JPH04287253A - Parity check circuit - Google Patents

Parity check circuit

Info

Publication number
JPH04287253A
JPH04287253A JP3052232A JP5223291A JPH04287253A JP H04287253 A JPH04287253 A JP H04287253A JP 3052232 A JP3052232 A JP 3052232A JP 5223291 A JP5223291 A JP 5223291A JP H04287253 A JPH04287253 A JP H04287253A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
circuit
parity
random access
access memory
data
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP3052232A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Masakazu Matsuyama
松山 雅一
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Panasonic Holdings Corp
Original Assignee
Matsushita Electric Industrial Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Matsushita Electric Industrial Co Ltd filed Critical Matsushita Electric Industrial Co Ltd
Priority to JP3052232A priority Critical patent/JPH04287253A/en
Publication of JPH04287253A publication Critical patent/JPH04287253A/en
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Techniques For Improving Reliability Of Storages (AREA)
  • Detection And Correction Of Errors (AREA)

Abstract

PURPOSE:To analyze the cause of an error by providing a parity error inspection circuit, latch circuit, and I/O port. CONSTITUTION:The parity chec circuit is provided with the 1st random access memory 1 for storing write data, circuit 3 for generating the parity bit data of write data, and the 2nd random access memory 2 for storing the parity bit data. The circuit is also provided with a parity error detection circuit 4, latch circuit 5, and I/O port 6. The parity bit data outputted from the 2nd memory circuit 2 are held in the latch circuit 5 at the readout time. When a parity error occurs, the input and output data of the 1st memory 1 are compared with each other and, when both data are equal to each other, the parity bit data are read out the port 6 and combined with the data read out the memory 1. Therefore, whether the error is caused by the circuit 1 or detection circuit 4 can be discriminated.

Description

【発明の詳細な説明】[Detailed description of the invention]

【0001】0001

【産業上の利用分野】本発明はコンピュータなどに用い
られるランダムアクセスメモリ回路におけるパリティ検
査回路に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a parity check circuit in a random access memory circuit used in a computer or the like.

【0002】0002

【従来の技術】近年、コンピュータが広く活用され、そ
のランダムアクセスメモリ回路におけるデータ授受にお
いてはパリティ検査によりデータの信頼性がチェックさ
れる。
2. Description of the Related Art In recent years, computers have been widely used, and the reliability of data is checked by a parity check when data is exchanged in a random access memory circuit.

【0003】以下、従来のパリティ検査回路は、書き込
みデータを記憶する第1のランダムアクセスメモリ回路
1と、書き込みデータが入力され、書き込みデータの誤
り検出用のパリティビットデータを発生するパリティビ
ット発生回路3と、そのパリティビットデータを記憶す
る第2のランダムアクセスメモリ回路2と、前記第1の
ランダムアクセスメモリ回路1からメモリ読み出し時に
出力される読み出しデータと第2のランダムアクセスメ
モリ回路2から読み出し時に出力されるパリティビット
データと入力され、読み出しデータおよびパリティビッ
トデータとにもとづいてパリティエラーの有無を検出す
るパリティエラー検出回路4により構成される。
Hereinafter, the conventional parity check circuit includes a first random access memory circuit 1 that stores write data, and a parity bit generation circuit that receives the write data and generates parity bit data for detecting errors in the write data. 3, a second random access memory circuit 2 that stores the parity bit data, read data output from the first random access memory circuit 1 when reading the memory, and a second random access memory circuit 2 that stores the parity bit data. It is comprised of a parity error detection circuit 4 which receives the output parity bit data and detects the presence or absence of a parity error based on the read data and the parity bit data.

【0004】上記構成においてその動作を説明する。第
1のランダムアクセスメモリ回路1にデータを書き込む
と、データはパリティビット発生回路3にも入力され、
パリティデータが生成されて第2のランダムアクセスメ
モリ回路2に書き込まれる。
The operation of the above configuration will be explained. When data is written to the first random access memory circuit 1, the data is also input to the parity bit generation circuit 3,
Parity data is generated and written to the second random access memory circuit 2.

