JPH04290934A - 分光光度計 - Google Patents
分光光度計Info
- Publication number
- JPH04290934A JPH04290934A JP5631391A JP5631391A JPH04290934A JP H04290934 A JPH04290934 A JP H04290934A JP 5631391 A JP5631391 A JP 5631391A JP 5631391 A JP5631391 A JP 5631391A JP H04290934 A JPH04290934 A JP H04290934A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- light
- detector
- specimen
- revolving speed
- separator
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
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- Spectrometry And Color Measurement (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、分光光度計の光分別と
検知器応答速度に関する。
検知器応答速度に関する。
【0002】
【従来の技術】従来、分光光度計の光分別器については
、交流サーボモータが使用され、電源周波数と同期回転
していた。
、交流サーボモータが使用され、電源周波数と同期回転
していた。
【0003】公知例として、次のようなものが挙げられ
る。
る。
【0004】昭63−262014号
平1−40253号
【0005】
【発明が解決しようとする課題】上記、従来技術は、電
源周波数に同期し回転するために、安定した回転が得ら
れるという利点があったが、例えば、50/60Hzの
ように電源周波数が異なる場合においての配慮がされて
おらず、測定データの測光精度、S/N比が、電源周波
数により変化する問題があった。また、回転速度が一意
的に決定され使用可能な検知器応答速度に制限されて検
知器の選別が必要であった。
源周波数に同期し回転するために、安定した回転が得ら
れるという利点があったが、例えば、50/60Hzの
ように電源周波数が異なる場合においての配慮がされて
おらず、測定データの測光精度、S/N比が、電源周波
数により変化する問題があった。また、回転速度が一意
的に決定され使用可能な検知器応答速度に制限されて検
知器の選別が必要であった。
【0006】本発明は、上記測定データのS/N比向上
,測光精度の向上することを目的とし、最適な光分別器
の回転方式、及び、検知器応答速度可変方式を提供する
。
,測光精度の向上することを目的とし、最適な光分別器
の回転方式、及び、検知器応答速度可変方式を提供する
。
【0007】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、検知器の出力電圧により、光分別器の回転速度を可
変するようにしたものである。
に、検知器の出力電圧により、光分別器の回転速度を可
変するようにしたものである。
【0008】また、一方光分別器の回転速度を一定にし
、検知器の応答速度を可変するようにしたものである。
、検知器の応答速度を可変するようにしたものである。
【0009】
【作用】光分別器の回転速度は、まず、最初に一定とし
、そのときの検知器出力をマイクロコンピュータにより
モニターし、一定レベルになるように、光分別器の回転
速度を遅くし、規定レベルに入るように制御する。
、そのときの検知器出力をマイクロコンピュータにより
モニターし、一定レベルになるように、光分別器の回転
速度を遅くし、規定レベルに入るように制御する。
【0010】また、同様に光分別器の回転速度を一定に
し、検知器の出力をマイクロコンピュータによりモニタ
ーし、一定レベルになるように検知器の応答速度を可変
する。
し、検知器の出力をマイクロコンピュータによりモニタ
ーし、一定レベルになるように検知器の応答速度を可変
する。
【0011】検知器の応答速度は、検知器の温度を制御
することにより応答速度を設定することが出来る。
することにより応答速度を設定することが出来る。
【0012】
【実施例】本発明の一実施例を説明する。
