JPH04301714A - Work visual inspection device - Google Patents

Work visual inspection device

Info

Publication number
JPH04301714A
JPH04301714A JP6697491A JP6697491A JPH04301714A JP H04301714 A JPH04301714 A JP H04301714A JP 6697491 A JP6697491 A JP 6697491A JP 6697491 A JP6697491 A JP 6697491A JP H04301714 A JPH04301714 A JP H04301714A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
stage
visual inspection
workpiece
turntable
magnetic disk
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP6697491A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JP2597763B2 (en
Inventor
Yoichi Sato
洋一 佐藤
Tadatoshi Kurozumi
忠利 黒住
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Altemira Co Ltd
Original Assignee
Showa Aluminum Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Showa Aluminum Corp filed Critical Showa Aluminum Corp
Priority to JP3066974A priority Critical patent/JP2597763B2/en
Publication of JPH04301714A publication Critical patent/JPH04301714A/en
Application granted granted Critical
Publication of JP2597763B2 publication Critical patent/JP2597763B2/en
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Length Measuring Devices With Unspecified Measuring Means (AREA)
  • Details Of Measuring And Other Instruments (AREA)
  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)

Abstract

PURPOSE:To improve efficiency of the work visual inspection. CONSTITUTION:A turntable 1 provided with a workpiece holding part 2 which holds a plurality of works (A) in their plane in a removable manner around a rotary shaft is arranged in a rotatable and stop-controllable manner. There are provided around the turntable 1 at least a work receiving stage (I), a visual inspection stage (II), and a taking-out stage (V). The visual inspection is carried out on the visual inspection stage II in the process where the works (A) held by the work holding part 2 on the work receiving stage I are carried toward the work taking-out stage (V) through the respective stages by the intermittent rotation of the turntable 1.

Description

【発明の詳細な説明】[Detailed description of the invention]

【0001】0001

【産業上の利用分野】この発明は、例えばアルミニウム
(その合金を含む)磁気ディスク基板等のワークの表面
欠陥の有無等を検査するワークの外観検査装置に関する
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a workpiece appearance inspection apparatus for inspecting the presence or absence of surface defects on a workpiece, such as an aluminum (including alloy thereof) magnetic disk substrate.

【0002】0002

【従来の技術】アルミニウム磁気ディスク基板等のワー
クには、その品質上鏡面ないしそれに近い状態の高度な
表面精度が要求され、局部的にもキズ、ピンホール、ふ
くれ等の表面欠陥のないことが要求される。このため、
精密切削、研磨、洗浄乾燥等の各工程を経て一般に製作
されるアルミニウム磁気ディスク基板の製造工程におい
ては、所定の工程の終了後あるいは全工程の終了後に表
面欠陥の有無等を検査する外観検査が行われている。
[Prior Art] Works such as aluminum magnetic disk substrates are required to have a high level of surface precision, such as a mirror surface or a near-mirror surface, and must be free from localized surface defects such as scratches, pinholes, and bulges. required. For this reason,
In the manufacturing process of aluminum magnetic disk substrates, which are generally produced through various processes such as precision cutting, polishing, washing and drying, etc., a visual inspection is carried out to check for surface defects after a certain process or after all processes are completed. It is being done.

【0003】従来、かかる外観検査工程は次のような手
順で行われていた。即ち、前工程からケースに入れられ
送られてきたワークを外観検査機の保持部にチャッキン
グしたのち、ワークを回転させて片面の外観検査を行い
、次いでワークを反転して他面の外観検査を行い、検査
が終了すると該ワークを取外すとともに次のワークを該
保持部に装着して検査を行い、以後1枚ずつこの動作を
繰返すことにより行われていた。
[0003] Conventionally, such an appearance inspection process has been carried out according to the following procedure. That is, after chucking the workpiece, which has been placed in a case and sent from the previous process, into the holder of the visual inspection machine, the workpiece is rotated to perform a visual inspection on one side, and then the workpiece is turned over and the visual inspection is performed on the other side. When the inspection is completed, the workpiece is removed and the next workpiece is mounted on the holding part and inspected, and thereafter this operation is repeated one by one.

【0004】0004

【発明が解決しようとする課題】ところが、上記のよう
な方法では、ワークの着脱作業に時間を要するとともに
、1のワークの検査工程が終了するまで次のワークの外
観検査を行うことができないことから、単位時間あたり
のワークの検査処理数が少なく検査効率が悪いという欠
点があった。
[Problems to be Solved by the Invention] However, with the above method, it takes time to attach and detach the workpiece, and the appearance inspection of the next workpiece cannot be performed until the inspection process of the first workpiece is completed. Therefore, the number of workpieces inspected per unit time is small, resulting in poor inspection efficiency.

