JPH04299864A - アクティブマトリクス型液晶ディスプレイ - Google Patents
アクティブマトリクス型液晶ディスプレイInfo
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- JPH04299864A JPH04299864A JP3064875A JP6487591A JPH04299864A JP H04299864 A JPH04299864 A JP H04299864A JP 3064875 A JP3064875 A JP 3064875A JP 6487591 A JP6487591 A JP 6487591A JP H04299864 A JPH04299864 A JP H04299864A
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Links
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Landscapes
- Liquid Crystal (AREA)
- Non-Volatile Memory (AREA)
- Thin Film Transistor (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は薄膜トランジスタを用い
たアクティブマトリクス型液晶ディスプレイに関するも
のである。
たアクティブマトリクス型液晶ディスプレイに関するも
のである。
【0002】
【従来の技術】パネル型ディスプレイ装置として、アク
ティブマトリクス型液晶ディスプレイが注目されている
。これは、薄膜トランジスタ(TFT)を各絵素のスイ
ッチ素子に用いたディスプレイで、スイッチ用の薄膜ト
ランジスタは図5(a)のようなI−V特性を示す。 同図はノーマリオフ型のもので、オンとなる閾値Vth
は一般に5[V]程度である。また、薄膜トランジスタ
ではバックチャネルなどのために、逆電圧印加時にも電
流IDSが増加する。液晶(LC)材料としては、ノー
マリ白モード(NW)のものとノーマリ黒モード(NB
)のものが知られ、光透透過率の印加電圧VLC依存性
は図5(b)のようになる。そして、ON電圧は一般に
5[V]程度である。
ティブマトリクス型液晶ディスプレイが注目されている
。これは、薄膜トランジスタ(TFT)を各絵素のスイ
ッチ素子に用いたディスプレイで、スイッチ用の薄膜ト
ランジスタは図5(a)のようなI−V特性を示す。 同図はノーマリオフ型のもので、オンとなる閾値Vth
は一般に5[V]程度である。また、薄膜トランジスタ
ではバックチャネルなどのために、逆電圧印加時にも電
流IDSが増加する。液晶(LC)材料としては、ノー
マリ白モード(NW)のものとノーマリ黒モード(NB
)のものが知られ、光透透過率の印加電圧VLC依存性
は図5(b)のようになる。そして、ON電圧は一般に
5[V]程度である。
【0003】図6(a)は液晶ディスプレイの駆動波形
を示し、同図(b)はこれにより駆動される液晶ディス
プレイの要部の平面図を示す。走査線1にはゲート電圧
VG が与えられており、データ信号線2には表示すべ
きデータ信号VS が与えられている。薄膜トランジス
タ(逆スタガ型)は走査線1から延びるゲート電極11
と、この上に設けられた半導体薄膜20により構成され
、半導体薄膜20のソース領域に形成されたソース電極
31上には、データ信号線2が形成され、ドレイン領域
に形成されたドレイン電極32上には、ITOなどから
なる透明な画素電極41が形成されている。
を示し、同図(b)はこれにより駆動される液晶ディス
プレイの要部の平面図を示す。走査線1にはゲート電圧
VG が与えられており、データ信号線2には表示すべ
きデータ信号VS が与えられている。薄膜トランジス
タ(逆スタガ型)は走査線1から延びるゲート電極11
と、この上に設けられた半導体薄膜20により構成され
、半導体薄膜20のソース領域に形成されたソース電極
31上には、データ信号線2が形成され、ドレイン領域
に形成されたドレイン電極32上には、ITOなどから
なる透明な画素電極41が形成されている。
【0004】図6(a)に示すように、書き込み状態で
はゲート電圧VG によって薄膜トランジスタはオンと
なり、ゲート電圧VG によって液晶容量CLCなどが
充電される。そして、保持状態ではゲート電圧VG に
よって薄膜トランジスタはオフとなり、液晶容量CLC
は放電される。ここで、保持状態では液晶容量CLCな
どに蓄積された電荷が十分に保持される必要があり、こ
のためには薄膜トランジスタのオフ時の電流を十分に少
なくする必要がある。そこで、保持状態のゲート電圧V
