JPH0429562Y2 - - Google Patents

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JPH0429562Y2
JPH0429562Y2 JP1983051404U JP5140483U JPH0429562Y2 JP H0429562 Y2 JPH0429562 Y2 JP H0429562Y2 JP 1983051404 U JP1983051404 U JP 1983051404U JP 5140483 U JP5140483 U JP 5140483U JP H0429562 Y2 JPH0429562 Y2 JP H0429562Y2
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wafer cassette
cassette
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wafer
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Description

【考案の詳細な説明】 〔技術分野〕 本考案は、半導体の製造におけるウエハカセツ
ト治具の支持装置に関する。
[Detailed Description of the Invention] [Technical Field] The present invention relates to a support device for a wafer cassette jig in semiconductor manufacturing.

半導体の製造においては、塵埃等の付着による
性能低下及び不良製品に気をつかうものであり、
その対策として清潔を極めた所定装置での全自動
化が望ましい。
In the manufacturing of semiconductors, we are concerned about performance deterioration and defective products due to the adhesion of dust, etc.
As a countermeasure to this, it is desirable to fully automate the process using a predetermined device that is extremely clean.

本考案は、その一工程を担うべくイオン注入時
やプラズマエツチング処理時等におけるウエハカ
セツト治具の支持装置の回動前の理想的な初期設
定位置を定めたことにある。
The present invention is based on determining an ideal initial setting position before rotation of a support device for a wafer cassette jig during ion implantation, plasma etching processing, etc., in order to play a part in this process.

〔従来技術〕[Prior art]

以下に、従来のイオン注入時におけるウエハカ
セツト治具の支持装置を図面に基づいて説明す
る。
A conventional support device for a wafer cassette jig during ion implantation will be described below with reference to the drawings.

第1図は従来のウエハカセツト治具の支持装置
を示す概略側断面図である。
FIG. 1 is a schematic side sectional view showing a conventional wafer cassette jig support device.

図において、1は後記するウエハカセツト治具
の支持装置(以下、カセツトホルダと略す。)、2
はこのカセツトホルダ1に配置支持されるウエハ
カセツト治具(以下、ウエハカセツトと略す。)、
3はこのウエハカセツト2に収納したウエハであ
り、カセツトホルダ1は図示外の駆動機構で移動
しながらウエハ3を1枚づつ送出する。
In the figure, 1 is a supporting device for a wafer cassette jig (hereinafter abbreviated as cassette holder), which will be described later;
is a wafer cassette jig (hereinafter abbreviated as wafer cassette) arranged and supported by this cassette holder 1;
Reference numeral 3 denotes wafers stored in this wafer cassette 2, and the cassette holder 1 feeds out the wafers 3 one by one while being moved by a drive mechanism not shown.

尚、他方に同様にして構成したカセツトホルダ
1があり、該カセツトホルダ1も同様に図示外の
駆動機構によつて移動しながら、こちらでは送出
されたウエハ3の受け取り側となつている。
Incidentally, there is a cassette holder 1 constructed in the same manner on the other side, and this cassette holder 1 is also moved by a drive mechanism not shown, and serves as a receiving side for the wafers 3 sent out.

4はキヤリアであり、該キヤリア4は前記カセ
ツトホルダ1の動きを支持してカセツトホルダ1
を取付けている。5は設定真空度まで排気を行な
う予備排気室であり、該予備排気室5と前記キヤ
リア4の一端は回動可能に固定されている。6は
イオン打込み室、7はイオンビームを示す矢印で
ある。
4 is a carrier, which supports the movement of the cassette holder 1 and supports the cassette holder 1.
is installed. Reference numeral 5 denotes a pre-evacuation chamber for evacuation to a set degree of vacuum, and the pre-evacuation chamber 5 and one end of the carrier 4 are rotatably fixed. 6 is an ion implantation chamber, and 7 is an arrow indicating an ion beam.

矢印は、夫れ夫れの動きを示しAはキヤリア4
及びカセツトホルダ1、Bはカセツトホルダ1の
動きを、C,Dはウエハ3の流れを示す。
The arrows indicate the movements of the husband and wife, and A is carrier 4.
And cassette holders 1 and B indicate the movement of the cassette holder 1, and C and D indicate the flow of the wafer 3.

次に、上記のように構成される支持装置の動作
について説明する。
Next, the operation of the support device configured as described above will be explained.

