JPH04304676A - 画像表示装置 - Google Patents
画像表示装置Info
- Publication number
- JPH04304676A JPH04304676A JP3068266A JP6826691A JPH04304676A JP H04304676 A JPH04304676 A JP H04304676A JP 3068266 A JP3068266 A JP 3068266A JP 6826691 A JP6826691 A JP 6826691A JP H04304676 A JPH04304676 A JP H04304676A
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- Japan
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- display device
- image display
- film
- pixel
- thin film
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- Liquid Crystal (AREA)
- Devices For Indicating Variable Information By Combining Individual Elements (AREA)
- Thin Film Transistor (AREA)
Abstract
め要約のデータは記録されません。
Description
VTR)のビューファインダ、投影型テレビ画像表示装
置(プロジェクションTV)または小型テレビ受像機な
どに用いる画像表示装置に関する。
クス方式の画像表示装置を小型に、かつ低コストで製造
するために、周辺駆動回路の内蔵化が行われている。以
下に従来の画像表示装置について説明する。
ある。画像表示装置は周辺駆動回路領域1と画素領域2
で構成される。周辺駆動回路領域1には水平駆動回路2
3と垂直駆動回路24が形成されている。画素領域2に
は信号線25、ゲート線26、薄膜トランジスタ27お
よび画素電極28が形成されている。
いて、以下その動作について説明する。水平駆動回路2
3と垂直駆動回路24により、マトリックス状に配置さ
れた画素電極28に接続された薄膜トランジスタ27が
選択される。そして信号線25、薄膜トランジスタ27
を通して各画素電極28に画像信号が入力される。前記
画像信号により液晶を駆動し光の透過率を調整し画像を
作り出す。
ある。石英基板などの絶縁基体3の上に薄膜トランジス
タ27の能動層4aとなるポリシリコン薄膜4と、画素
領域2には能動層4aと同じポリシリコン薄膜4からな
る画素電極28が形成されている。ポリシリコン薄膜4
の上にはゲート酸化膜5、ゲート電極6および厚さ90
nmの層間絶縁膜7が形成されている。さらにその上に
は、層間絶縁膜7に開けられた穴を通してポリシリコン
薄膜4に接続されたアルミ配線8が形成されている。こ
のアルミ配線8の上には表面保護膜として窒化膜15が
厚さ800nmで形成されている。この窒化膜15の上
には画像表示装置の表面の凹凸を平坦化するためにSO
G(Spin−On−Glass)膜からなる平坦化膜
11が厚さ300nmで形成されている。
来の構成では、画素電極28の上に、厚さ900nmの
層間絶縁膜7、厚さ800nmの窒化膜15および厚さ
300nmのSOG膜からなる平坦化膜11が積層され
ている。そのために、画素電極28に入力された画像信
号は上記の3層の膜に印加されることになり、その結果
画像信号による液晶の駆動能力が減少し、コントラスト
が悪く、画質が低下するという課題を有していた。
で、液晶駆動能力の高い画像表示装置を提供することを
目的とする。
に本発明の画像表示装置は、絶縁基体の上に、薄膜トラ
ンジスタと、この薄膜トランジスタの能動層を延長して
形成した画素電極とが二次元マトリクス状に配列された
画素領域と、画素電極に信号を送るための周辺駆動回路
を有し、画素領域および周辺駆動回路領域が形成された
絶縁基体の上に酸化膜が形成され、さらに周辺駆動回路
領域の上にのみ窒化膜が積層された構成を有している。
保護しながらも画素電極の上の実効誘電体膜厚を減少さ
せ、従来よりも画像信号が有効に液晶に印加されること
になり、その結果画質が向上する。
しながら説明する。
装置の断面構成図であり、周辺駆動回路領域と画素領域
の断面構造を示す。図1に示すように、1は周辺駆動回
路領域、2は画素領域、3は石英基板等の絶縁基体であ
り、この絶縁基体3の上には薄膜トランジスタ13の能
動層4aとなるポリシリコン薄膜4と、このポリシリコ
ン薄膜4が延長された画素電極12が形成されている。 ポリシリコン薄膜4の上にはゲート酸化膜5、ゲート電
極6および厚さ90nmの層間絶縁膜7が形成されてい
る。さらにこの上には、層間絶縁膜7に開けられた穴を
通してポリシリコン薄膜4に接続されるアルミ配線8が
形成されている。このアルミ配線8の上には表面保護膜
として厚さ300nmの酸化膜9が形成されている。酸
化膜9の上には、周辺駆動回路領域1の上にのみ厚さ5
00nmの窒化膜10が形成されている。また、画素領
域2の酸化膜9の上および周辺駆動回路領域1の上の窒
化膜10の上には平坦化のためにSOG(Spin−O
n−Glass)膜からなる平坦化膜11が厚さ300
nmで形成されている。
作については、図2に示す一般の画像表示装置と同じで
あるが、本実施例の構成では、画素電極12の上の実効
誘電体膜厚が従来より減少しているため液晶の駆動効率
が改善され、画質が向上する。また薄膜トランジスタ1
3の信頼性は、周辺駆動回路領域1においては窒化膜1
0により保証されており、画素領域2においては液晶が
密着しているので十分に保証されている。
み表面保護膜である窒化膜を取り除き、画素電極の上の
実効誘電体膜厚を減少させ、従来よりも画像信号が有効
に液晶に印加される構造とすることにより、画質が良好
な優れた画像表示装置を実現できるものである。
構成図
の画像表示装置の断面構成図
Claims (1)
- 【請求項1】絶縁基体の上に、薄膜トランジスタと前記
薄膜トランジスタの能動層を延長して形成した画素電極
とが二次元マトリクス状に配列された画素領域と、前記
薄膜トランジスタを駆動して画素電極に信号を送るため
の駆動回路が形成された周辺駆動回路領域を有し、画素
領域および周辺駆動回路領域が形成された絶縁基体の上
に酸化膜が形成され、さらに周辺駆動回路領域の上にの
み窒化膜が積層されてなる画像表示装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6826691A JP2848419B2 (ja) | 1991-04-01 | 1991-04-01 | 画像表示装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6826691A JP2848419B2 (ja) | 1991-04-01 | 1991-04-01 | 画像表示装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH04304676A true JPH04304676A (ja) | 1992-10-28 |
| JP2848419B2 JP2848419B2 (ja) | 1999-01-20 |
Family
ID=13368778
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP6826691A Expired - Fee Related JP2848419B2 (ja) | 1991-04-01 | 1991-04-01 | 画像表示装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2848419B2 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US7564057B1 (en) | 1992-03-17 | 2009-07-21 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Semiconductor device having an aluminum nitride film |
-
1991
- 1991-04-01 JP JP6826691A patent/JP2848419B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US7564057B1 (en) | 1992-03-17 | 2009-07-21 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Semiconductor device having an aluminum nitride film |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2848419B2 (ja) | 1999-01-20 |
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