JPH0429085A - 中性子束計測システム - Google Patents
中性子束計測システムInfo
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- JPH0429085A JPH0429085A JP2133952A JP13395290A JPH0429085A JP H0429085 A JPH0429085 A JP H0429085A JP 2133952 A JP2133952 A JP 2133952A JP 13395290 A JP13395290 A JP 13395290A JP H0429085 A JPH0429085 A JP H0429085A
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- neutron
- amplifier
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- neutron flux
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- Y02—TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
- Y02E—REDUCTION OF GREENHOUSE GAS [GHG] EMISSIONS, RELATED TO ENERGY GENERATION, TRANSMISSION OR DISTRIBUTION
- Y02E30/00—Energy generation of nuclear origin
- Y02E30/30—Nuclear fission reactors
Landscapes
- Monitoring And Testing Of Nuclear Reactors (AREA)
- Measurement Of Radiation (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[発明の目的]
〔産業上の利用分野〕
本発明は、中性子検出器の電圧印加特性であるプラトー
特性を測定することのできる中性子束計測システムに関
する。
特性を測定することのできる中性子束計測システムに関
する。
従来、原子力発電等に於いては、原子炉内に設置した複
数の中性子検出器に検出感度を上げるための高電圧を印
加して、各中性子検出器の検出信号を計測している。こ
のように高電圧を印加して用いる中性子検出器は、それ
ぞれプラトー特性を有している。このプラトー特性は、
第3図に示すように、一定の中性子束のもとて印加電圧
をしたいに上げていくと、ある電圧までは検出電流か急
激に上昇し、そこから一定範囲の電圧では一定の値とな
る。この検出電流の値か一定となる安定領域で中性子検
出器を使用することにより、検出器感度が安定し高精度
な測定値か得られる。よって、原子炉内に設置した複数
の中性子検出器は、それぞれこのプラトー特性を測定す
る必要がある。
数の中性子検出器に検出感度を上げるための高電圧を印
加して、各中性子検出器の検出信号を計測している。こ
のように高電圧を印加して用いる中性子検出器は、それ
ぞれプラトー特性を有している。このプラトー特性は、
第3図に示すように、一定の中性子束のもとて印加電圧
をしたいに上げていくと、ある電圧までは検出電流か急
激に上昇し、そこから一定範囲の電圧では一定の値とな
る。この検出電流の値か一定となる安定領域で中性子検
出器を使用することにより、検出器感度が安定し高精度
な測定値か得られる。よって、原子炉内に設置した複数
の中性子検出器は、それぞれこのプラトー特性を測定す
る必要がある。
第2図を参照して従来のプラトー特性の測定原理を説明
する。
する。
同図に示す1は中性子検出器であり、この中性子検出器
1の検出信号は増幅器2の(−)側入力端子に入力する
。この増幅器2の(+)側入力立子には可変高圧電源3
の出力電圧が印加されて(る。増幅器2は帰還抵抗R1
によって検出信号づ電圧信号に返還して、絶縁増幅器4
へ出力する。
1の検出信号は増幅器2の(−)側入力端子に入力する
。この増幅器2の(+)側入力立子には可変高圧電源3
