JPH0429256B2 - - Google Patents

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JPH0429256B2
JPH0429256B2 JP57042268A JP4226882A JPH0429256B2 JP H0429256 B2 JPH0429256 B2 JP H0429256B2 JP 57042268 A JP57042268 A JP 57042268A JP 4226882 A JP4226882 A JP 4226882A JP H0429256 B2 JPH0429256 B2 JP H0429256B2
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JP
Japan
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signal
phase
loop filter
pll circuit
generates
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JP57042268A
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JPS58161426A (ja
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Classifications

    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03LAUTOMATIC CONTROL, STARTING, SYNCHRONISATION OR STABILISATION OF GENERATORS OF ELECTRONIC OSCILLATIONS OR PULSES
    • H03L7/00Automatic control of frequency or phase; Synchronisation
    • H03L7/06Automatic control of frequency or phase; Synchronisation using a reference signal applied to a frequency- or phase-locked loop
    • H03L7/08Details of the phase-locked loop

Landscapes

  • Stabilization Of Oscillater, Synchronisation, Frequency Synthesizers (AREA)
  • Dram (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 (1) 発明の技術分野 本発明は、デイジタルPLL回路のループフイ
ルタに関する。
(2) 発明の背景 近年、デイジタル技術の進歩に伴い、PLL(フ
エーズロツクドループ)回路もデイジタル式のも
のが実用化されている。更に、このデイジタル
PLL回路は、当然のことながら高性能を維持し
たまま簡略化された回路構成のものが望まれてい
る。
(3) 従来技術と問題点 デイジタルPLL回路の構成例を第1図に示す。
このPLL回路は、位相比較器1,ループフイル
タ2、可変発振器3とから成り立つている。ここ
に、可変発振器とは外部から与えた制御信号によ
つて周波数又は位相が変る発振器であつて、例え
ば電圧制御発振器が挙げられる。
位相比較器1は入力信号と出力信号との位相を
比較し、例えば入力に対して出力信号が進相なら
“1”,遅相なら“0”の位相比較信号Aを発生す
る。ループフイルタ2はこの信号Aの“1”又は
“0”の発生個数をある期間計数して、その計数
結果に応じて“1”又は“0”の位相制御信号B
を発生する。可変発振器3はこの信号Bによつ
て、出力信号の位相と入力信号の位相とが一致す
るように出力信号の位相を制御する。このように
して、入力信号に雑音が混入してもこの雑音の影
響の少いところの入力信号に同期した安定な出力
信号を発生する。
第2図は、従来のループフイルタの実施例であ
る。図中、11はインバータ、12及び16は
ORゲートである。13は第1図に示す位相比較
器1の出力信号AをMビツト毎にサンプリングす
るためのリセツト信号RLを発生するMビツトカ
ウンタ、14は信号Aに含まれる“1”の個数を
計数するNビツトカウンタ、15は信号Aに含ま
れる“0”の個数を計数するNビツトカウンタで
カウンタ14及び15は前記リセツト信号RLで
リセツトされるようになつている。17はカウン
タ14がMビツトのサンプリング期間中“1”を
N個以上計数した時にセツトされ、カウンタ15
がMビツトのサンプリング期間中“0”をN個以
上計数した時にリセツトされ、これによつて第1
図に示す可変発振器3の出力信号の位相を制御す
る信号Bを発生するRSフリツプフロツプである。
カウンタ13,14及び15のビツト数N及びM
の値は、N<M<2Nの関係を満すように設定さ
れる。例えばM=12,N=8に設定した場合は、
信号Aを12ビツト毎にサンプリングして、この12
ビツト中に8個以上“1”又は“0”があれば、
位相比較結果として夫々“1”又は“0”と判定
するのである。
この実施例に示すように従来のループ・フイル
タは、12ビツト中に連続でなくても累計で8個以
上の“1”又は“0”を計数すれば“1”又は
“0”と判定を出すいわゆる累積計数方式を採つ
ている。この累積計数方式は、入力信号に雑音が
混入して瞬時,連続性が乱された場合でも可及的
にきめ細かな判定をしようとする思想に基ずいて
いるが、回路構成が複雑となる欠点がある。
