JPH0430539B2 - - Google Patents
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- Publication number
- JPH0430539B2 JPH0430539B2 JP58148610A JP14861083A JPH0430539B2 JP H0430539 B2 JPH0430539 B2 JP H0430539B2 JP 58148610 A JP58148610 A JP 58148610A JP 14861083 A JP14861083 A JP 14861083A JP H0430539 B2 JPH0430539 B2 JP H0430539B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- support stand
- test
- test pieces
- groove
- temperature furnace
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N3/00—Investigating strength properties of solid materials by application of mechanical stress
- G01N3/08—Investigating strength properties of solid materials by application of mechanical stress by applying steady tensile or compressive forces
- G01N3/18—Performing tests at high or low temperatures
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Investigating Strength Of Materials By Application Of Mechanical Stress (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
(イ) 産業上の利用分野
この発明は、試験片を連続的に高温材料試験す
る高温連続材料試験装置に関するものである。
る高温連続材料試験装置に関するものである。
(ロ) 従来技術
連続的に高温材料試験するには、複数の試験片
を高温炉内で支持台上に支持し、この支持台を適
当なガイド機構によつて移動可能に案内すればよ
い。そして、支持台を適当な操作機構によつて試
験片のピツチに相当する距離だけ移動させると、
各試験片を順次試験位置に送ることができ、連続
的に高温材料試験することができる。この種の試
験装置において、従来は、高温炉内に支持台のガ
イド機構および操作機構を設けていた。しかしな
がら、この種のガイド機構および操作機構は形状
が複雑であり、その加工は容易ではない。一方、
周知のようにセラミツクスなどの耐熱材料は加工
性が悪い。したがつて、支持台のガイド機構およ
び操作機構に耐熱材料を使用することができな
い。このため、特に超高温雰囲気において材料試
験するとき、支持台のガイド機構および操作機構
が熱膨張し、試験結果に影響する。ガイド機構お
よび操作機構の耐熱強度にも限界があり、超高温
試験するのが実用的ではなかつた。
を高温炉内で支持台上に支持し、この支持台を適
当なガイド機構によつて移動可能に案内すればよ
い。そして、支持台を適当な操作機構によつて試
験片のピツチに相当する距離だけ移動させると、
各試験片を順次試験位置に送ることができ、連続
的に高温材料試験することができる。この種の試
験装置において、従来は、高温炉内に支持台のガ
イド機構および操作機構を設けていた。しかしな
がら、この種のガイド機構および操作機構は形状
が複雑であり、その加工は容易ではない。一方、
周知のようにセラミツクスなどの耐熱材料は加工
性が悪い。したがつて、支持台のガイド機構およ
び操作機構に耐熱材料を使用することができな
い。このため、特に超高温雰囲気において材料試
験するとき、支持台のガイド機構および操作機構
が熱膨張し、試験結果に影響する。ガイド機構お
よび操作機構の耐熱強度にも限界があり、超高温
試験するのが実用的ではなかつた。
(ハ) 目的
したがつて、この発明は、超高温雰囲気中でも
試験片を連続的に材料試験ができ、構成部品の加
工が容易でかつ精密な試験のできる高温連続材料
試験装置を提供することを目的とする。
試験片を連続的に材料試験ができ、構成部品の加
工が容易でかつ精密な試験のできる高温連続材料
試験装置を提供することを目的とする。
(ニ) 構成
この発明によれば、試験片の支持台を高温炉内
に収容し、複数の試験片を前記支持台上に支持
し、前記各試験片を水平の直線に沿つて配列する
とともに、前記支持台を前記試験片の配列方向に
その配列ピツチに相当する距離だけ直線移動さ
せ、前記各試験片を順次試験位置に送るようにし
た材料試験装置において、前記高温炉の底面に前
記試験片の配列方向にのびる貫通溝を形成し、前
記支持台を前記貫通溝から前記高温炉の下方に突
出させ、その突出部分に前記貫通溝よりも長い断
