JPH04306520A - マイクロ機械加工スイッチおよびその製造方法 - Google Patents
マイクロ機械加工スイッチおよびその製造方法Info
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- JPH04306520A JPH04306520A JP3285097A JP28509791A JPH04306520A JP H04306520 A JPH04306520 A JP H04306520A JP 3285097 A JP3285097 A JP 3285097A JP 28509791 A JP28509791 A JP 28509791A JP H04306520 A JPH04306520 A JP H04306520A
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- Rotary Switch, Piano Key Switch, And Lever Switch (AREA)
- Drying Of Semiconductors (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は一般に電気スイッチ、特
に集積回路処理技術を使用して集積回路基体上に製造さ
れることができるタイプのマイクロ機械加工され、静的
に電付勢されることのできるスイッチに関する。
に集積回路処理技術を使用して集積回路基体上に製造さ
れることができるタイプのマイクロ機械加工され、静的
に電付勢されることのできるスイッチに関する。
【0002】
【従来の技術】高密度の集積回路によりパワー、寸法お
よび空間制限は非常に重要である。例えば、それらの寸
法のために、半導体スイッチは集積回路ウェハの誘電基
体上で製造されている。半導体スイッチは電気抵抗を有
するため、それらは非常に低いエネルギレベルの信号に
より回路デザイナに対して大きい問題を提示するスイッ
チ信号中におけるパワー損失を生じる。例えば、信号の
パワーレベルの上昇は回路に付加的な熱負荷を与える可
能性が高く、除去されなければならない。
よび空間制限は非常に重要である。例えば、それらの寸
法のために、半導体スイッチは集積回路ウェハの誘電基
体上で製造されている。半導体スイッチは電気抵抗を有
するため、それらは非常に低いエネルギレベルの信号に
より回路デザイナに対して大きい問題を提示するスイッ
チ信号中におけるパワー損失を生じる。例えば、信号の
パワーレベルの上昇は回路に付加的な熱負荷を与える可
能性が高く、除去されなければならない。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】その代りとして、電子
・機械加工されたスイッチは低い抵抗を有しており、し
たがってスイッチされた信号において大きいパワー損失
を生じない。しかしながら、現在までこのようなスイッ
チは典型的に集積回路チップの寸法に対して著しく大き
い。例えば、多数のスイッチはチップと同じ寸法または
それより大きくなる可能性がある。さらに、それらの寸
法のためにスイッチは典型的にチップ面からずれて位置
される。したがって、回路に対する空間要求が著しく高
められ、その結果全体的な回路密度が低下する。さらに
、これらの電子・機械的スイッチはそれら自身の比較的
大きいパワーを必要とする。
・機械加工されたスイッチは低い抵抗を有しており、し
たがってスイッチされた信号において大きいパワー損失
を生じない。しかしながら、現在までこのようなスイッ
チは典型的に集積回路チップの寸法に対して著しく大き
い。例えば、多数のスイッチはチップと同じ寸法または
それより大きくなる可能性がある。さらに、それらの寸
法のためにスイッチは典型的にチップ面からずれて位置
される。したがって、回路に対する空間要求が著しく高
められ、その結果全体的な回路密度が低下する。さらに
、これらの電子・機械的スイッチはそれら自身の比較的
大きいパワーを必要とする。
【0004】さらに、マイクロ波、ミリメータ波および
高いデータ率の信号処理に対して、伝送された信号が集
積回路チップからウェハから離れたスイッチまで進み、
チップに戻る距離は結果的に回路デザイナによって計算
されなければならない信号における大きい時間遅延を生
じる。
高いデータ率の信号処理に対して、伝送された信号が集
積回路チップからウェハから離れたスイッチまで進み、
チップに戻る距離は結果的に回路デザイナによって計算
されなければならない信号における大きい時間遅延を生
じる。
【0005】マイクロ機械加工の出現により、薄膜集積
回路技術を使用して機械的および電子・機械的装置を製
造することが適切であることが認められている。ある特
定の例は、米国特許第4,740,410 号明細書(
R.S.Muller氏他“Micro Mechan
ical Elements and Method
for their Fabrication”198
8年4月26日出願)に参照されたレバー、ギア、シリ
ンダおよびスプリングである。さらに、回転能モータお
よび直線モータ等の電子・機械的装置は米国特許第4,
754,185 号明細書(K.J.Gabriel
氏他“Micro−Electrostatic Mo
tor ”1988年6月28日)に記載されている。
回路技術を使用して機械的および電子・機械的装置を製
造することが適切であることが認められている。ある特
定の例は、米国特許第4,740,410 号明細書(
R.S.Muller氏他“Micro Mechan
ical Elements and Method
for their Fabrication”198
8年4月26日出願)に参照されたレバー、ギア、シリ
ンダおよびスプリングである。さらに、回転能モータお
よび直線モータ等の電子・機械的装置は米国特許第4,
754,185 号明細書(K.J.Gabriel
氏他“Micro−Electrostatic Mo
tor ”1988年6月28日)に記載されている。
【0006】
【課題解決のための手段】上記の問題を解決する場合、
本発明は集積回路処理技術を使用して集積回路チップの
誘電基体上に製造されるマイクロ・機械加工され、静電
的に付勢された機械的スイッチで実現される。特に、ハ