【0013】図1は、分光光度計を模式化したものであ
る。光源1から放射された白色光は、分光器2により単
色光が選択的に取り出される。出射した単色光は、光分
別器3(セクタ)により、試料に当たる光と、参照とし
て使用される2光束に分離される。それぞれ光は、試料
室4に導かれ、試料5に照射される。試料からの光、及
び参照側光は、検知器6に到達する。
る。光源1から放射された白色光は、分光器2により単
色光が選択的に取り出される。出射した単色光は、光分
別器3(セクタ)により、試料に当たる光と、参照とし
て使用される2光束に分離される。それぞれ光は、試料
室4に導かれ、試料5に照射される。試料からの光、及
び参照側光は、検知器6に到達する。
【0014】図2は、光分別器(セクタ)を示したもの
である。モータとモータ軸上に取り付けられたミラー8
,光遮光板9、とさらに同軸上に配置された回転板A1
0,回転板B11がある。
である。モータとモータ軸上に取り付けられたミラー8
,光遮光板9、とさらに同軸上に配置された回転板A1
0,回転板B11がある。
【0015】モータが回転するとモータ軸上に取り付け
られた上記回転板A,B及びミラー光遮光板が同時にモ
ータ回転と同期し回転する。
られた上記回転板A,B及びミラー光遮光板が同時にモ
ータ回転と同期し回転する。
【0016】矢印に示す光束がセクタに到達すると、モ
ータの回転にともない、ミラー,光遮光板もない領域で
は、光束が、そのまま通過し、ミラー領域では反射され
、さらに光遮光板では光が遮断される。
ータの回転にともない、ミラー,光遮光板もない領域で
は、光束が、そのまま通過し、ミラー領域では反射され
、さらに光遮光板では光が遮断される。
【0017】したがって、モータの一回転時間の中で、
通過,反射,遮光した状態が存在することになる。
通過,反射,遮光した状態が存在することになる。
【0018】図3は、分光光度計の光学系を示す。
【0019】ヨウ素タングステンランプ12,重水素放
電管13からの光は、光源ミラー14により分光器に導
かれる。光は、メカニカルチョッパー15,スリット1
6を通過し、鏡17,18により反射し、プリズム19
に到達する。このプリズムにより白光色が分散され、単
色光になる。この単色光は、鏡18,20,21,入射
スリット22、さらに鏡23によりさらにグレーティン
グ24に到達し、分散され、より純度の高い単色光が取
り出され、鏡25,出射スリット26,鏡27,28を
通して、セクタに到達する。セクタでは、前記方式によ
り、セクタを通過した光は、鏡28,30,31を通し
て検知器に入る。
電管13からの光は、光源ミラー14により分光器に導
かれる。光は、メカニカルチョッパー15,スリット1
6を通過し、鏡17,18により反射し、プリズム19
に到達する。このプリズムにより白光色が分散され、単
色光になる。この単色光は、鏡18,20,21,入射
スリット22、さらに鏡23によりさらにグレーティン
グ24に到達し、分散され、より純度の高い単色光が取
り出され、鏡25,出射スリット26,鏡27,28を
通して、セクタに到達する。セクタでは、前記方式によ
り、セクタを通過した光は、鏡28,30,31を通し
て検知器に入る。
【0020】また、セクタのミラー部で反射された光は
、鏡32,レンズ33を通して検知器に入る。
、鏡32,レンズ33を通して検知器に入る。
【0021】図4に、信号処理ブロック図を示す。
【0022】セクタモータと同軸で回転する回転板A,
Bの状態を光検知器(フォト,インタラプタ34)を使
用し、検知し、検知信号を波形整形回路35を通して、
マイクロコンピュータ36に取り込まれる。また検知器
からの信号は、プリアンプ37を通して、A/D変換器
38によりA/D変換され、マイクロコンピュータに取
り込まれる。
Bの状態を光検知器(フォト,インタラプタ34)を使
用し、検知し、検知信号を波形整形回路35を通して、
マイクロコンピュータ36に取り込まれる。また検知器
からの信号は、プリアンプ37を通して、A/D変換器
38によりA/D変換され、マイクロコンピュータに取
り込まれる。
【0023】セクタは、光分別器駆動回路37により回
転する。この回転速度は、マイクロコンピュータからの
信号により設定される。また検知器は、温度制御回路3
9により一定温度に保たれる。この温度は、マイクロコ
ンピュータにより設定される。
