JPH04303753A - 電気化学的素子 - Google Patents
電気化学的素子Info
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- JPH04303753A JPH04303753A JP3093456A JP9345691A JPH04303753A JP H04303753 A JPH04303753 A JP H04303753A JP 3093456 A JP3093456 A JP 3093456A JP 9345691 A JP9345691 A JP 9345691A JP H04303753 A JPH04303753 A JP H04303753A
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N27/00—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means
- G01N27/26—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating electrochemical variables; by using electrolysis or electrophoresis
- G01N27/403—Cells and electrode assemblies
- G01N27/406—Cells and probes with solid electrolytes
- G01N27/407—Cells and probes with solid electrolytes for investigating or analysing gases
- G01N27/4075—Composition or fabrication of the electrodes and coatings thereon, e.g. catalysts
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、電気化学的素子に関す
るもので、例えば、内燃機関の排ガス中の酸素濃度を測
定する酸素センサに関する。
るもので、例えば、内燃機関の排ガス中の酸素濃度を測
定する酸素センサに関する。
【０００２】
【従来の技術】従来より、第１電極層と第２電極層の間
に固体電解質を介在させ、第１電極層に被測定ガスを接
触し、第２電極層に基準ガスを接触させることにより、
第１電極層と第２電極層の間に発生する電位差より測定
ガス中の特定成分濃度を検出する電気化学的素子、例え
ば酸素センサが知られている。特開昭６０−３６９４８
号公報に示される酸素センサでは、第１電極層の被測定
ガスと接触する部分を単一の多孔質保護層で被覆してい
る。また特開昭６０−３６９４９号公報に示される酸素
センサでは、第１電極層の被測定ガスとの接触部分のう
ち高温部を多孔質保護層で被覆し、低温部を気密質保護
層で被覆している。
に固体電解質を介在させ、第１電極層に被測定ガスを接
触し、第２電極層に基準ガスを接触させることにより、
第１電極層と第２電極層の間に発生する電位差より測定
ガス中の特定成分濃度を検出する電気化学的素子、例え
ば酸素センサが知られている。特開昭６０−３６９４８
号公報に示される酸素センサでは、第１電極層の被測定
ガスと接触する部分を単一の多孔質保護層で被覆してい
る。また特開昭６０−３６９４９号公報に示される酸素
センサでは、第１電極層の被測定ガスとの接触部分のう
ち高温部を多孔質保護層で被覆し、低温部を気密質保護
層で被覆している。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、従来の
第１電極層を単一の多孔質保護層で被覆する酸素センサ
では、内燃機関の運転状態が燃料リッチの条件下つまり
排ガス中の酸素濃度が酸素不足の条件下においては、多
孔質保護層のガス透過性が大きい場合、多孔質保護層の
表面および多孔質保護層の内部さらには第１電極層の内
部にカーボンが析出しやすいため、第１電極層と酸素セ
ンサの金属ホルダとの間の絶縁抵抗が低下しやすいとい
う問題がある。特に第１電極層と金属ホルダとの距離が
比較的近い多孔質保護層または第１電極層の低温部にカ
ーボンが析出した場合に絶縁抵抗の低下が著しい。
第１電極層を単一の多孔質保護層で被覆する酸素センサ