の出力電圧が印加されて(る。増幅器2は帰還抵抗R1
によって検出信号づ電圧信号に返還して、絶縁増幅器4
へ出力する。
この絶縁増幅器4および増幅器2は増幅器用低り電源5
によって動作する。この増幅器用低圧電源5のコモンに
は可変高圧電源3の(+)側型極力接続されていて、絶
縁増幅器4および増幅器2ζ:可変高圧電源3の電圧を
基準として動作する。
によって動作する。この増幅器用低圧電源5のコモンに
は可変高圧電源3の(+)側型極力接続されていて、絶
縁増幅器4および増幅器2ζ:可変高圧電源3の電圧を
基準として動作する。
絶縁増幅器4は可変高圧電源3の電圧が印加われている
測定チャネル側とOVを基準としていく演算処理側とを
絶縁している。この絶縁増幅器4の出力はA/D変換器
6でA/D変換された後、計算機7へ入力する。ここで
、中性子検出器の掃出信号が演算されて原子炉の出力に
関するデータが得られる。
測定チャネル側とOVを基準としていく演算処理側とを
絶縁している。この絶縁増幅器4の出力はA/D変換器
6でA/D変換された後、計算機7へ入力する。ここで
、中性子検出器の掃出信号が演算されて原子炉の出力に
関するデータが得られる。
第4図は従来の中性子束計測システムを示す区であり、
複数の中性子検出器に対応させてプラトー特性の測定お
よび中性子検出器の検出信号の計測を可能とした構成を
示している。
複数の中性子検出器に対応させてプラトー特性の測定お
よび中性子検出器の検出信号の計測を可能とした構成を
示している。
この中性子束計測システムは、中性子検出器1の検出信
号を計測するためのチャネルとプラトー特性を測定する
ためのチャネルとが一体となった構成をしている。すな
わち、各チャネルの増幅器2には、高圧電源11および
可変高圧電源12がそれぞれスイッチSWIを介して接
続されている。
号を計測するためのチャネルとプラトー特性を測定する
ためのチャネルとが一体となった構成をしている。すな
わち、各チャネルの増幅器2には、高圧電源11および
可変高圧電源12がそれぞれスイッチSWIを介して接
続されている。
このスイッチSWIをA側端子に切り替えることにより
高圧電源11からそのチャネルに高電圧が印加され、ま
たB側端子に切り替えることにより可変高圧電源12に
より連続的に変化する電圧が印加される。また、各チャ
ネルの絶縁増幅器4の出力はマルチプレクサ13により
選択され、A/D変換器6で返還された後、計算機7へ
入力する。
高圧電源11からそのチャネルに高電圧が印加され、ま
たB側端子に切り替えることにより可変高圧電源12に
より連続的に変化する電圧が印加される。また、各チャ
ネルの絶縁増幅器4の出力はマルチプレクサ13により
選択され、A/D変換器6で返還された後、計算機7へ
入力する。
このような構成において、通常の中性子束検出を行う場
合は、スイッチsW1をA側端子に切り替えて各チャネ
ルの検出信号を絶縁増幅器4を介してマルチプレクサ1
3に入力する。また、特定の中性子検出器1のプラトー
特性を測定する場合は、その中性子検出器1の検出信号
が人力されるチャネルのスイッチSWIをB側端子に切
り替えて、可変高圧電源12を可変させてそのときのプ
ラトー信号を絶縁増幅器4を介してマルチプレクサ13
に人力する。マルチプレクサ13は各チャネル毎に設け
られている複数の絶縁増幅器4の中から所定の絶縁増幅
器4を選択して、そ−の出力をA/D変換器6に人力し
、このA/D変換器6の出力が計算機7に入力される。
合は、スイッチsW1をA側端子に切り替えて各チャネ
ルの検出信号を絶縁増幅器4を介してマルチプレクサ1
3に入力する。また、特定の中性子検出器1のプラトー
特性を測定する場合は、その中性子検出器1の検出信号
が人力されるチャネルのスイッチSWIをB側端子に切
り替えて、可変高圧電源12を可変させてそのときのプ
ラトー信号を絶縁増幅器4を介してマルチプレクサ13
に人力する。マルチプレクサ13は各チャネル毎に設け
られている複数の絶縁増幅器4の中から所定の絶縁増幅
器4を選択して、そ−の出力をA/D変換器6に人力し
、このA/D変換器6の出力が計算機7に入力される。
計算機7では、入力信号を送出したチャネルがプラトー
測定を行っている場合には、その中性子検出器1のプラ