【0005】この発明はかかる欠点を解消し、ワークの
外観検査の効率向上を図ることを目的とする。
The object of the present invention is to eliminate such drawbacks and improve the efficiency of visual inspection of workpieces.

【0006】[0006]

【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
にこの発明は、図面の符号を参照して示すと、複数のワ
ーク(A)を平面内において着脱自在に保持するワーク
保持部(2)を回転軸の周囲に有するターンテーブル(
1)が、回転、停止自在に配置されるとともに、該ター
ンテーブル(1)の回転まわりに少なくともワークの受
取ステージ(I)、外観検査ステージ(II)、取出ス
テージ(V)の各ステージが設定され、前記ワーク受取
ステージ(I)で前記ワーク保持部(2)に保持された
ワーク(A)が、ターンテーブル(1)の間欠的な回転
送りにより各ステージを巡って前記ワーク取出ステージ
(V)へと移送される過程において、前記外観検査ステ
ージ(II)で外観検査されるものとなされていること
を特徴とするワークの外観検査装置を提供するものであ
る。
[Means for Solving the Problems] In order to achieve the above object, the present invention provides a work holding part (2 ) around the rotating shaft.
1) is arranged so as to be able to rotate and stop freely, and at least each stage of a work receiving stage (I), an appearance inspection stage (II), and a take-out stage (V) are set around the rotation of the turntable (1). The workpiece (A) held in the workpiece holding part (2) on the workpiece receiving stage (I) is moved around each stage by intermittent rotational feeding of the turntable (1) and transferred to the workpiece takeout stage (V ), the appearance of the workpiece is inspected in the appearance inspection stage (II) during the process of transporting the workpiece to the workpiece.

【0007】[0007]

【作用】図2において、前工程から搬送装置(3)によ
ってワーク受取ステージ(I)に搬送されてきたワーク
(A)は、ターンテーブル(1)上の保持部(2)に渡
され、チャック部(2a)に装着される。次に、ターン
テーブル(1)が半時計方向に1/5回転して停止する
。 これにより受取ステージ(I)のワーク(A)は外観検
査ステージ(II)に移送される。外観検査ステージ(
II)では、移行されてきたワーク(A)に片面の表面
検査が実施される。この間、受取ステージ(I)では、
搬送装置(3)により次のワークが前工程から搬送され
、受取ステージ(I)に待機している次段の保持部(2
)に装着される。外観検査終了後、さらにターンテーブ
ル(1)が1/5回転し、受取ステージ(I)の次のワ
ーク(A)が外観検査ステージ(II)へと移送され、
外観検査が行われる。こうして、ターンテーブル(1)
の間欠的な回転送りによりワークが次々と外観検査ステ
ージ(II)へ移送され外観検査に供される。外観検査
されたワーク(A)はワーク取出ステージ(V)へと送
られ、待機している搬送装置(7)によって取出され次
工程に送られる。
[Operation] In FIG. 2, the workpiece (A) transported from the previous process to the workpiece receiving stage (I) by the transporting device (3) is transferred to the holding section (2) on the turntable (1) and chucked. (2a). Next, the turntable (1) rotates 1/5 counterclockwise and stops. As a result, the workpiece (A) in the receiving stage (I) is transferred to the visual inspection stage (II). Visual inspection stage (
In II), a single-sided surface inspection is performed on the transferred workpiece (A). During this time, in the receiving stage (I),
The next workpiece is transported from the previous process by the transport device (3), and the next workpiece is transported to the next stage holding section (2) waiting on the receiving stage (I).
). After the visual inspection is completed, the turntable (1) further rotates 1/5, and the next workpiece (A) on the receiving stage (I) is transferred to the visual inspection stage (II).
A visual inspection will be conducted. In this way, the turntable (1)
By intermittent rotational feeding, the works are successively transferred to the visual inspection stage (II) and subjected to visual inspection. The visually inspected workpiece (A) is sent to the workpiece take-out stage (V), taken out by a waiting transfer device (7), and sent to the next process.