【0005】次に、第1のランダムアクセスメモリ回路
1からデータを読み出す場合、第1のランダムアクセス
メモリ回路回路1から出力された読み出しデータと、第
2のランダムアクセスメモリ回路2から出力されたパリ
ティビットデータがパリティエラー検出回路4に入力さ
れ、パリティエラーの有無が検出される。
Next, when reading data from the first random access memory circuit 1, the read data output from the first random access memory circuit 1 and the parity output from the second random access memory circuit 2 are combined. The bit data is input to a parity error detection circuit 4, and the presence or absence of a parity error is detected.

【0006】[0006]

【発明が解決しようとする課題】このような従来のパリ
ティ検査回路では、パリティエラーが検出されてその発
生原因を知りたい場合がある。このとき、第1のランダ
ムアクセスメモリ回路1の動作不良は第1のランダムア
クセスメモリ回路1への書き込みデータと読み出しデー
タの内容を比較することで容易に原因を判断することが
できるが、第2のランダムアクセスメモリ回路2の動作
不良、または、パリティエラー検出回路4の動作不良に
よる場合はどちらの動作不良によりパリティエラーが発
生したのかが判定できないという問題があった。
SUMMARY OF THE INVENTION In such a conventional parity check circuit, there are cases where a parity error is detected and it is desired to know the cause of its occurrence. At this time, the cause of the malfunction of the first random access memory circuit 1 can be easily determined by comparing the contents of the data written to the first random access memory circuit 1 and the data read from the first random access memory circuit 1. When the parity error is caused by a malfunction of the random access memory circuit 2 or a malfunction of the parity error detection circuit 4, there is a problem in that it is impossible to determine which malfunction caused the parity error.

【0007】本発明は上記の問題を解決するもので、パ
リティエラーの原因解析が的確にできるパリティ検査回
路を提供することを目的とする。
SUMMARY OF THE INVENTION The present invention solves the above problems and aims to provide a parity check circuit that can accurately analyze the causes of parity errors.

【0008】[0008]

【課題を解決するための手段】本発明は上記の目的を達
成するために、書き込みデータを記憶する第1のランダ
ムアクセスメモリ回路と、前記書き込みデータを入力し
て誤り検出用のパリティビットデータを発生するパリテ
ィビット発生回路と、そのパリティビットデータを入力
して記憶する第2のランダムアクセスメモリ回路と、前
記第1および第2のランダムアクセスメモリ回路からメ
モリ読み出し時に出力される読み出しデータとパリティ
ビットデータとを入力してパリティエラーの有無を検出
するパリティエラー検出回路と、前記第2のランダムア
クセスメモリ回路から読み出し時に出力されるパリティ
ビットデータを保持するラッチ回路と、前記ラッチ回路
に保持されたパリティビットデータを読み出すI/Oポ
ートを備えたパリティ検査回路とする。
[Means for Solving the Problems] In order to achieve the above object, the present invention provides a first random access memory circuit for storing write data, and a first random access memory circuit for storing write data and parity bit data for error detection by inputting the write data. A parity bit generation circuit that generates a parity bit, a second random access memory circuit that inputs and stores the parity bit data, and read data and parity bits that are output from the first and second random access memory circuits when reading the memory. a parity error detection circuit that inputs data and detects the presence or absence of a parity error; a latch circuit that holds parity bit data that is output from the second random access memory circuit when reading; A parity check circuit is provided with an I/O port for reading parity bit data.