ブおよびスイッチブレードは集積回路処理技術を使用し
て基体上に製造される。これは結果的に基体上に形成さ
れた制御部材によって生成された静電力の影響下でハブ
を中心にして回転されることができるスイッチブレード
を生成する。したがって、スイッチブレードは伝送信号
がマイクロ小型スイッチによって選択的にオンおよびオ
フに切替えられるようにチップ上に形成された伝送ライ
ンの中間に形成したギャップを開閉するために回転され
ることができる。また基体上に形成された多数の伝送ラ
インからの信号を選択的にスイッチし、分配する多投ス
イッチを製造することもできる。
本発明は集積回路処理技術を使用して集積回路チップの
誘電基体上に製造されるマイクロ・機械加工され、静電
的に付勢された機械的スイッチで実現される。特に、ハ
ブおよびスイッチブレードは集積回路処理技術を使用し
て基体上に製造される。これは結果的に基体上に形成さ
れた制御部材によって生成された静電力の影響下でハブ
を中心にして回転されることができるスイッチブレード
を生成する。したがって、スイッチブレードは伝送信号
がマイクロ小型スイッチによって選択的にオンおよびオ
フに切替えられるようにチップ上に形成された伝送ライ
ンの中間に形成したギャップを開閉するために回転され
ることができる。また基体上に形成された多数の伝送ラ
インからの信号を選択的にスイッチし、分配する多投ス
イッチを製造することもできる。
【0007】このようなスイッチを製造するプロセスは
、基体上にフォトレジストの層および導電材料および誘
電材料の層を積層することを含み、スイッチ素子用のパ
ターンのリソグラフ形成およびこのようなスイッチ素子
を形成するためのフォトレジストおよび導電および誘電
材料の選択的な除去を伴う。
、基体上にフォトレジストの層および導電材料および誘
電材料の層を積層することを含み、スイッチ素子用のパ
ターンのリソグラフ形成およびこのようなスイッチ素子
を形成するためのフォトレジストおよび導電および誘電
材料の選択的な除去を伴う。
【0008】
【発明の効果】このスイッチおよびプロセスには種々の
利点がある。特に、マイクロ小型スイッチは集積回路の
製造時と同じ処理技術を使用してチップ基体上でバッチ
製造されることができる。したがって、集積回路が製造
されると同時に、非常に小さい空間しか必要とせず、容
易に複製されるスイッチが製造されることができる。さ
らに、スイッチのある実施例はd.c.からマイクロ波
およびミリメータ波までの周波数範囲内で信号をスイッ
チングすることができる。他の例はDCおよび低周波信
号をフィルタするために選択される帯域幅である。スイ
ッチはまたスイッチが閉位置にある場合に伝送ラインに
優れたインピーダンス整合を提供する。結果として、ス
イッチはマイクロ波およびミリメータ波信号スイッチン
グ用として特に有効である。さらに、マイクロ機械加工
されたスイッチは放射線に対して耐性がある。
利点がある。特に、マイクロ小型スイッチは集積回路の
製造時と同じ処理技術を使用してチップ基体上でバッチ
製造されることができる。したがって、集積回路が製造
されると同時に、非常に小さい空間しか必要とせず、容
易に複製されるスイッチが製造されることができる。さ
らに、スイッチのある実施例はd.c.からマイクロ波
およびミリメータ波までの周波数範囲内で信号をスイッ
チングすることができる。他の例はDCおよび低周波信
号をフィルタするために選択される帯域幅である。スイ
ッチはまたスイッチが閉位置にある場合に伝送ラインに
優れたインピーダンス整合を提供する。結果として、ス
イッチはマイクロ波およびミリメータ波信号スイッチン
グ用として特に有効である。さらに、マイクロ機械加工
されたスイッチは放射線に対して耐性がある。
【0009】付加的な利点は、スイッチがオン位置にお
いて非常に小さい電気抵抗および低い挿入損失を呈し、
したがって重要な帯域幅に対して非常にパワー損失が小
さいことである。また、スイッチは重要な帯域幅に対し
て高い絶縁性を呈する。さらに、スイッチは伝送信号が
スイッチされるために進むために必要な距離をあまり付
加しない。さらに、スイッチ自身はオンとオフ位置間で
スイッチブレードを回転し、これらの位置にスイッチブ
レードを保持するために非常に小さいパワーしか必要と
しない。その結果、スイッチの付加的な電力要求は著し
く低い。
いて非常に小さい電気抵抗および低い挿入損失を呈し、
したがって重要な帯域幅に対して非常にパワー損失が小
さいことである。また、スイッチは重要な帯域幅に対し
て高い絶縁性を呈する。さらに、スイッチは伝送信号が
スイッチされるために進むために必要な距離をあまり付
加しない。さらに、スイッチ自身はオンとオフ位置間で
スイッチブレードを回転し、これらの位置にスイッチブ
レードを保持するために非常に小さいパワーしか必要と
しない。その結果、スイッチの付加的な電力要求は著し
く低い。
【0010】
【実施例】図面をさらに詳細に参照すると、図1の上面
図に示されているようにマイクロ機械加工されたスイッ
チ10は基体12上に製造される。基体12は優れた誘
電体であり、半導体装置および伝送ラインがその上で製
造されることができるため、ヒ化ガリウムから形成され
ることが好ましい。例えばシリコン、サファイヤまたは
リン化インジウムのような他の材料が基体12に対して
使用されることができると考えられる。
図に示されているようにマイクロ機械加工されたスイッ
チ10は基体12上に製造される。基体12は優れた誘
電体であり、半導体装置および伝送ラインがその上で製
造されることができるため、ヒ化ガリウムから形成され
ることが好ましい。例えばシリコン、サファイヤまたは
リン化インジウムのような他の材料が基体12に対して
使用されることができると考えられる。
【0011】以下図3のa乃至dを参照してさらに詳細
に説明されるように、スイッチブレード14は基体12
上に製造され、ハブ16が形成されて、集積回路処理技
術を使用して基体に結合される。入力セグメント26お
よび出力セグメント28を有する伝送ラインもまた基体
12の表面上に製造される。スイッチブレード14は細
長い直線構造であり、スイッチブレード14が基体12
の上面の平面に平行な平面において回転するようにハブ
16上に回転可能に取付けられる。スイッチブレード1
4の端部は、特性インピーダンスが実質的に同一である