【0008】[0008]

【実施例】以下、この発明を、図4に示すようなワーク
としてのアルミニウム磁気ディスク基板(A)の外観検
査を行う装置に適用した実施例に基いて説明する。
DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS The present invention will be explained below based on an embodiment in which the present invention is applied to an apparatus for visually inspecting an aluminum magnetic disk substrate (A) as a workpiece as shown in FIG.

【0009】図1は縦型の外観検査装置を示している。 この外観検査装置において、(1)は回転軸を前後水平
方向に向けて配置された円板状の縦型ターンテーブルで
ある。このターンテーブル(1)の前面には周方向の5
等分位置に5個のワーク保持部(2)が設けられている
。各ワーク保持部(2)は拡径、縮径自在な前方突出状
のチャック部(2a)を有し、該チャック部(2a)が
基板(A)の軸孔に通された状態で拡径することにより
、基板(A)を内周からチャックする一方、チャック部
の縮径により基板(A)のャックを解除可能となされて
いる。そして各チャック部(2a)は自軸まわりで回転
を行いうるようになされており、この回転駆動によりチ
ャックした基板(A)を必要に応じて回転させるものと
なされている。
FIG. 1 shows a vertical visual inspection device. In this visual inspection apparatus, (1) is a disc-shaped vertical turntable whose rotation axis is oriented in the front-rear horizontal direction. The front surface of this turntable (1) has 5 points in the circumferential direction.
Five work holding parts (2) are provided at equally divided positions. Each workpiece holding part (2) has a forwardly protruding chuck part (2a) that can freely expand and contract in diameter, and when the chuck part (2a) is passed through the shaft hole of the substrate (A), the diameter is expanded. By doing so, while the substrate (A) is chucked from the inner periphery, the chuck of the substrate (A) can be released by reducing the diameter of the chuck portion. Each chuck part (2a) is capable of rotating around its own axis, and the chucked substrate (A) is rotated as required by this rotational drive.

【0010】前記ターンテーブル(1)の回転まわりの
5等分位置には、左上から半時計方向へ順にワーク受取
ステージ(I)、第1外観検査ステージ(II)、反転
ステージ(III )、第2外観検査ステージ(IV)
、ワーク取出ステージ(V)の5つのステージが設定さ
れている。そして、前記ターンテーブル(1)は、図示
しない駆動装置によって鉛直面内で回転停止自在に制御
可能となされるとともに、半時計方向に1/5回転ごと
に回転送りと停止を繰返し、ワーク保持部(2)に装着
した基板(A)を各ステージを巡って移送するものとな
されている。
[0010] At five equal positions around the rotation of the turntable (1), in order from the upper left in a counterclockwise direction, there are a workpiece receiving stage (I), a first visual inspection stage (II), a reversing stage (III), and a workpiece receiving stage (II). 2 Visual inspection stage (IV)
, a workpiece take-out stage (V), and five stages are set. The turntable (1) can be controlled to freely stop rotating in a vertical plane by a drive device (not shown), and repeats rotational feeding and stopping every 1/5 rotation in a counterclockwise direction. (2) The substrate (A) mounted on the stage is transferred around each stage.

【0011】上記各ステージについて説明すると次のと
おりである。即ち、前記ワーク受取ステージ(I)は、
搬送装置(3)によって前工程から搬送されてきた磁気
ディスク基板(A)を保持部(2)に装着するステージ
である。なお、搬送装置(3)から保持部(2)へのデ
ィスク基板(A)の装着は搬送装置に設けられた外周チ
ャック方式のチャッカーを介して行われるものとなされ
ている。
Each of the above stages will be explained as follows. That is, the work receiving stage (I)
This is a stage for mounting the magnetic disk substrate (A), which has been transported from the previous process by the transport device (3), onto the holder (2). Note that mounting of the disk substrate (A) from the transport device (3) to the holding portion (2) is performed via a chucker of an outer circumferential chuck type provided in the transport device.

