JPH04296434A - クロマトグラフ/質量分析装置 - Google Patents
クロマトグラフ/質量分析装置Info
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- JPH04296434A JPH04296434A JP3063193A JP6319391A JPH04296434A JP H04296434 A JPH04296434 A JP H04296434A JP 3063193 A JP3063193 A JP 3063193A JP 6319391 A JP6319391 A JP 6319391A JP H04296434 A JPH04296434 A JP H04296434A
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Abstract
め要約のデータは記録されません。
Description
液体クロマトグラフなどの各種のクロマトグラフと質量
分析計とを接続してなるクロマトグラフ/質量分析装置
に係り、特に、マスクロマトグラムの選択表示技術に関
する。
マトグラフなどの各種のクロマトグラフと質量分析計と
を接続してなるクロマトグラフ/質量分析装置において
、試料に含まれる各物質の定性、定量分析を行う場合に
は、マスクロマトグラム(MC)を測定する分析手法が
ある。
次のようにして行われる。
間間隔で所定の質量数範囲にわたって質量走査を繰り返
し行ってマススペクトルを測定し、これらの各マススペ
クトルのデータを全てメモリに格納した後、これらのマ
ススペクトルのデータに基づいて、分析対象物質の特定
の質量数を設定し、その設定した質量数についてのイオ
ン強度の経時変化の曲線を描かせ、これをマスクロマト
グラムとして得るものである。
きない成分のものでも、質量数で分離できるので、特に
、多成分系の試料の分析を行う場合に有効である。
においては、分析対象物質についての質量数の設定が最
も重要であり、この設定を誤ったり、不適切な場合には
、ピーク強度が低かったり、ピークの分離度が悪くなる
など、精度良い分析結果が得られない。
量数の設定は、全イオンのマススペクトルデータを合算
した強度信号の経時変化を示す、いわゆるトータルイオ
ンクロマトグラム(TIC)をCRTなどの画面に表示
し、そのTICに含まれるある一つの成分ピークの位置
を指定する。そして、その成分ピーク位置に対応する一
つのマススペクトルを同じく画面上に呼び出し、そのマ
ススペクトルからピーク強度の大きいもの、あるいは、
質量数の大きいものなど、特徴的なピークを示す各イオ
ンの質量数(m/z)を読み取って設定するようにして
いる。
量数を選定するには、トータルイオンクロマトグラムの
一つの成分ピークを指定して、この成分ピークに含まれ
るマススペクトルを見て分析者がその都度質量数を指定
する必要があり、このため、質量数の選定操作が煩雑で
手間がかかっていた。
を解決するためになされたものであって、質量数の選定
を従来よりも一層容易に行えるようにして、選択性の良
いマスクロマトグラムが自動的に作成されるようにする
ものである。
料について一定時間間隔で所定の質量数範囲にわたって
質量走査を繰り返し行って得られるマススペクトルのデ
ータを格納するマススペクトルデータ格納部4と、この
マススペクトルデータ格納部4に格納されているマスス
ペクトルのデータに基づいて、全イオン強度の経時変化
を示すトータルイオンクロマトグラムを作成するTIC
作成部6と、マススペクトルデータ格納部4に格納され
ている各マススペクトルのデータに基づいて、特定の質
量数についてのイオン強度の経時変化を示すマスクロマ
トグラムを作成するMC作成部8と、TIC作成部6で
作成されたトータルイオンクロマトグラムとMC作成部
8で作成されたマスクロマトグラムとをそれぞれ表示す
る表示部10とを備えたクロマトグラフ/質量分析装置
において、次の構成を採る。
分析装置では、トータルイオンクロマトグラムの所望の
成分ピーク位置を指定する指定手段12と、この指定手
段12で指定された前記トータルイオンクロマトグラム
の一つの成分ピーク位置におけるマススペクトルについ
て、そのイオンのピーク強度の大きいものから順に、あ
るいは質量数の大きいものから順に優先度を付けて、優
先度の高いものから順にその質量数のデータを前記MC
作成部8に送出するMC表示優先度決定部14と、指定
手段12によるピーク位置の指定に応じて、これに対応
する一つのマススペクトルのデータをマススペクトルデ
ータ格納部4から読み出してMC表示優先度決定部14
に送出するとともに、MC表示優先度決定部14から質
量数のデータが送出されるたびにMC作成部8に対して
マススペクトルの作成指令を与える制御部16とを備え
ている。
成分ピークが指定されると、制御部16は、これに応じ
て、その成分ピークに対応するマススペクトルをマスク
ロマトグラムデータ格納部4から読み出してMC表示優
先度決定部14に転送するので、MC表示優先度決定部
14は、イオンのピーク強度の大きいものから順に、あ