ように入力セグメント26および出力セグメント28と
同じ幅および面積であることが好ましい。さらに、ブレ
ード14の端部および伝送ラインセグメント26および
28はハブ16の軸に対して同心的であるように弧をな
すように構成されている。ブレード14は導電性であり
、チタニウムおよび金の薄い層のような材料から形成さ
れている。
に説明されるように、スイッチブレード14は基体12
上に製造され、ハブ16が形成されて、集積回路処理技
術を使用して基体に結合される。入力セグメント26お
よび出力セグメント28を有する伝送ラインもまた基体
12の表面上に製造される。スイッチブレード14は細
長い直線構造であり、スイッチブレード14が基体12
の上面の平面に平行な平面において回転するようにハブ
16上に回転可能に取付けられる。スイッチブレード1
4の端部は、特性インピーダンスが実質的に同一である
ように入力セグメント26および出力セグメント28と
同じ幅および面積であることが好ましい。さらに、ブレ
ード14の端部および伝送ラインセグメント26および
28はハブ16の軸に対して同心的であるように弧をな
すように構成されている。ブレード14は導電性であり
、チタニウムおよび金の薄い層のような材料から形成さ
れている。
【0012】非常に小さく、集積回路チップ上に容易に
適合することができるスイッチブレード14が製造され
る。例えば、スイッチブレードは典型的に長さ1000
ミクロン、幅100 ミクロンおよび厚さ2ミクロンで
ある。
適合することができるスイッチブレード14が製造され
る。例えば、スイッチブレードは典型的に長さ1000
ミクロン、幅100 ミクロンおよび厚さ2ミクロンで
ある。
【0013】伝送ラインセグメント26,28は、ハブ
16の軸を通って延在する放射線に沿って直径的に互い
に対向し、好ましくは電気めっきによって金から製造さ
れる。 伝送ラインセグメント26および28の各アーチ形の端
部はハブ16から等しい距離である。したがって、スイ
ッチブレード14が図1に示されたようにオン位置に回
転されたとき、スイッチブレード14のアーチ形の端部
は間隔を隔てられて接触せずに伝送ライン26および2
8の表面と整合する表面区域を提供する。ブレード14
および伝送ラインセグメント26および28の整合端部
間のエアギャップは蓄積されたエネルギ密度降下を実際
に減少するためにできるだけ短くされるべきである。例
えば、ギャップは入力伝送ラインセグメント26上で最
も高い周波数入力信号の波長の約0.1 より小さくな
ければならない。約0.5ミクロン乃至約5.0 ミク
ロンの幅のエアギャップが実際的である。実質的に大き
いエアギャップは蓄積されたエネルギ降下をかなり増加
する。典型的に、整合した端部間の均一のエアギャップ
は約1ミクロンである。
16の軸を通って延在する放射線に沿って直径的に互い
に対向し、好ましくは電気めっきによって金から製造さ
れる。 伝送ラインセグメント26および28の各アーチ形の端
部はハブ16から等しい距離である。したがって、スイ
ッチブレード14が図1に示されたようにオン位置に回
転されたとき、スイッチブレード14のアーチ形の端部
は間隔を隔てられて接触せずに伝送ライン26および2
8の表面と整合する表面区域を提供する。ブレード14
および伝送ラインセグメント26および28の整合端部
間のエアギャップは蓄積されたエネルギ密度降下を実際
に減少するためにできるだけ短くされるべきである。例
えば、ギャップは入力伝送ラインセグメント26上で最
も高い周波数入力信号の波長の約0.1 より小さくな
ければならない。約0.5ミクロン乃至約5.0 ミク
ロンの幅のエアギャップが実際的である。実質的に大き
いエアギャップは蓄積されたエネルギ降下をかなり増加
する。典型的に、整合した端部間の均一のエアギャップ
は約1ミクロンである。
【0014】制御パッドの対18ー19,20−21お
よび22−23はまた基体2 の表面上に形成されるこ
とができる。各対18ー19,20−21および22−
23の個々の制御パッドはハブ16の軸を通って延在す
る放射線に沿って直径的に互いにほぼ対向するように配
置され、伝送ラインセグメント26および28の端部の
位置から角度的に移動される。これらのパッドを製造す
るために使用される材料は好ましくは電気めっきによる
金である。図2のスイッチング信号波形を参照して詳細
に説明されるように、電気信号AおよびBはオンすなわ
ち閉回路位置と図1で破線で表わされるオフすなわち開
回路位置との間でスイッチブレード14を効果的に回転
させる静電界をそれぞれ生成するように制御パッド対1
8−19に、その後制御パッド対20−21に供給され
る。スイッチブレード14がオンとオフ位置間で回転さ
れたとき、ギャップが生じ、したがってスイッチブレー
ド14と制御パッド対18−19および、または20−
21間に電気的絶縁が生じる。
よび22−23はまた基体2 の表面上に形成されるこ
とができる。各対18ー19,20−21および22−
23の個々の制御パッドはハブ16の軸を通って延在す
る放射線に沿って直径的に互いにほぼ対向するように配
置され、伝送ラインセグメント26および28の端部の
位置から角度的に移動される。これらのパッドを製造す
るために使用される材料は好ましくは電気めっきによる
金である。図2のスイッチング信号波形を参照して詳細
に説明されるように、電気信号AおよびBはオンすなわ
ち閉回路位置と図1で破線で表わされるオフすなわち開
回路位置との間でスイッチブレード14を効果的に回転
させる静電界をそれぞれ生成するように制御パッド対1
8−19に、その後制御パッド対20−21に供給され
る。スイッチブレード14がオンとオフ位置間で回転さ
れたとき、ギャップが生じ、したがってスイッチブレー
ド14と制御パッド対18−19および、または20−
21間に電気的絶縁が生じる。
【0015】スイッチブレード14の回転の別の制御は
、ブレード14の回転の平面に延在するように十分に高
い基体12の表面上に製造された2つの機械的停止部材
34および36によって行われる。各停止部材34およ
び36の1つの壁は、伝送ラインセグメント26および
28の反対側の側壁の平面の延長のラインに沿って位置
され、制御パッド22および23並びに伝送ラインセグ