【0012】前記第1外観検査ステージ(II)は、磁
気ディスク基板(A)の片面について表面のキズやピン
ホール等の表面欠陥の有無の検査を行うものであり、こ
のための外観検査装置(4)が設置されている。かかる
外観検査装置(4)の構成は特に限定されることはない
が、この実施例では図3に示すように、磁気ディスク基
板表面に向けて光を間欠的に照射する光源(41)と、
該照射光に同期して磁気ディスク基板からの反射光を受
領するCCDカメラ等の撮像装置(42)と、該撮像装
置によって撮影された画像の濃淡から表面欠陥の有無を
電気的に検出する表面欠陥検出装置(43)を備えたも
のが用いられている。そして、チャック部(2a)の回
転駆動による磁気ディスク基板の回転と要すれば光源及
び撮像装置の半径方向への移動とによって、磁気ディス
ク基板(A)の片面全面の外観検査を行うものとなされ
ている。
The first visual inspection stage (II) inspects one side of the magnetic disk substrate (A) for the presence or absence of surface defects such as surface scratches and pinholes. 4) is installed. Although the configuration of the visual inspection device (4) is not particularly limited, in this embodiment, as shown in FIG. 3, it includes a light source (41) that intermittently irradiates light toward the surface of the magnetic disk substrate;
An imaging device (42) such as a CCD camera that receives reflected light from the magnetic disk substrate in synchronization with the irradiation light, and a surface that electrically detects the presence or absence of surface defects from the density of the image taken by the imaging device. A device equipped with a defect detection device (43) is used. Then, by rotating the magnetic disk substrate by rotationally driving the chuck part (2a) and, if necessary, moving the light source and the imaging device in the radial direction, the appearance of the entire surface of one side of the magnetic disk substrate (A) is inspected. ing.

【0013】前記反転ステージ(III )は磁気ディ
スク基板(A)を表裏反転させてワーク保持部(2)に
再装着するものであり、このための反転装置(5)が設
置されている。この反転装置(5)は、基板(A)の外
周をチャックするアーム部を有し、このアーム部で反転
ステージ(III )に移送されてきた基板(A)の外
周部をチャックして側方に移動することにより基板(A
)をチャック部(2a)から一旦外したのち、アーム部
を180度回転させることにより基板(A)を裏返して
再度ワーク保持部(2)のチャック部(2a)に装着す
る動作を行うものである。
The reversing stage (III) is for reversing the magnetic disk substrate (A) from front to back and remounting it on the workpiece holder (2), and is provided with a reversing device (5) for this purpose. This reversing device (5) has an arm portion that chucks the outer periphery of the substrate (A), and uses this arm portion to chuck the outer periphery of the substrate (A) transferred to the reversing stage (III) and lateralizes the substrate (A). By moving to the substrate (A
) is once removed from the chuck part (2a), and then the arm part is rotated 180 degrees to turn the substrate (A) over and attach it to the chuck part (2a) of the workpiece holding part (2) again. be.

【0014】前記第2外観検査ステージ(IV)は、反
転ステージ(III )で反転された磁気ディスク基板
(A)の他面側について外観検査を行うものであり、第
1外観検査ステージ(II)と同様の外観検査装置(6
)が設置されている。
[0014] The second visual inspection stage (IV) performs a visual inspection on the other side of the magnetic disk substrate (A) that has been reversed by the reversing stage (III), and the first visual inspection stage (II) Appearance inspection equipment similar to (6
) is installed.

【0015】前記ワーク取出ステージ(V)は、外観検
査を終えて該ステージへ移送されてきた磁気ディスク基
板(A)をワーク保持部(2)から取出すとともに、取
出した磁気ディスク基板を搬送装置(7)によって次工
程へ搬送するものである。かかる磁気ディスク基板(A
)の取外しも搬送装置(7)に設けた図示しないチャッ
カーを介して行われるものとなされている。
The workpiece take-out stage (V) takes out the magnetic disk substrate (A), which has been transferred to the stage after the visual inspection, from the workpiece holder (2), and also transfers the taken-out magnetic disk substrate to the transport device ( 7), it is transported to the next process. Such a magnetic disk substrate (A
) is also removed via a chucker (not shown) provided on the transport device (7).

【0016】次に、図1に示す外観検査装置の動作をそ
の制御方式と併せて図2に基いて説明する。
Next, the operation of the visual inspection apparatus shown in FIG. 1 will be explained together with its control system based on FIG. 2.

【0017】前工程例えば洗浄乾燥工程から搬送装置(
3)によってワーク受取ステージ(I)に移送されてき
た磁気ディスク基板(A)は、搬送装置(3)のチャッ
カーからターンテーブル(1)上のワーク保持部(2)
に渡され、チャック部(2a)に装着される。
[0017] In the previous process, for example, from the washing and drying process to the conveying device (
The magnetic disk substrate (A) transferred to the work receiving stage (I) by 3) is transferred from the chucker of the transport device (3) to the work holding section (2) on the turntable (1).
and is attached to the chuck part (2a).