トー特性にかんする処理を実行し、通常の中性子束検出
を行っているときには原子炉出方に関する処□理を実行
する。
測定を行っている場合には、その中性子検出器1のプラ
トー特性にかんする処理を実行し、通常の中性子束検出
を行っているときには原子炉出方に関する処□理を実行
する。
この様に従来の中性子束計測システムは、プラトー特性
を測定するチャネルは高圧可変電源12の電圧を基準と
する電位で動作し、中性子束測定を行っている他のチャ
ネルは高圧電源11の電圧を基準とする電位で動作して
いる。そのため、各チャネルを異なる電圧で動作させ、
各チャネルの増幅器を正常に動作させるために、各チャ
ネル毎に増幅器用低圧電源らが必要となる。
を測定するチャネルは高圧可変電源12の電圧を基準と
する電位で動作し、中性子束測定を行っている他のチャ
ネルは高圧電源11の電圧を基準とする電位で動作して
いる。そのため、各チャネルを異なる電圧で動作させ、
各チャネルの増幅器を正常に動作させるために、各チャ
ネル毎に増幅器用低圧電源らが必要となる。
また、上記のような電圧で動作する各チャネルとOvを
電位として動作するマルチプレクサ13以降の演算処理
側とを絶縁するために、各チャネル毎に絶縁増幅器4が
必要となる。しがしながら、増幅器用低圧電源5および
絶縁増幅器4は高価でかつ大きな設置スペースを必要と
する。
電位として動作するマルチプレクサ13以降の演算処理
側とを絶縁するために、各チャネル毎に絶縁増幅器4が
必要となる。しがしながら、増幅器用低圧電源5および
絶縁増幅器4は高価でかつ大きな設置スペースを必要と
する。
従って、従来の中性子束計測システムは、高価格でかつ
大きな設置スペースを必要とする増幅器用低圧電源5お
よび絶縁増幅器4を各チャネル毎に装備しなければなら
ないので、コストが高く、しかも装置が大型化するとい
う問題があった。
大きな設置スペースを必要とする増幅器用低圧電源5お
よび絶縁増幅器4を各チャネル毎に装備しなければなら
ないので、コストが高く、しかも装置が大型化するとい
う問題があった。
本発明は以上のような実情に鑑みてなされたもので、中
性子束の測定とプラトー特性の測定を容易に実施でき、
しがもコストダ→ンおよび装置の小型化を図り得る中性
子束計測システムを提供することを目的とする。
性子束の測定とプラトー特性の測定を容易に実施でき、
しがもコストダ→ンおよび装置の小型化を図り得る中性
子束計測システムを提供することを目的とする。
[発明の構成]
〔課題を解決するための手段〕
本発明は上記課題を解決するために、原子炉内に設置さ
れた複数のに中性子検出器に高電圧を印加して各中性子
検出器から出力される検出信号を計測し、かつ任意の中
性子検出器に対して連続的に変化する電圧を印加してそ
の中性子検出器のプラトー特性を測定する中性子束計測
システムにおいて、前記複数の中性子検出器の各々にス
イッチを介して接続され可変高圧電源を有するプラトー
測定チャネルを備え、このプラトー測定チャネルで任意
の中性子検出器のプラトー測定を行う構成とした。
れた複数のに中性子検出器に高電圧を印加して各中性子
検出器から出力される検出信号を計測し、かつ任意の中
性子検出器に対して連続的に変化する電圧を印加してそ
の中性子検出器のプラトー特性を測定する中性子束計測
システムにおいて、前記複数の中性子検出器の各々にス
イッチを介して接続され可変高圧電源を有するプラトー
測定チャネルを備え、このプラトー測定チャネルで任意
の中性子検出器のプラトー測定を行う構成とした。
本発明は以上のような手段を講じたことにより、プラト
ー特性の測定を行うべき中性子検出器かスイッチによっ
てプラトー測定チャネルに接続され、このプラトー測定
チャネルからその中性子検出器に対して連続的に変化す
る電圧が印加され、その中性子検出器のプラトー信号が
プラトー測定チャネルに導かれ、プラトー測定チャネル
を介して例えば計算機等の後段の計測系に入力される。
ー特性の測定を行うべき中性子検出器かスイッチによっ
てプラトー測定チャネルに接続され、このプラトー測定
チャネルからその中性子検出器に対して連続的に変化す
る電圧が印加され、その中性子検出器のプラトー信号が
プラトー測定チャネルに導かれ、プラトー測定チャネル