るいは質量数の大きいものから順に優先度を付けて、そ
の優先度の高い質量数から順にMC作成部8に送出する
。MC作成部8は、これらの選定された質量数に対応す
るマスクロマトグラムを順次作成する。
る。
質量分析装置の全体を示し、2は試料ガスを成分分離す
るガスクロマトグラフ、3は四重極型や二重収束型など
の質量分析計である。
間隔で所定の質量数範囲にわたって質量走査を繰り返し
行って得られるマススペクトルのデータを格納するマス
スペクトルデータ格納部、6はマススペクトルデータ格
納部4に格納されているマススペクトルのデータに基づ
いて、全イオン強度の経時変化を示すトータルイオンク
ロマトグラムを作成するTIC作成部、8はマススペク
トルデータ格納部4に格納されている各マススペクトル
のデータに基づいて、特定の質量数についてのイオン強
度の経時変化を示すマスクロマトグラムを作成するMC
作成部、10はTIC作成部6で作成されたトータルイ
オンクロマトグラムとMC作成部8で作成されたマスク
ロマトグラムとをそれぞれ表示する表示部である。
望の成分ピーク位置を指定するキーボードやマウスなど
の指定手段である。
イオンクロマトグラムのある一つの成分ピーク位置にお
けるマススペクトルについて、そのイオンのピーク強度
の大きいものから順に優先度を付けて、優先度の高いも
のから順にその質量数のデータをMC作成部8に送出す
るMC表示優先度決定部である。
定に応じて、これに対応する一つのマススペクトルのデ
ータをマススペクトルデータ格納部4から読み出してM
C表示優先度決定部14に送出するとともに、MC表示
優先度決定部14から質量数のデータが送出されるたび
にMC作成部8に対してマススペクトルの作成指令を与
える制御部である。
て説明する。
スは、ここで成分分離された後、図示省略した電子衝撃
等のイオン化手段によってイオン化されて質量分析計3
に導入される。
ついて、一定時間間隔で所定の質量数範囲にわたって質
量走査を繰り返し行い、これにより得られるマススペク
トルのデータは、マススペクトルデータ格納部4に格納
される。
クロマトグラムの表示指令を与えると、制御部16は、
これに応答してTIC作成部6を起動するので、TIC
作成部6は、マススペクトルデータ格納部4に格納され
ているマススペクトルのデータに基づいて、全イオン強
度の経時変化を示すトータルイオンクロマトグラムを作
成してこのデータを表示部10に出力する。これにより
、表示部10の画面には、図2(a)に示すようなトー
タルイオンクロマトグラムが表示される。
図2(a)の矢印)20を移動するなどして目的とする
一つの成分ピーク(この例では符号P3で示すピーク)
を指定すると、制御部16は、これに応じて、その成分
ピークP3の位置での対応するマススペクトルのデータ
(図3参照)をマスクロマトグラムデータ格納部4から
読み出してMC表示優先度決定部14に転送する。
ペクトルのデータについて、予め設定されたしきい値I
sh以上の強度をもつイオン(この例では質量数(m/
z)2,(m/z)4,(m/z)5,(m/z)7の
4種のイオン)を対象として、図4(a)に示すように
、イオンのピーク強度の大きいものから順に優先度を付
ける。この例では、質量数が(m/z)4のイオンのピ
ーク強度が最大であるので最も優先度が高く、以下、(
m/z)2→(m/z)5→(m/z)7の順となる。 そして、その優先度の高い質量数から順にMC作成部8
に送出する。MC作成部8は、これらの優先度順に質量
数が選定されるたびに、その質量数に関するマスクロマ
トグラムを順次作成し、各マスクロマトグラムのデータ
を表示部10に送出する。したがって、表示部10の画
面には、図2(b)に示すように、優先度の高いものか
ら順に上から下に向かってマスクロマトグラムが表示さ
れる。この例では、(m/z)4→(m/z)2→(m
/z)5→(m/z)7の順にマスクロマトグラムが表
示されている。
z)4〜(m/z)7を一括表示できない場合には、た
とえば、指定手段12からマスクロマトグラムの表示更
新の指令を与えるたびに、一つずつマスクロマトグラム
を表示するようにしてもよい。
〜(m/z)7を観察することにより、この成分に関し
て、最適のマスクロマトグラムを与える質量数は何かと
いうことが容易に把握することができる。
大きい質量数から順に優先度を付けるようにしているが
、イオン強度の大きいものが必ずしもピーク分離性が良
いとは限らないので、場合によっては、図4(b)に示
すように、質量数の大きいものから順(この例では、(
m/z)7→(m/z)5→(m/z)4→(m/z)
2の順)に優先度を付けるようにしてもよい。
ガスクロマトグラフを用いている場合について説明した
が、これに限定されるものではなく、液体クロマトグラ
フなど、他のクロマトグラフについても本発明を適用す
ることができるのは勿論である。
順に自動的に行われるので、質量数の選定の手間が省け
、かつ、選択性の良いマスクロマトグラムが作成される
ようになる。
トグラムおよびマスクロマトグラムである。
おける一つのマススペクトルを示す説明図である。
