JPH042939A - Detecting apparatus of astigmatism of optical disk head part - Google Patents
Detecting apparatus of astigmatism of optical disk head partInfo
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Abstract
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、光ディスクヘッド部非点収差検出装置、特に
光ディスクヘッド部の組立時、調整時に光デイスクヘッ
ト部の非点収差を自動的に検出する光ティスクl\ツド
部非点収差検出装置に関する。[Detailed Description of the Invention] [Industrial Application Field] The present invention is an optical disk head astigmatism detection device, particularly for automatically detecting astigmatism of an optical disk head during assembly and adjustment of the optical disk head. The present invention relates to an optical disk part astigmatism detection device.
一般に、光ティスフヘット部の構成は第7図の様になっ
ている。Generally, the configuration of the optical tisf head section is as shown in FIG.
第7図に示す光デイスクヘット部は光源である半導体レ
ーザ16と、コリメータレンズ17と、フォーカスザー
ボ用アクチュエータ1−8と、収束レンズ1つから構成
される。The optical disk head section shown in FIG. 7 is composed of a semiconductor laser 16 as a light source, a collimator lens 17, a focus servo actuator 1-8, and one converging lens.
光ディスクヘッド部は光源に半導体レーザを使用してい
るなめに出射するレーザ光の非点収差を測定し修正する
必要がある。Since the optical disk head uses a semiconductor laser as a light source, it is necessary to measure and correct the astigmatism of the laser beam emitted diagonally.
従来の光ディスクヘッド部非点収差検出装置は非測定物
である光ヘツド部に含まれる半導体レーザを駆動する電
源部と、光ディスクヘッド部を移動させる手動ステージ
と、光ディスクヘッド部で収束されたレーザ光のビーム
ウェスト付近を光軸方向に垂直に振動する90度の角を
持ったナイフェツジ部と、ナイフェツジ部を振動させる
発振器と、ナイフェツジ部を通過した半導体レーザ光を
受光しその受光量に比例した電流を出力するフォトディ
テクタと、そのフォトディテクタから出力した電流を時
間で微分する微分回路と、その微分回路で時間微分され
た微分信号の波形を見るためのオシロスコープを含んで
構成される。A conventional optical disk head astigmatism detection device consists of a power supply unit that drives a semiconductor laser included in the optical head, which is a non-measurable object, a manual stage that moves the optical disk head, and a laser beam focused on the optical disk head. A knife section with a 90 degree angle that vibrates near the beam waist of the laser beam perpendicular to the optical axis direction, an oscillator that vibrates the knife section, and a current that receives the semiconductor laser light that has passed through the knife section and is proportional to the amount of light received. It consists of a photodetector that outputs a current, a differentiation circuit that differentiates the current output from the photodetector with respect to time, and an oscilloscope that allows you to view the waveform of the differential signal that is time-differentiated by the differentiation circuit.
第8図は従来の光ディスクヘッド部非点収差検出装置の
一例を示すブロック図である。FIG. 8 is a block diagram showing an example of a conventional optical disk head astigmatism detection device.
第8図に示す光ディスクヘッド部非点収差検出装置は被
測定物である光ディスクヘッド部31−に含まれる半導
体レーザを駆動する電源部20と、光ディスクヘッド部
31を移動させる手動ステージ21−と、光ディスクヘ
ッド部3]で収束されたレーザ光のビームウェスト付近
を光軸方向に垂直に振動する90度の角を持ったナイフ
ェツジ部22と、ナイフェツジ部22を振動させる発振
器23と、ナイフェツジ部22を通過したレーザ光を受
光しその受光量に比例した電流を出力するフォトディテ
クタ24と、その電流を時間で微分する微分回路25と
、その微分回路25て時間微分された微分された微分信
号の波形を見るためのオシロスコープ26を含んでいる
。The optical disk head astigmatism detection device shown in FIG. 8 includes a power supply section 20 for driving a semiconductor laser included in an optical disk head section 31- which is an object to be measured, a manual stage 21- for moving the optical disk head section 31-, an oscillator 23 that vibrates the knife section 22, an oscillator 23 that vibrates the knife section 22; A photodetector 24 receives the passed laser light and outputs a current proportional to the amount of received light, a differentiating circuit 25 differentiates the current with respect to time, and the differentiating circuit 25 converts the waveform of the time-differentiated differential signal. Includes an oscilloscope 26 for viewing.