Gがデータ信号VS よりも常に低くなるようにしてい
た。
はゲート電圧VG によって薄膜トランジスタはオンと
なり、ゲート電圧VG によって液晶容量CLCなどが
充電される。そして、保持状態ではゲート電圧VG に
よって薄膜トランジスタはオフとなり、液晶容量CLC
は放電される。ここで、保持状態では液晶容量CLCな
どに蓄積された電荷が十分に保持される必要があり、こ
のためには薄膜トランジスタのオフ時の電流を十分に少
なくする必要がある。そこで、保持状態のゲート電圧V
Gがデータ信号VS よりも常に低くなるようにしてい
た。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】このように、図5(a
)の特性を示す薄膜トランジスタを用いて駆動すると、
保持状態のゲート電圧VG をデータ信号VS よりも
常に低レベルとすることになるため、共通電極の電位V
COM との間に、一定の電位差が生じてしまう。具体
的には、ゲート電極11および走査線1と共通電極の間
には、保持状態において少なくとも液晶のオン電圧に相
当とする電位差が生じる。すると、この電位差はゲート
電極11および走査線1と共通電極の間の液晶にかかる
ので、液晶の経時的な劣化を招く。もちろん、ゲート電
極11および走査線1と液晶の間には、保護膜としての
絶縁膜が設けられているが、液晶の比抵抗はこれらに匹
敵する大きな値であるため、液晶に保持状態のDC電圧
が印加されることは避けられない。
)の特性を示す薄膜トランジスタを用いて駆動すると、
保持状態のゲート電圧VG をデータ信号VS よりも
常に低レベルとすることになるため、共通電極の電位V
COM との間に、一定の電位差が生じてしまう。具体
的には、ゲート電極11および走査線1と共通電極の間
には、保持状態において少なくとも液晶のオン電圧に相
当とする電位差が生じる。すると、この電位差はゲート
電極11および走査線1と共通電極の間の液晶にかかる
ので、液晶の経時的な劣化を招く。もちろん、ゲート電
極11および走査線1と液晶の間には、保護膜としての
絶縁膜が設けられているが、液晶の比抵抗はこれらに匹
敵する大きな値であるため、液晶に保持状態のDC電圧
が印加されることは避けられない。
【0006】本発明は上記の問題点を考慮してなされた
もので、液晶材料の劣化の少いアクティブマトリクス型
液晶ディスプレイを提供することを目的とする。
もので、液晶材料の劣化の少いアクティブマトリクス型
液晶ディスプレイを提供することを目的とする。
【0007】
【課題を解決するための手段】本発明に係る第1のアク
ティブマトリクス型液晶ディスプレイは、絵素をスイッ
チする素子が、ソース領域、チャネル領域およびドレイ
ン領域を半導体薄膜により形成し、チャネル領域にゲー
ト絶縁膜を介してゲート電極を配設した薄膜トランジス
タで構成されるものにおいて、ゲート絶縁膜は少なくと
も二層の絶縁膜により形成され、これらの界面準位には
ソースおよびドレイン領域の多数キャリアと同一極性の
キャリアがトラップされていることを特徴とする。
ティブマトリクス型液晶ディスプレイは、絵素をスイッ
チする素子が、ソース領域、チャネル領域およびドレイ
ン領域を半導体薄膜により形成し、チャネル領域にゲー
ト絶縁膜を介してゲート電極を配設した薄膜トランジス
タで構成されるものにおいて、ゲート絶縁膜は少なくと
も二層の絶縁膜により形成され、これらの界面準位には
ソースおよびドレイン領域の多数キャリアと同一極性の
キャリアがトラップされていることを特徴とする。
【0008】また、本発明に係る第2のアクティブマト
リクス型液晶ディスプレイは、絵素をスイッチする素子
が、ソース領域、チャネル領域およびドレイン領域を半
導体薄膜により形成し、チャネル領域にゲート絶縁膜を
介してゲート電極を配設した薄膜トランジスタで構成さ
れるものにおいて、ゲート電極直下のゲート絶縁膜中に
フローティング電極が設けられ、このフローティング電
極にはソースおよびドレイン領域の多数キャリアと同一
極性のキャリアがトラップされていることを特徴とする
。
リクス型液晶ディスプレイは、絵素をスイッチする素子
が、ソース領域、チャネル領域およびドレイン領域を半
導体薄膜により形成し、チャネル領域にゲート絶縁膜を
介してゲート電極を配設した薄膜トランジスタで構成さ
れるものにおいて、ゲート電極直下のゲート絶縁膜中に
フローティング電極が設けられ、このフローティング電
極にはソースおよびドレイン領域の多数キャリアと同一
極性のキャリアがトラップされていることを特徴とする
。
【0009】
【作用】本発明の構成によれば、チャネル領域の半導体
薄膜とゲート電極の間に、キャリアがトラップされてい
るので、その閾値Vthを高電圧側にシフトできる。こ