る。
ルデータ格納部、6…TIC作成部、8…MC作成部、
10…表示部、12…指定手段、14…MC表示優先度
決定部、16…制御部。
Claims (1)
- 【請求項1】 イオン化された試料について一定時間
間隔で所定の質量数範囲にわたって質量走査を繰り返し
行って得られるマススペクトルのデータを格納するマス
スペクトルデータ格納部(4)と、このマススペクトル
データ格納部(4)に格納されているマススペクトルの
データに基づいて、全イオン強度の経時変化を示すトー
タルイオンクロマトグラムを作成するTIC作成部(6
)と、前記マススペクトルデータ格納部(4)に格納さ
れているマススペクトルのデータに基づいて、特定の質
量数についてのイオン強度の経時変化を示すマスクロマ
トグラムを作成するMC作成部(8)と、前記TIC作
成部(6)で作成されたトータルイオンクロマトグラム
とMC作成部(8)で作成されたマスクロマトグラムと
をそれぞれ表示する表示部(10)と、を備えたクロマ
トグラフ/質量分析装置において、前記トータルイオン
クロマトグラムの所望の成分ピーク位置を指定する指定
手段(12)と、この指定手段(12)で指定された前
記トータルイオンクロマトグラムの一つの成分ピーク位
置におけるマススペクトルについて、そのイオンのピー
ク強度の大きいものから順に、あるいは質量数の大きい
ものから順に優先度を付けて、優先度の高いものから順
にその質量数のデータを前記MC作成部(8)に送出す
るMC表示優先度決定部(14)と、前記指定手段(1
2)によるピーク位置の指定に応じて、これに対応する
一つのマススペクトルのデータを前記マススペクトルデ
ータ格納部(4)から読み出して前記MC表示優先度決
定部(14)に送出するとともに、MC表示優先度決定
部(14)から質量数のデータが送出されるたびにMC
作成部(8)に対してマススペクトルの作成指令を与え
る制御部(16)と、を備えることを特徴とするクロマ
トグラフ/質量分析装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP06319391A JP3220996B2 (ja) | 1991-03-27 | 1991-03-27 | クロマトグラフ/質量分析装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP06319391A JP3220996B2 (ja) | 1991-03-27 | 1991-03-27 | クロマトグラフ/質量分析装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH04296434A true JPH04296434A (ja) | 1992-10-20 |
| JP3220996B2 JP3220996B2 (ja) | 2001-10-22 |
Family
ID=13222146
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP06319391A Expired - Fee Related JP3220996B2 (ja) | 1991-03-27 | 1991-03-27 | クロマトグラフ/質量分析装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3220996B2 (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2008282661A (ja) * | 2007-05-10 | 2008-11-20 | Ulvac Japan Ltd | 四重極型質量分析装置およびイオン電流測定方法 |
| CN104471671A (zh) * | 2012-09-14 | 2015-03-25 | 株式会社日立高新技术 | 质量分析装置以及方法 |
-
1991
- 1991-03-27 JP JP06319391A patent/JP3220996B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2008282661A (ja) * | 2007-05-10 | 2008-11-20 | Ulvac Japan Ltd | 四重極型質量分析装置およびイオン電流測定方法 |
| CN104471671A (zh) * | 2012-09-14 | 2015-03-25 | 株式会社日立高新技术 | 质量分析装置以及方法 |
| US9601321B2 (en) | 2012-09-14 | 2017-03-21 | Hitachi High-Technologies Corporation | Mass spectrometer and method |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP3220996B2 (ja) | 2001-10-22 |
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