では、内燃機関の運転状態が燃料リッチの条件下つまり
排ガス中の酸素濃度が酸素不足の条件下においては、多
孔質保護層のガス透過性が大きい場合、多孔質保護層の
表面および多孔質保護層の内部さらには第１電極層の内
部にカーボンが析出しやすいため、第１電極層と酸素セ
ンサの金属ホルダとの間の絶縁抵抗が低下しやすいとい
う問題がある。特に第１電極層と金属ホルダとの距離が
比較的近い多孔質保護層または第１電極層の低温部にカ
ーボンが析出した場合に絶縁抵抗の低下が著しい。
【０００４】また、特開昭６０−３６９５０号公報に記
載の従来の酸素センサの製造プロセスにおいては、酸素
センサ素子を溶液に含浸するとき、多孔質電極層に溶液
が侵入し、焼付け時に侵入溶液が急速に蒸発（ガス化）
するため、第１電極層を被覆する保護層の一部が気密質
の場合、第１電極層の気孔内に蒸発しようとするガスが
閉じ込められ第１電極層の内圧が上昇し、保護層が剥離
したり割れが入ったりするという問題がある。本発明は
、このような問題点を解決するためになされたもので、
製造プロセスにおいて多孔質保護層の剥離、割れ等の損
傷の発生を防止するとともに、使用時に第１電極層と金
属ホルダとの絶縁抵抗の低下を防止し被測定ガス中の正
確な特定成分濃度を検出する電気化学的素子を提供する
ことを目的とする。
載の従来の酸素センサの製造プロセスにおいては、酸素
センサ素子を溶液に含浸するとき、多孔質電極層に溶液
が侵入し、焼付け時に侵入溶液が急速に蒸発（ガス化）
するため、第１電極層を被覆する保護層の一部が気密質
の場合、第１電極層の気孔内に蒸発しようとするガスが
閉じ込められ第１電極層の内圧が上昇し、保護層が剥離
したり割れが入ったりするという問題がある。本発明は
、このような問題点を解決するためになされたもので、
製造プロセスにおいて多孔質保護層の剥離、割れ等の損
傷の発生を防止するとともに、使用時に第１電極層と金
属ホルダとの絶縁抵抗の低下を防止し被測定ガス中の正
確な特定成分濃度を検出する電気化学的素子を提供する
ことを目的とする。
【０００５】
【課題を解決するための手段】そのために本発明の第１
発明による電気化学的素子は、被測定ガスに接触して設
けられる第１電極層と、基準ガスに接触して設けられる
第２電極層と、前記第１電極層と前記第２電極層との間
に介在される固体電解質とを有する電気化学的素子であ
って、前記第１電極層の高温部を第１多孔質保護層によ
り被覆し、前記第１電極層の低温部を前記第１多孔質保
護層よりもガス透過性の低い第２多孔質保護層により被
覆したことを特徴とする。前記第２多孔質保護層は、被
測定ガス中の酸素濃度１％当たり０．００５〜１６ｍＡ
／ｍｍ２ の範囲のガス透過性を有するように設定する
のが望ましい。前記第１多孔質保護層および前記第２多
孔質保護層は、それぞれ気孔率の異なる複数の多孔質層
から構成してもよい。
発明による電気化学的素子は、被測定ガスに接触して設
けられる第１電極層と、基準ガスに接触して設けられる
第２電極層と、前記第１電極層と前記第２電極層との間
に介在される固体電解質とを有する電気化学的素子であ
って、前記第１電極層の高温部を第１多孔質保護層によ
り被覆し、前記第１電極層の低温部を前記第１多孔質保
護層よりもガス透過性の低い第２多孔質保護層により被
覆したことを特徴とする。前記第２多孔質保護層は、被
測定ガス中の酸素濃度１％当たり０．００５〜１６ｍＡ
／ｍｍ２ の範囲のガス透過性を有するように設定する
のが望ましい。前記第１多孔質保護層および前記第２多
孔質保護層は、それぞれ気孔率の異なる複数の多孔質層
から構成してもよい。
【０００６】本発明の第２発明による電気化学的素子は
、被測定ガスに接触されて設けられる第１電極層と、基
準ガスに接触して設けられる第２電極層と、前記第１電
極層と前記第２電極との間に介在される固体電解質とを
有する電気化学的素子であって、前記第１電極層の高温
部は金属粒子と固体電解質粒子とのサーメットからなり
前記固体電解質に接触するとともに、前記第１電極層の
低温部は金属粒子と絶縁性セラミック粒子とのサーメッ
トからなり、前記固体電解質から絶縁されていることを
特徴とする。第２発明の前記第１電極層を被覆する保護
層は、前記第１電極層の低温部に接触する絶縁性セラミ
ック層を含めることが可能である。
、被測定ガスに接触されて設けられる第１電極層と、基