図示のように、キヤリア4は垂直となつてい
る。従つて、カセツトホルダ1も垂直であり、ウ
エハ3を収納したウエハカセツト2はカセツトホ
ルダ3に垂直に支持される設定である。
As shown, the carrier 4 is vertical. Therefore, the cassette holder 1 is also vertical, and the wafer cassette 2 containing the wafers 3 is supported vertically by the cassette holder 3.

この状態から、カセツトホルダ1はキヤリア4
と共に矢印A方向に回動して予備排気室5に当接
する。
From this state, cassette holder 1 is moved to carrier 4.
At the same time, it rotates in the direction of arrow A and comes into contact with the preliminary exhaust chamber 5.

すると、一方のカセツトホルダ1は矢印Bで示
す所定方向の動きを図示外の駆動機構で行ない、
ウエハ3を次々に細口を通る矢印C経路でウエハ
カセツト2から予備配気室5を通りイオン打込み
室6へと送る。そして、イオン打込み室6でイオ
ンビーム7を受けたウエハ3は矢印D経路を通
り、他方のウエハカセツト2へと収納される。こ
の収納は、図示外の駆動機構によつて矢印Bで示
す所定方向の動きを行なうカセツトホルダ1によ
つて行なわれる。
Then, one cassette holder 1 moves in a predetermined direction shown by arrow B by a drive mechanism not shown, and
The wafers 3 are sent one after another from the wafer cassette 2 to the ion implantation chamber 6 through the preliminary air distribution chamber 5 along the path of arrow C passing through the narrow opening. The wafer 3 that has received the ion beam 7 in the ion implantation chamber 6 passes through the path of arrow D and is stored in the other wafer cassette 2. This storage is performed by the cassette holder 1, which moves in a predetermined direction indicated by arrow B by a drive mechanism not shown.

このようにして、全てのウエハ3へのイオンビ
ーム7の打込みが完了すると、夫れ夫れのカセツ
トホルダ1はキヤリア4と共に最初の設定位置で
ある垂直位置へ復帰する。
In this manner, when the implantation of the ion beam 7 into all wafers 3 is completed, each cassette holder 1 returns together with the carrier 4 to the vertical position which is the initial setting position.

以上が動作工程であるが、このようなカセツト
ホルダ1の初期設定では以下のような欠点が生じ
てくる。
The above is the operating process, but the following drawbacks arise in this initial setting of the cassette holder 1.

それは、ウエハ3を収納したウエハカセツト2
をカセツトホルダ1に立てた状態の配置をしなけ
ればならず、このような配置を行なうのに安全に
運搬又は移動させることのできる信頼度の高い治
具がなく、そのためにウエハカセツト2の配置に
おいての作業性が悪い欠点がある。
It is wafer cassette 2 containing wafer 3.
The wafer cassette 2 must be placed upright in the cassette holder 1, and there is no reliable jig that can safely transport or move the wafer cassette 2 for such placement. It has the disadvantage of poor workability.

また、作業者がウエハカセツト2を素手又は手
袋を使用して設置する場合にウエハ3の表面が上
方向を向いているために塵埃が多量に付着する欠
点ともなる。
Further, when an operator installs the wafer cassette 2 with bare hands or gloves, the surface of the wafer 3 faces upward, resulting in a large amount of dust adhering to the wafer cassette 2.

そして、ウエハカセツト2の移動を行なう場合
においてウエハカセツト2が立つた状態であるの
で非常に不安定となる欠点も有している。
Furthermore, when moving the wafer cassette 2, the wafer cassette 2 is in an upright position, so it also has the disadvantage of being extremely unstable.

更に、このような欠点はイオン注入及びその前
後工程におけるウエハ3の移動の全自動化を行な
いにくい欠点ともなつている。
Furthermore, such a drawback also makes it difficult to fully automate the movement of the wafer 3 during ion implantation and the steps before and after the ion implantation.

〔考案の目的〕[Purpose of invention]

そこで、本考案の目的はウエハカセツトをカセ
ツトホルダに理想的な配置を行なうことができる
カセツトホルダ、すなわちウエハカセツト治具の
支持装置を提供することによつて従来の欠点を解
決することにある。
SUMMARY OF THE INVENTION It is therefore an object of the present invention to overcome the drawbacks of the prior art by providing a cassette holder, ie, a support device for a wafer cassette jig, which allows ideal placement of a wafer cassette in the cassette holder.