を介して例えば計算機等の後段の計測系に入力される。
したがって、中性子束を検出するチャネルとプラトー特
性を検出するチャネルとが分離され、従来のシステムで
は各チャネル毎に必要であった増幅器用低圧電源5およ
び絶縁増幅器4を、中性子束を検8するチャネルとプラ
トー特性を検出するチャネルにそれぞれ一つづつ装備し
た構成とすることができ、装置が小型化されると共に骨
品点数の削減によってコストの低減か図られる。
性を検出するチャネルとが分離され、従来のシステムで
は各チャネル毎に必要であった増幅器用低圧電源5およ
び絶縁増幅器4を、中性子束を検8するチャネルとプラ
トー特性を検出するチャネルにそれぞれ一つづつ装備し
た構成とすることができ、装置が小型化されると共に骨
品点数の削減によってコストの低減か図られる。
以下、本発明の実施例について説明する。
第1図は本発明の実施例である中性子束計測システムを
示す図である。この計測システムは、原子炉内に設置さ
れた複数の中性子検出器1−1〜1−4がスイッチ5W
2−1〜5w2−4を介して、一方で通常に中性子束を
測定するための個々のチャネル(以下、「中性子束測定
チャネル」と呼称する)に接続され、他方で各中性子検
出器11〜1−4のプラトー特性を測定するためのチャ
ネル(以下、「プラトー測定チャネル」と呼称する)2
0に接続されている。各中性子束測定チャネルは、増幅
器31をそれぞれ有し、この増幅器31の(−)個入力
端子には対応する中性子検出器1からの検出信号が入力
し、(+)個入力端子には各中性子束測定チャネル間で
共用する高圧電源32の出力電圧が印加される。各増幅
器31には帰還抵抗R1が設けられていて、この帰還抵
抗R1によって増幅器31に入力する検出信号がその出
力側に電圧信号に変換されて現れる。各増幅器31の出
力側はそれぞれマルチプレクサ33に接続されている。
示す図である。この計測システムは、原子炉内に設置さ
れた複数の中性子検出器1−1〜1−4がスイッチ5W
2−1〜5w2−4を介して、一方で通常に中性子束を
測定するための個々のチャネル(以下、「中性子束測定
チャネル」と呼称する)に接続され、他方で各中性子検
出器11〜1−4のプラトー特性を測定するためのチャ
ネル(以下、「プラトー測定チャネル」と呼称する)2
0に接続されている。各中性子束測定チャネルは、増幅
器31をそれぞれ有し、この増幅器31の(−)個入力
端子には対応する中性子検出器1からの検出信号が入力
し、(+)個入力端子には各中性子束測定チャネル間で
共用する高圧電源32の出力電圧が印加される。各増幅
器31には帰還抵抗R1が設けられていて、この帰還抵
抗R1によって増幅器31に入力する検出信号がその出
力側に電圧信号に変換されて現れる。各増幅器31の出
力側はそれぞれマルチプレクサ33に接続されている。
このマルチプレクサ33は各中性子束測定チャネルから
入力する信号を順次選択して一括絶縁増幅器34を介し
てプラトーマルチプレクサ35に出力する。なお、増幅
器31゜マルチプレクサ33.−括絶縁増幅器34.後
述するフォトカブラ36は、高圧電源32の電圧かその
コモンに印加された低圧電源37によって動作し、その
動作電圧は高圧電源32の電圧となる。
入力する信号を順次選択して一括絶縁増幅器34を介し
てプラトーマルチプレクサ35に出力する。なお、増幅
器31゜マルチプレクサ33.−括絶縁増幅器34.後
述するフォトカブラ36は、高圧電源32の電圧かその
コモンに印加された低圧電源37によって動作し、その
動作電圧は高圧電源32の電圧となる。
一方、プラトー測定チャネル20は、スイッチSW2を
介して取り込まれる任意の中性子検出器1からの出力信
号か増幅器21の(−)個入力端子に入力される。この
増幅器21の(+)個入力端子には可変高圧電源22の
電圧か印加される。
介して取り込まれる任意の中性子検出器1からの出力信
号か増幅器21の(−)個入力端子に入力される。この
増幅器21の(+)個入力端子には可変高圧電源22の
電圧か印加される。
この増幅器21には帰還抵抗R2が設けられていて、こ
の帰還抵抗R2によって増幅器21の(−)個入力端子
に入力する信号が電圧信号に変換されて出力側に現れる
。増幅器21の出力は絶縁増幅器23を介してプラトー