準ガスに接触して設けられる第２電極層と、前記第１電
極層と前記第２電極との間に介在される固体電解質とを
有する電気化学的素子であって、前記第１電極層の高温
部は金属粒子と固体電解質粒子とのサーメットからなり
前記固体電解質に接触するとともに、前記第１電極層の
低温部は金属粒子と絶縁性セラミック粒子とのサーメッ
トからなり、前記固体電解質から絶縁されていることを
特徴とする。第２発明の前記第１電極層を被覆する保護
層は、前記第１電極層の低温部に接触する絶縁性セラミ
ック層を含めることが可能である。
【０００７】
【作用】第１電極層を被覆する多孔質保護層の低温部を
所定範囲のガス透過性をもつ密度に設定することにより
、製造時、多孔質保護層ならびに電極層の割れ、損傷等
の発生を防止するとともに、使用時、カーボン析出を防
止して第１電極層と金属ホルダとの絶縁抵抗が低下する
のを回避する。また、第１電極層の低温部のセラミック
成分を、下地である絶縁性セラミック層と同一の絶縁性
セラミックスとすることにより、第１電極層の低温部と
絶縁性セラミック層との付着強度を向上させ、もしくは
、第１電極層の低温部（下層）のセラミック成分を増す
ことにより、第１電極層の低温部と固体電解質との付着
強度を向上させ、製造時および使用時の電極層の割れ、
損傷等の発生を防止する。
所定範囲のガス透過性をもつ密度に設定することにより
、製造時、多孔質保護層ならびに電極層の割れ、損傷等
の発生を防止するとともに、使用時、カーボン析出を防
止して第１電極層と金属ホルダとの絶縁抵抗が低下する
のを回避する。また、第１電極層の低温部のセラミック
成分を、下地である絶縁性セラミック層と同一の絶縁性
セラミックスとすることにより、第１電極層の低温部と
絶縁性セラミック層との付着強度を向上させ、もしくは
、第１電極層の低温部（下層）のセラミック成分を増す
ことにより、第１電極層の低温部と固体電解質との付着
強度を向上させ、製造時および使用時の電極層の割れ、
損傷等の発生を防止する。
【０００８】
【実施例】以下、本発明の実施例を説明する。白金９０
ｗｔ％、ジルコニア１０ｗｔ％に有機バインダおよび溶
剤を混合して作製したペーストを、スクリーン印刷法に
よりジルコニアよりなる固体電解質グリーンシートの両
面に形成し、これらを第１電極層および第２電極層とす
る。第１電極層の表面にはジルコニアよりなるペースト
をスクリーン印刷法により第１多孔質保護層および第２
多孔質保護層として形成する。このグリーンシートと、
このグリーンシートを挟んで第１多孔質保護層および第
２多孔質保護層の一部を形成する多孔質ジルコニア層と
なるジルコニアグリーンシートと、基準ガス用ダクトを
形成することになるよう切り欠き部を有するジルコニア
グリーンシートと、内部に白金９０ｗｔ％、アルミナ１
０ｗｔ％よりなる発熱パターンを形成し、これをアルミ
ナ層で両側から挟み込んだヒータ層を設けたジルコニア
グリーンシートの４枚のシートを熱圧着し、切断し、成
形し、一体のグリーン成形体とする。この一体のグリー
ン成形体を空気中１４００℃で３時間焼成し図１に示す
電気化学的素子を得た。
ｗｔ％、ジルコニア１０ｗｔ％に有機バインダおよび溶
剤を混合して作製したペーストを、スクリーン印刷法に
よりジルコニアよりなる固体電解質グリーンシートの両
面に形成し、これらを第１電極層および第２電極層とす
る。第１電極層の表面にはジルコニアよりなるペースト
をスクリーン印刷法により第１多孔質保護層および第２
多孔質保護層として形成する。このグリーンシートと、
このグリーンシートを挟んで第１多孔質保護層および第
２多孔質保護層の一部を形成する多孔質ジルコニア層と
なるジルコニアグリーンシートと、基準ガス用ダクトを
形成することになるよう切り欠き部を有するジルコニア
グリーンシートと、内部に白金９０ｗｔ％、アルミナ１
０ｗｔ％よりなる発熱パターンを形成し、これをアルミ
ナ層で両側から挟み込んだヒータ層を設けたジルコニア
グリーンシートの４枚のシートを熱圧着し、切断し、成
形し、一体のグリーン成形体とする。この一体のグリー
ン成形体を空気中１４００℃で３時間焼成し図１に示す
電気化学的素子を得た。
【０００９】図１に示す第１実施例では、第１電極層１
の高温部に第１多孔質保護層４が形成され、第１電極層
１の低温部に第２多孔質保護層５が形成される。そして
