JPH0429865U - - Google Patents

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JPH0429865U
JPH0429865U JP11458490U JP11458490U JPH0429865U JP H0429865 U JPH0429865 U JP H0429865U JP 11458490 U JP11458490 U JP 11458490U JP 11458490 U JP11458490 U JP 11458490U JP H0429865 U JPH0429865 U JP H0429865U
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  • Optical Measuring Cells (AREA)
  • Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)

Description

【図面の簡単な説明】
第1図は本考案の光学的特性測定装置の実施例
を示す構造図、第2図は第1図の主要部の具体的
例を示す図、第3図は本考案の説明に供する図、
第4図は第3図の説明に供する図である。 1……上側の検出部、3……シート状の紙(被
測定物)、4……光源、10……下側検出部、1
2……裏打ち板(回転円板)、14……窓部、1
5……凹部、16……エアパージ口、17……窓
拭き機構、18,18a,18b……ガンダイオ
ード、19,19a,19b……受信回路、20
,20a,20b……駆動回路。

Claims (1)

  1. 【実用新案登録請求の範囲】 (1) 上下に設けられた検出部の間を一定方向に
    走行する被測定物に対して前記検出部の一方から
    光を照射した上でその反射光を検出して前記被測
    定物の光学的特性を測定する装置において、 前記被測定物の前記光に対して裏側の検出部内
    に2色から成る基準板である裏打ち板が設けられ
    て前記光の照射時の裏打ち板の影響を受けた反射
    光を検出・測定するに際して、 前記裏打ち板の上部位置の筺体表面の一定範囲
    領域に、他の筺体の表面位置よりも当該一定範囲
    領域の部分の平面部が低く形成されて、この形成
    された前記被測定物走行入口側壁面にエアーパー
    ジ口が設けられ、前記被測定物走行出口側に前記
    エアーパージ口から噴出されたエアーを導出する
    エアー導出口が形成された凹部と、 該凹部の前記裏打ち板の上部に裏打ち板移動に
    伴う2色の内の一方の色のみが覗ける形状で且つ
    前記凹部の平面位置と段差の無い状態に配置され
    る透明部材からなる窓部と、 前記被測定物の測定中は表面が前記凹部の平面
    位置と段差の無い状態に収納され、非測定時に持
    上げ機構によりその清掃面が前記凹部の平面位置
    まで上昇した後に前記窓部上を回動とし、該回動
    終了後に元の位置に収納可能な窓拭き機構と、 から成る構造を用いたことを特徴とする光学的特
    性測定装置。 (2) 上下に設けられた検出部の間を一定方向に
    走行する被測定物に対して前記検出部の一方から
    光を照射した上でその反射光を検出して前記被測
    定物の光学的特性を測定する装置において、 前記上下の検出部内にマイクロ波を発生・受信
    するガンダイオード、該ガンダイオードからの信
    号を受信する受信回路及び前記ガンダイオードを
    駆動する駆動回路が設けられて、各種の機構の動
    作や各部の連携する動作に係わる前記上下の検出
    部間の信号の授受をこれ等ガンダイオード乃至駆
    動回路によつて行うようにしたことを特徴とする
    光学的特性測定装置。 (3) 上下に設けられた検出部の間を一定方向に
    走行する被測定物に対して前記検出部の一方から
    光を照射した上でその反射光を検出して前記被測
    定物の光学的特性を測定する装置において、 前記上下の検出部の一方側に設けられる汚れ補
    償用の基準板が設けられるときに、該汚れ補償用
    の基準板と同じ側又は反対側の検出部内に前記基
    準板の汚れをモニターするために前記汚れ補償用
    の基準板とは異なる色から成るモニター色が形成
    された基準板を設け、色の違いに基づく汚れ度合
    の対応をとることで汚れ補償を図るように構成し
    たことを特徴とする光学的特性測定装置。
JP11458490U 1990-05-11 1990-10-31 光学的特性測定装置 Expired - Lifetime JPH086287Y2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP11458490U JPH086287Y2 (ja) 1990-05-11 1990-10-31 光学的特性測定装置

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP4921490 1990-05-11
JP2-49214 1990-05-11
JP11458490U JPH086287Y2 (ja) 1990-05-11 1990-10-31 光学的特性測定装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH0429865U true JPH0429865U (ja) 1992-03-10
JPH086287Y2 JPH086287Y2 (ja) 1996-02-21

Family

ID=31890083

Family Applications (1)

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JP11458490U Expired - Lifetime JPH086287Y2 (ja) 1990-05-11 1990-10-31 光学的特性測定装置

Country Status (1)

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JP (1) JPH086287Y2 (ja)

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5920667U (ja) * 1982-07-30 1984-02-08 株式会社日立製作所 プリント配線板用ブスバ−
JPH0184048U (ja) * 1987-11-26 1989-06-05

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5920667U (ja) * 1982-07-30 1984-02-08 株式会社日立製作所 プリント配線板用ブスバ−
JPH0184048U (ja) * 1987-11-26 1989-06-05

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Publication number Publication date
JPH086287Y2 (ja) 1996-02-21

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