〔考案の構成〕[Structure of the idea]

その特徴的構成は以下の通りである。 Its characteristic configuration is as follows.

半導体のウエハに処理を行う処理室の端部に設
定真空度まで排気を行う二個の予備排気室をV形
を寝かせた形状を成すように配置し、各予備排気
室の外側にキヤリアを回動可能に取付けると共
に、それぞれのキヤリアにウエハカセツト治具を
支持して移動する支持装置を設けるウエハカセツ
ト治具の支持装置において、回動前の両支持装置
の初期状態が水平または水平に近い状態でかつ互
いに平行となるように、両キヤリアの同一個所を
それぞれの予備排気室の下端同一個所に回動可能
に取付けて、初期状態での送出側の支持装置に対
するウエハカセツト治具の挿入方向と、受取り側
の支持装置に対するウエハカセツト治具の取出し
方向が同一の横方向となり、かつそのときのウエ
ハカセツト治具内のウエハがほぼ鉛直状態となる
ようにすることである。
At the end of the processing chamber where semiconductor wafers are processed, two pre-evacuation chambers for evacuating to the set vacuum level are arranged in a V-shaped configuration, and a carrier is routed outside of each pre-evacuation chamber. In a support device for a wafer cassette jig, which is movably mounted and has a support device that supports and moves the wafer cassette jig on each carrier, the initial state of both support devices before rotation is horizontal or close to horizontal. The same point of both carriers is rotatably attached to the same point of the lower end of each pre-evacuation chamber so that they are parallel to each other, and the direction of insertion of the wafer cassette jig into the support device on the delivery side in the initial state is The wafer cassette jig is to be taken out in the same lateral direction with respect to the support device on the receiving side, and the wafers in the wafer cassette jig are in a substantially vertical state at that time.

このようにすることによつて、ウエハはウエハ
カセツト治具での安定した配置を行なえるので自
動化にもつながると同時にウエハの表面も横向き
にして塵埃の付着低減も行なえるものである。
By doing this, the wafer can be stably placed in the wafer cassette jig, leading to automation, and at the same time, the surface of the wafer can also be turned sideways to reduce dust adhesion.

〔実施例〕〔Example〕

以下に、本考案の一実施例を図面に基づいて説
明する。
An embodiment of the present invention will be described below based on the drawings.

第2図は本考案の一実施例による支持装置の概
略側断面図である。尚、従来例と同一機能部品及
び同一矢印動作においては従来例と同一の符号及
び矢印を使用して説明する。
FIG. 2 is a schematic side sectional view of a support device according to an embodiment of the present invention. Note that the same functional parts and the same arrow operations as in the conventional example will be described using the same symbols and arrows as in the conventional example.

図において、1は後記するウエハカセツト治具
の支持装置(従来例同様に以下、カセツトホルダ
と略す。)、2はこのカセツトホルダ1に支持され
るウエハカセツト治具(従来例同様に以下、ウエ
ハカセツトと略す。)、3はこのウエハカセツト2
に収納したウエハ、ウエハに処理を行う処理室と
してのイオン打込み室6の端部にV形を寝かせた
形状を成すように二個配置した各々の予備排気室
5(従来と同様に設定真空度まで排気を行う室で
ある)の外側に回動可能に取付けたキヤリアであ
り、該キヤリア4は図示外の駆動機構で動くカセ
ツトホルダ1を取付けている。
In the figure, 1 is a supporting device for a wafer cassette jig (hereinafter referred to as a cassette holder, as in the conventional example), and 2 is a wafer cassette jig supported by this cassette holder 1 (hereinafter, as in the conventional example, it is referred to as a wafer cassette jig). ), 3 is this wafer cassette 2.
The wafers housed in the The carrier 4 is rotatably mounted on the outside of the chamber (which is a chamber for exhausting air), and the carrier 4 has a cassette holder 1 mounted thereon which is moved by a drive mechanism not shown.

