検査できる
等効果を得ることができる。

【図面の簡単な説明】

第１図及び第２図は本考案の一実施例を示す断
面図であり、第１図は動作開始前の状態を示し、
第２図は動作開始後検査すべき部品に触針を接触
させた状態を示す図。 １……チツプ部品、２……回路基板、３……プ
ローブ取付板、４……筒状スリーブ体、４ａ……
抜止部、５……蓋体、５ａ，５ｂ……貫通孔、５
ｃ……凹部、６……コイルスプリング、７……摺
動部材、７ａ……押圧支柱、８，９……触針、８
ａ，９ａ……接触部、１０，１１……リード線、
１２……リング、ｌ……接触部先端間距離、l₁…
…チツプ部品の長さ。

Claims (1)

【実用新案登録請求の範囲】
1. 筒状スリーブ体と、該筒状スリーブ体の一端側
   に固着された一対の貫通孔を有する絶縁性の蓋体
   と、該蓋体に当接させて前記筒状スリーブ体内に
   配設されたコイルスプリングと、前記コイルスプ
   リングの押圧付勢力を受け、且つ前記筒状スリー
   ブ体内に摺動可能に配設された絶縁性の摺動部材
   と、該摺動部材に両端が突出した状態で抜け止め
   保持されている２本の触針とからなり、前記摺動
   部材におけるコイルスプリングとの当接面の反対
   側の面中央部に押圧支柱を突設し、該押圧支柱側
   に突出した前記触針の接触部を前記押圧支柱より
   もさらに突出させるとともに前記押圧支柱を中心
   にして外方向へ対称的に略く字状でその先端間距
   離をチツプ部品より広く形成し、一方、前記摺動
   部材の他端側に突出した触針は、前記蓋体に設け
   た一対の貫通孔内に移動自在に挿通され、外部に
   突出しているようにし、前記摺動部材は前記筒状
   スリーブ体内から抜け止めされ、前記押圧支柱の
   先端を前記チツプ部品の上面に当接させて前記筒
   状スリーブ体を前記チツプ部品側に押圧すると、
   前記コイルスプリングの弾力に抗して前記摺動部
   材が前記筒状スリーブ体内で摺動し、前記筒状ス
   リーブ体の他端部により前記略く字状の触針が内
   側に押圧されて２本の前記触針により前記チツプ
   部品の側面電極部を挾持するように構成したこと
   を特徴とするコンタクトプローブ。