のため、共通電極とゲート電極および走査線の間の保持
状態での電位差を少なくする(理想的にはゼロにする)
ことができる。
薄膜とゲート電極の間に、キャリアがトラップされてい
るので、その閾値Vthを高電圧側にシフトできる。こ
のため、共通電極とゲート電極および走査線の間の保持
状態での電位差を少なくする(理想的にはゼロにする)
ことができる。
【0010】
【実施例】以下、添付図面を参照して本発明の実施例を
説明する。図1は実施例に用い得る薄膜トランジスタの
一実施例の断面図と、キャリア注入(トラップ)の様子
を示す図である。同図(a)の通り、基板51上にはポ
リシリコンなどの半導体薄膜20が形成され、その上に
はSiO2 などからなる第1の絶縁膜61Aと、Si
3 N4 あるいはAl2 O3 などからなる第2の
絶縁膜61Bが堆積され、これらがゲート絶縁膜61と
なっている。そして、ゲート絶縁膜61上のチャネル部
分にはポリシリコンなどによるゲート電極11が形成さ
れ、これをマスクとしてB+ (ボロンイオン)などが
イオン注入されることにより、半導体薄膜20の両側が
ソース領域21およびドレイン領域22となっている。 そして、ゲート電極11の直下は真性のまま残され、チ
ャネル領域23となっている。
説明する。図1は実施例に用い得る薄膜トランジスタの
一実施例の断面図と、キャリア注入(トラップ)の様子
を示す図である。同図(a)の通り、基板51上にはポ
リシリコンなどの半導体薄膜20が形成され、その上に
はSiO2 などからなる第1の絶縁膜61Aと、Si
3 N4 あるいはAl2 O3 などからなる第2の
絶縁膜61Bが堆積され、これらがゲート絶縁膜61と
なっている。そして、ゲート絶縁膜61上のチャネル部
分にはポリシリコンなどによるゲート電極11が形成さ
れ、これをマスクとしてB+ (ボロンイオン)などが
イオン注入されることにより、半導体薄膜20の両側が
ソース領域21およびドレイン領域22となっている。 そして、ゲート電極11の直下は真性のまま残され、チ
ャネル領域23となっている。
【0011】ここで、第1の絶縁膜61Aと第2の絶縁
膜61Bは異なる絶縁材料で形成されているため、その
界面には多数のトラップ準位が生成されている。そして
、下側の第1の絶縁膜61Aは、例えば100オングス
トローム程度と薄くなっている。そこで、上記の薄膜ト
ランジスタの製造後に、この界面準位に対してトンネル
効果あるいはホットエレクトロン効果などを用いて、ソ
ース領域21およびドレイン領域22の多数キャリアと
同一極性のキャリアを注入する。具体的には、薄膜トラ
ンジスタがnチャネル型のときはエレクトロン、pチャ
ネル型のときはホールを注入し、トラップさせる。する
と、注入からの時間(t)の経過につれて、薄膜トラン
ジスタの閾値Vthは図1(b)のようになり、高圧側
にシフトされる(図3(a)参照)。
膜61Bは異なる絶縁材料で形成されているため、その
界面には多数のトラップ準位が生成されている。そして
、下側の第1の絶縁膜61Aは、例えば100オングス
トローム程度と薄くなっている。そこで、上記の薄膜ト
ランジスタの製造後に、この界面準位に対してトンネル
効果あるいはホットエレクトロン効果などを用いて、ソ
ース領域21およびドレイン領域22の多数キャリアと
同一極性のキャリアを注入する。具体的には、薄膜トラ
ンジスタがnチャネル型のときはエレクトロン、pチャ
ネル型のときはホールを注入し、トラップさせる。する
と、注入からの時間(t)の経過につれて、薄膜トラン
ジスタの閾値Vthは図1(b)のようになり、高圧側
にシフトされる(図3(a)参照)。
【0012】上記構造の薄膜トランジスタは、図2のよ
うにアクティブマトリクス型液晶ディスプレイにスイッ
チ素子として組み込まれる。ガラスなどの透光性の基板
51の下面には偏向板52が貼付され、上面には多数の
薄膜トランジスタ53がマトリクス状に配設される。そ
して、各々の薄膜トランジスタ53に対応して画素電極
41が基板51上に配設され、それらの上に、図示しな
い絶縁膜を介して液晶材料層54が配置される。上側の
ガラス基板55の上面にも偏向板56が貼付され、下面
にはR,G,Bのカラーフィルタ57が画素電極41に
対応して設けられる。そして、オーバコート層58と液
晶材料層54の間には、共通電圧VCOM が印加され
る共通電極59が介在されている。
うにアクティブマトリクス型液晶ディスプレイにスイッ
チ素子として組み込まれる。ガラスなどの透光性の基板
51の下面には偏向板52が貼付され、上面には多数の
薄膜トランジスタ53がマトリクス状に配設される。そ
して、各々の薄膜トランジスタ53に対応して画素電極
41が基板51上に配設され、それらの上に、図示しな