熱板を設け、前記断熱板によつて前記貫通溝と前
記支持台間を密封し、前記支持台を前記試験片の
配列方向に直線移動可能に案内し前記支持台と別
部材からなるガイド機構および前記支持台と別部
材からなり前記支持台を前記試験片の配列方向に
直線移動させるための操作機構を前記断熱板より
も下方に設けたことを特徴とする。
に収容し、複数の試験片を前記支持台上に支持
し、前記各試験片を水平の直線に沿つて配列する
とともに、前記支持台を前記試験片の配列方向に
その配列ピツチに相当する距離だけ直線移動さ
せ、前記各試験片を順次試験位置に送るようにし
た材料試験装置において、前記高温炉の底面に前
記試験片の配列方向にのびる貫通溝を形成し、前
記支持台を前記貫通溝から前記高温炉の下方に突
出させ、その突出部分に前記貫通溝よりも長い断
熱板を設け、前記断熱板によつて前記貫通溝と前
記支持台間を密封し、前記支持台を前記試験片の
配列方向に直線移動可能に案内し前記支持台と別
部材からなるガイド機構および前記支持台と別部
材からなり前記支持台を前記試験片の配列方向に
直線移動させるための操作機構を前記断熱板より
も下方に設けたことを特徴とする。
(ホ) 実施例
以下、この発明の実施例を図面について説明す
る。
る。
図において、試験片１は高温炉２内で支持台３
上に支持される。この実施例では、３つの試験片
１が支持台３上に支持されている。材料試験する
とき、負荷ロツド４によつて試験片１に圧縮また
は曲げ荷重が与えられる。負荷ロツド４は、ロー
ドセル５を介してクロスヘツド６に連結されてい
る。
上に支持される。この実施例では、３つの試験片
１が支持台３上に支持されている。材料試験する
とき、負荷ロツド４によつて試験片１に圧縮また
は曲げ荷重が与えられる。負荷ロツド４は、ロー
ドセル５を介してクロスヘツド６に連結されてい
る。
支持台３は、高温炉２の塾面を貫通し、その外
部に突出する。この実施例では、高温炉２の底面
に支持台３の厚さよりもわずかに大きい幅の貫通
溝７が形成され、支持台３はこの貫通溝７にスラ
イド可能に挿入され、高温炉２の底面を貫通し、
その下方に突出している。さらに、貫通溝７から
高温炉２内に外気が流入しないよう支持台３に固
定された断熱板８によつて貫通溝７と支持台３間
が密封されている。断熱板８は、貫通溝７よりも
長く、支持台３が移動してもそれに関係なく貫通
溝７と支持台３間を密封することができる。
部に突出する。この実施例では、高温炉２の底面
に支持台３の厚さよりもわずかに大きい幅の貫通
溝７が形成され、支持台３はこの貫通溝７にスラ
イド可能に挿入され、高温炉２の底面を貫通し、
その下方に突出している。さらに、貫通溝７から
高温炉２内に外気が流入しないよう支持台３に固
定された断熱板８によつて貫通溝７と支持台３間
が密封されている。断熱板８は、貫通溝７よりも
長く、支持台３が移動してもそれに関係なく貫通
溝７と支持台３間を密封することができる。
支持台３は、高温炉２の外部に設けられたガイ
ド機構によつて移動可能に案内される。ガイド機
構は基板１０にスライド可能に案内されたスライ
ドベース９からなり、支持台３はこのスライドベ
ース９に固定されている。
ド機構によつて移動可能に案内される。ガイド機
構は基板１０にスライド可能に案内されたスライ
ドベース９からなり、支持台３はこのスライドベ
ース９に固定されている。
なお、スライドベース９は支持台３と別部材で
あり、その耐熱性は考慮されない。
あり、その耐熱性は考慮されない。
支持台３は、高温炉２の外部に設けられた操作
機構によつて試験片１のピツチに相当する距離だ
け移動するよう操作される。操作機構はスライド
ベース９のスライド方向と平行に配置された送り
ネジ１１からなり、送りネジ１１は一端に送りハ
ンドル１２を有し、基板１０に回転可能に支持さ
れ、スライドベース９にねじ合わされている。ス
ライドベース９は支持台３の送り量を表わす目盛
１３を有し、基板１０はスライドベース９の目盛
１３を読み取る指標１４を有する。目盛１３は、
試験片１のピツチに相当する間隔をおいて付され
ている。
機構によつて試験片１のピツチに相当する距離だ
け移動するよう操作される。操作機構はスライド
ベース９のスライド方向と平行に配置された送り
ネジ１１からなり、送りネジ１１は一端に送りハ
ンドル１２を有し、基板１０に回転可能に支持さ
れ、スライドベース９にねじ合わされている。ス
ライドベース９は支持台３の送り量を表わす目盛
１３を有し、基板１０はスライドベース９の目盛
１３を読み取る指標１４を有する。目盛１３は、
試験片１のピツチに相当する間隔をおいて付され
ている。
この試験装置において、試験片１は高温炉２に
よつてあらかじめ定められた設定温度まで加熱さ
れる。試験片１に試験荷重を与えるには、クロス
ヘツド６を下降させ、負荷ロツド４を試験片１に
接触させればよい。負荷ロツド４は、試験片１に
圧縮または曲げ荷重を与える。その反力は、支持
台３によつて支持される。ロードセル５は、試験
片１に与えられる試験荷重を検出する。したがつ
て、試験片１を高温材料試験することができる。
クロスヘツド６を上昇させ、負荷ロツド４によつ
て試験片１に引張荷重を与えることも可能であ
る。
よつてあらかじめ定められた設定温度まで加熱さ