高温部の第１多孔質保護層４および高温部の第２多孔質
保護層５の表面にガス透過性の良好な第３多孔質保護層
６が形成される。第２電極層２には基準ガスが接触する
ように空洞部８が形成される。そして固体電解質３の中
にはセラミックヒータ７が埋設されている。ここで、第
２多孔質保護層５のガス透過性は、ジルコニアからなる
ペーストに添加するバインダ量、原料ジルコニアの粒径
等を変えることにより調節する。次に、第２多孔質保護
層のガス透過性を変化させて幾つかの実施例および比較
例を作り、これらについて急速加熱試験およびリッチ連
続運転試験を行った。その結果を表１に示す。
の高温部に第１多孔質保護層４が形成され、第１電極層
１の低温部に第２多孔質保護層５が形成される。そして
高温部の第１多孔質保護層４および高温部の第２多孔質
保護層５の表面にガス透過性の良好な第３多孔質保護層
６が形成される。第２電極層２には基準ガスが接触する
ように空洞部８が形成される。そして固体電解質３の中
にはセラミックヒータ７が埋設されている。ここで、第
２多孔質保護層５のガス透過性は、ジルコニアからなる
ペーストに添加するバインダ量、原料ジルコニアの粒径
等を変えることにより調節する。次に、第２多孔質保護
層のガス透過性を変化させて幾つかの実施例および比較
例を作り、これらについて急速加熱試験およびリッチ連
続運転試験を行った。その結果を表１に示す。
【００１０】
【表１】
【００１１】各試験の条件は以下のとおりである。
ガス透過性試験
表１において、第２多孔質保護層のガス透過性は次のよ
うにして測定した。電気化学的素子の中央部（実使用時
の低温部）を、別に準備したセラミックヒータによって
部分的に７００℃に加熱し、窒素で希釈した酸素濃度０
．１〜２０％の被測定ガス雰囲気中で外部の直流電源よ
り第２電極層２から第１電極層１へ電流を供給し、第１
電極層１から第２電極層２へ酸素イオンをポンピングし
、拡散限界電流を測定した。拡散限界電流は、加熱され
た酸素濃度１％当たりの第１電極層１の単位面積当たり
の電流値を算出した。例えば、０．５％の酸素濃度の場
合は、単位面積当たりの拡散限界電流の電流値を２倍し
て算出した。
うにして測定した。電気化学的素子の中央部（実使用時
の低温部）を、別に準備したセラミックヒータによって
部分的に７００℃に加熱し、窒素で希釈した酸素濃度０
．１〜２０％の被測定ガス雰囲気中で外部の直流電源よ
り第２電極層２から第１電極層１へ電流を供給し、第１
電極層１から第２電極層２へ酸素イオンをポンピングし
、拡散限界電流を測定した。拡散限界電流は、加熱され
た酸素濃度１％当たりの第１電極層１の単位面積当たり
の電流値を算出した。例えば、０．５％の酸素濃度の場
合は、単位面積当たりの拡散限界電流の電流値を２倍し
て算出した。
【００１２】急速加熱試験
各水準３０本の試料を１００℃の沸騰水中で１０分間煮
沸し、第１電極層の開気孔中に水を含浸させた後、試料
表面の水を拭き取り、ガスバーナで最大昇温速度１００
℃／秒、最大温度１０００℃で加熱し、試験後の第１多
孔質保護層および第２多孔質保護層の剥離率を調査し、
この剥離率を不良率とした。表１から明らかなように、
実施例１、２、３、４、５、６、７、９および１０では
、保護層の剥離は全くなかった。これに対し比較例１お
よび２では、保護層の剥離するものが表１に示すように
発生した。
沸し、第１電極層の開気孔中に水を含浸させた後、試料
表面の水を拭き取り、ガスバーナで最大昇温速度１００
℃／秒、最大温度１０００℃で加熱し、試験後の第１多
孔質保護層および第２多孔質保護層の剥離率を調査し、
この剥離率を不良率とした。表１から明らかなように、
実施例１、２、３、４、５、６、７、９および１０では
、保護層の剥離は全くなかった。これに対し比較例１お
よび２では、保護層の剥離するものが表１に示すように
発生した。
【００１３】リッチ連続運転試験
各水準６本の試料を、それぞれ金属ホルダに試料を組み
込み、ヒータ電圧：直流１２Ｖを印加し、この金属ホル
ダをテストパイプに取付け、このテストパイプ中に空気
過剰率λ＝０．７のプロパン燃焼排ガスを１０００時間
流した。試験後、第１電極層と金属ホルダ間の絶縁抵抗
を測定し、絶縁抵抗１ｋΩ以下となる不良率を調査した
。表１から明らかなように、実施例８、１０および１１
では、絶縁抵抗の低下を伴う不良率は０であった。これ
に対し、比較例３では、不良率が１／３に達した。