【0018】次に、搬送装置(3)は次の磁気ディスク
基板を搬送すべく前工程側に移動する一方、ターンテー
ブル(1)が半時計方向に1/5回転して停止する。こ
のターンテーブル(1)の回転送りにより、前段のステ
ージに位置していた各ワーク保持部(2)は次段のステ
ージへと移行する。即ち、受取ステージ(I)で磁気デ
ィスク基板(A)を装着された保持部(2)は第1外観
検査ステージ(II)に移行し、取出ステージ(V)に
位置していた保持部(2)は受取ステージ(I)へと移
行し、そこで停止する。
Next, the transport device (3) moves to the front process side to transport the next magnetic disk substrate, while the turntable (1) rotates 1/5 counterclockwise and stops. Due to this rotational feeding of the turntable (1), each workpiece holder (2) located on the previous stage moves to the next stage. That is, the holding part (2) on which the magnetic disk substrate (A) was mounted on the receiving stage (I) moves to the first appearance inspection stage (II), and the holding part (2), which was located on the ejecting stage (V), moves to the first appearance inspection stage (II). ) moves to the receiving stage (I) and stops there.

【0019】第1外観検査ステージ(II)では、移送
されてきた磁気ディスク基板(A)に片面側の表面検査
が実施され、キズ、ピンホール等の表面欠陥の有無や個
数が判定される。この間、受取ステージ(I)では、搬
送装置(3)により次の磁気ディスク基板が前工程から
搬送され、受取ステージ(I)に待機している次段の保
持部(2)に装着される。
At the first appearance inspection stage (II), the surface of one side of the transferred magnetic disk substrate (A) is inspected to determine the presence or absence and number of surface defects such as scratches and pinholes. During this time, on the receiving stage (I), the next magnetic disk substrate is transported from the previous process by the transporting device (3), and is mounted on the next stage holding section (2) waiting on the receiving stage (I).

【0020】上記の外観検査終了後、さらにターンテー
ブル(1)が1/5回転する。これにより第1外観検査
ステージ(II)の磁気ディスク基板(A)は反転ステ
ージ(III )へ、受取ステージ(I)の磁気ディス
ク基板(A)は第1外観検査ステージ(II)へと移送
され、取出ステージ(V)に位置していたワーク保持部
(2)は受取ステージ(I)へと移行する。反転ステー
ジ(III )へ移送された磁気ディスク基板は、反転
装置(5)でチャック部(2a)から一旦外されて表裏
が反転されたのち、ワーク保持部(2)へ再装着される
。この間に、第1外観検査ステージ(II)では2番目
の磁気ディスク基板の外観検査が行われ、受取ステージ
(I)では3番目の磁気ディスク基板の装着が行われる
After the above-mentioned appearance inspection is completed, the turntable (1) is further rotated by 1/5. As a result, the magnetic disk substrate (A) on the first visual inspection stage (II) is transferred to the reversing stage (III), and the magnetic disk substrate (A) on the receiving stage (I) is transferred to the first visual inspection stage (II). , the workpiece holder (2) located at the take-out stage (V) moves to the receiving stage (I). The magnetic disk substrate transferred to the reversing stage (III) is once removed from the chuck part (2a) by the reversing device (5) and turned over, and then remounted to the work holding part (2). During this time, the appearance of the second magnetic disk substrate is inspected on the first appearance inspection stage (II), and the third magnetic disk substrate is mounted on the receiving stage (I).

【0021】反転ステージ(III )での反転工程終
了後ターンテーブル(1)がさらに1/5回転し、各磁
気ディスク基板(A)はそれぞれ次段のステージへと移
送されるとともに、取出ステージ(V)に位置していた
ワーク保持部(2)は受取ステージ(I)へ移行する。 反転ステージ(III )から第2外観検査ステージ(
IV)へと移送された磁気ディスク基板(A)には、次
いで外観検査装置(4)により他面側の外観検査が行わ
れ、表面欠陥の有無や個数が判定される。この間に、反
転ステージ(III )、第1外観検査ステージ(II
)、受取ステージ(I)では、それぞれ磁気ディスク基
板の反転動作、片面外観検査、受取動作が行われる。
After the reversing process on the reversing stage (III) is completed, the turntable (1) rotates another 1/5, and each magnetic disk substrate (A) is transferred to the next stage, and the take-out stage ( The work holding section (2) located at stage V) moves to the receiving stage (I). From the inversion stage (III) to the second visual inspection stage (
The other side of the magnetic disk substrate (A) transferred to the magnetic disk substrate (A) is then visually inspected by the visual inspection device (4) to determine the presence or absence and number of surface defects. During this time, the inversion stage (III), the first visual inspection stage (II)
) and receiving stage (I), a reversing operation of the magnetic disk substrate, a one-sided visual inspection, and a receiving operation are performed, respectively.

