JPH04296434A - クロマトグラフ/質量分析装置 - Google Patents

クロマトグラフ/質量分析装置

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JPH04296434A
JPH04296434A JP3063193A JP6319391A JPH04296434A JP H04296434 A JPH04296434 A JP H04296434A JP 3063193 A JP3063193 A JP 3063193A JP 6319391 A JP6319391 A JP 6319391A JP H04296434 A JPH04296434 A JP H04296434A
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Yutaka Nagayanagi
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、ガスクロマトグラフや
液体クロマトグラフなどの各種のクロマトグラフと質量
分析計とを接続してなるクロマトグラフ/質量分析装置
に係り、特に、マスクロマトグラムの選択表示技術に関
する。
【0002】
【従来の技術】一般に、ガスクロマトグラフや液体クロ
マトグラフなどの各種のクロマトグラフと質量分析計と
を接続してなるクロマトグラフ/質量分析装置において
、試料に含まれる各物質の定性、定量分析を行う場合に
は、マスクロマトグラム(MC)を測定する分析手法が
ある。
【0003】このマスクロマトグラムの測定は、通常、
次のようにして行われる。
【0004】まず、イオン化された試料について一定時
間間隔で所定の質量数範囲にわたって質量走査を繰り返
し行ってマススペクトルを測定し、これらの各マススペ
クトルのデータを全てメモリに格納した後、これらのマ
ススペクトルのデータに基づいて、分析対象物質の特定
の質量数を設定し、その設定した質量数についてのイオ
ン強度の経時変化の曲線を描かせ、これをマスクロマト
グラムとして得るものである。
【0005】この分析手法は、クロマトグラフで分離で
きない成分のものでも、質量数で分離できるので、特に
、多成分系の試料の分析を行う場合に有効である。
【0006】ところで、このマスクロマトグラムの測定
においては、分析対象物質についての質量数の設定が最
も重要であり、この設定を誤ったり、不適切な場合には
、ピーク強度が低かったり、ピークの分離度が悪くなる
など、精度良い分析結果が得られない。
【0007】従来、マスクロマトグラムを得るための質
量数の設定は、全イオンのマススペクトルデータを合算
した強度信号の経時変化を示す、いわゆるトータルイオ
ンクロマトグラム(TIC)をCRTなどの画面に表示
し、そのTICに含まれるある一つの成分ピークの位置
を指定する。そして、その成分ピーク位置に対応する一
つのマススペクトルを同じく画面上に呼び出し、そのマ
ススペクトルからピーク強度の大きいもの、あるいは、
質量数の大きいものなど、特徴的なピークを示す各イオ
ンの質量数(m/z)を読み取って設定するようにして
いる。
【0008】
【発明が解決しようとする課題】このように、従来、質
量数を選定するには、トータルイオンクロマトグラムの
一つの成分ピークを指定して、この成分ピークに含まれ
るマススペクトルを見て分析者がその都度質量数を指定
する必要があり、このため、質量数の選定操作が煩雑で
手間がかかっていた。
【0009】
【課題を解決するための手段】本発明は、上述した課題
を解決するためになされたものであって、質量数の選定
を従来よりも一層容易に行えるようにして、選択性の良
いマスクロマトグラムが自動的に作成されるようにする
ものである。
【0010】そのため、本発明では、イオン化された試
料について一定時間間隔で所定の質量数範囲にわたって
質量走査を繰り返し行って得られるマススペクトルのデ
ータを格納するマススペクトルデータ格納部4と、この
マススペクトルデータ格納部4に格納されているマスス
ペクトルのデータに基づいて、全イオン強度の経時変化
を示すトータルイオンクロマトグラムを作成するTIC
作成部6と、マススペクトルデータ格納部4に格納され
ている各マススペクトルのデータに基づいて、特定の質
量数についてのイオン強度の経時変化を示すマスクロマ
トグラムを作成するMC作成部8と、TIC作成部6で
作成されたトータルイオンクロマトグラムとMC作成部
8で作成されたマスクロマトグラムとをそれぞれ表示す
る表示部10とを備えたクロマトグラフ/質量分析装置
において、次の構成を採る。
【0011】すなわち、本発明のクロマトグラフ/質量
分析装置では、トータルイオンクロマトグラムの所望の
成分ピーク位置を指定する指定手段12と、この指定手
段12で指定された前記トータルイオンクロマトグラム
の一つの成分ピーク位置におけるマススペクトルについ
て、そのイオンのピーク強度の大きいものから順に、あ
るいは質量数の大きいものから順に優先度を付けて、優
先度の高いものから順にその質量数のデータを前記MC
作成部8に送出するMC表示優先度決定部14と、指定
手段12によるピーク位置の指定に応じて、これに対応
する一つのマススペクトルのデータをマススペクトルデ