い絶縁膜を介して液晶材料層54が配置される。上側の
ガラス基板55の上面にも偏向板56が貼付され、下面
にはR,G,Bのカラーフィルタ57が画素電極41に
対応して設けられる。そして、オーバコート層58と液
晶材料層54の間には、共通電圧VCOM が印加され
る共通電極59が介在されている。
【0013】ここで、上記のアクティブマトリクス型液
晶ディスプレイに用いる薄膜トランジスタ53は、図1
(a)のような構造となっているので、そのトラップさ
れるキャリア量などを調整することにより、液晶のオン
電圧(5V程度)に相当する分だけ閾値Vthを高圧側
にシフトさせる。これを図3(a)に示す。すると、同
図(b)に示すように、ゲート電圧VG の保持状態の
レベルと共通電圧VCOM を同レベルとすることがで
きる。これにより、当然に保持状態で液晶材料層54に
DC電圧が印加されることはなくなるので、その経時的
な劣化を抑えることができる。
晶ディスプレイに用いる薄膜トランジスタ53は、図1
(a)のような構造となっているので、そのトラップさ
れるキャリア量などを調整することにより、液晶のオン
電圧(5V程度)に相当する分だけ閾値Vthを高圧側
にシフトさせる。これを図3(a)に示す。すると、同
図(b)に示すように、ゲート電圧VG の保持状態の
レベルと共通電圧VCOM を同レベルとすることがで
きる。これにより、当然に保持状態で液晶材料層54に
DC電圧が印加されることはなくなるので、その経時的
な劣化を抑えることができる。
【0014】次に、本発明のアクティブマトリクス型液
晶ディスプレイに用い得る薄膜トランジスタの別の実施
例を、図4(a),(b)を参照して説明する。これは
、フローティングゲート構造を採用したもので、半導体
薄膜20のチャネル領域23とゲート(コントロールゲ
ート)電極11の間のゲート絶縁膜61中には、浮游状
態とされたフローティング(フローティングゲート)電
極11Bが設けられている。そして、半導体薄膜20と
フローティング電極11Bの間は狭くされ(図4(a)
参照)、あるいは一部で近接されている(図4(b)参
照)。したがって、トンネル効果あるいはホットエレク
トロン効果などでキャリアを注入することで、薄膜トラ
ンジスタの閾値Vthを高圧側にシフトできる。
晶ディスプレイに用い得る薄膜トランジスタの別の実施
例を、図4(a),(b)を参照して説明する。これは
、フローティングゲート構造を採用したもので、半導体
薄膜20のチャネル領域23とゲート(コントロールゲ
ート)電極11の間のゲート絶縁膜61中には、浮游状
態とされたフローティング(フローティングゲート)電
極11Bが設けられている。そして、半導体薄膜20と
フローティング電極11Bの間は狭くされ(図4(a)
参照)、あるいは一部で近接されている(図4(b)参
照)。したがって、トンネル効果あるいはホットエレク
トロン効果などでキャリアを注入することで、薄膜トラ
ンジスタの閾値Vthを高圧側にシフトできる。
【0015】本発明については、種々の変形が可能であ
る。例えば、薄膜トランジスタはpチャネル型でもnチ
ャネル型でもよい。また、ゲート絶縁膜61は3層以上
の絶縁膜で構成してもよく、また、界面準位が形成でき
れば同一材料としてもよい。
る。例えば、薄膜トランジスタはpチャネル型でもnチ
ャネル型でもよい。また、ゲート絶縁膜61は3層以上
の絶縁膜で構成してもよく、また、界面準位が形成でき
れば同一材料としてもよい。
【0016】
【発明の効果】以上、詳細に説明した通り本発明では、
チャネル領域の半導体薄膜とゲート電極の間に、キャリ
アがトラップされているので、その閾値Vthを高電圧
側にシフトできる。このため、共通電極とゲート電極お
よび走査線の間の保持状態での電位差を少なくする(理
想的にはゼロにする)ことができる。したがって液晶材
料の劣化の少いアクティブマトリクス型液晶ディスプレ
イを提供することができる。
チャネル領域の半導体薄膜とゲート電極の間に、キャリ
アがトラップされているので、その閾値Vthを高電圧
側にシフトできる。このため、共通電極とゲート電極お
よび走査線の間の保持状態での電位差を少なくする(理
想的にはゼロにする)ことができる。したがって液晶材
料の劣化の少いアクティブマトリクス型液晶ディスプレ
イを提供することができる。
【図1】実施例のアクティブマトリクス型液晶ディスプ
レイに用いられる薄膜トランジスタの第1の例の断面図
とキャリア注入を示す図である。
レイに用いられる薄膜トランジスタの第1の例の断面図
とキャリア注入を示す図である。
【図2】本発明の実施例に係るアクティブマトリクス型
液晶ディスプレイの断面図である。
液晶ディスプレイの断面図である。
【図3】実施例における薄膜トランジスタのI−V特性