メント26および28の両方から物理的に変位される。 これらの停止部材はまた金から形成され、閉位置を越え
てスイッチブレード14の過剰な回転を防止するように
動作し、ブレード14の端部および伝送ラインセグメン
ト26および28の両表面間における表面積全体の整合
および特性インピーダンス整合を維持する。さらに、停
止部材34および36はスイッチブレード14が図1に
示された開位置から反時計方向に回転しなければならな
い場合、スイッチブレード14が伝送ラインセグメント
26および28により閉回路位置に不注意に回転するこ
とを阻止する。これらの停止部材34および36は間隔
を隔てられ、したがって伝送ラインセグメント26およ
び28から電気的に絶縁され、スイッチブレードの反時
計方向の回転の結果としてスイッチブレード14による
伝送ラインとの電気接触が行われることはない。
、ブレード14の回転の平面に延在するように十分に高
い基体12の表面上に製造された2つの機械的停止部材
34および36によって行われる。各停止部材34およ
び36の1つの壁は、伝送ラインセグメント26および
28の反対側の側壁の平面の延長のラインに沿って位置
され、制御パッド22および23並びに伝送ラインセグ
メント26および28の両方から物理的に変位される。 これらの停止部材はまた金から形成され、閉位置を越え
てスイッチブレード14の過剰な回転を防止するように
動作し、ブレード14の端部および伝送ラインセグメン
ト26および28の両表面間における表面積全体の整合
および特性インピーダンス整合を維持する。さらに、停
止部材34および36はスイッチブレード14が図1に
示された開位置から反時計方向に回転しなければならな
い場合、スイッチブレード14が伝送ラインセグメント
26および28により閉回路位置に不注意に回転するこ
とを阻止する。これらの停止部材34および36は間隔
を隔てられ、したがって伝送ラインセグメント26およ
び28から電気的に絶縁され、スイッチブレードの反時
計方向の回転の結果としてスイッチブレード14による
伝送ラインとの電気接触が行われることはない。
【0016】ブレード14が閉位置にある場合、ブレー
ド14の端部とラインセグメント26および28の端部
の表面間の小さいエアギャップはギャップに横切る高周
波信号の伝送だけを許し、したがって全d.c.および
低周波信号は遮断され、高周波バンドパスフィルタとし
て作用するスイッチになる。結果として、このスイッチ
10は特にマイクロ波およびミリメータ波用に有効であ
る。
ド14の端部とラインセグメント26および28の端部
の表面間の小さいエアギャップはギャップに横切る高周
波信号の伝送だけを許し、したがって全d.c.および
低周波信号は遮断され、高周波バンドパスフィルタとし
て作用するスイッチになる。結果として、このスイッチ
10は特にマイクロ波およびミリメータ波用に有効であ
る。
【0017】オン位置とオフ位置との間でスイッチ10
を切替えるために、図2に示された制御電圧信号Aおよ
びBは制御パッド18および19、或は制御パッドに接
続された導線に沿って制御パッド20および21に選択
的に供給される。別の制御信号CおよびDは伝送ライン
セグメント26および28にそれぞれ供給される。その
代りとして、制御電圧信号CおよびDは伝送ラインセグ
メント26および28の端部に隣接して位置されている
が、そこから絶縁されている制御パッド22−23の対
に供給されることができる。
を切替えるために、図2に示された制御電圧信号Aおよ
びBは制御パッド18および19、或は制御パッドに接
続された導線に沿って制御パッド20および21に選択
的に供給される。別の制御信号CおよびDは伝送ライン
セグメント26および28にそれぞれ供給される。その
代りとして、制御電圧信号CおよびDは伝送ラインセグ
メント26および28の端部に隣接して位置されている
が、そこから絶縁されている制御パッド22−23の対
に供給されることができる。
【0018】特に、閉位置から約45°ブレードを回転
するように基準電圧レベルに関する第1の電圧極性の制
御信号Aは制御パッド18に供給され、基準電圧レベル
に関する逆の電圧極性の制御信号Bは制御パッド19に
供給される。制御信号CおよびDはそれぞれ第1および
第2の極性レベル間の基準レベルとして参照される同じ
信号レベルである。その後、制御信号AおよびBは制御
パッド20および21にスイッチされる。これはブレー
ド14が回転され、図1における破線により示された完
全なオフ位置に保持されるようにそれをを引付ける静電
界を生成する。
するように基準電圧レベルに関する第1の電圧極性の制
御信号Aは制御パッド18に供給され、基準電圧レベル
に関する逆の電圧極性の制御信号Bは制御パッド19に
供給される。制御信号CおよびDはそれぞれ第1および
第2の極性レベル間の基準レベルとして参照される同じ
信号レベルである。その後、制御信号AおよびBは制御
パッド20および21にスイッチされる。これはブレー
ド14が回転され、図1における破線により示された完
全なオフ位置に保持されるようにそれをを引付ける静電
界を生成する。
【0019】しかしながら、図1に示されたようにスイ
ッチがその閉すなわちオン位置に回転される場合には、
電気制御信号AおよびBは制御パッド18および19に
順次供給され、同じ基準レベルに戻され、制御信号Cは
第1の電圧極性に変化され、制御信号Dは逆の極性レベ
ルに変化される。結果として、制御信号CおよびDによ
って生成された静電界は、示された閉すなわちオン位置
にスイッチブレード14を回転させて引付けて保持する
。
ッチがその閉すなわちオン位置に回転される場合には、
電気制御信号AおよびBは制御パッド18および19に
順次供給され、同じ基準レベルに戻され、制御信号Cは
第1の電圧極性に変化され、制御信号Dは逆の極性レベ
ルに変化される。結果として、制御信号CおよびDによ
って生成された静電界は、示された閉すなわちオン位置
にスイッチブレード14を回転させて引付けて保持する
。
【0020】しかしながら、スイッチ10をオフに回転
することが必要である場合、制御信号CおよびDは再度
切替えられて同じ基準電圧レベルに戻され、制御信号A
およびBは制御パッド18および19に、その後制御パ
ッド20および21に供給される。制御パッドによって