ータ格納部4から読み出してMC表示優先度決定部14
に送出するとともに、MC表示優先度決定部14から質
量数のデータが送出されるたびにMC作成部8に対して
マススペクトルの作成指令を与える制御部16とを備え
ている。
【0012】
【作用】上記構成において、指定手段12で目的とする
成分ピークが指定されると、制御部16は、これに応じ
て、その成分ピークに対応するマススペクトルをマスク
ロマトグラムデータ格納部4から読み出してMC表示優
先度決定部14に転送するので、MC表示優先度決定部
14は、イオンのピーク強度の大きいものから順に、あ
るいは質量数の大きいものから順に優先度を付けて、そ
の優先度の高い質量数から順にMC作成部8に送出する
。MC作成部8は、これらの選定された質量数に対応す
るマスクロマトグラムを順次作成する。
【0013】
【実施例】図1は本発明の実施例に係るブロック図であ
る。
【0014】同図において、符号1はクロマトグラフ/
質量分析装置の全体を示し、2は試料ガスを成分分離す
るガスクロマトグラフ、3は四重極型や二重収束型など
の質量分析計である。
【0015】4はイオン化された試料について一定時間
間隔で所定の質量数範囲にわたって質量走査を繰り返し
行って得られるマススペクトルのデータを格納するマス
スペクトルデータ格納部、6はマススペクトルデータ格
納部4に格納されているマススペクトルのデータに基づ
いて、全イオン強度の経時変化を示すトータルイオンク
ロマトグラムを作成するTIC作成部、8はマススペク
トルデータ格納部4に格納されている各マススペクトル
のデータに基づいて、特定の質量数についてのイオン強
度の経時変化を示すマスクロマトグラムを作成するMC
作成部、10はTIC作成部6で作成されたトータルイ
オンクロマトグラムとMC作成部8で作成されたマスク
ロマトグラムとをそれぞれ表示する表示部である。
【0016】12はトータルイオンクロマトグラムの所
望の成分ピーク位置を指定するキーボードやマウスなど
の指定手段である。
【0017】14は指定手段12で指定されたトータル
イオンクロマトグラムのある一つの成分ピーク位置にお
けるマススペクトルについて、そのイオンのピーク強度
の大きいものから順に優先度を付けて、優先度の高いも
のから順にその質量数のデータをMC作成部8に送出す
るMC表示優先度決定部である。
【0018】16は指定手段12によるピーク位置の指
定に応じて、これに対応する一つのマススペクトルのデ
ータをマススペクトルデータ格納部4から読み出してM
C表示優先度決定部14に送出するとともに、MC表示
優先度決定部14から質量数のデータが送出されるたび
にMC作成部8に対してマススペクトルの作成指令を与
える制御部である。
【0019】次に、上記構成における各部の動作につい
て説明する。
【0020】ガスクロマトグラフ2に導入された試料ガ
スは、ここで成分分離された後、図示省略した電子衝撃
等のイオン化手段によってイオン化されて質量分析計3
に導入される。
【0021】質量分析計3では、イオン化された試料に
ついて、一定時間間隔で所定の質量数範囲にわたって質
量走査を繰り返し行い、これにより得られるマススペク
トルのデータは、マススペクトルデータ格納部4に格納
される。
【0022】次に、指定手段12から、トータルイオン
クロマトグラムの表示指令を与えると、制御部16は、
これに応答してTIC作成部6を起動するので、TIC
作成部6は、マススペクトルデータ格納部4に格納され
ているマススペクトルのデータに基づいて、全イオン強
度の経時変化を示すトータルイオンクロマトグラムを作
成してこのデータを表示部10に出力する。これにより
、表示部10の画面には、図2(a)に示すようなトー
タルイオンクロマトグラムが表示される。
【0023】そこで、次に、指定手段12でカーソル(
図2(a)の矢印)20を移動するなどして目的とする
一つの成分ピーク(この例では符号P3で示すピーク)
を指定すると、制御部16は、これに応じて、その成分
ピークP3の位置での対応するマススペクトルのデータ
(図3参照)をマスクロマトグラムデータ格納部4から
読み出してMC表示優先度決定部14に転送する。
【0024】MC表示優先度決定部14は、このマスス
ペクトルのデータについて、予め設定されたしきい値I
sh以上の強度をもつイオン(この例では質量数(m/
z)2,(m/z)4,(m/z)5,(m/z)7の
4種のイオン)を対象として、図4(a)に示すように
、イオンのピーク強度の大きいものから順に優先度を付
ける。この例では、質量数が(m/z)4のイオンのピ
ーク強度が最大であるので最も優先度が高く、以下、(
m/z)2→(m/z)5→(m/z)7の順となる。 そして、その優先度の高い質量数から順にMC作成部8
に送出する。MC作成部8は、これらの優先度順に質量
数が選定されるたびに、その質量数に関するマスクロマ
トグラムを順次作成し、各マスクロマトグラムのデータ
を表示部10に送出する。したがって、表示部10の画
面には、図2(b)に示すように、優先度の高いものか
ら順に上から下に向かってマスクロマトグラムが表示さ
れる。この例では、(m/z)4→(m/z)2→(m
/z)5→(m/z)7の順にマスクロマトグラムが表
示されている。
【0025】同一画面上に各マスクロマトグラム(m/