と、駆動波形を示す図である。
と、駆動波形を示す図である。
【図4】実施例のアクティブマトリクス型液晶ディスプ
レイに用いられる薄膜トランジスタの第2の例の断面図
である。
レイに用いられる薄膜トランジスタの第2の例の断面図
である。
【図5】従来の薄膜トランジスタのI−V特性と、液晶
の光透過率特性を示す図である。
の光透過率特性を示す図である。
【図6】従来のアクティブマトリクス型液晶ディスプレ
イの要部の平面図と、駆動波形図である。
イの要部の平面図と、駆動波形図である。
1…走査線、2…データ信号線、11…ゲート電極、1
1B…フローティング電極11、21…ソース領域、2
2…ドレイン領域、23…チャネル領域、41…画素電
極、51…基板、54…液晶材料層、61…ゲート絶縁
膜、61A…第1の絶縁膜、61B…第2の絶縁膜。
1B…フローティング電極11、21…ソース領域、2
2…ドレイン領域、23…チャネル領域、41…画素電
極、51…基板、54…液晶材料層、61…ゲート絶縁
膜、61A…第1の絶縁膜、61B…第2の絶縁膜。
Claims (5)
- 【請求項1】 絵素をスイッチする素子が、ソース領
域、チャネル領域およびドレイン領域を半導体薄膜によ
り形成し、前記チャネル領域にゲート絶縁膜を介してゲ
ート電極を配設した薄膜トランジスタで構成されるアク
ティブマトリクス型液晶ディスプレイにおいて、前記ゲ
ート絶縁膜は少なくとも二層の絶縁膜により形成され、
これらの界面準位には前記ソースおよびドレイン領域の
多数キャリアと同一極性のキャリアがトラップされてい
ることを特徴とするアクティブマトリクス型液晶ディス
プレイ。 - 【請求項2】 前記ゲート絶縁膜は異なる材料の絶縁
膜を堆積して形成されている請求項1記載のアクティブ
マトリクス型液晶ディスプレイ。 - 【請求項3】 前記ゲート絶縁膜は、前記半導体薄膜
に接する絶縁膜が薄くなっている請求項1記載のアクテ
ィブマトリクス型液晶ディスプレイ。 - 【請求項4】 絵素をスイッチする素子が、ソース領
域、チャネル領域およびドレイン領域を半導体薄膜によ
り形成し、前記チャネル領域にゲート絶縁膜を介してゲ
ート電極を配設した薄膜トランジスタで構成されるアク
ティブマトリクス型液晶ディスプレイにおいて、前記ゲ
ート電極直下のゲート絶縁膜中にフローティング電極が
設けられ、このフローティング電極には前記ソースおよ
びドレイン領域の多数キャリアと同一極性のキャリアが
トラップされていることを特徴とするアクティブマトリ
クス型液晶ディスプレイ。 - 【請求項5】 前記半導体薄膜と前記フローティング
電極の間の絶縁膜は、一部で薄く形成されている請求項
4記載のアクティブマトリクス型液晶ディスプレイ。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3064875A JPH04299864A (ja) | 1991-03-28 | 1991-03-28 | アクティブマトリクス型液晶ディスプレイ |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3064875A JPH04299864A (ja) | 1991-03-28 | 1991-03-28 | アクティブマトリクス型液晶ディスプレイ |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH04299864A true JPH04299864A (ja) | 1992-10-23 |
Family
ID=13270746
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP3064875A Pending JPH04299864A (ja) | 1991-03-28 | 1991-03-28 | アクティブマトリクス型液晶ディスプレイ |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH04299864A (ja) |
Cited By (13)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH05343430A (ja) * | 1991-08-23 | 1993-12-24 | Semiconductor Energy Lab Co Ltd | 半導体装置とその作製方法 |
| US5751017A (en) * | 1994-11-03 | 1998-05-12 | Lg Electronics Inc. | Thin film transistor having double gate insulating layer |