そして本実施例では、回動前の両カセツトホル
ダ1の初期状態が水平または水平に近い状態でか
つ互いに平行となるように、両キヤリア4の同一
個所をそれぞれの予備排気室の下端同一個所に回
動可能に取付けて、初期状態での送出側のカセツ
トホルダ1に対するウエハカセツト2の挿入方向
と、受取り側のカセツトホルダ1に対するウエハ
カセツト2の取出し方向が矢印Eで示したように
同一の横方向となり、かつそのときのウエハカセ
ツト2内のウエハ1が鉛直状態となるようにして
いる。7はイオンビームを示す。
In this embodiment, the same location of both carriers 4 is placed at the same location at the lower end of each preliminary exhaust chamber so that the initial state of both cassette holders 1 before rotation is horizontal or nearly horizontal and parallel to each other. The wafer cassette 2 is rotatably mounted so that the direction in which the wafer cassette 2 is inserted into the cassette holder 1 on the sending side and the direction in which the wafer cassette 2 is taken out from the cassette holder 1 on the receiving side are in the same horizontal direction as shown by arrow E in the initial state. direction, and the wafers 1 in the wafer cassette 2 at that time are in a vertical state. 7 indicates an ion beam.

矢印は、夫れ夫れの動きを示しAはキヤリア4
及びカセツトホルダ1、Bは図示外の駆動機構に
よつて移動するカセツトホルダ1、C,Dはウエ
ハ3の流れを示している。
The arrows indicate the movements of the husband and wife, and A is carrier 4.
Cassette holders 1 and B move by a drive mechanism not shown, and cassette holders C and D indicate the flow of wafers 3.

この本考案の一実施例では、双方のキヤリア4
及びカセツトホルダ1の初期設定位置を水平又は
水平に近い位置とし、ウエハ3をほぼ鉛直に収納
したウエハカセツト2を矢印Eで示す横方向から
カセツトホルダ1に配置した状態である。
In one embodiment of the invention, both carriers 4
The initial setting position of the cassette holder 1 is set to be horizontal or a near-horizontal position, and the wafer cassette 2 containing the wafers 3 almost vertically is placed in the cassette holder 1 from the lateral direction shown by arrow E.

この初期設定位置から両キヤリア4及びカセツ
トホルダ1は矢印A方向の回転を行ない予備排気
室5に当接する。
From this initial setting position, both carriers 4 and cassette holder 1 rotate in the direction of arrow A and come into contact with preliminary exhaust chamber 5.

そして、一方のカセツトホルダ1は矢印Bで示
す所定方向の動きを行ないながらウエハ3を矢印
C経路で次々に予備排気室5からイオン打込み室
6へ送出し、イオンビーム7を受け、矢印D経路
を通り、図示外の駆動機構で動く他方のカセツト
ホルダ1に支持されたウエハカセツト2内に次々
に収納される。
Then, one cassette holder 1 moves in a predetermined direction shown by arrow B, and sends the wafers 3 one after another from the pre-evacuation chamber 5 to the ion implantation chamber 6 along the path of arrow C, receives the ion beam 7, and transfers the wafers 3 to the path of arrow D. The wafers are then stored one after another into a cassette 2 supported by the other cassette holder 1, which is moved by a drive mechanism not shown.

そして、全てのウエハ3へのイオン打込みが完
了するとキヤリア4及びカセツトホルダ1は初期
設定位置である水平又は水平に近い位置に復帰し
てウエハカセツト2は矢印E方向に取出される。
When the ion implantation into all the wafers 3 is completed, the carrier 4 and the cassette holder 1 return to the initially set horizontal or nearly horizontal position, and the wafer cassette 2 is taken out in the direction of arrow E.

次に、前記したカセツトホルダの他への適用例
を図面に基づいて説明する。
Next, an example of application of the cassette holder described above will be explained based on the drawings.

第3図はプラズマエツチング装置の概略側面図
である。
FIG. 3 is a schematic side view of the plasma etching apparatus.

図において、8は基体、9は基体8に回動可能
に取付けたカセツトホルダ、10はウエハカセツ
ト、11はウエハであり、ここではカセツトホル
ダ9は水平又は水平に近い位置なのでウエハカセ
ツト10は安定した治具による配置を行なえると
同時にウエハ11も塵埃の付着を低減した、ほぼ
鉛直の収納を行なえる。
In the figure, 8 is a base, 9 is a cassette holder rotatably attached to the base 8, 10 is a wafer cassette, and 11 is a wafer. Here, since the cassette holder 9 is in a horizontal or nearly horizontal position, the wafer cassette 10 is stable. At the same time, the wafers 11 can be stored almost vertically with reduced dust adhesion.