光ディスクヘット部の被点収差の検出は以下のように行
う。Detection of tombstone aberration in the optical disc head section is performed as follows.
まず光ティスフヘッド部31の半導体レーザ16を光デ
ィスクヘッド部用電源で発光させそのレーザ光をコリメ
ータレンズ]7で平行光に近くする。次にそのレーザ光
を収束レンズ部]っで収束させる。収束したレーザ光は
ナイフェツジ部22で光軸方向に垂直に切断される。First, the semiconductor laser 16 of the optical disk head section 31 is caused to emit light using the power supply for the optical disk head section, and the laser light is made into nearly parallel light by the collimator lens]7. Next, the laser beam is converged by a converging lens section. The converged laser beam is cut by the knife section 22 perpendicularly to the optical axis direction.
ナイフェツジ部はガラス板27と、90度の角を持つナ
イフェツジパターン部28から構成される(第9図およ
び第10図参照)。The knife part is composed of a glass plate 27 and a knife pattern part 28 having an angle of 90 degrees (see FIGS. 9 and 10).
レーザビーム短軸方向、長軸方向をそれぞれX軸、Y軸
としたときナイフェツジパターンの4辺かX軸Y軸と一
致させ、ナイフェツジパターンをI−Iaの矢印の方向
に、45度の角度で振動させナイフェツジパターンの右
下の角かレーザビームを切断するようにナイフェツジ部
22に位置を調整する。When the short and long axis directions of the laser beam are taken as the X and Y axes, respectively, align the four sides of the knife pattern with the X and Y axes, and move the knife pattern in the direction of the arrow I-Ia, 45 Adjust the position of the knife part 22 so that the laser beam is vibrated at an angle of 100 degrees and cuts the laser beam at the lower right corner of the knife pattern.
そのときナイフェツジパターン部はレーザビームを1ス
トローク中に短軸方向長軸方向の2方向から次々に切断
する。その時ナイフェツジ部22を通過したレーザ光を
フォトディテクタ24で受光し、そのフォトディテクタ
が出力する電流の波形は第1−1図の様になる。その電
流は微分回路25で時間微分され、第12図に示すよう
な波形がオシロスコープ26の画面に表示される。At this time, the knife pattern section sequentially cuts the laser beam from two directions, ie, the short axis direction and the long axis direction, during one stroke. At this time, the laser beam that has passed through the knife section 22 is received by the photodetector 24, and the waveform of the current output from the photodetector is as shown in FIG. 1-1. The current is differentiated with respect to time by a differentiating circuit 25, and a waveform as shown in FIG. 12 is displayed on the screen of an oscilloscope 26.
第12図の正側負側の4つの波形E、F、GHのうち、
EとH,FとGの波形はそれぞれ同一であり符号が逆転
している。Among the four waveforms E, F, and GH on the positive and negative sides of Fig. 12,
The waveforms of E and H, and F and G are the same and have opposite signs.
このうちEとFに注目したがら収束レンズ部の調整機能
により収束レンズ部を光軸方向に移動させる。2つの波
形EとFとがそれぞれ正側負側の最大値(絶対値で)を
とる時の収束レンズ部の位置の差が被測定物の被点収差
になる。Of these, focusing on E and F, the converging lens section is moved in the optical axis direction using the adjustment function of the converging lens section. The difference in the position of the converging lens section when the two waveforms E and F take the maximum value (in absolute value) on the positive side and negative side, respectively, becomes the tombstone aberration of the object to be measured.
上述した従来の光ディスクヘッド部非点収差検出装置は
以下のような理由により検出精度が悪く検出時間が長く
かかるという欠点があった。The above-described conventional optical disk head astigmatism detection device has the drawbacks of poor detection accuracy and long detection time due to the following reasons.
非点収差の測定をオシロスコープ上の画面の波形のみを
見て行うなめその時点の波形が最大値であるかどうかの
判定か困難であり測定時間がかかってしまう。またその
時点の非点収差の大きさが数字で分7!りらないため、
客観的な判断基準がなく、測定精度が作業者により異な
ってしまう。Because astigmatism is measured by looking only at the waveform on the screen of the oscilloscope, it is difficult to judge whether the waveform at that point is at its maximum value, and the measurement takes time. Also, the magnitude of the astigmatism at that point was 7 minutes! In order not to
There is no objective judgment standard, and measurement accuracy varies depending on the operator.