生成された静電界はスイッチブレード14を回転して、
図1において破線で示された開位置すなわちオフ位置に
戻す。制御パッド18および19または制御パッド20
および21の単一の対によりブレード14を回転するこ
とができることが理解されるべきである。
することが必要である場合、制御信号CおよびDは再度
切替えられて同じ基準電圧レベルに戻され、制御信号A
およびBは制御パッド18および19に、その後制御パ
ッド20および21に供給される。制御パッドによって
生成された静電界はスイッチブレード14を回転して、
図1において破線で示された開位置すなわちオフ位置に
戻す。制御パッド18および19または制御パッド20
および21の単一の対によりブレード14を回転するこ
とができることが理解されるべきである。
【0021】図1のスイッチを製造するための処理は図
3のa乃至dに示されている。図はスケール通りには描
かれていない。図3のaに示されているように、基体1
2はフォトレジスト52の第1の層が約1.5 ミクロ
ンの厚さに付着された実質的に平坦な面を有する。間隔
を隔てられた開口54および56のパターンは好ましく
はフォトリソグラフィによって現像液により開口パター
ンにおけるフォトレジストを除去してフォトレジスト5
2を貫通して基体12の表面まで形成される。
3のa乃至dに示されている。図はスケール通りには描
かれていない。図3のaに示されているように、基体1
2はフォトレジスト52の第1の層が約1.5 ミクロ
ンの厚さに付着された実質的に平坦な面を有する。間隔
を隔てられた開口54および56のパターンは好ましく
はフォトリソグラフィによって現像液により開口パター
ンにおけるフォトレジストを除去してフォトレジスト5
2を貫通して基体12の表面まで形成される。
【0022】次に、図3のbに示されるように約1.0
ミクロン厚さのフォトレジストの第2の層58が第1
の層52の上に付着される。小さい凹部60および62
は開口54および56と対応したこの第2のフォトレジ
スト層58の露出された上面に形成される。500オン
グストロームの厚さのチタニウムおよび約4500オン
グストロームの金の薄い層63は第2のフォトレジスト
層58の露出面上に付着される。これはチタニウムおよ
び金の蒸着によって行われる。したがって、小さいほぼ
円推形の突出部65は凹部において層63中に形成され
る。
ミクロン厚さのフォトレジストの第2の層58が第1
の層52の上に付着される。小さい凹部60および62
は開口54および56と対応したこの第2のフォトレジ
スト層58の露出された上面に形成される。500オン
グストロームの厚さのチタニウムおよび約4500オン
グストロームの金の薄い層63は第2のフォトレジスト
層58の露出面上に付着される。これはチタニウムおよ
び金の蒸着によって行われる。したがって、小さいほぼ
円推形の突出部65は凹部において層63中に形成され
る。
【0023】スイッチブレード14は層58の上部に第
3のフォトレジスト層64を供給することによって形成
され、ブレード14の構造に対応したパターンを形成す
るためにフォトリソグラフ法を使用する。露出されたブ
レードパターン領域は現像液により除去される。
3のフォトレジスト層64を供給することによって形成
され、ブレード14の構造に対応したパターンを形成す
るためにフォトリソグラフ法を使用する。露出されたブ
レードパターン領域は現像液により除去される。
【0024】次に、スイッチブレード14はチタニウム
および金の薄い層63の上部に付着された金の薄いフィ
ルム68により製造される。金のこの層はほぼ2ミクロ
ンの厚さであり、電気めっきによって付着されることが
好ましい。円筒形のベアリング66は、フォトレジスト
が露出され除去されないフォトレジスト64上のパター
ンのある位置にロータのブレード14の中心を通して形
成され、基体の表面の平面に垂直なベアリング軸を有す
る。これに関して、フォトレジスト層64は現像液によ
り選択的に除去され、金属63の薄い層の露出部分はイ
オンミーリングによって選択的に除去される。
および金の薄い層63の上部に付着された金の薄いフィ
ルム68により製造される。金のこの層はほぼ2ミクロ
ンの厚さであり、電気めっきによって付着されることが
好ましい。円筒形のベアリング66は、フォトレジスト
が露出され除去されないフォトレジスト64上のパター
ンのある位置にロータのブレード14の中心を通して形
成され、基体の表面の平面に垂直なベアリング軸を有す
る。これに関して、フォトレジスト層64は現像液によ
り選択的に除去され、金属63の薄い層の露出部分はイ
オンミーリングによって選択的に除去される。
【0025】図3のcに示されたように、ハブ16はブ
レード14の上部に約1.5 ミクロンの厚さに別のフ
ォトレジスト層74を供給することによって製造される
。その後、現像液によるフォトリソグラフ処理およびフ
ォトレジスト層74,58および52の選択的な除去に
よって、基体12の表面まで延在する円筒形の開口70
が生成され、それはベアリング66の直径よりも少し小
さい直径および基体の表面に垂直な軸を有する。
レード14の上部に約1.5 ミクロンの厚さに別のフ
ォトレジスト層74を供給することによって製造される
。その後、現像液によるフォトリソグラフ処理およびフ
ォトレジスト層74,58および52の選択的な除去に
よって、基体12の表面まで延在する円筒形の開口70
が生成され、それはベアリング66の直径よりも少し小
さい直径および基体の表面に垂直な軸を有する。
【0026】この時点で、ほぼ500 オングストロー
ムの厚さのチタニウムおよびほぼ4500オングストロ
ームの厚さの金の層76はフォトレジスト層74の露出
面にわたって付着され、開口70の壁を内張りする。チ
タニウムは、開口70の底部において基体12の露出さ
れたヒ化ガリウムに対して非常によく接着する。
ムの厚さのチタニウムおよびほぼ4500オングストロ
ームの厚さの金の層76はフォトレジスト層74の露出
面にわたって付着され、開口70の壁を内張りする。チ
タニウムは、開口70の底部において基体12の露出さ
れたヒ化ガリウムに対して非常によく接着する。
【0027】フォトリソグラフィによってキャップ78
用の円筒形パターンは付着されたフォトレジスト77の
1.5 乃至2.0 ミクロンの厚さの層に形成され、