【0009】[0009]

【作用】本発明は上記の構成において、読み出し時に第
2のランダムアクセスメモリ回路から出力されるパリテ
ィビットデータをラッチ回路に保持し、パリティエラー
が発生したとき、第1のランダムアクセスメモリの書き
込みデータと読み出しデータとを比較し、両者が等しく
て第1のランダムアクセスメモリに動作不良がないとき
は、I/Oポートからパリティビットデータをソフトウ
エアで読み出し、第1のランダムアクセスメモリの読み
出しデータと組み合わせることで、エラー発生の原因を
ランダムアクセスメモリ回路の動作不良によるものか、
または、パリティエラー検出回路の動作不良によるもの
か判定する。
[Operation] In the above configuration, the present invention holds the parity bit data output from the second random access memory circuit in the latch circuit during reading, and when a parity error occurs, the write data of the first random access memory and the read data, and if they are equal and there is no malfunction in the first random access memory, the parity bit data is read from the I/O port by software, and the parity bit data is compared with the read data of the first random access memory. In combination, it is possible to determine whether the cause of the error is due to malfunction of the random access memory circuit.
Alternatively, it is determined whether the error is due to malfunction of the parity error detection circuit.

【0010】0010

【実施例】以下、本発明の一実施例のパリティ検査回路
について図面を参照しながら説明する。図1に本発明の
一実施例のパリティ検査回路の構成をブロック図で示す
。図において、本発明の実施例のパリティ検査回路は、
書き込みデータを入力して記憶する第1のランダムアク
セスメモリ回路1と、その書き込みデータを入力して、
そのデータから誤り検出用のパリティビットデータを発
生するパリティビット発生回路3と、発生したパリティ
ビットデータを入力して記憶する第2のランダムアクセ
スメモリ回路2と、第1のランダムアクセスメモリ回路
1からメモリ読み出し時に出力される読み出しデータと
第2のランダムアクセスメモリ回路2からメモリ読み出
し時に出力されるパリティビットデータにもとづいてパ
リティエラーの有無を検出するパリティエラー検出回路
4と、第2のランダムアクセスメモリ回路2から読み出
し時に出力されるパリティビットデータを保持するラッ
チ回路5と、ラッチ回路5に保持されたパリティビット
データを読み出すI/Oポート6とで構成される。
DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS A parity check circuit according to an embodiment of the present invention will be described below with reference to the drawings. FIG. 1 shows a block diagram of the configuration of a parity check circuit according to an embodiment of the present invention. In the figure, the parity check circuit according to the embodiment of the present invention is
A first random access memory circuit 1 that inputs and stores write data;
A parity bit generation circuit 3 generates parity bit data for error detection from the data, a second random access memory circuit 2 inputs and stores the generated parity bit data, and a first random access memory circuit 1. a parity error detection circuit 4 that detects the presence or absence of a parity error based on read data output when reading the memory and parity bit data output from the second random access memory circuit 2 when reading the memory; and a second random access memory. It is composed of a latch circuit 5 that holds parity bit data output from the circuit 2 when reading, and an I/O port 6 that reads the parity bit data held in the latch circuit 5.

【0011】上記構成においてその動作を説明する。デ
ータの書き込み時において、書き込みデータは第1のラ
ンダムアクセスメモリ回路1に入力されて記憶されると
ともに、パリティビット発生回路3にも入力され、その
データに対応するパリティビットデータが発生されて第
2のランダムアクセスメモリ回路2に記憶される。
The operation of the above configuration will be explained. When writing data, the write data is input to the first random access memory circuit 1 and stored therein, and is also input to the parity bit generation circuit 3, where parity bit data corresponding to the data is generated and the second random access memory circuit 1 stores the write data. is stored in the random access memory circuit 2 of.

【0012】次に、データ読み出し動作時において、前
記書き込み動作で第1のランダムアクセスメモリ回路1
に記憶されたデータが読み出されるとともに、第2のラ
ンダムアクセスメモリ回路に記憶されたパリティビット
データが読み出される。読み出されたデータとパリティ
ビットデータとがパリティエラー検出回路4に入力され
てパリティエラーの有無が検出される。また、第2のラ
ンダムアクセスメモリ回路2から読み出されたパリティ
ビットデータはラッチ回路5に保持される。保持された
パリティビットデータはI/Oポート6からソフトウエ
アにより読み出すことができる。
Next, during the data read operation, the first random access memory circuit 1 is
At the same time, the parity bit data stored in the second random access memory circuit is read out. The read data and parity bit data are input to a parity error detection circuit 4 to detect the presence or absence of a parity error. Further, the parity bit data read from the second random access memory circuit 2 is held in the latch circuit 5. The held parity bit data can be read out from the I/O port 6 by software.