れる。試験片１に試験荷重を与えるには、クロス
ヘツド６を下降させ、負荷ロツド４を試験片１に
接触させればよい。負荷ロツド４は、試験片１に
圧縮または曲げ荷重を与える。その反力は、支持
台３によつて支持される。ロードセル５は、試験
片１に与えられる試験荷重を検出する。したがつ
て、試験片１を高温材料試験することができる。
クロスヘツド６を上昇させ、負荷ロツド４によつ
て試験片１に引張荷重を与えることも可能であ
る。
各試験片１を連続的に材料試験するには、特定
の試験片１の試験が完了した後、ハンドル１２に
よつて送りネジ１１を回転操作すればよい。スラ
イドベース９は、送りネジ１１のネジ送り作用に
よつて移動し、基板１０に沿つてスライドする。
支持台３は、スライドベース９と一体的に移動
し、高温炉２の貫通溝７に沿つてスライドする。
したがつて、スライドベース９の各目盛１３が基
板１０の指標１４と合致するまで送りネジ１１を
回転操作すると、各試験片１を順次負荷ロツド４
の位置に移動させることができ、試験位置に送る
ことができる。したがつて、各試験片１を連続的
に試験することができる。また、高温炉２によつ
て最初の試験片１を加熱するとき、その他の試験
片１も同時に加熱されるため、試験毎にあらため
て試験片１を加熱する必要はない。
の試験片１の試験が完了した後、ハンドル１２に
よつて送りネジ１１を回転操作すればよい。スラ
イドベース９は、送りネジ１１のネジ送り作用に
よつて移動し、基板１０に沿つてスライドする。
支持台３は、スライドベース９と一体的に移動
し、高温炉２の貫通溝７に沿つてスライドする。
したがつて、スライドベース９の各目盛１３が基
板１０の指標１４と合致するまで送りネジ１１を
回転操作すると、各試験片１を順次負荷ロツド４
の位置に移動させることができ、試験位置に送る
ことができる。したがつて、各試験片１を連続的
に試験することができる。また、高温炉２によつ
て最初の試験片１を加熱するとき、その他の試験
片１も同時に加熱されるため、試験毎にあらため
て試験片１を加熱する必要はない。
この試験装置は、支持台３自体は形状が単純で
あり、これをセラミツクなどの耐熱材料で形成す
ることができる。負荷ロツド４についても同様で
あり、形状が単純であるため、耐熱材料を使用す
ることができる。したがつて、支持台３および負
荷ロツド４が熱膨張するおそれはない。その耐熱
強度も十分に大きくすることができ、超高温雰囲
気でも試験片１を支障なく材料試験することがで
きる。スライドベース９、基板１０および送りネ
ジ１１については、支持台３と別部材であり、高
温炉２の外部に設けられているため、耐熱材料を
使用する必要はなく、加工性の良い材料を使用す
ることができる。
あり、これをセラミツクなどの耐熱材料で形成す
ることができる。負荷ロツド４についても同様で
あり、形状が単純であるため、耐熱材料を使用す
ることができる。したがつて、支持台３および負
荷ロツド４が熱膨張するおそれはない。その耐熱
強度も十分に大きくすることができ、超高温雰囲
気でも試験片１を支障なく材料試験することがで
きる。スライドベース９、基板１０および送りネ
ジ１１については、支持台３と別部材であり、高
温炉２の外部に設けられているため、耐熱材料を
使用する必要はなく、加工性の良い材料を使用す
ることができる。
なお、この実施例では、送りネジ１１のネジ送
り作用によつて支持台３を移動させるようにした
ものについて説明したが、その他の操作機構を使
用することもできる。支持台３のガイド機構に
も、スライドベース１０の他に種々のものが考え
られる。
り作用によつて支持台３を移動させるようにした
ものについて説明したが、その他の操作機構を使
用することもできる。支持台３のガイド機構に
も、スライドベース１０の他に種々のものが考え
られる。
(ヘ) 効果
本発明の高温連続材料試験装置は上記のように
構成されているので、次のような効果を有する。
すなわち、貫通溝は高温炉の底面に形成され、断
熱板により貫通溝と支持台間を密封しているの
で、高温炉からの熱の散逸が極めて少ない。ま
た、支持台を貫通溝に沿つて移動させると、断熱
板も支持台と一緒に移動するが、断熱板は貫通溝
よりも長いので貫通溝と支持台間は常に密封さ
れ、高温炉の雰囲気を保つことができる。さら
に、高温炉内に超高温雰囲気を生じさせるとき、
耐熱材料によつて支持台を形成し、支持台が熱膨
張しないようにすることができる。支技台は試験
片を支特することができる形状のものであればよ
く、単純な形状をしているので加工性の悪い耐熱
材料であつても、これを形成するのは容易であ
る。ガイド機構および操作機構については、これ
らを支持台と別部材で断熱板よりも下方に設ける
ことができ、高温炉からの熱影響が皆無に等し
い。したがつて、これらは耐熱材料によつて加工
する必要はなく、加工性の良い他の材料で加工す
ることができ、また、試験片の精密な位置決めが
できる。このようにして、超高温雰囲気中でも試
験片を連続的に材料試験ができ、構成部品の加工
が容易でかつ精密な試験ができる。
構成されているので、次のような効果を有する。
すなわち、貫通溝は高温炉の底面に形成され、断
熱板により貫通溝と支持台間を密封しているの
で、高温炉からの熱の散逸が極めて少ない。ま