開口70上の露出されたフォトレジストは現像液により
除去される。この段階において、キャップパターンの空
洞および開口70はめっきによって付着された金の層で
充填される。その結果、キャップ78を備えたハブ16
およびジャーナル80が形成される。キャップは、ブレ
ード14のジャーナル80およびベアリング66の両方
よりも大きい直径を有する。チタニウム72の薄い層は
金に良好に接着し、磨耗および摩擦を軽減する二重の滑
らかな面を提供する。
用の円筒形パターンは付着されたフォトレジスト77の
1.5 乃至2.0 ミクロンの厚さの層に形成され、
開口70上の露出されたフォトレジストは現像液により
除去される。この段階において、キャップパターンの空
洞および開口70はめっきによって付着された金の層で
充填される。その結果、キャップ78を備えたハブ16
およびジャーナル80が形成される。キャップは、ブレ
ード14のジャーナル80およびベアリング66の両方
よりも大きい直径を有する。チタニウム72の薄い層は
金に良好に接着し、磨耗および摩擦を軽減する二重の滑
らかな面を提供する。
【0028】スイッチ10は最終的に溶剤によりフォト
レジストの残りの層を全て溶解し、図3のdにおいて断
面で示されたスイッチ10に達するようにチタニウムお
よび金の層の露出部分をイオンミーリングすることによ
って製造される。
レジストの残りの層を全て溶解し、図3のdにおいて断
面で示されたスイッチ10に達するようにチタニウムお
よび金の層の露出部分をイオンミーリングすることによ
って製造される。
【0029】機能的にスイッチブレード14のベアリン
グ66はハブ16のジャーナル80を中心にして回転し
、一方ブレード14の下面上の突出部63および65は
基体12の表面上に乗っている。突出部63および65
は基体12の表面上にロータとなるブレード14を隔て
て配置し、それによってブレード14と基体12との間
の静電引力の影響を減少する。 突出部63および65は基体12との接触面積は小さい
ため、それらは低摩擦でスライドする。ブレード14は
キャップ78によってハブ16から外れることを防止さ
れている。
グ66はハブ16のジャーナル80を中心にして回転し
、一方ブレード14の下面上の突出部63および65は
基体12の表面上に乗っている。突出部63および65
は基体12の表面上にロータとなるブレード14を隔て
て配置し、それによってブレード14と基体12との間
の静電引力の影響を減少する。 突出部63および65は基体12との接触面積は小さい
ため、それらは低摩擦でスライドする。ブレード14は
キャップ78によってハブ16から外れることを防止さ
れている。
【0030】制御パッド18乃至23並びに伝送ライン
セグメント26および28並びに停止部材34および3
6の製造(図1)は図3のa乃至dに関する説明に含ま
れていないが、それらはそれに関連して説明された同じ
集積回路処理技術を使用してロータであるブレード14
およびハブ16の処理期間中に同様にして製造される。
セグメント26および28並びに停止部材34および3
6の製造(図1)は図3のa乃至dに関する説明に含ま
れていないが、それらはそれに関連して説明された同じ
集積回路処理技術を使用してロータであるブレード14
およびハブ16の処理期間中に同様にして製造される。
【0031】図4に示されたように、スイッチブレード
89の端部が伝送ラインセグメント98および100
の端部上を回転するスイッチ87の別の実施例が製造さ
れることができる。この実施例において、ハブ92のジ
ャーナル90はスイッチブレード89中のベアリングの
直径より大きい直径を持つ低いボス部分94を有する。 この下方ボス部分94の高さは伝送ラインセグメント9
8および100 の厚さよりも大きく、したがってスイ
ッチブレード89は回転され、制御パッド18乃至21
(図1)に供給された制御信号AおよびBによって生成
された静電界によって伝送ラインセグメント98および
100 と電気通信されるため、ブレード89の端部は
制御信号CおよびDによって生成された伝送ライン98
および100 の静電引力によって伝送ラインセグメン
ト98および100 の端部と重なる。約1000オン
グストロームの厚さの二酸化シリコンのような誘電体の
薄い層102 は伝送ラインセグメント98および10
0 の上部に蒸着され、ブレード89が伝送ラインセグ
メントと接触して短絡することを阻止する。したがって
、スイッチブレード96は伝送ラインセグメントとの密
接な電気通信を保持され、伝送された信号は伝送ライン
セグメント98と100 との間で導通される。もちろ
ん、正確なマイクロ機械加工によりスイッチブレード8
9と伝送ラインセグメントの表面間に小さいギャップが
存在するか、或はエアギャップが全く生じないようにス
イッチ87を製造できることが理解されなければならな
い。
89の端部が伝送ラインセグメント98および100
の端部上を回転するスイッチ87の別の実施例が製造さ
れることができる。この実施例において、ハブ92のジ
ャーナル90はスイッチブレード89中のベアリングの
直径より大きい直径を持つ低いボス部分94を有する。 この下方ボス部分94の高さは伝送ラインセグメント9
8および100 の厚さよりも大きく、したがってスイ
ッチブレード89は回転され、制御パッド18乃至21
(図1)に供給された制御信号AおよびBによって生成
された静電界によって伝送ラインセグメント98および
100 と電気通信されるため、ブレード89の端部は
制御信号CおよびDによって生成された伝送ライン98
および100 の静電引力によって伝送ラインセグメン
ト98および100 の端部と重なる。約1000オン
グストロームの厚さの二酸化シリコンのような誘電体の
薄い層102 は伝送ラインセグメント98および10
0 の上部に蒸着され、ブレード89が伝送ラインセグ
メントと接触して短絡することを阻止する。したがって
、スイッチブレード96は伝送ラインセグメントとの密
接な電気通信を保持され、伝送された信号は伝送ライン
セグメント98と100 との間で導通される。もちろ
ん、正確なマイクロ機械加工によりスイッチブレード8
9と伝送ラインセグメントの表面間に小さいギャップが
存在するか、或はエアギャップが全く生じないようにス