マルチプレクサ35に人力する。なお、低圧電源24の
コモンには可変高圧電源22の(+)側電極か接続され
ていて、増幅器21および絶縁増幅器23の動作電圧と
なる。
の帰還抵抗R2によって増幅器21の(−)個入力端子
に入力する信号が電圧信号に変換されて出力側に現れる
。増幅器21の出力は絶縁増幅器23を介してプラトー
マルチプレクサ35に人力する。なお、低圧電源24の
コモンには可変高圧電源22の(+)側電極か接続され
ていて、増幅器21および絶縁増幅器23の動作電圧と
なる。
プラトーマルチプレクサ35は、−括絶縁増幅器34か
らの中性子束検出信号と絶縁増幅器23からのプラトー
測定信号とを選択して、その選択した信号をA/D変換
器37へ出力する。このA/D変換器37でデジタル信
号化された信号は計算機38に順次読み込まれる。計算
機38は、各中性子束測定チャネルからの信号に対して
原子炉用力に関する演算を実行し、プラトー測定チャネ
ル20からの信号に対してそのプラトー特性を検出する
ための処理演算を実行する。また、計算機38は、可変
高圧電源22の調整を行うと共に、スイッチSW2の切
り替え位置に応じてプラトーマルチプレクサ35の切り
替えを制御する。また、フォトカプラ36を介してマル
チプレクサ33の切り替えを制御する。
らの中性子束検出信号と絶縁増幅器23からのプラトー
測定信号とを選択して、その選択した信号をA/D変換
器37へ出力する。このA/D変換器37でデジタル信
号化された信号は計算機38に順次読み込まれる。計算
機38は、各中性子束測定チャネルからの信号に対して
原子炉用力に関する演算を実行し、プラトー測定チャネ
ル20からの信号に対してそのプラトー特性を検出する
ための処理演算を実行する。また、計算機38は、可変
高圧電源22の調整を行うと共に、スイッチSW2の切
り替え位置に応じてプラトーマルチプレクサ35の切り
替えを制御する。また、フォトカプラ36を介してマル
チプレクサ33の切り替えを制御する。
次に、この様に構成された本実施例の動作について説明
する。例えば、中性子検出器1−1のプラトー特性を測
定する場合は、中性子検出器1−1が接続されているス
イッチ5W2−1を端子A側に切り替え、他のチャネル
のスイッチ5W2−2〜5W2−4はB側に切り替える
。これによって、中性子検出器1−1には可変高圧電源
22の電圧が印加され、他の中性子検出器1−2〜1−
4には高圧電源32の電圧が印加される。
する。例えば、中性子検出器1−1のプラトー特性を測
定する場合は、中性子検出器1−1が接続されているス
イッチ5W2−1を端子A側に切り替え、他のチャネル
のスイッチ5W2−2〜5W2−4はB側に切り替える
。これによって、中性子検出器1−1には可変高圧電源
22の電圧が印加され、他の中性子検出器1−2〜1−
4には高圧電源32の電圧が印加される。
次に、計算機38からの指令により、可変高圧電源22
の電圧が設定され、連続的に変化させたときの各電圧で
の中性子検出器1−1の特性データがプラトー測定チャ
ネル20の増幅器21に入力する。この増幅器21は可
変高圧電源22の電圧と同じ電圧で動作するため、(−
)副入力端子に入力する信号のみ帰還抵抗R2により電
圧信号に変換されて、絶縁増幅器23を介してプラトー
マルチプレクサ35に入力する。一方、中性子束測定を
行っている他の中性子検出器1−2〜1−4の検出信号
はそれぞれ対応する中性子束測定チャネルに入力し、電
圧信号に変換されてマルチプレクサ33に入力し、さら
に統括絶縁増幅器34を介してプラトーマルチプレクサ
35人力する。
の電圧が設定され、連続的に変化させたときの各電圧で
の中性子検出器1−1の特性データがプラトー測定チャ
ネル20の増幅器21に入力する。この増幅器21は可
変高圧電源22の電圧と同じ電圧で動作するため、(−
)副入力端子に入力する信号のみ帰還抵抗R2により電
圧信号に変換されて、絶縁増幅器23を介してプラトー
マルチプレクサ35に入力する。一方、中性子束測定を
行っている他の中性子検出器1−2〜1−4の検出信号
はそれぞれ対応する中性子束測定チャネルに入力し、電
圧信号に変換されてマルチプレクサ33に入力し、さら
に統括絶縁増幅器34を介してプラトーマルチプレクサ
35人力する。