た、支持台を貫通溝に沿つて移動させると、断熱
板も支持台と一緒に移動するが、断熱板は貫通溝
よりも長いので貫通溝と支持台間は常に密封さ
れ、高温炉の雰囲気を保つことができる。さら
に、高温炉内に超高温雰囲気を生じさせるとき、
耐熱材料によつて支持台を形成し、支持台が熱膨
張しないようにすることができる。支技台は試験
片を支特することができる形状のものであればよ
く、単純な形状をしているので加工性の悪い耐熱
材料であつても、これを形成するのは容易であ
る。ガイド機構および操作機構については、これ
らを支持台と別部材で断熱板よりも下方に設ける
ことができ、高温炉からの熱影響が皆無に等し
い。したがつて、これらは耐熱材料によつて加工
する必要はなく、加工性の良い他の材料で加工す
ることができ、また、試験片の精密な位置決めが
できる。このようにして、超高温雰囲気中でも試
験片を連続的に材料試験ができ、構成部品の加工
が容易でかつ精密な試験ができる。
第１図はこの発明の一実施例を示す断面図、第
２図は第１図の−線断面図である。 １……試験片、２……高温炉、３……支持台、
９……スライドベース、１０……基板、１１……
送りネジ、１２……ハンドル。
２図は第１図の−線断面図である。 １……試験片、２……高温炉、３……支持台、
９……スライドベース、１０……基板、１１……
送りネジ、１２……ハンドル。
Claims (1)
- １ 試験片の支持台を高温炉内に収容し、複数の
試験片を前記支持台上に支持し、前記各試験片を
水平の直線に沿つて配列するとともに、前記支持
台を前記試験片の配列方向にその配列ピツチに相
当する距離だけ直線移動させ、前記各試験片を順
次試験位置に送るようにした材料試験装置におい
て、前記高温炉の底面に前記試験片の配列方向に
のびる貫通溝を形成し、前記支持台を前記貫通溝
から前記高温炉の下方に突出させ、その突出部分
に前記貫通溝よりも長い断熱板を設け、前記断熱
板によつて前記貫通溝と前記支持台間を密封し、
前記支持台を前記試験片の配列方向に直線移動可
能に案内し前記支持台と別部材からなるガイド機
構および前記支持台と別部材からなり前記支持台
を前記試験片の配列方向に直線移動させるための
操作機構を前記断熱板よりも下方に設けたことを
特徴とする高温連続材料試験装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP14861083A JPS6039529A (ja) | 1983-08-12 | 1983-08-12 | 高温連続材料試験装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP14861083A JPS6039529A (ja) | 1983-08-12 | 1983-08-12 | 高温連続材料試験装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6039529A JPS6039529A (ja) | 1985-03-01 |
| JPH0430539B2 true JPH0430539B2 (ja) | 1992-05-22 |
Family
ID=15456624
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP14861083A Granted JPS6039529A (ja) | 1983-08-12 | 1983-08-12 | 高温連続材料試験装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6039529A (ja) |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2649056B2 (ja) * | 1988-04-22 | 1997-09-03 | 川崎炉材株式会社 | 熱間強度試験装置 |
| CN113063652A (zh) * | 2021-03-22 | 2021-07-02 | 西北工业大学 | 一种用于低温环境试验箱结冰试验的加载测量装置 |
Family Cites Families (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5560837A (en) * | 1978-10-31 | 1980-05-08 | Japan Atom Energy Res Inst | Continuous test device |
| JPS587936A (ja) * | 1981-07-07 | 1983-01-17 | Nec Corp | 自動歪等化回路 |
| JPS5869260U (ja) * | 1981-10-31 | 1983-05-11 | 株式会社島津製作所 | 高温曲げまたは圧縮試験装置 |
-
1983
- 1983-08-12 JP JP14861083A patent/JPS6039529A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS6039529A (ja) | 1985-03-01 |
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