イッチ87を製造できることが理解されなければならな
い。
【0032】図5に示されているように、スイッチは複
数の伝送ラインセグメント110 および112 また
は114 および116 が制御パッド対118 およ
び119 、或は120 および121 に制御信号A
およびBを選択的に供給し、伝送ラインセグメント11
0 および112 または114 および116 に制
御信号CおよびDを選択的に供給することによってスイ
ッチブレード87に回転可能に接続またはそれから分離
されることができる単極多投スイッチまたは分配器とし
て製造されることができる。
数の伝送ラインセグメント110 および112 また
は114 および116 が制御パッド対118 およ
び119 、或は120 および121 に制御信号A
およびBを選択的に供給し、伝送ラインセグメント11
0 および112 または114 および116 に制
御信号CおよびDを選択的に供給することによってスイ
ッチブレード87に回転可能に接続またはそれから分離
されることができる単極多投スイッチまたは分配器とし
て製造されることができる。
【0033】図6に示された別の実施例において、スイ
ッチブレード120 は伝送ラインセグメント122
および124 の端部と物理的に接触し、d.c.およ
び低周波信号をスイッチすることもできる。図6のスイ
ッチブレード120 および伝送ラインセグメント12
2 および124 並びに制御パッド126 および1
28 は、ブレード120 および伝送ラインセグメン
ト122 および124 の端部がハブ125 の軸に
関してらせんのような傾斜部でそれぞれ構成されること
を除いて、図1の実施例の対応したスイッチ素子に類似
している。ブレード120 の端部127 および12
9 は、制御信号CおよびDが制御パッド26 およ
び128 に供給されたときにスイッチが生成された静
電界によって閉位置に回転されると伝送ラインセグメン
ト122 および124 の端部130および132
とそれぞれ物理的に接触するように形成されている。停
止部材134 および136 はスイッチブレード12
0 の過度の回転を停止させる。
ッチブレード120 は伝送ラインセグメント122
および124 の端部と物理的に接触し、d.c.およ
び低周波信号をスイッチすることもできる。図6のスイ
ッチブレード120 および伝送ラインセグメント12
2 および124 並びに制御パッド126 および1
28 は、ブレード120 および伝送ラインセグメン
ト122 および124 の端部がハブ125 の軸に
関してらせんのような傾斜部でそれぞれ構成されること
を除いて、図1の実施例の対応したスイッチ素子に類似
している。ブレード120 の端部127 および12
9 は、制御信号CおよびDが制御パッド26 およ
び128 に供給されたときにスイッチが生成された静
電界によって閉位置に回転されると伝送ラインセグメン
ト122 および124 の端部130および132
とそれぞれ物理的に接触するように形成されている。停
止部材134 および136 はスイッチブレード12
0 の過度の回転を停止させる。
【0034】スイッチ素子の接触端部が傾斜構造ではな
く、伝送ラインセグメント26および28の端部の表面
上に配置された任意的な小さい導電突出部138 およ
び140 (図1)により低摩擦の物理的接触を行うこ
とも可能である。これらの突出部は伝送ラインセグメン
ト26および28の端部の表面領域の50%より小さい
表面領域を有する。
く、伝送ラインセグメント26および28の端部の表面
上に配置された任意的な小さい導電突出部138 およ
び140 (図1)により低摩擦の物理的接触を行うこ
とも可能である。これらの突出部は伝送ラインセグメン
ト26および28の端部の表面領域の50%より小さい
表面領域を有する。
【0035】図7に示されたスイッチの別の実施例にお
いて、スイッチブレード140 の各端部は予め定めら
れた長さおよび深さの切取り部分142 および144
を有する。 例えば、所望の周波数応答に応じて切取り部分は100
ミクロンの長さ×50ミクロンの深さであってもよい
。
いて、スイッチブレード140 の各端部は予め定めら
れた長さおよび深さの切取り部分142 および144
を有する。 例えば、所望の周波数応答に応じて切取り部分は100
ミクロンの長さ×50ミクロンの深さであってもよい
。
【0036】伝送ラインセグメント146 および14
8 はそれぞれ切取り部分150 および152 を含
む。切取り部分150 および152 はブレード14
0 の切取り部分と実質的に同じ構造および寸法に構成
され、寸法を与えられている。 したがって、スイッチブレード140 が示された閉位
置に回転されたとき、停止部材154 および156
はブレード140 と伝送ラインセグメントとの間のエ
アギャップが約1ロミクロンのときにブレードの回転を
停止する。
8 はそれぞれ切取り部分150 および152 を含
む。切取り部分150 および152 はブレード14
0 の切取り部分と実質的に同じ構造および寸法に構成
され、寸法を与えられている。 したがって、スイッチブレード140 が示された閉位
置に回転されたとき、停止部材154 および156
はブレード140 と伝送ラインセグメントとの間のエ
アギャップが約1ロミクロンのときにブレードの回転を
停止する。
【0037】もちろん、上記の実施例に関して述べられ
たように、導電材料の小さいタブ158 および160
は伝送ラインセグメントの各切取り部分150 およ
び152 の表面上にそれぞれ任意に形成されることが
できる。その代りとして、エアギャップは取除かれ、整
合した切取り部分の隣接面に沿って物理的な接触が行わ
れることができる。スイッチブレード140 と伝送ラ
インセグメントとの間のこの接触はスイッチがd.c.
および低周波信号を導通することを可能にする。
たように、導電材料の小さいタブ158 および160
は伝送ラインセグメントの各切取り部分150 およ
び152 の表面上にそれぞれ任意に形成されることが
できる。その代りとして、エアギャップは取除かれ、整
合した切取り部分の隣接面に沿って物理的な接触が行わ
れることができる。スイッチブレード140 と伝送ラ
インセグメントとの間のこの接触はスイッチがd.c.