込み、ヒータ電圧：直流１２Ｖを印加し、この金属ホル
ダをテストパイプに取付け、このテストパイプ中に空気
過剰率λ＝０．７のプロパン燃焼排ガスを１０００時間
流した。試験後、第１電極層と金属ホルダ間の絶縁抵抗
を測定し、絶縁抵抗１ｋΩ以下となる不良率を調査した
。表１から明らかなように、実施例８、１０および１１
では、絶縁抵抗の低下を伴う不良率は０であった。これ
に対し、比較例３では、不良率が１／３に達した。
【００１４】次に、電気化学的素子の他の形態例として
は、図２、３、４および５のものが挙げられる。第２図
に示す第２実施例は、第１電極層１と第２電極層２の間
に固体電解質３が形成される。第１電極層１の高温部に
第１多孔質保護層４が形成され、第１電極層１の低温部
に第２多孔質保護層５が形成される。図３に示す第３実
施例では、高温部の第１電極層１１ａと第２電極層１２
の間に固体電解質１３を設け、低温部の第１電極層１１
ｂと第２電極層１２の間にも固体電解質１３を設ける。 低温部の第１電極層１１ｂと固体電解質１３との間の一
部には絶縁性セラミックス１６が形成される。また高温
部の第１電極層１１ａの表面には第１多孔質保護層１４
が形成され、低温部の第１電極層１１ｂの表面には第１
多孔質保護層よりも気密質の第２多孔質保護層１５が形
成される。
は、図２、３、４および５のものが挙げられる。第２図
に示す第２実施例は、第１電極層１と第２電極層２の間
に固体電解質３が形成される。第１電極層１の高温部に
第１多孔質保護層４が形成され、第１電極層１の低温部
に第２多孔質保護層５が形成される。図３に示す第３実
施例では、高温部の第１電極層１１ａと第２電極層１２
の間に固体電解質１３を設け、低温部の第１電極層１１
ｂと第２電極層１２の間にも固体電解質１３を設ける。 低温部の第１電極層１１ｂと固体電解質１３との間の一
部には絶縁性セラミックス１６が形成される。また高温
部の第１電極層１１ａの表面には第１多孔質保護層１４
が形成され、低温部の第１電極層１１ｂの表面には第１
多孔質保護層よりも気密質の第２多孔質保護層１５が形
成される。
【００１５】図４に示す第４実施例では、図３に示す実
施例に加え、低温部の第１電極層１１ｂの表面の一部に
絶縁性セラミック層１６ｂが形成される。低温部の第１
電極層１１ｂと固体電解質１３との間にも絶縁性セラミ
ック層１６ａが形成される。第１多孔質保護層１４およ
び第２多孔質保護層１５の表面の高温部には第３多孔質
保護層１７が形成される。図５に示す第５実施例では、
図１に示す実施例に加え、第１電極層１の低温部が積層
体となっている。低温部上層１ａは、第１電極層１の高
温部と同様の組成により形成される。低温部下層１ｂは
、白金４０容量部およびジルコニア６０容量部とからな
るジルコニアリッチに形成されている。前記第１〜第５
実施例では、第２多孔質保護層のガス透過性が前記した
実施例の所定の範囲の値になるように設定されている。 これにより、製造時、素子の破壊、破損が防止されると
ともに、使用時、第２多孔質保護層あるいは電極層付近
のカーボン析出が確実に防止される。
施例に加え、低温部の第１電極層１１ｂの表面の一部に
絶縁性セラミック層１６ｂが形成される。低温部の第１
電極層１１ｂと固体電解質１３との間にも絶縁性セラミ
ック層１６ａが形成される。第１多孔質保護層１４およ
び第２多孔質保護層１５の表面の高温部には第３多孔質
保護層１７が形成される。図５に示す第５実施例では、
図１に示す実施例に加え、第１電極層１の低温部が積層
体となっている。低温部上層１ａは、第１電極層１の高
温部と同様の組成により形成される。低温部下層１ｂは
、白金４０容量部およびジルコニア６０容量部とからな
るジルコニアリッチに形成されている。前記第１〜第５
実施例では、第２多孔質保護層のガス透過性が前記した
実施例の所定の範囲の値になるように設定されている。 これにより、製造時、素子の破壊、破損が防止されると
ともに、使用時、第２多孔質保護層あるいは電極層付近
のカーボン析出が確実に防止される。
【００１６】
【発明の効果】以上説明したように、本発明の電気化学
的素子によれば、第１電極層の高温部を第１多孔質保護
層で被覆し、第１電極層の低温部を第１多孔質保護層の
ガス透過性よりもガス透過度の低い気密質の第２多孔質
保護層により被覆していることから、製造時の電極層の