【0022】第2外観検査ステージ(IV)での外観検
査終了後、ターンテーブル(1)がさらに1/5回転し
、各磁気ディスク基板は次段のステージへと移送される
。 取出ステージ(V)へ移送された磁気ディスク基板は、
搬送装置(7)のチャッカーによってワーク保持部(2
)から取出される。この間に、第2外観検査ステージ(
IV)、反転ステージ(III )、第1外観検査ステ
ージ(II)、受取ステージ(I)では、それぞれ磁気
ディスク基板の他面外観検査、反転動作、片面外観検査
、受取動作が行われる。
After the visual inspection at the second visual inspection stage (IV) is completed, the turntable (1) rotates another 1/5 rotation, and each magnetic disk substrate is transferred to the next stage. The magnetic disk substrate transferred to the extraction stage (V) is
The work holding part (2) is moved by the chucker of the transport device (7)
). During this time, the second visual inspection stage (
IV), the reversing stage (III), the first visual inspection stage (II), and the receiving stage (I) perform the other side visual inspection, reversing operation, single side visual inspection, and receiving operation of the magnetic disk substrate, respectively.

【0023】取出ステージ(V)での磁気ディスク基板
(A)の取出し終了後、ターンテーブル(1)がさらに
1/5回転し、各磁気ディスク基板は次段のステージへ
と移送されるとともに、取出ステージ(V)の空き状態
となったワーク保持部(2)は受取ステージ(I)へと
移行し、以下同様の動作が繰返される。
After the removal stage (V) finishes taking out the magnetic disk substrates (A), the turntable (1) rotates another 1/5, and each magnetic disk substrate is transferred to the next stage. The workpiece holder (2) in the unoccupied state of the take-out stage (V) moves to the receiving stage (I), and the same operation is repeated thereafter.

【0024】このように、ターンテーブル(1)の1/
5回転ずつの送りと停止により、各ステージを順次的に
巡らせながら磁気ディスク基板を移送していくから、多
数の磁気ディスク基板を次々と連続的かつ自動的に外観
検査に供することができる。なお、取出ステージ(V)
で取出された磁気ディスク基板(A)は、搬送装置(3
)によって例えば良否選別工程等に送られ、第1、第2
外観検査ステージ(II)(IV)での外観検査結果に
基いて、良品、不良品、再加工品の別に仕分けされる。
In this way, 1/1 of the turntable (1)
Since the magnetic disk substrates are transferred while sequentially moving around each stage by feeding and stopping in five rotations, a large number of magnetic disk substrates can be continuously and automatically subjected to visual inspection one after another. In addition, the extraction stage (V)
The magnetic disk substrate (A) taken out by the transport device (3
), the first and second
Based on the appearance inspection results at the appearance inspection stages (II) and (IV), the products are sorted into non-defective products, defective products, and reworked products.

【0025】なお、図示実施例に係る外観検査装置は、
ターンテーブル(1)が垂直に配置されかつ鉛直面内に
おいて回転する縦型のものとしてこれを示したが、ター
ンテーブル(1)が水平に配置されかつ水平面内におい
て回転する横型のものとして構成しても良いし、またタ
ーンテーブルを任意角度に傾斜させて配置しても良い。 而して、縦型の装置として構成した場合には、ターンテ
ーブル(1)上で磁気ディスク基板(A)の表面にほこ
りやごみが付着しにくく、また付着した場合も容易に落
下し易いため、確度の高い検査結果を得ることができる
利点がある。しかも、装置の設置に必要な床面積を少な
くすることができ、設置空間の有効利用を図りうるとい
う利点もある。一方、横型の装置として構成した場合に
は、ワーク保持部(2)に装着保持した際に磁気ディス
ク基板(A)の自重安定作用により該基板の水平面を得
やすいことから、基板(A)を回転させたときのぶれの
発生を防止でき、ひいては外観検査装置(4)(6)に
おける光源(41)や撮像装置(42)と基板(A)と
の距離を常時一定に保持しえて精度の高い外観検査結果
が得られるという利点がある。
[0025] The appearance inspection device according to the illustrated embodiment has the following features:
Although this is shown as a vertical type in which the turntable (1) is arranged vertically and rotates in a vertical plane, it is also configured as a horizontal type in which the turntable (1) is arranged horizontally and rotates in a horizontal plane. Alternatively, the turntable may be tilted at an arbitrary angle. Therefore, when configured as a vertical device, it is difficult for dust and dirt to adhere to the surface of the magnetic disk substrate (A) on the turntable (1), and even if it does, it is easy to fall off. , it has the advantage of being able to obtain highly accurate test results. Furthermore, there is an advantage that the floor area required for installing the device can be reduced, and the installation space can be used effectively. On the other hand, when configured as a horizontal device, the magnetic disk substrate (A) can easily obtain a horizontal surface due to its self-weight stabilizing effect when mounted and held on the workpiece holder (2). It is possible to prevent blurring during rotation, and in turn, the distance between the light source (41) or imaging device (42) in the visual inspection device (4) (6) and the substrate (A) can be kept constant at all times, improving accuracy. It has the advantage of providing high visual inspection results.