本発明の光ディスクヘッド部非点収差検出装置は、被測
定物である光ディスクヘッド部に含まれる半導体レーザ
を駆動する電源部と、光ディスクヘッド部のフォーカス
サーボ用アクチエエータを駆動するコントローラ部と、
光ティスフヘッド部で収束されなレーザ光のビームウェ
スI・付近を光軸方向に垂直に振動する90度の角を持
つナイフェツジ部と、ナイフェツジ部を振動させる発振
器と、ナイフェツジ部を通過したレーザ光を受光しその
受光量に比例した電流を出力するフォトディテクタと、
そのフォトディテクタから出力した電流を時間で微分す
る微分回路と、微分回路で微分された電流信号のうち必
要な部分の信号のみを取り出すサンプルホールド回路と
、サンプルホールド回路で取り出された信号から正側の
みの信号波形と負側のみの信号波形とをそれぞれ取り出
す2つの整流回路と、2つに分けられた信号波形の正側
負側それぞれのピーク値を求めるための2つのコンパレ
ータと、ピーク値を取るときの収束レンズ部の位置をコ
ントローラから求めて記憶する2つのメモリーと、正側
負側2つのメモリーの収束レンズ部の位置から被測定物
の非点収差を求めるコンパレータとを含んで構成される
。The optical disc head astigmatism detection device of the present invention includes: a power supply unit that drives a semiconductor laser included in an optical disc head that is an object to be measured; a controller unit that drives a focus servo actuator of the optical disc head;
A knife part with a 90 degree angle that vibrates near the beam waste I of the laser light that is converged by the optical tisf head part, perpendicular to the optical axis direction, an oscillator that vibrates the knife part, and a laser beam that has passed through the knife part. A photodetector that receives light and outputs a current proportional to the amount of light received;
A differentiation circuit that differentiates the current output from the photodetector with respect to time, a sample-hold circuit that extracts only the necessary part of the current signal differentiated by the differentiation circuit, and only the positive side of the signal extracted by the sample-and-hold circuit. two rectifier circuits that take out the signal waveform of , and the signal waveform of only the negative side, two comparators that find the peak values of the positive and negative sides of the divided signal waveforms, and two comparators that take the peak values. It consists of two memories that calculate and store the position of the converging lens part from the controller at the time of the measurement, and a comparator that calculates the astigmatism of the object to be measured from the position of the converging lens part of the two positive and negative memories. .
第1−図は本発明の一実施例を示すフロック図である。 FIG. 1 is a block diagram showing an embodiment of the present invention.
第1図に示ず光ディスクヘッド部非点収差検出装置は、
非測定物である光ディスクヘッド部と非測定物である光
ディスクヘッド部に含まれる半導体レーザを駆動する電
源部1と、光ティスフヘット部のフォーカスサーボ用ア
クチエエータを駆動するコントローラ部3と、光ディス
クヘッド部で収束されなレーザ光のビームウェスト付近
を光軸方向に垂直に振動する90度の角を持つナイフェ
ツジ部4と、ナイフェツジ部を振動させる発振器5と、
ナイフェツジ部を通過したレーザ光を受光しその受光量
に比例した電流を出力するフォトディテクタ6・と、そ
のフォトディテクタから出力されな信号を時間で微分す
る微分回路7と、微分回路で微分された信号のうち必要
な部分の信号のみを取り出すサンプルホールド回路8と
、サンプルホールド回路でサンプルされた電流信号から
正側のみの電流信号を負側のみの電流信号とをそれぞれ
取り出す2つの整流回路、整流回路■9と整流回路■1
−0と、2つに分けられた電流信号の正側負側それぞれ
のピーク値を求めるための2つのコンパレータ、コンパ
レータ■11と、コンパレータ■1−2と、ピーク値を
とるときの収束レンズ部の位置をコントローラから求め
て記憶するメモリー回路■13と、メモリー回路■14
と、正側負側2つのメモリーの収束レンズ部の位置の値
から被測定物の非点収差を求めるコンパレータ■15を
含んで構成される。The optical disk head astigmatism detection device not shown in FIG.