割れ、多孔質保護層の割れ、破損等を防止できるととも
に、第１電極層の周囲との絶縁性が確保されるので使用
時にはカーボンの析出が防止され、適正な特定ガス成分
濃度を検知することができるという効果がある。
的素子によれば、第１電極層の高温部を第１多孔質保護
層で被覆し、第１電極層の低温部を第１多孔質保護層の
ガス透過性よりもガス透過度の低い気密質の第２多孔質
保護層により被覆していることから、製造時の電極層の
割れ、多孔質保護層の割れ、破損等を防止できるととも
に、第１電極層の周囲との絶縁性が確保されるので使用
時にはカーボンの析出が防止され、適正な特定ガス成分
濃度を検知することができるという効果がある。
【図１】本発明の第１実施例を示す概略構成図である。
【図２】本発明の第２実施例を示す概略構成図である。
【図３】本発明の第３実施例を示す概略構成図である。
【図４】本発明の第４実施例を示す概略構成図である。
【図５】本発明の第５実施例を示す概略構成図である。
１ 第１電極層
２ 第２電極層
３ 固体電解質
４ 第１多孔質保護層
５ 第２多孔質保護層
Claims (3)
- 【請求項１】被測定ガスに接触して設けられる第１電極
層と、基準ガスに接触して設けられる第２電極層と、前
記第１電極層と前記第２電極層との間に介在される固体
電解質とを有する電気化学的素子であって、前記第１電
極層の高温部を第１多孔質保護層により被覆し、前記第
１電極層の低温部を前記第１多孔質保護層よりもガス透
過性の低い第２多孔質保護層により被覆したことを特徴
とする電気化学的素子。 - 【請求項２】被測定ガスに接触されて設けられる第１電
極層と、基準ガスに接触して設けられる第２電極層と、
前記第１電極層と前記第２電極との間に介在される固体
電解質とを有する電気化学的素子であって、前記第１電
極層の高温部は金属と固体電解質とのサーメットからな
り前記固体電解質に接触するとともに、前記第１電極層
の低温部は金属粒子と絶縁性セラミック粒子とのサーメ
ットからなり、前記固体電解質から絶縁されていること
を特徴とする電気化学的素子。 - 【請求項３】被測定ガスに接触されて設けられる第１電
極層と、基準ガスに接触して設けられる第２電極層と、
前記第１電極層と前記第２電極層との間に介在される固
体電解質とを有する電気化学的素子であって、金属と固
体電解質とのサーメットからなる前記第１電極層の低温
部が、セラミック成分の多い固体電解質側の層と、金属
成分の多い被測定ガス側の層との積層体であることを特
徴とする電気化学的素子。
Priority Applications (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3093456A JP2603373B2 (ja) | 1991-03-29 | 1991-03-29 | 電気化学的素子 |
| US07/832,340 US5302276A (en) | 1991-03-29 | 1992-02-07 | Electrochemical element |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3093456A JP2603373B2 (ja) | 1991-03-29 | 1991-03-29 | 電気化学的素子 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH04303753A true JPH04303753A (ja) | 1992-10-27 |
| JP2603373B2 JP2603373B2 (ja) | 1997-04-23 |
Family
ID=14082833
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP3093456A Expired - Lifetime JP2603373B2 (ja) | 1991-03-29 | 1991-03-29 | 電気化学的素子 |
Country Status (2)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US5302276A (ja) |
| JP (1) | JP2603373B2 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2007278945A (ja) * | 2006-04-10 | 2007-10-25 | Denso Corp | ガスセンサ |