プラトーマルチプレクサ35では、中性子束測定チャネ
ルからのデータおよびプラトー測定チャネルからのデー
タが選択的に取り出され、A/D変換器37を介して計
算機38に読み込まれる。
ルからのデータおよびプラトー測定チャネルからのデー
タが選択的に取り出され、A/D変換器37を介して計
算機38に読み込まれる。
計算機38では、各中性子束測定チャネルからのデータ
を順次読み込むと共に、プラトー測定チャネルに接続さ
れているチャネルのデータはバイパスするように処理し
て、プラトーマルチプレクサ35をプラトー測定チャネ
ル側にたおしてプラトー特性データを収、集する。以上
のようにして中性子束の測定および特定の中性子検出器
に対するプラトー特性の測定が行われる。
を順次読み込むと共に、プラトー測定チャネルに接続さ
れているチャネルのデータはバイパスするように処理し
て、プラトーマルチプレクサ35をプラトー測定チャネ
ル側にたおしてプラトー特性データを収、集する。以上
のようにして中性子束の測定および特定の中性子検出器
に対するプラトー特性の測定が行われる。
この様に本実施例によれば、従来はプラトー特性の測定
のために各チャネル毎に設けられていた絶縁増幅器、増
幅器用低圧電源を、複数の中性子束測定チャネルに一つ
およびプラトー測定チャネル20に一つ備えるだけでよ
く、高価な部品の削減ができ、コストダウンを図ること
ができ、しかも装置の小型化か可能となり、省スペース
を図ることができる。
のために各チャネル毎に設けられていた絶縁増幅器、増
幅器用低圧電源を、複数の中性子束測定チャネルに一つ
およびプラトー測定チャネル20に一つ備えるだけでよ
く、高価な部品の削減ができ、コストダウンを図ること
ができ、しかも装置の小型化か可能となり、省スペース
を図ることができる。
また、通常の中性子束測定を行っているチャネルの一部
1例えば増幅器31.帰還抵抗R1のいずれか一方また
は両方が故障した場合には、そのチャネルのスイッチS
W2をプラトー測定チャネル20側に倒し、可変高圧電
源22を高圧電源32と同じ電圧に設定して運転するこ
とにより、システムを停止させること無く運転できる。
1例えば増幅器31.帰還抵抗R1のいずれか一方また
は両方が故障した場合には、そのチャネルのスイッチS
W2をプラトー測定チャネル20側に倒し、可変高圧電
源22を高圧電源32と同じ電圧に設定して運転するこ
とにより、システムを停止させること無く運転できる。
さらに、所定の中性子束測定チャネルの高圧電源32と
同一電位で動作する部分が故障した場合には、そのチャ
ネルに入力する信号をプラトー測定チャネルに導き、プ
ラトー測定チャネルを中性子束測定チャネルと同様に動
作させることにより、システムを停止させること無く動
作させることができる。
同一電位で動作する部分が故障した場合には、そのチャ
ネルに入力する信号をプラトー測定チャネルに導き、プ
ラトー測定チャネルを中性子束測定チャネルと同様に動
作させることにより、システムを停止させること無く動
作させることができる。
なお、上記実施例では中性子検出器1が4つの場合を例
に説明したが、中性子検出器の数はこれに限るものでは
なく、システムに対する要求に応じて増減可能である。
に説明したが、中性子検出器の数はこれに限るものでは
なく、システムに対する要求に応じて増減可能である。
[発明の効果]
以上詳記したように本発明によれば、中性子束の測定と
プラトー特性の測定を容易に実施でき、しかもコストダ
ウンおよび装置の小型化を図り得る中性子束計測システ
ムを提供できる。
プラトー特性の測定を容易に実施でき、しかもコストダ
ウンおよび装置の小型化を図り得る中性子束計測システ
ムを提供できる。
第1図は本発明の実施例にかかる中性子束計測システム
の構成図、第2図はプラトー特性の測定原理を説明する
ための図、第3図はプラトー特性を示す図、第4図は従
来の中性子束計測システムの構成図である。 1・・・中性子検出器、20・・・プラトー測定チャネ
ル、21.31・・・増幅器、22・・・高電圧可変電
源、23・・・絶縁増幅器、24.37・・・低電圧電
源、33・・・マルチプレクサ、34・・・統括絶縁増
幅器、5・・・プラトーマルチプレクサ、 6・・・フォ トカ ブラ、 7・・・A/D変換器、 8・・・計算機。