【0026】[0026]

【発明の効果】この発明は上述の次第で、複数のワーク
を平面内において着脱自在に保持するワーク保持部を回
転軸の周囲に有するターンテーブルが、回転、停止自在
に配置されるとともに、該ターンテーブルの回転まわり
に少なくともワークの受取ステージ、外観検査ステージ
、取出ステージの各ステージが設定され、前記ワーク受
取ステージで前記ワーク保持部に保持されたワークが、
ターンテーブルの間欠的な回転送りにより各ステージを
巡って前記ワーク取出ステージへと至る過程において、
前記外観検査ステージで外観検査されるものとなされて
いることを特徴とするものである。従って、1のワーク
の外観検査工程の終了を待つことなく、多数のワークを
次々と連続的に外観検査できることになり、従来のよう
に、1のワークの検査工程終了を待って次のワークの外
観検査を行う場合に較べて、単位時間に外観検査できる
ワークの数を各段に増加することができ、外観検査効率
の著しい向上を図りうる。
Effects of the Invention In accordance with the above, the present invention includes a turntable having a workpiece holder around a rotating shaft which holds a plurality of workpieces detachably within a plane, and which is arranged so as to be rotatable and stopable. At least a workpiece receiving stage, a visual inspection stage, and a take-out stage are set around the rotation of the turntable, and the workpiece held in the workpiece holding section on the workpiece receiving stage is
In the process of going through each stage and reaching the workpiece take-out stage by intermittent rotational feeding of the turntable,
It is characterized in that the appearance is inspected at the appearance inspection stage. Therefore, without having to wait for the end of the visual inspection process for one workpiece, it is possible to visually inspect a large number of workpieces one after the other. Compared to the case where visual inspection is performed, the number of workpieces that can be visually inspected per unit time can be greatly increased, and the efficiency of visual inspection can be significantly improved.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of drawings]

【図1】この発明の一実施例に係る外観検査装置の正面
図である。
FIG. 1 is a front view of a visual inspection device according to an embodiment of the present invention.

【図2】ワークの外観検査を実際に行っている状態の正
面図である。
FIG. 2 is a front view of a state in which a visual inspection of a workpiece is actually performed.

【図3】外観検査装置の概略構成図である。FIG. 3 is a schematic configuration diagram of an appearance inspection device.

【図4】実施例に用いたワークとしてのアルミニウム磁
気ディスク基板を示す斜視図である。
FIG. 4 is a perspective view showing an aluminum magnetic disk substrate as a workpiece used in an example.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

A…アルミニウム磁気ディスク基板(ワーク)1…ター
ンテーブル、 2…ワーク保持部 I…ワークの受取ステージ II、IV…外観検査ステージ V…ワーク取出ステージ
A... Aluminum magnetic disk substrate (work) 1... Turntable, 2... Work holding section I... Work receiving stage II, IV... Visual inspection stage V... Work taking out stage