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP3694377B2 (ja) * | 1996-11-29 | 2005-09-14 | 日本特殊陶業株式会社 | 酸素センサ及び空燃比検出方法 |
| JP3801011B2 (ja) * | 2000-12-07 | 2006-07-26 | 株式会社デンソー | ガスセンサ素子 |
| US20090101502A1 (en) * | 2003-02-10 | 2009-04-23 | Robert Bosch Gmbh | Thermal Shock Resistant Gas Sensor Element |
| US7211180B2 (en) * | 2003-02-10 | 2007-05-01 | Robert Bosch Corporation | Contamination-resistant gas sensor element |
| US8906214B2 (en) * | 2003-02-10 | 2014-12-09 | Robert Bosch Gmbh | Contamination-resistant gas sensor element |
| JP2007285961A (ja) * | 2006-04-19 | 2007-11-01 | Denso Corp | ガスセンサ素子及びその製造方法 |
| JP4992744B2 (ja) * | 2008-02-04 | 2012-08-08 | トヨタ自動車株式会社 | 排気ガスセンサ |
| US9297791B2 (en) | 2012-12-20 | 2016-03-29 | Robert Bosch Gmbh | Gas sensor with thermal shock protection |
| CN108490056B (zh) * | 2018-03-22 | 2020-06-02 | 首凯汽车零部件（江苏）有限公司 | 一种两腔室双电池型氮氧化物传感器芯片及其制备方法 |
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| US5110442A (en) * | 1984-06-27 | 1992-05-05 | Ngk Spark Plug Co., Ltd. | Reinforced electrolyte function elements |
| JPS61108953A (ja) * | 1984-11-01 | 1986-05-27 | Ngk Insulators Ltd | セラミツクスを用いたセンサ素子の電気的接続端子 |
-
1991
- 1991-03-29 JP JP3093456A patent/JP2603373B2/ja not_active Expired - Lifetime
-
1992
- 1992-02-07 US US07/832,340 patent/US5302276A/en not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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| JPS5754855A (en) * | 1980-09-19 | 1982-04-01 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | Oxygen concentration detector |
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2007278945A (ja) * | 2006-04-10 | 2007-10-25 | Denso Corp | ガスセンサ |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| US5302276A (en) | 1994-04-12 |
| JP2603373B2 (ja) | 1997-04-23 |
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