| US5879969A (en) * | 1991-03-06 | 1999-03-09 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Semiconductor device and method for forming the same |
| US5917225A (en) * | 1992-03-05 | 1999-06-29 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Insulated gate field effect transistor having specific dielectric structures |
| US6147375A (en) * | 1992-02-05 | 2000-11-14 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Active matrix display device |
| JP2002324857A (ja) * | 2001-04-24 | 2002-11-08 | Semiconductor Energy Lab Co Ltd | 不揮発性メモリ及びその製造方法 |
| US6977392B2 (en) | 1991-08-23 | 2005-12-20 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Semiconductor display device |
| KR100730141B1 (ko) * | 2005-08-02 | 2007-06-19 | 삼성에스디아이 주식회사 | 박막 트랜지스터 및 이를 구비한 평판표시장치 |
| JP2008151991A (ja) * | 2006-12-18 | 2008-07-03 | Seiko Epson Corp | 電気光学表示装置の駆動回路、電気光学表示装置、それらの駆動方法及び電子機器 |
| US7420628B1 (en) | 1991-02-16 | 2008-09-02 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Method of making an active-type LCD with digitally graded display |
| US7456427B2 (en) | 1991-08-26 | 2008-11-25 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Insulated gate field effect semiconductor devices and method of manufacturing the same |
| JP2009003403A (ja) * | 2007-06-22 | 2009-01-08 | Samsung Sdi Co Ltd | 有機電界発光表示装置及びその製造方法 |
| US7569408B1 (en) | 1991-03-06 | 2009-08-04 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Semiconductor device and method for forming the same |
-
1991
- 1991-03-28 JP JP3064875A patent/JPH04299864A/ja active Pending
Cited By (18)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US7420628B1 (en) | 1991-02-16 | 2008-09-02 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Method of making an active-type LCD with digitally graded display |
| US7569408B1 (en) | 1991-03-06 | 2009-08-04 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Semiconductor device and method for forming the same |
| US5879969A (en) * | 1991-03-06 | 1999-03-09 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Semiconductor device and method for forming the same |