The optical disk head section is a non-measurement object, a power supply section 1 drives a semiconductor laser included in the optical disk head section, a non-measurement object, a controller section 3 drives a focus servo actuator of the optical disk head section, and an optical disk head section. a knife section 4 having a 90 degree angle that vibrates near the beam waist of the converged laser beam perpendicular to the optical axis direction; an oscillator 5 that vibrates the knife section;
A photodetector 6 receives the laser beam that has passed through the knife section and outputs a current proportional to the amount of received light; a differentiating circuit 7 that differentiates the signal output from the photodetector with respect to time; A sample-and-hold circuit 8 that extracts only the necessary part of the signal, and two rectifier circuits that extract only the positive current signal and only the negative current signal from the current signal sampled by the sample-and-hold circuit, rectifier circuit■ 9 and rectifier circuit■1
-0, two comparators for determining the peak values of the positive and negative sides of the current signal divided into two, comparator ■11, comparator ■1-2, and a converging lens section for taking the peak value. Memory circuit ■13 that obtains and stores the position of from the controller, and memory circuit ■14.
and a comparator 15 for determining the astigmatism of the object to be measured from the position values of the converging lens portions of the two positive and negative memories.
被測定物である光ディスクヘッド部に含まれる半導体レ
ーザ16は、電源部1により駆動される。A semiconductor laser 16 included in an optical disk head section, which is an object to be measured, is driven by a power supply section 1.
半導体レーザ16より発光したレーザ光はコリメータレ
ンズ17で平行光にされ収束レンズ1つで収束され光デ
ィスクヘッド部から出射する。Laser light emitted from the semiconductor laser 16 is collimated by a collimator lens 17, converged by a single converging lens, and emitted from the optical disk head.
光ディスクヘッド部から出射したレーザ光はナイフェツ
ジ部4により光軸方向に垂直に切断される。The laser beam emitted from the optical disk head section is cut by the knife section 4 perpendicularly to the optical axis direction.
ナイフェツジ部を通過したレーザ光はフォトディテクタ
6に入射する。フォトディテクタは入射したレーザ光の
光量に比例した電流を出力する。第2図はその電流信号
波形の例である。The laser light that has passed through the knife part is incident on the photodetector 6. The photodetector outputs a current proportional to the amount of incident laser light. FIG. 2 is an example of the current signal waveform.
フォトディテクタから出力する電流は微分回路7により
時間微分され、そのときの波形は第3図の様になる。第
3図においてA、B、C,Dの波形のうちAとB、Cと
Dの電流信号波形はそれぞれ同一であり符号か逆転して
いる。微分回路によって微分された信号はサンプルホー
ルド回路8により必要な部分の信号のみ(第3図の波形
ではBとCの波形)が取り出され、その時の信号波形は
第4図のようになる。The current output from the photodetector is time-differentiated by the differentiating circuit 7, and the waveform at that time is as shown in FIG. In FIG. 3, among the waveforms A, B, C, and D, the current signal waveforms A and B, and C and D are the same and have opposite signs. From the signal differentiated by the differentiating circuit, only the necessary portion of the signal (waveforms B and C in the waveform of FIG. 3) is extracted by the sample-and-hold circuit 8, and the signal waveform at that time becomes as shown in FIG. 4.
サンプルホールド回路によって取り出された信号波形は
整流回路■9と整流回路■10の両方に入力される。入
力された信号波形のうち整流回路■9は正側の信号波形
のみを出力し、整流回路■10は逆に負側の信号波形の
みを出力する。The signal waveform extracted by the sample and hold circuit is input to both rectifier circuit (2)9 and rectifier circuit (2)10. Of the input signal waveforms, the rectifier circuit (2) 9 outputs only the positive side signal waveform, and the rectifier circuit (2) 10 conversely outputs only the negative side signal waveform.
整流回路■9.整流回路■コ0からそれぞれ出力する信
号波形は第5図、第6図のようになる。Rectifier circuit■9. The signal waveforms output from the rectifier circuit 0 are shown in FIGS. 5 and 6, respectively.
整流回路■9から出力された信号波形はコンパレータ■
1]に入力され、その時点までの最大値と比較される。The signal waveform output from the rectifier circuit ■9 is the comparator ■
1] and compared with the maximum value up to that point.
最大値より大きいとその値はコンパレータ■]]の比較
基準電圧レベルになり、その時のフォーカスサーボ用ア
クチュエータ]8の位置はコントローラからもとめられ
てメモリー回路■11に記憶させる。If it is larger than the maximum value, the value becomes the comparison reference voltage level of the comparator (2)], and the position of the focus servo actuator (8) at that time is determined from the controller and stored in the memory circuit (11).