【0013】パリティ検出回路4からパリティエラーが
検出されたとき、以下の動作により原因が判定される。 最初に、第1のランダムアクセスメモリ回路1への書き
込みデータと読み出しデータとを比較する。両者が等し
い場合は第1のランダムアクセスメモリ回路に動作不良
がなく、したがって、パリティエラーの原因は第2のラ
ンダムアクセスメモリ回路2の動作不良か、または、パ
リティエラー検出回路4の動作不良によるものと想定さ
れる。このとき、I/Oポート6からソフトウエアによ
りラッチ回路5に保持されたパリティビットデータを読
み出し、第1のランダムアクセスメモリ回路1の読み出
しデータとラッチ回路5に保持されたパリティビットデ
ータとを比較することにより、パリティエラーの原因が
ランダムアクセスメモリ回路2の動作不良によるものか
、または、パリティーエラー検出回路4の動作不良によ
るものかを判定する。
When a parity error is detected by the parity detection circuit 4, the cause is determined by the following operation. First, write data and read data to the first random access memory circuit 1 are compared. If both are equal, there is no malfunction in the first random access memory circuit, and therefore, the cause of the parity error is a malfunction in the second random access memory circuit 2 or a malfunction in the parity error detection circuit 4. It is assumed that At this time, the parity bit data held in the latch circuit 5 is read from the I/O port 6 by software, and the read data of the first random access memory circuit 1 and the parity bit data held in the latch circuit 5 are compared. By doing so, it is determined whether the cause of the parity error is due to a malfunction of the random access memory circuit 2 or a malfunction of the parity error detection circuit 4.

【0014】このように本発明の実施例のパリティ検査
回路によれば、読み出し動作時に出力されるパリティデ
ータを保持するラッチ回路と、その保持データをソフト
ウエアで読み出す手段のI/Oポートを備えたパリティ
検査回路とすることにより、パリティエラー発生の原因
をパリティデータを記憶する回路を含めて的確に解析す
ることができる。
As described above, the parity check circuit according to the embodiment of the present invention includes a latch circuit that holds parity data output during a read operation, and an I/O port that is a means for reading out the held data by software. By using a parity check circuit that has a similar structure, it is possible to accurately analyze the cause of parity error occurrence, including the circuit that stores parity data.

【0015】[0015]

【発明の効果】以上の実施例から明らかなように、本発
明は書き込みデータを記憶する第1のランダムアクセス
メモリ回路と、前記書き込みデータを入力して誤り検出
用のパリティビットデータを発生するパリティビット発
生回路と、前記パリティビット発生回路から出力される
パリティビットデータを記憶する第2のランダムアクセ
スメモリ回路と、前記第1および第2のランダムアクセ
スメモリ回路からメモリ読み出し時に出力される読み出
しデータとパリティビットデータとを入力してパリティ
エラーの有無を検出するパリティエラー検出回路と、前
記第2のランダムアクセスメモリ回路から読み出し時に
出力されるパリティビットデータを保持するラッチ回路
と、前記ラッチ回路に保持されたパリティビットデータ
を読み出すI/Oポートを備えたパリティ検査回路とす
ることによりパリティエラー発生の原因を的確に解析す
ることができる。
As is clear from the above embodiments, the present invention provides a first random access memory circuit that stores write data, and a parity circuit that receives the write data and generates parity bit data for error detection. a bit generation circuit; a second random access memory circuit that stores parity bit data output from the parity bit generation circuit; and read data output from the first and second random access memory circuits when reading the memory. a parity error detection circuit that inputs parity bit data and detects the presence or absence of a parity error; a latch circuit that holds parity bit data that is output from the second random access memory circuit when reading; and a latch circuit that holds the parity bit data that is output from the second random access memory circuit when read. By using a parity check circuit equipped with an I/O port for reading parity bit data, it is possible to accurately analyze the cause of a parity error.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

【図1】本発明の一実施例のパリティ検査回路の構成を
示すブロック図
FIG. 1 is a block diagram showing the configuration of a parity check circuit according to an embodiment of the present invention.