| US6977392B2 (en) | 1991-08-23 | 2005-12-20 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Semiconductor display device |
| JPH05343430A (ja) * | 1991-08-23 | 1993-12-24 | Semiconductor Energy Lab Co Ltd | 半導体装置とその作製方法 |
| US7456427B2 (en) | 1991-08-26 | 2008-11-25 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Insulated gate field effect semiconductor devices and method of manufacturing the same |
| US6147375A (en) * | 1992-02-05 | 2000-11-14 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Active matrix display device |
| US6476447B1 (en) | 1992-02-05 | 2002-11-05 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Active matrix display device including a transistor |
| US5917225A (en) * | 1992-03-05 | 1999-06-29 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Insulated gate field effect transistor having specific dielectric structures |
| US5751017A (en) * | 1994-11-03 | 1998-05-12 | Lg Electronics Inc. | Thin film transistor having double gate insulating layer |
| JP2002324857A (ja) * | 2001-04-24 | 2002-11-08 | Semiconductor Energy Lab Co Ltd | 不揮発性メモリ及びその製造方法 |
| US8148215B2 (en) | 2001-04-24 | 2012-04-03 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Non-volatile memory and method of manufacturing the same |
| KR100730141B1 (ko) * | 2005-08-02 | 2007-06-19 | 삼성에스디아이 주식회사 | 박막 트랜지스터 및 이를 구비한 평판표시장치 |
| JP2008151991A (ja) * | 2006-12-18 | 2008-07-03 | Seiko Epson Corp | 電気光学表示装置の駆動回路、電気光学表示装置、それらの駆動方法及び電子機器 |
| JP2009003403A (ja) * | 2007-06-22 | 2009-01-08 | Samsung Sdi Co Ltd | 有機電界発光表示装置及びその製造方法 |
| JP2010217901A (ja) * | 2007-06-22 | 2010-09-30 | Samsung Mobile Display Co Ltd | 有機電界発光表示装置の製造方法 |
| US8030656B2 (en) | 2007-06-22 | 2011-10-04 | Samsung Mobile Display Co., Ltd. | Pixel, organic light emitting display and associated methods, in which a pixel transistor includes a non-volatile memory element |
| US8450121B2 (en) | 2007-06-22 | 2013-05-28 | Samsung Display Co., Ltd. | Method of manufacturing an organic light emitting display |
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