12はウエハ11を搬送するベルトコンベア、
13はプラズマ発生室である。
12 is a belt conveyor that conveys the wafer 11;
13 is a plasma generation chamber.

夫れ夫れの動きを示す矢印Fはウエハカセツト
10の配置方向、Gはカセツトホルダ9の回動方
向、Hはベルトコンベア12でのウエハ11の流
れ、Iはプラズマエツチング完了のウエハ11を
収納したウエハカセツト10の取出方向を示して
いる。
Arrows F indicating the respective movements indicate the arrangement direction of the wafer cassette 10, G indicates the rotating direction of the cassette holder 9, H indicates the flow of the wafers 11 on the belt conveyor 12, and I indicates the storage of the wafers 11 after plasma etching. The direction in which the wafer cassette 10 is taken out is shown.

次に、このプラズマエツチング装置の動作につ
いて説明する。
Next, the operation of this plasma etching apparatus will be explained.

まず、カセツトホルダ9は水平又は水平に近い
設置なので、ウエハ11をほぼ鉛直に収納したウ
エハカセツト10を矢印Fで示すように安定した
横方向からの配置をカセツトホルダ9に行なえ
る。
First, since the cassette holder 9 is installed horizontally or nearly horizontally, the wafer cassette 10 containing the wafers 11 almost vertically can be stably placed in the cassette holder 9 from the lateral direction as shown by the arrow F.

カセツトホルダ9は矢印G方向の回転を行ない
垂直となりベルトコンベア12によつて次々に矢
印H方向に搬送され、プラズマ発生室13でプラ
ズマエツチングを施され、再びベルトコンベア1
2で他方の垂直に回動したカセツトホルダ9のウ
エハカセツト10に収納される。
The cassette holders 9 rotate in the direction of arrow G, become vertical, and are conveyed one after another in the direction of arrow H by the belt conveyor 12, subjected to plasma etching in the plasma generation chamber 13, and returned to the belt conveyor 1 again.
At 2, the wafer is stored in the wafer cassette 10 of the other vertically rotated cassette holder 9.

このようにして、全てのウエハ11の処理が完
了するとカセツトホルダ9は回動前の水平位置に
戻り、プラズマエツチングが完了したウエハ11
を収納したウエハカセツト10は横方向である矢
印I方向に取出される。
In this way, when the processing of all the wafers 11 is completed, the cassette holder 9 returns to the horizontal position before rotation, and the wafers 11 that have undergone plasma etching are returned to the horizontal position before rotation.
The wafer cassette 10 containing the wafers is taken out in the lateral direction, ie, in the direction of arrow I.

〔考案の効果〕[Effect of idea]

以上、詳細に説明したように本考案ではカセツ
トホルダ、すなわちウエハカセツト治具の支持装
置の回動前の初期状態を両方とも水平またはほぼ
水平に近い状態でかつ互いに平行となるようにし
たので以下のような効果がある。
As explained above in detail, in the present invention, the initial state of the cassette holder, that is, the support device for the wafer cassette jig before rotation, is such that both are horizontal or nearly horizontal and parallel to each other. There is an effect like this.

それは、従来のようにウエハカセツトのカセツ
トホルダへの挿入、取出しを立てた状態ではない
水平またはほぼ水平に近い状態で行うことができ
るので手を使わずに治具のみにより安定した挿
入、取出し作業を行うことができ作業性の向上を
計る効果を有する。
Inserting and removing a wafer cassette into a cassette holder can be done horizontally or almost horizontally, rather than in an upright position, as is the case with conventional methods, allowing for stable insertion and removal using only a jig without the use of hands. This has the effect of improving work efficiency.

また、ウエハはほぼ鉛直にウエハカセツトに収
納されるのでウエハの表面を横向きにすることが
でき塵埃の付着低減を行なう効果も有している。
Further, since the wafers are stored in the wafer cassette almost vertically, the surface of the wafers can be turned sideways, which also has the effect of reducing the adhesion of dust.

そして、前記したようにウエハカセツトのカセ
ツトホルダへの挿入、取出し方向を、両カセツト
ホルダとも同一の横方向としているのでこの工程
を自動化とすることが可能となる効果も発揮する
ものである。
Furthermore, since the wafer cassette is inserted into and removed from the cassette holder in the same horizontal direction for both cassette holders as described above, this process can be automated.