の構成図、第2図はプラトー特性の測定原理を説明する
ための図、第3図はプラトー特性を示す図、第4図は従
来の中性子束計測システムの構成図である。 1・・・中性子検出器、20・・・プラトー測定チャネ
ル、21.31・・・増幅器、22・・・高電圧可変電
源、23・・・絶縁増幅器、24.37・・・低電圧電
源、33・・・マルチプレクサ、34・・・統括絶縁増
幅器、5・・・プラトーマルチプレクサ、 6・・・フォ トカ ブラ、 7・・・A/D変換器、 8・・・計算機。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 原子炉内に設置された複数の中性子検出器に高電圧を印
加して各中性子検出器から出力される検出信号を計測し
、かつ任意の中性子検出器に対して連続的に変化する電
圧を印加してその中性子検出器のプラトー特性を測定す
る中性子束計測システムにおいて、 前記複数の中性子検出器の各々にスイッチを介して接続
され可変高圧電源を有するプラトー測定チャネルを備え
、このプラトー測定チャネルで任意の中性子検出器のプ
ラトー特性を測定することを特徴とする中性子束計測シ
ステム。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2133952A JP2931631B2 (ja) | 1990-05-25 | 1990-05-25 | 中性子束計測システム |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2133952A JP2931631B2 (ja) | 1990-05-25 | 1990-05-25 | 中性子束計測システム |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0429085A true JPH0429085A (ja) | 1992-01-31 |
| JP2931631B2 JP2931631B2 (ja) | 1999-08-09 |
Family
ID=15116914
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2133952A Expired - Lifetime JP2931631B2 (ja) | 1990-05-25 | 1990-05-25 | 中性子束計測システム |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2931631B2 (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2003057382A (ja) * | 2001-08-16 | 2003-02-26 | Toshiba Eng Co Ltd | ケーブル断線の有無試験装置およびケーブル断線の有無試験方法 |
| JP2008309548A (ja) * | 2007-06-13 | 2008-12-25 | Toshiba Corp | 起動領域モニタシステム検査試験装置 |
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-
1990
- 1990-05-25 JP JP2133952A patent/JP2931631B2/ja not_active Expired - Lifetime
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| US8442181B2 (en) | 2007-06-13 | 2013-05-14 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Apparatus for inspecting and testing startup range neutron monitoring system |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2931631B2 (ja) | 1999-08-09 |
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