JPH042905A - Ｉｃリードの曲り検出方法 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 ［産業上の利用分野］ 本発明は、ＩＣ（半導体集積回路装置）の側面から突出
するリードの曲りを検出する方法に関し、特にビーム光
を利用して、ＩＣリードの上下及び左右方向の曲りを高
精度、高速度で検出する方法に関する。

［従来の技術］ 従来のＩＣリードの曲り検出は、ＴＶカメラを使用した
画像処理による方法が一般的であり、ＴＶカメラにより
撮像したＩＣリードの画像に２値化処理を施し、座標を
演算・算出することにより、そのＩＣリードの上下方向
や左右方向の曲りを検出している。

［発明が解決しようとする課題］ ところが、この従来の方法では、その精度がＴＶカメラ
の焦点深度や分解能、照明装置等によって制約を受け、
また高速に処理することができないという問題かあった
。

本発明はこのような点に鑑みてなされたものであり、そ
の目的は、ＩＣリードの曲りを高精度かつ高速度で検出
できるようすることである。

［発明が解決しようとする課題］ この目的を達成するために本発明は、ＩＣパッケージの
側面に列状に複数並んだリードの曲りを検出する方法に
おいて、発光素子から出射するビーム光が正常リード先
端で反射して受光素子に入射するように」１記発光素子
及び受光素子を配置し、上記リードが所定量以上的って
いることにより」１記ビーム光の上記受光素子への入射
光量が所定量以下となるようしてリードの曲りを検出す
るようにした。

本発明ではこれに加えて、上記ＩＣパッケージを」１記
リードの並び方向に所定速度で搬送し、上記受光素子か
ら出力するパルスの幅及び間隔から上記リードの曲りを
検出することもできる。

［実施例］ 以下、本発明の実施例について説明する。第１図乃至第
４図はＩＣリード曲り検出方法を説明するための図であ
る。

第１図乃至第３図において、１はＩＣであり、ＩＣパッ
ケージ１１とそのＩＣパッケージ１１の両側から列状に
突出する複数のり一ト１２とからなる。ここではそのリ
ード１２が片側各４本の例を示している。

２は曲り検出部であり、発光素子としての半導体レーザ
２１と、その半導体レーザ２１の出射側に配置した送光
レンス２２と、受光素子２３と、その受光素子２３の入
射側に配置した受光レンズ２４とからなる。３は半導体
レーザ２１から出射し、またリード１２の先端で反射す
るレーザビーム光である。

本実施例では、第１図に示すように、ＴＣＩが紙面に対
して垂直方向に一定の速度で移送されるように搬送装置
（図示せず）を設け、その搬送路の両側に曲り検出部２
を配置して、リード２１が正常な場合（曲りがない場合
）に、半導体レーザ２１から出射したレーザビーム光３
がリード１２の先端面で反射し、受光素子２３に入射す
るようにセッテングする。つまり正常なり一ド１２の先
端延長線ａに対して半導体レーザ２１の光軸と受光素子
２３の光軸とか等角度αでリード１２の先端で接するよ
うに、セツティングを行う。

検査においては、ＩＣ１のリード１２が正常な場合には
、第４図に示すように、受光素子２３で受光されるレー
ザビーム光が４個のパルス状で、しかもパルス存在期間
ｔ１、パルス不在期間ｔ２が所定の値で得られる。

しかし、第２図に示すように、リード１２が左右方向に
曲っている場合や、第３図に示すように上下方向に曲っ
ている場合には、半導体レーザ２１から出射したレーザ
ビーム光３の受光素子２３で受光される量が所定量以下
（受光されない場合も含む）か、或は得られるパルス信
号の時間ｔ１、ｔ２が上記所定の値から外れた値となる
ので、これを検出することより、曲りを検出できる。

本実施例では、このような方法によりリード曲りを検出
するのであるが、そのリード曲りの限界値（曲り許容値
）の設定は、リード先端に照射されるレーザビーム光の
スポット径の設定（半導体レーザ２１からリード１２の
先端までの距離の設定）や受光素子２３から出力するパ
ルス信号の電圧値（電流値）のレベル許容値の設定で行
う。

なお、ここではり一ド２１が２段に曲折した面実装型の
ＩＣＩについて説明したが、１段のみ曲折した差込み用
リードを有するＩＣについても全く同様に適用できる。

また、上記実施例では半導体レーザ２１と受光素子２３
を」１下方向に配置したが、ＴＣＩの搬送方向の前後方
向に、或はその他の方法で配置することもできる。

［発明の効果］ 以上説明したように本発明によれは、ビーム光の受光量
や受光パルス幅／間隔からリード曲りを検出することが
できる。この結果、リードが三次元的に曲っても焦点深
度の制約を受けることはなく、また分解能や照明装置等
に影響されずに、検出精度を高めることができ、更に信
号処理が簡単なため検出速度を高速化することもできる
という利点がある

【図面の簡単な説明】

第１図乃至第３図は本発明の一実施例のリード曲り検出
方法の説明図、第４図は受光素子で得られるパルス信号
の波形図である。 １・・・ＩＣ，１１・・・ＩＣパッケージ、１２・・・
リード、２・・・曲り検出部、２１・・・半導体レーザ
（発光素子）、２２・・・送出レンズ、２３・・・受光
素子、２４・−受光レンズ、３・・・レーザビーム光。 代理人　弁理士　　長　尾　常　明

Claims (2)

【特許請求の範囲】
1. （１）、ＩＣパッケージの側面に列状に複数並んだリー
   ドの曲りを検出する方法において、 発光素子から出射するビーム光が正常リード先端面で反
   射して受光素子に入射するように上記発光素子及び受光
   素子を配置し、上記リードが所定量以上曲っていること
   により上記ビーム光の上記受光素子への入射光量が所定
   量以下となるようしてリードの曲りを検出することを特
   徴とするＩＣリードの曲り検出方法。
2. （２）、上記ＩＣパッケージを上記リードの並び方向に
   所定速度で搬送し、上記受光素子から出力するパルスの
   幅及び間隔から上記リードの曲りを検出することを特徴
   とする特許請求の範囲第１項記載のＩＣリードの曲り検
   出方法。