JPH04298070A - 半導体製造方法 - Google Patents
半導体製造方法Info
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- JPH04298070A JPH04298070A JP6302891A JP6302891A JPH04298070A JP H04298070 A JPH04298070 A JP H04298070A JP 6302891 A JP6302891 A JP 6302891A JP 6302891 A JP6302891 A JP 6302891A JP H04298070 A JPH04298070 A JP H04298070A
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- JP
- Japan
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- semiconductor
- lead
- lead frame
- rims
- lead terminals
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
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- 238000000034 method Methods 0.000 title description 3
- 239000011347 resin Substances 0.000 claims abstract description 9
- 229920005989 resin Polymers 0.000 claims abstract description 9
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- 238000007689 inspection Methods 0.000 description 3
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Landscapes
- Lead Frames For Integrated Circuits (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は半導体の検査効率の改良
に関する。
に関する。
【0002】
【従来の技術】従来の半導体製造方法を図2に示す。半
導体はリードフレームに半導体素子72を実装し、樹脂
53により封止され、ダムバー54、55を切断し、リ
ード端子58〜71を曲げ加工し、完成品となる。また
半導体の検査は完成品になってから一つ一つ行っていた
。
導体はリードフレームに半導体素子72を実装し、樹脂
53により封止され、ダムバー54、55を切断し、リ
ード端子58〜71を曲げ加工し、完成品となる。また
半導体の検査は完成品になってから一つ一つ行っていた
。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】しかし、従来の技術で
は、完成品になってから一つ一つ半導体を検査する為、
手間、時間がかかり検査効率が悪くなるという問題点を
有していた。又、リードフレームから半導体を切り離し
ていない状態で検査をするとショートしてしまう。そこ
でダムバーを切断し、リード端子間、及び、リード端子
と外枠がショートしない状態で検査すると、半導体が外
枠に固定されず、前記半導体と前記外枠が切り離れてし
まう。
は、完成品になってから一つ一つ半導体を検査する為、
手間、時間がかかり検査効率が悪くなるという問題点を
有していた。又、リードフレームから半導体を切り離し
ていない状態で検査をするとショートしてしまう。そこ
でダムバーを切断し、リード端子間、及び、リード端子
と外枠がショートしない状態で検査すると、半導体が外
枠に固定されず、前記半導体と前記外枠が切り離れてし
まう。
【0004】そこで本発明はこのような問題点を解決す
るもので、半導体をリードフレームの外枠に固定したま
ま一度に多くの半導体を検査できることを目的とする。
るもので、半導体をリードフレームの外枠に固定したま
ま一度に多くの半導体を検査できることを目的とする。
【0005】
【課題を解決するための手段】本発明の半導体製造方法
は、少なくともリードフレームに半導体素子を実装し、
樹脂により封止される半導体の製造方法において、封止
後、一対のリードフレーム外枠間にリード端子を介して
絶縁部材を貼ることを特徴とする。
は、少なくともリードフレームに半導体素子を実装し、
樹脂により封止される半導体の製造方法において、封止
後、一対のリードフレーム外枠間にリード端子を介して
絶縁部材を貼ることを特徴とする。
【0006】
【実施例】本発明の半導体製造方法を図面を用いて詳細
に説明する。図1は、本発明の半導体製造方法の一実施
例を示す平面図である。半導体はリードフレームに半導
体素子22を実装し、前記半導体素子22、前記リード
フレームの一部を残し樹脂3により封止され、一対のリ
ードフレームの外枠6、7間にリード端子8〜14、1
5〜21を介し前記リード端子8〜21の一部に絶縁部
材としてポリイミドテープ等の絶縁テープ1、2をダム
バー4、5(図中点線で示す)に接しないようにそれぞ
れ貼り、各前記リード端子間8〜21、及び前記外枠6
、7とそれぞれ隣接されたリード端子8、14、15、
21との間の前記ダムバー4、5を切断し、前記外枠6
、7と前記半導体が電気的接続されないようにする。前
記半導体は、前記絶縁テープ1、2により前記リードフ
レームの外枠6、7に機械的に接続され、前記の状態で
半導体を作動させ、検査を行う。
に説明する。図1は、本発明の半導体製造方法の一実施
例を示す平面図である。半導体はリードフレームに半導
体素子22を実装し、前記半導体素子22、前記リード
フレームの一部を残し樹脂3により封止され、一対のリ
ードフレームの外枠6、7間にリード端子8〜14、1
5〜21を介し前記リード端子8〜21の一部に絶縁部
材としてポリイミドテープ等の絶縁テープ1、2をダム
バー4、5(図中点線で示す)に接しないようにそれぞ
れ貼り、各前記リード端子間8〜21、及び前記外枠6