このような効果を有するウエハカセツト治具の
支持装置は半導体製造ラインに有益に利用するこ
とができる。
A wafer cassette jig support device having such an effect can be advantageously used in a semiconductor manufacturing line.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図は従来のウエハカセツト治具の支持装置
を示す概略側断面図、第2図は本考案の一実施例
によるウエハカセツト治具の支持装置を示す概略
側断面図、第3図は他への適用例を示すプラズマ
エツチング装置の概略側面図である。 1……ウエハカセツト治具の支持装置(カセツ
トホルダ)、2……ウエハカセツト治具、3……
ウエハ、4……キヤリア、5……予備配気室、6
……イオン打込み室、7……イオンビーム。
FIG. 1 is a schematic side sectional view showing a conventional wafer cassette jig support device, FIG. 2 is a schematic side sectional view showing a wafer cassette jig support device according to an embodiment of the present invention, and FIG. 3 is another one. 1 is a schematic side view of a plasma etching apparatus illustrating an example of application to FIG. 1... Wafer cassette jig support device (cassette holder), 2... Wafer cassette jig, 3...
Wafer, 4...Carrier, 5...Preliminary air distribution chamber, 6
...Ion implantation room, 7...Ion beam.

Claims (1)

【実用新案登録請求の範囲】 半導体のウエハに処理を行う処理室の端部に設
定真空度まで排気を行う二個の予備排気室をV形
を寝かせた形状を成すように配置し、 各予備排気室の外側にキヤリアを回動可能に取
付けると共に、 それぞれのキヤリアにウエハカセツト治具を支
持して移動する支持装置を設けて、その一方を送
出側、他方を受取り側とし、 両支持装置にウエハカセツト治具を支持してキ
ヤリアをそれぞれ予備排気室に当接させた状態で
送出側のウエハカセツト治具内から一方の予備排
気室を経てウエハを処理室に送り、 処理後のウエハを他方の予備排気室を経て受取
り側のウエハカセツト治具内に収納するウエハカ
セツト治具の支持装置において、 回動前の両支持装置の初期状態が水平または水
平に近い状態でかつ互いに平行となるように、両
キヤリアの同一個所をそれぞれの予備排気室の下
端同一個所に回動可能に取付けて、 初期状態での送出側の支持装置に対するウエハ
カセツト治具の取込み方向と、受取り側の支持装
置に対するウエハカセツト治具の取出し方向が同
一の横方向となり、かつそのときのウエハカセツ
ト治具内のウエハがほぼ鉛直状態となるようにし
たことを特徴とするウエハカセツト治具の支持装
置。
[Claim for Utility Model Registration] At the end of a processing chamber where semiconductor wafers are processed, two preliminary evacuation chambers for evacuating to a set vacuum level are arranged so as to form a rectangular V-shape. The carriers are rotatably mounted on the outside of the exhaust chamber, and each carrier is provided with a support device that supports and moves the wafer cassette jig, one of which is on the sending side and the other on the receiving side. With the wafer cassette jig supported and the carriers in contact with the pre-evacuation chambers, the wafers are sent from within the wafer cassette jig on the delivery side to the processing chamber through one pre-evacuation chamber, and the processed wafers are transferred to the other. In the support device for the wafer cassette jig, which is stored in the wafer cassette jig on the receiving side after passing through the preliminary exhaust chamber of The same point of both carriers is rotatably attached to the same point of the lower end of each pre-evacuation chamber, so that the loading direction of the wafer cassette jig with respect to the supporting device on the sending side in the initial state and the direction with respect to the supporting device on the receiving side in the initial state are determined. 1. A support device for a wafer cassette jig, characterized in that the wafer cassette jig is taken out in the same horizontal direction, and the wafers in the wafer cassette jig are in a substantially vertical state at that time.
JP5140483U 1983-04-07 1983-04-07 Wafer cassette jig support device Granted JPS59158330U (en)

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JP5140483U JPS59158330U (en) 1983-04-07 1983-04-07 Wafer cassette jig support device

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JP5140483U JPS59158330U (en) 1983-04-07 1983-04-07 Wafer cassette jig support device

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JPS59158330U JPS59158330U (en) 1984-10-24
JPH0429562Y2 true JPH0429562Y2 (en) 1992-07-17

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ID=30181812

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5759345A (en) * 1980-09-26 1982-04-09 Mitsubishi Electric Corp Feeder for semiconductor substrate

Also Published As

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JPS59158330U (en) 1984-10-24

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