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】  複数のワーク(A)を平面内において
着脱自在に保持するワーク保持部(2)を回転軸の周囲
に有するターンテーブル(1)が、回転、停止自在に配
置されるとともに、該ターンテーブル(1)の回転まわ
りに少なくともワークの受取ステージ(I)、外観検査
ステージ(II)、取出ステージ(V)の各ステージが
設定され、前記ワーク受取ステージ(I)で前記ワーク
保持部(2)に保持されたワーク(A)が、ターンテー
ブル(1)の間欠的な回転送りにより各ステージを巡っ
て前記ワーク取出ステージ(V)へと移送される過程に
おいて、前記外観検査ステージ(II)で外観検査され
るものとなされていることを特徴とするワークの外観検
査装置。
Claim 1: A turntable (1) having a work holding part (2) for holding a plurality of workpieces (A) in a plane in a detachable manner around a rotating shaft is arranged so as to be rotatable and stopable, and At least a work receiving stage (I), a visual inspection stage (II), and a take-out stage (V) are set around the rotation of the turntable (1), and the work receiving stage (I) holds the work holding section. In the process in which the workpiece (A) held at the stage (2) is transferred to the workpiece take-out stage (V) through each stage by intermittent rotational feeding of the turntable (1), the workpiece (A) held at the visual inspection stage ( A workpiece appearance inspection apparatus characterized in that the workpiece appearance is inspected in step II).
JP3066974A 1991-03-29 1991-03-29 Work appearance inspection device Expired - Lifetime JP2597763B2 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP3066974A JP2597763B2 (en) 1991-03-29 1991-03-29 Work appearance inspection device

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP3066974A JP2597763B2 (en) 1991-03-29 1991-03-29 Work appearance inspection device

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH04301714A true JPH04301714A (en) 1992-10-26
JP2597763B2 JP2597763B2 (en) 1997-04-09

Family

ID=13331506

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP3066974A Expired - Lifetime JP2597763B2 (en) 1991-03-29 1991-03-29 Work appearance inspection device

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2597763B2 (en)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5909117A (en) * 1996-09-10 1999-06-01 Hitachi Electronics Engineering Co., Ltd. Apparatus and method for inspecting disks
JP2003002430A (en) * 2001-06-21 2003-01-08 Shibuya Kogyo Co Ltd Article inspecting method, and its device

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH01116439A (en) * 1987-10-30 1989-05-09 Toshiba Corp Inspection device for optical information memory medium
JPH01291110A (en) * 1988-05-18 1989-11-22 Kanebo Ltd Inspection instrument
JPH0260860U (en) * 1988-10-27 1990-05-07

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH01116439A (en) * 1987-10-30 1989-05-09 Toshiba Corp Inspection device for optical information memory medium
JPH01291110A (en) * 1988-05-18 1989-11-22 Kanebo Ltd Inspection instrument
JPH0260860U (en) * 1988-10-27 1990-05-07

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5909117A (en) * 1996-09-10 1999-06-01 Hitachi Electronics Engineering Co., Ltd. Apparatus and method for inspecting disks
JP2003002430A (en) * 2001-06-21 2003-01-08 Shibuya Kogyo Co Ltd Article inspecting method, and its device

Also Published As

Publication number Publication date
JP2597763B2 (en) 1997-04-09

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN1075422C (en) Automated wafer lapping system
JP3455458B2 (en) Coating and developing apparatus and substrate recycling system in coating and developing processing
KR101657316B1 (en) Wafer polishing apparatus and wafer manufacturing method
CN105489523A (en) Wafer inspection method and wafer inspection apparatus
JP2003309155A (en) Wafer backside inspection apparatus and inspection method
US10937697B2 (en) Method of processing a semiconductor wafer that involves cutting to form grooves along the dicing lines and grinding reverse side of the wafer
JPH10113864A (en) Automatic grinding machine
JP2597763B2 (en) Work appearance inspection device
JP2012073155A (en) Magnetic disk inspection device and inspection method
JPH04359109A (en) Device for simultaneously inspecting appearance of both surfaces of work
JP2000114329A (en) Method and device for inspecting ground edge section of substrate
JPH04315037A (en) Apparatus for inspecting appearance of end surface of work
JP2008082900A (en) Appearance inspection device
JP3765557B2 (en) Multi-type work transfer device
JPH07248300A (en) Part inspection device
JP2974441B2 (en) Equipment for manufacturing workpieces that require polishing, cleaning, drying and visual inspection
JP5654782B2 (en) Grinding equipment
CN215844322U (en) Component detection equipment
JP2024083981A (en) Apparatus and method for inspecting annular substrates
JP4291631B2 (en) Polishing cleaning method and polishing cleaning apparatus
CN114121708A (en) Double-sided detection method and double-sided detection equipment
JPH0521406A (en) Tandem full automatic wafer polishing device and polishing method
JPH03209154A (en) Automatic appearance checking device
JP3331361B2 (en) Inspection device
JPH03152950A (en) Wafer crack check device