同様に整流回路■]0から出力された信号波形はコンパ
レータ■12に入力され、その時点までの最小値と比較
される。Similarly, the signal waveform output from the rectifier circuit [1]0 is input to the comparator [12] and compared with the minimum value up to that point.
最小値より小さいとその値はコンパレータ■12の比較
基準電圧レベルになる、その時のフォーカスサーボ用ア
クチュエータの位置はコントローラから求められてメモ
リー回路■]2に記憶させる。If it is smaller than the minimum value, the value becomes the comparison reference voltage level of the comparator (12), and the position of the focus servo actuator at that time is determined from the controller and stored in the memory circuit (2).
次に、コントローラ3により光ディスクヘッド部のフォ
ーカスサーボ用アクチュエータ18を光軸方向に一定距
離移動し、以上の手順を繰り返す。Next, the focus servo actuator 18 of the optical disk head section is moved a certain distance in the optical axis direction by the controller 3, and the above procedure is repeated.
最終的にフォーカスサーボ用アクチュエータ]8の移動
か終了した時のメモリー■と、メモリー■に記憶されて
いるフォーカスサーボ用アクチュエータの位置の差が被
測定物の非点収差になる。Finally, the difference between the position of the focus servo actuator stored in the memory (2) and the memory (2) when the movement of the focus servo actuator] 8 is completed becomes the astigmatism of the object to be measured.
本発明の光ディスクヘッド部非点収差検出装置は、フォ
ーカスサーボ゛用アクチュエータをコントローラ部で°
動かしたがらフォトディテクタの出力電流を時間微分し
必要な部分の信号のみを取り出し、それを正側と負側と
に分けられそれぞれの絶対値の最大値を求め、非点収差
を検出するなめ、非点収差の測定時間が短くなり測定精
度が向上する。また収束レンズを移動させるのに非測定
物である光ティスフヘッド部のフォーカスサーボ用アク
チュエータを使用するため、装置の構成が簡単になると
いう効果がある。In the optical disk head astigmatism detection device of the present invention, the focus servo actuator is controlled by the controller section.
To detect astigmatism, the output current of the photodetector is differentiated with respect to time to extract only the necessary part of the signal, which is divided into positive and negative sides and the maximum absolute value of each is determined. Aberration measurement time is shortened and measurement accuracy is improved. Furthermore, since the focus servo actuator of the optical tilt head, which is a non-measurable object, is used to move the converging lens, the structure of the apparatus is simplified.
第1図は本発明の一実施例を示すフロック図、第2図は
第1図に示ずフォトディテクタの出力電流の波形図、第
3図は第1図に示す微分回路の出力電流波形図、第4図
は第1図に示すサンプルホールド回路の出力信号波形図
、第5図は正側の整流回路■の出力信号波形図、第6図
は負側の整流回路■の出力信号波形図、第7図は光ディ
スクヘッド部の構成図、第8図は従来の1例を示ずブロ
ック図、第9図はナイフェツジ部の構成図、第10図は
ナイフェツジ部とレーザビームとの位置関係を説明する
図、第11図はフォトディテクタの出力波形図、第12
図は第8図のオシロスコープの画面上の波形図である。
1・・・電源部、3・・・コントローラ部、4・・・ナ
イフェツジ部、5・・・発振器、6・・・フォトディテ
クタ、7・・微分回路、8・・・サンプルホールド回路
、9・・・整流回路■、10・・・整流回路■、11・
・・コンパレータ■、12・・・コンパレータ■、13
・・・メモリー回路■、14・・メモリー回路■、15
・・・コンパレータ■、30・・・光ティスフヘッド部
。
第
図
X 賽
第FIG. 1 is a block diagram showing an embodiment of the present invention, FIG. 2 is a waveform diagram of the output current of a photodetector not shown in FIG. 1, and FIG. 3 is an output current waveform diagram of the differential circuit shown in FIG. Fig. 4 is an output signal waveform diagram of the sample and hold circuit shown in Fig. 1, Fig. 5 is an output signal waveform diagram of the positive rectifier circuit ■, Fig. 6 is an output signal waveform diagram of the negative rectifier circuit ■, Fig. 7 is a block diagram of the optical disk head section, Fig. 8 is a block diagram without showing a conventional example, Fig. 9 is a block diagram of the knife section, and Fig. 10 explains the positional relationship between the knife section and the laser beam. Figure 11 is the photodetector output waveform diagram, Figure 12 is the output waveform diagram of the photodetector.