、7とそれぞれ隣接されたリード端子8、14、15、
21との間の前記ダムバー4、5を切断し、前記外枠6
、7と前記半導体が電気的接続されないようにする。前
記半導体は、前記絶縁テープ1、2により前記リードフ
レームの外枠6、7に機械的に接続され、前記の状態で
半導体を作動させ、検査を行う。
【0007】尚、前記ダムバー4、5を切断する際、前
記半導体素子22と電気的接続されていないリード端子
のダムバーは切断しても、切断しなくても良いが、切断
しなければ前記リードフレームの外枠6、7と前記半導
体間の機械的接続の強度を補強することができる。
記半導体素子22と電気的接続されていないリード端子
のダムバーは切断しても、切断しなくても良いが、切断
しなければ前記リードフレームの外枠6、7と前記半導
体間の機械的接続の強度を補強することができる。
【0008】以上本例では、半導体について説明したが
、IC、抵抗、コンデンサー等を複合させたハイブリッ
トICや、IC、圧電振動子等を複合させた圧電発振器
等においても同等の効果が得られる。また、本実施例で
は、2本の絶縁テープにより半導体とリードフレームの
外枠を固定したが、前記リードフレームの外枠をGND
とし、外部接続端子のGND端子と前記リードフレーム
の外枠間のダムバーを切断しないで残して前記リードフ
レームの外枠と半導体間の機械的接続の強度を補強する
方法の実施も可能である。また、本実施例では、絶縁テ
ープを一方の面に貼ったが絶縁テープを両面に貼り、リ
ードフレームの外枠と半導体間の機械的接続の強度を増
加させるという方法の実施も可能である。
、IC、抵抗、コンデンサー等を複合させたハイブリッ
トICや、IC、圧電振動子等を複合させた圧電発振器
等においても同等の効果が得られる。また、本実施例で
は、2本の絶縁テープにより半導体とリードフレームの
外枠を固定したが、前記リードフレームの外枠をGND
とし、外部接続端子のGND端子と前記リードフレーム
の外枠間のダムバーを切断しないで残して前記リードフ
レームの外枠と半導体間の機械的接続の強度を補強する
方法の実施も可能である。また、本実施例では、絶縁テ
ープを一方の面に貼ったが絶縁テープを両面に貼り、リ
ードフレームの外枠と半導体間の機械的接続の強度を増
加させるという方法の実施も可能である。
【0009】また以上の実施例において、絶縁部材とし
て、ポリイミドテープ等の表面に粘着剤の付着した絶縁
テープを用いたが、本発明は、これに限るものでなく、
樹脂やセラミック等の絶縁材や、表面に絶縁処理を施し
た金属等の部材に、接着剤を塗布して貼っても良い。
て、ポリイミドテープ等の表面に粘着剤の付着した絶縁
テープを用いたが、本発明は、これに限るものでなく、
樹脂やセラミック等の絶縁材や、表面に絶縁処理を施し
た金属等の部材に、接着剤を塗布して貼っても良い。
【0010】
【発明の効果】以上述べたように本発明によれば、少な
くともリードフレームと半導体素子と樹脂により構成さ
れる半導体において、樹脂による封止の後、一対のリー
ドフレームの外枠間にリード端子を介して絶縁テープを
貼ることにより、ダムバー切断を行っても、前記リード
フレームの外枠と前記半導体が機械的に接続される為前
記リードフレームの外枠に前記半導体を機械的に接続し
たまま一度に多くの半導体を検査できるという効果を得
られる。
くともリードフレームと半導体素子と樹脂により構成さ
れる半導体において、樹脂による封止の後、一対のリー
ドフレームの外枠間にリード端子を介して絶縁テープを
貼ることにより、ダムバー切断を行っても、前記リード
フレームの外枠と前記半導体が機械的に接続される為前
記リードフレームの外枠に前記半導体を機械的に接続し
たまま一度に多くの半導体を検査できるという効果を得
られる。
【図1】本発明の一実施例を示す平面図。
【図2】従来例を示す平面図。
1、2 絶縁テープ
3 樹脂
4、5 ダムバー
6、7 外枠
8〜21 リード端子
22 半導体素子
Claims (1)
- 【請求項1】少なくともリードフレームに半導体素子を
実装し、樹脂により封止される半導体の製造方法におい
て、封止後、一対のリードフレームの外枠間にリード端
子を介して絶縁部材を貼ることを特徴とする半導体製造
方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6302891A JPH04298070A (ja) | 1991-03-27 | 1991-03-27 | 半導体製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6302891A JPH04298070A (ja) | 1991-03-27 | 1991-03-27 | 半導体製造方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH04298070A true JPH04298070A (ja) | 1992-10-21 |
Family
ID=13217468
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP6302891A Pending JPH04298070A (ja) | 1991-03-27 | 1991-03-27 | 半導体製造方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH04298070A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2016092040A (ja) * | 2014-10-29 | 2016-05-23 | タツタ電線株式会社 | プリント基板、プリント基板の製造方法及び導電性部材の接合方法 |
-
1991
- 1991-03-27 JP JP6302891A patent/JPH04298070A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2016092040A (ja) * | 2014-10-29 | 2016-05-23 | タツタ電線株式会社 | プリント基板、プリント基板の製造方法及び導電性部材の接合方法 |
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