(4) 発明の目的 本発明の目的は、回路構成が簡単なデイジタル
PLL回路のループフイルタを提供することにあ
る。
(5) 発明の構成 本発明の思想は、デイジタルPLL回路のルー
プフイルタにおいて位相比較信号Aの判定を行う
場合、連続したN個の“1”又は“0”を計数し
た時のみ判定を出すいわゆる連続計数方式を採つ
ても位相制御上実質的に差がないことに着目し
て、前記の連続計数方式によるループフイルタを
シフトレジスタを中心として構成したことにあ
る。
(6) 発明の実施例 以下本発明を実施例について詳細に説明する。
第3図は本発明に係るループフイルタの実施例
である。図中、21は位相比較信号Aの“1”又
は“0”を計数するN段シフトレジスタ、22は
信号AがN個連続して“1”の時にセツト信号S
を発生するANDゲート、23は信号AがN個連
続して“0”の時にリセツト信号Rを発生する
ANDゲート、24は前記セツト信号S又はリセ
ツト信号Rで位相制御信号Bを発生するR・Sフ
リツプフロツプである。
第1図に示す位相比較器1か出力される位相比
較信号Aは、クロツク信号CKに同期してシフト
レジスタ21に入る。一方、ANDゲート22及
び23はシフトレジスタ21の出力Q1,Q2…QN
が全部“1”又は出力Q11,Q12…QNが全部“0”
かを常時監視しており、前記条件を満足した時に
ANDゲート22又は23にセツト信号又はリセ
ツト信号Rを出力す。このセツト信号S又はリセ
ツト信号Rによつて、フリツプフロツプ24は位
相制御信号Bを発生する。
以上の実施例で示すように本発明に係るループ
フイルタは、位相比較信号AがN個連続して
“1”又は“0”の時に“1”又は“0”と判定
する連続計数方式である。従つて、入力信号に雑
音が混入して瞬時連続性が乱れたような場合に位
相比較の判定を出せなくなる確率は、従来の累積
計数方式による場合に比べて定性的に大きいこと
が考えられる。
しかし、通常の場合サンプリングの大きなすな
わちNの値は10前後と小さいものであり、入力信
号の速度や雑音の過渡特性との相対的な関係で
は、累積計数方式と連続計数方式とで実質的に殆
んど差がないことが実現的にも明らかにされてい
る。
(7) 発明の効果 以上詳細に説明したように本発明によれば、
PLL回路の位相制御特性を実質的に損うことな
くループフイルタの回路構成を簡単なものにする
ことが可能となり、使用部品数の減少に伴い実装
スペースの節約,経済化,消費電力の低減,信頼
性の向上1又1はLSI化が容易になるといつた効
果が得られる。
【図面の簡単な説明】
第1図はPLL回路の構成例を示す図、第2図
は従来技術によるループフイルタの実施例の回路
図、第3図に本発明によるループフイルタの実施
例の回路図である。 図中、1は位相比較器、2はループフイルタ、
3は可変発振器、Aは位相比較信号、Bは位相制
御信号である。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1 位相比較器とループフイルタと可変発振器と
    を備えるデイジタルPLL回路において、 前記位相比較器から出力される位相比較結果を
    示す信号Aを直列的に計数するシフトレジスタ
    と、該シフトレジスタの連続するNビツトの出力
    が全部“1”または“0”となつた時にセツト信
    号又はリセツト信号を発生する回路と、前記セツ
    ト信号又はリセツト信号によつて前記可変発振器
    の位相を常に制御する信号Bを発生するR・Sフ
    リツプフロツプとを備えることを特徴とするデイ
    ジタルPLL回路のループフイルタ。
JP57042268A 1982-03-17 1982-03-17 デイジタルpll回路のル−プフイルタ Granted JPS58161426A (ja)

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JPS58161426A JPS58161426A (ja) 1983-09-26
JPH0429256B2 true JPH0429256B2 (ja) 1992-05-18

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP0157053A3 (en) * 1984-03-19 1987-09-02 Western Digital Corporation High order digital phase lock loop system
JP2954070B2 (ja) * 1997-03-26 1999-09-27 日本電気アイシーマイコンシステム株式会社 デジタルpll回路
DE10129783C1 (de) 2001-06-20 2003-01-02 Infineon Technologies Ag Verzögerungsregelkreis

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* Cited by examiner, † Cited by third party
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JPS5546095B2 (ja) * 1973-03-15 1980-11-21
JPS56748A (en) * 1979-06-15 1981-01-07 Fujitsu Ltd Phase control circuit

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JPS58161426A (ja) 1983-09-26

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