転する。この回転速度は、マイクロコンピュータからの
信号により設定される。また検知器は、温度制御回路3
9により一定温度に保たれる。この温度は、マイクロコ
ンピュータにより設定される。
【0024】図5に、検知器出力信号と回転板A,Bの
検知信号、及びA/D変換のタイミングについて示す。
検知信号、及びA/D変換のタイミングについて示す。
【0025】A/D変換は、回転板Aの検知タイミング
に同期して行なわれる。また、光遮光状態のタイミング
は検知板Bにより判定され、ゼロ信号(Z),試料信号
(S),参照信号(R)が区別される。さらにマイクロ
コンピュータでは、下記計算式により、透過率が計算さ
れる。
に同期して行なわれる。また、光遮光状態のタイミング
は検知板Bにより判定され、ゼロ信号(Z),試料信号
(S),参照信号(R)が区別される。さらにマイクロ
コンピュータでは、下記計算式により、透過率が計算さ
れる。
【0026】透過率=(S−Z)/(R−Z)電源周波
数が変化し、周波数が高くなった状態の検知器出力信号
を図6に示す。また、検知器の応答速度が遅くなった状
態の検知器出力信号を図7に示す。
数が変化し、周波数が高くなった状態の検知器出力信号
を図6に示す。また、検知器の応答速度が遅くなった状
態の検知器出力信号を図7に示す。
【0027】電源周波数が高くなった場合には、図6に
示すように、A/D変換区間が図5に比較して短くなっ
ている。このため、A/D変換器の分解能が低下し、測
光データのS/N比低下、及び測光精度が劣化する。
示すように、A/D変換区間が図5に比較して短くなっ
ている。このため、A/D変換器の分解能が低下し、測
光データのS/N比低下、及び測光精度が劣化する。
【0028】このため、回転板Aの信号のA/D変換区
間をマイクロコンピュータによりモニターし、A/D変
換区間数を遅くすることにより上記課題を解決する。
間をマイクロコンピュータによりモニターし、A/D変
換区間数を遅くすることにより上記課題を解決する。
【0029】また、検知器の応答速度が遅くなった場合
には、検知器出力が図7に示すようになる。このため、
測光精度が劣化する。
には、検知器出力が図7に示すようになる。このため、
測光精度が劣化する。
【0030】ここで、検知器の応答速度と温度との関係
は、温度が低くすると応答速度が遅くなり、温度が高く
なると応答速度が速くなる。
は、温度が低くすると応答速度が遅くなり、温度が高く
なると応答速度が速くなる。
【0031】いま、マイクロコンピュータで、A/D変
換区間の最初と最後のA/D変換値を比較し、一定値以
下になるように、検知器の温度を変化させ、応答速度を
変化させることにより、上記課題を解決する。
換区間の最初と最後のA/D変換値を比較し、一定値以
下になるように、検知器の温度を変化させ、応答速度を
変化させることにより、上記課題を解決する。
【0032】もちろん、この時、検知器の温度を変化さ
せる以外に、セクタモータの回転数を遅くしても、同様
の効果がある。
せる以外に、セクタモータの回転数を遅くしても、同様
の効果がある。
【0033】
【発明の効果】本発明によれば、以下に示す効果がある
。
。
【0034】1.セクタモータの回転数を変化させるこ
とにより、A/D変換時間を一定にすることができ、A
/D変換器の分解能,S/N比,精度向上が計れる(従
来比20%向上)。
とにより、A/D変換時間を一定にすることができ、A
/D変換器の分解能,S/N比,精度向上が計れる(従
来比20%向上)。
【0035】2.検知器の応答速度を変化されることに
より、応答速度を一定にすることができ、測定精度の向
上が計れる(従来比 10倍向上)。
より、応答速度を一定にすることができ、測定精度の向
上が計れる(従来比 10倍向上)。
【0036】3.検知器の応答速度による選別を廃止す
ることができ、生産性向上が計れる。 4.検知器応答速度の経年変化に対することができ、信
頼性向上が計れる。
ることができ、生産性向上が計れる。 4.検知器応答速度の経年変化に対することができ、信
頼性向上が計れる。
【0037】5.外部要因(電源周波数,温度等)に対
して、その影響を小さくすることができ、装置の信頼性
向上が計れる。
して、その影響を小さくすることができ、装置の信頼性
向上が計れる。
【図1】分光光度計の模式図である。
【図2】セクタを示す図である。
【図3】分光光度計の光学系を示す図である。