z)4〜(m/z)7を一括表示できない場合には、た
とえば、指定手段12からマスクロマトグラムの表示更
新の指令を与えるたびに、一つずつマスクロマトグラム
を表示するようにしてもよい。
【0026】これらのマスクロマトグラム(m/z)4
〜(m/z)7を観察することにより、この成分に関し
て、最適のマスクロマトグラムを与える質量数は何かと
いうことが容易に把握することができる。
【0027】なお、この実施例において、イオン強度の
大きい質量数から順に優先度を付けるようにしているが
、イオン強度の大きいものが必ずしもピーク分離性が良
いとは限らないので、場合によっては、図4(b)に示
すように、質量数の大きいものから順(この例では、(
m/z)7→(m/z)5→(m/z)4→(m/z)
2の順)に優先度を付けるようにしてもよい。
【0028】また、この実施例では、成分分離のために
ガスクロマトグラフを用いている場合について説明した
が、これに限定されるものではなく、液体クロマトグラ
フなど、他のクロマトグラフについても本発明を適用す
ることができるのは勿論である。
【0029】
【発明の効果】本発明によれば、質量数の選定が優先度
順に自動的に行われるので、質量数の選定の手間が省け
、かつ、選択性の良いマスクロマトグラムが作成される
ようになる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の実施例に係るブロック図である。
【図2】図1の装置で測定されるトータルイオンクロマ
トグラムおよびマスクロマトグラムである。
【図3】トータルイオンクロマトグラムのピーク位置に
おける一つのマススペクトルを示す説明図である。
【図4】MC表示優先度決定部の動作を示す説明図であ
る。
【符号の説明】
1…クロマトグラフ/質量分析装置、4…マススペクト
ルデータ格納部、6…TIC作成部、8…MC作成部、
10…表示部、12…指定手段、14…MC表示優先度
決定部、16…制御部。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】  イオン化された試料について一定時間
    間隔で所定の質量数範囲にわたって質量走査を繰り返し
    行って得られるマススペクトルのデータを格納するマス
    スペクトルデータ格納部(4)と、このマススペクトル
    データ格納部(4)に格納されているマススペクトルの
    データに基づいて、全イオン強度の経時変化を示すトー
    タルイオンクロマトグラムを作成するTIC作成部(6
    )と、前記マススペクトルデータ格納部(4)に格納さ
    れているマススペクトルのデータに基づいて、特定の質
    量数についてのイオン強度の経時変化を示すマスクロマ
    トグラムを作成するMC作成部(8)と、前記TIC作
    成部(6)で作成されたトータルイオンクロマトグラム
    とMC作成部(8)で作成されたマスクロマトグラムと
    をそれぞれ表示する表示部(10)と、を備えたクロマ
    トグラフ/質量分析装置において、前記トータルイオン
    クロマトグラムの所望の成分ピーク位置を指定する指定
    手段(12)と、この指定手段(12)で指定された前
    記トータルイオンクロマトグラムの一つの成分ピーク位
    置におけるマススペクトルについて、そのイオンのピー
    ク強度の大きいものから順に、あるいは質量数の大きい
    ものから順に優先度を付けて、優先度の高いものから順
    にその質量数のデータを前記MC作成部(8)に送出す
    るMC表示優先度決定部(14)と、前記指定手段(1
    2)によるピーク位置の指定に応じて、これに対応する
    一つのマススペクトルのデータを前記マススペクトルデ
    ータ格納部(4)から読み出して前記MC表示優先度決
    定部(14)に送出するとともに、MC表示優先度決定
    部(14)から質量数のデータが送出されるたびにMC
    作成部(8)に対してマススペクトルの作成指令を与え
    る制御部(16)と、を備えることを特徴とするクロマ
    トグラフ/質量分析装置。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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JP2008282661A (ja) * 2007-05-10 2008-11-20 Ulvac Japan Ltd 四重極型質量分析装置およびイオン電流測定方法
CN104471671A (zh) * 2012-09-14 2015-03-25 株式会社日立高新技术 质量分析装置以及方法

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2008282661A (ja) * 2007-05-10 2008-11-20 Ulvac Japan Ltd 四重極型質量分析装置およびイオン電流測定方法
CN104471671A (zh) * 2012-09-14 2015-03-25 株式会社日立高新技术 质量分析装置以及方法
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