【図2】従来のパリティ検査回路の構成を示すブロック
図。
FIG. 2 is a block diagram showing the configuration of a conventional parity check circuit.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1  第1のランダムアクセスメモリ回路2  第2の
ランダムアクセスメモリ回路3  パリティビット検出
回路 4  パリティエラー検出回路 5  ラッチ回路 6  I/Oポート
1 First random access memory circuit 2 Second random access memory circuit 3 Parity bit detection circuit 4 Parity error detection circuit 5 Latch circuit 6 I/O port

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】  書き込みデータを記憶する第1のラン
ダムアクセスメモリ回路と、前記書き込みデータを入力
して誤り検出用のパリティビットデータを発生するパリ
ティビット発生回路と、前記パリティビット発生回路か
ら出力されるパリティビットデータを記憶する第2のラ
ンダムアクセスメモリ回路と、前記第1および第2のラ
ンダムアクセスメモリ回路からメモリ読み出し時に出力
される読み出しデータとパリティビットデータとを入力
してパリティエラーの有無を検出するパリティエラー検
出回路と、前記第2のランダムアクセスメモリ回路から
読み出し時に出力されるパリティビットデータを保持す
るラッチ回路と、前記ラッチ回路に保持されたパリティ
ビットデータを読み出すI/Oポートを備えたパリティ
検査回路。
1. A first random access memory circuit that stores write data; a parity bit generation circuit that receives the write data and generates parity bit data for error detection; and a first random access memory circuit that stores write data; a second random access memory circuit that stores parity bit data, and inputs the read data and parity bit data output from the first and second random access memory circuits when reading the memory, and checks the presence or absence of a parity error. A parity error detection circuit for detecting a parity error, a latch circuit for holding parity bit data output from the second random access memory circuit at the time of reading, and an I/O port for reading the parity bit data held in the latch circuit. parity check circuit.
JP3052232A 1991-03-18 1991-03-18 Parity check circuit Pending JPH04287253A (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP3052232A JPH04287253A (en) 1991-03-18 1991-03-18 Parity check circuit

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP3052232A JPH04287253A (en) 1991-03-18 1991-03-18 Parity check circuit

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH04287253A true JPH04287253A (en) 1992-10-12

Family

ID=12908986

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP3052232A Pending JPH04287253A (en) 1991-03-18 1991-03-18 Parity check circuit

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH04287253A (en)

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US4926426A (en) Error correction check during write cycles
JPS6152758A (en) Memory error detecting device
JPH07105102A (en) Memory control unit
US5586129A (en) Parity bit memory simulator
JPS62299000A (en) Semiconductor memory
JPS5910000B2 (en) Memory error detection method
JPH04119434A (en) Parity error detector
JPH0322060A (en) Memory error detection control system
JPH0689236A (en) Random access memory monitor circuit
JPS63228248A (en) Multiple error correctable main memory
JPH0683718A (en) Fault detecting circuit
JPH04348435A (en) Electronic circuit device
JPH0216658A (en) Memory device
JPS62205456A (en) Memory device
JPH02143352A (en) Memory error detection and correction system
JPS6054059A (en) Storage device
JPS62221756A (en) Storage device
JPS6373437A (en) Checking system for parity circuit
JPS58115956A (en) Data reception system
JPH038040A (en) 1-bit error information storage device
JPH01291346A (en) Error detecting circuit
JPH05158810A (en) Error detection circuit
JPH05225070A (en) Memory device
JPH0338752A (en) Storage device
JPS58134343A (en) Check bit generating system