The figure is a waveform diagram on the screen of the oscilloscope in FIG. DESCRIPTION OF SYMBOLS 1... Power supply part, 3... Controller part, 4... Knifetsu part, 5... Oscillator, 6... Photodetector, 7... Differentiation circuit, 8... Sample hold circuit, 9...・Rectifier circuit ■, 10... Rectifier circuit ■, 11・
... Comparator ■, 12 ... Comparator ■, 13
...Memory circuit ■, 14...Memory circuit ■, 15
...Comparator ■, 30... Optical tisf head section. Diagram X Dice
Claims (1)
ーザを駆動する電源部と、光ディスクヘッド部のフォー
カスサーボ用アクチュエータを駆動するコントローラ部
と、光ディスクヘッド部で収束されたレーザ光のビーム
ウェスト付近を光軸方向に垂直に振動する90度の角を
持つナイフエッジ部と、ナイフエッジ部を振動させる発
振器と、ナイフエッジ部を通過したレーザ光を受光しそ
の受光量に比例した電流を出力するフォトディテクタと
、そのフォトディテクタから出力した電流を時間で微分
する微分回路と、微分回路で微分された電流信号のうち
所定の部分の信号のみを取り出すサンプルホールド回路
と、サンプルホールド回路で取り出された信号から正側
のみの信号と負側のみの信号とをそれぞれ取り出す2つ
の整流回路と、2つに分けられた信号の正側負側それぞ
れのピーク値を求めるための2つのコンパレータと、ピ
ーク値を取るときの収束レンズ部の位置をコントローラ
から求めて記憶する2つのメモリーと、正側負側2つの
メモリーの収束レンズ部の位置の値から被測定物の非点
収差を求めるコンパレータとを含むことを特徴とする光
ディスクヘッド部非点収差検出装置。A power supply section that drives the semiconductor laser included in the optical disk head section that is the object to be measured, a controller section that drives the focus servo actuator of the optical disk head section, and a light source near the beam waist of the laser light converged in the optical disk head section. A knife edge section with a 90 degree angle that vibrates perpendicular to the axial direction, an oscillator that vibrates the knife edge section, and a photodetector that receives the laser beam that has passed through the knife edge section and outputs a current proportional to the amount of received light. , a differentiation circuit that differentiates the current output from the photodetector with respect to time, a sample-and-hold circuit that extracts only a predetermined portion of the current signal differentiated by the differentiation circuit, and a positive side of the signal extracted by the sample-and-hold circuit. two rectifier circuits that take out only the negative side signal and only the negative side signal, two comparators to find the peak values of the positive and negative sides of the two divided signals, and a It is characterized by including two memories for determining and storing the position of the converging lens section from the controller, and a comparator for determining the astigmatism of the object to be measured from the position values of the converging lens section in the two positive and negative memories. Optical disk head astigmatism detection device.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10495690A JPH042939A (en) | 1990-04-20 | 1990-04-20 | Detecting apparatus of astigmatism of optical disk head part |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10495690A JPH042939A (en) | 1990-04-20 | 1990-04-20 | Detecting apparatus of astigmatism of optical disk head part |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH042939A true JPH042939A (en) | 1992-01-07 |
Family
ID=14394548
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP10495690A Pending JPH042939A (en) | 1990-04-20 | 1990-04-20 | Detecting apparatus of astigmatism of optical disk head part |
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| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH042939A (en) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5499229A (en) * | 1993-12-01 | 1996-03-12 | Sharp Kabushiki Kaisha | Track scanning for reproducing address information by crosstalk |
| CN104977457A (en) * | 2015-07-17 | 2015-10-14 | 深圳市英威腾电动汽车驱动技术有限公司 | Overcurrent detection circuit, method thereof and device thereof |
-
1990
- 1990-04-20 JP JP10495690A patent/JPH042939A/en active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5499229A (en) * | 1993-12-01 | 1996-03-12 | Sharp Kabushiki Kaisha | Track scanning for reproducing address information by crosstalk |
| CN104977457A (en) * | 2015-07-17 | 2015-10-14 | 深圳市英威腾电动汽车驱动技术有限公司 | Overcurrent detection circuit, method thereof and device thereof |
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