【図4】信号処理ブロック図である。
【図5】信号タイミングを示す図である。
【図6】従来方式による検知器出力(電源周波数大)を
示す図である。
示す図である。
【図7】従来方式による検知器出力(検出器応答速度遅
)を示す図である。
)を示す図である。
1…光源、2…分光器、3…光分別機(セクタ)、4…
試料室、5…試料、6…検知器、7…モータ、8…ミラ
ー、9…光遮光板、10…回転板A、11…回転板B、
12…ヨウ素ダングステンランプ、13…重水素放電管
、14…光源ミラー、15…メカニカルチョッパー、1
6…スリット、17…鏡、18…鏡、19…プリズム、
20…鏡、21…鏡、22…入射スリット、23…鏡、
24…グレーティング、25…鏡、26…出射スリット
、27…鏡、28…鏡、29…鏡、30…鏡、31…鏡
、32…鏡、33…レンズ、34…光検知器(フォト・
インタラプタ)、35…波形整形回路、36…マイクロ
・コンピュータ、37…プリアンプ、38…A/D変換
器、39…光分別器駆動回路、40…温度制御素子、4
1…温度制御回路。
試料室、5…試料、6…検知器、7…モータ、8…ミラ
ー、9…光遮光板、10…回転板A、11…回転板B、
12…ヨウ素ダングステンランプ、13…重水素放電管
、14…光源ミラー、15…メカニカルチョッパー、1
6…スリット、17…鏡、18…鏡、19…プリズム、
20…鏡、21…鏡、22…入射スリット、23…鏡、
24…グレーティング、25…鏡、26…出射スリット
、27…鏡、28…鏡、29…鏡、30…鏡、31…鏡
、32…鏡、33…レンズ、34…光検知器(フォト・
インタラプタ)、35…波形整形回路、36…マイクロ
・コンピュータ、37…プリアンプ、38…A/D変換
器、39…光分別器駆動回路、40…温度制御素子、4
1…温度制御回路。
Claims (2)
- 【請求項1】光源と光源からの白色光から選択的に単色
光のみを取り出す分光器と、選択的に取り出された単色
光を試料に照射する試料室と、試料室からの光を検知す
る検知器より構成された分光光度計において、試料室で
、試料に照射する光と、試料に照射しない光と、光を遮
断する状態とを作る光分別器を有する分光器で、その光
分別器の回転速度を検知器出力により可変することを特
徴とする分光光度計 - 【請求項2】請求項1において、光分別器の回転速度と
検知器応答速度を可変にすることを特徴とする分光光度
計
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5631391A JPH04290934A (ja) | 1991-03-20 | 1991-03-20 | 分光光度計 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5631391A JPH04290934A (ja) | 1991-03-20 | 1991-03-20 | 分光光度計 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH04290934A true JPH04290934A (ja) | 1992-10-15 |
Family
ID=13023667
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP5631391A Pending JPH04290934A (ja) | 1991-03-20 | 1991-03-20 | 分光光度計 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH04290934A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2013011473A (ja) * | 2011-06-28 | 2013-01-17 | Shimadzu Corp | 分光光度計 |
-
1991
- 1991-03-20 JP JP5631391A patent/JPH04290934A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2013011473A (ja) * | 2011-06-28 | 2013-01-17 | Shimadzu Corp | 分光光度計 |
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