および低周波信号を導通することを可能にする。
【0038】図8の断面図に示されているように、制御
部材160 はスイッチブレード162 の端部に重な
る。特に、制御部材160 は基体166 上に形成さ
れたベース164 を含み、本体部分168 は基体表
面の平面に垂直な平面においてベースから延在し、制御
パッド170 は基体166 の表面に平行な平面にお
いて本体168 の上部端部から延在し、それから間隔
を隔てられている。
部材160 はスイッチブレード162 の端部に重な
る。特に、制御部材160 は基体166 上に形成さ
れたベース164 を含み、本体部分168 は基体表
面の平面に垂直な平面においてベースから延在し、制御
パッド170 は基体166 の表面に平行な平面にお
いて本体168 の上部端部から延在し、それから間隔
を隔てられている。
【0039】スイッチブレード162 が回転して制御
部材160 と整列したとき、スイッチブレード162
の端部はスイッチブレード162 の端部と制御パッ
ド170 間に重なりを生じるように基体166と制御
パッド170 との間の空間に移動する。実際に、この
重なりは10乃至30ミクロンの長さであり、スイッチ
ブレード162 と制御パッド170の上部の間のエア
ギャップは1ミクロンである。この重なりの利点は、効
果的な静電引力がスイッチブレード162 と制御パッ
ド170 との間に生成されることである。
部材160 と整列したとき、スイッチブレード162
の端部はスイッチブレード162 の端部と制御パッ
ド170 間に重なりを生じるように基体166と制御
パッド170 との間の空間に移動する。実際に、この
重なりは10乃至30ミクロンの長さであり、スイッチ
ブレード162 と制御パッド170の上部の間のエア
ギャップは1ミクロンである。この重なりの利点は、効
果的な静電引力がスイッチブレード162 と制御パッ
ド170 との間に生成されることである。
【0040】本発明の顕著な特徴が特定の実施例を参照
して説明されているが、本発明の技術的範囲を逸脱する
ことなく多数の変形および修正が行われることができる
。したがって、本発明の技術的範囲は添付された特許請
求の範囲によってのみ限定されるものである。
して説明されているが、本発明の技術的範囲を逸脱する
ことなく多数の変形および修正が行われることができる
。したがって、本発明の技術的範囲は添付された特許請
求の範囲によってのみ限定されるものである。
【図1】オン位置におけるスイッチブレードを備えたマ
イクロ機械加工された回転可能なスイッチの好ましい実
施例の上面図。
イクロ機械加工された回転可能なスイッチの好ましい実
施例の上面図。
【図2】オン位置およびオフ位置間でスイッチブレード
を回転するように図1のスイッチの素子を制御するため
に供給される制御信号の波形図。
を回転するように図1のスイッチの素子を制御するため
に供給される制御信号の波形図。
【図3】図1のスイッチを製造するための処理ステップ
を示した断面図。
を示した断面図。
【図4】回転可能な静電的に付勢されるスイッチの第2
の実施例の断面図。
の実施例の断面図。
【図5】伝送された信号を選択して分配するために複数
のマイクロ波伝送ライン間でスイッチングすることがで
きるマイクロ機械加工されたスイッチの1実施例の上面
図。
のマイクロ波伝送ライン間でスイッチングすることがで
きるマイクロ機械加工されたスイッチの1実施例の上面
図。
【図6】スイッチブレードの端部および伝送ラインセグ
メントが互いに接触動作可能なスイッチの1実施例を示
した図。
メントが互いに接触動作可能なスイッチの1実施例を示
した図。
【図7】スイッチブレードの端部および伝送ラインセグ
メントが予め定められた周波数応答特性に対して構成さ
れるスイッチの1実施例の上面図。
メントが予め定められた周波数応答特性に対して構成さ
れるスイッチの1実施例の上面図。
【図8】制御パッドがスイッチブレードの端部に重なる
スイッチの一部分の実施例の断面図。
スイッチの一部分の実施例の断面図。
Claims (28)
- 【請求項1】 実質的に平坦な面を有する誘電材料の
基体と、前記表面に付着され、電気信号を導き、ギャッ
プによって互いに分離された第1および第2のセグメン
トを備えた伝送ラインと、前記表面に付着されたハブと
、前記表面の上方に配置されて前記ハブを中心にして回
転可能であり閉回路位置に回転されたとき前記伝送ライ
ンセグメント間で回路を電気的に閉じるように構成され
ている導電材料のスイッチブレードと、前記表面に付着
され、開回路と閉回路との間で前記スイッチブレードを
動作可能に回転する静電界を生成するために制御信号を
選択的に受信するように動作できる制御手段とを具備し
ている静電的に付勢される小型スイッチ。 - 【請求項2】 前記スイッチブレードおよび前記伝送
ラインセグメントの端部はエアギャップによって分離さ
れている請求項1記載の小型スイッチ。 - 【請求項3】 前記スイッチブレードの端部および前
記伝送ラインセグメントの端部は前記スイッチブレード
と前記伝送ラインとの間において整合した特性インピー
ダンスを動作可能に形成するように整合した幾何学形状
および寸法を有している請求項1記載の小型スイッチ。 - 【請求項4】 閉回路位置であるとき前記スイッチブ
レードの端部に隣接する前記伝送ラインセグメントの端
部は前記スイッチブレードの一部分と低摩擦接触させる
突出部分を含んでいる請求項2記載の小型スイッチ。 - 【請求項5】 前記ハブ、前記スイッチブレードおよ
び前記制御手段は薄膜から形成されている請求項1記載
の小型スイッチ。 - 【請求項6】 前記伝送ライン、前記ハブ、前記スイ
ッチブレードおよび前記制御パッドは蒸着および電気め
っきによって形成されている請求項5記載の小型スイッ
チ。 - 【請求項7】 前記制御手段はさらに、予め定められ
た位置を越える前記スイッチブレードの回転を停止する
ために前記制御パッドから変位して位置された停止手段
を含んでいる請求項1記載の小型スイッチ。 - 【請求項8】 前記スイッチブレードは前記基体の前
記表面に隣接している表面から延在し、その上に乗るよ
うに動作することができる突出部を有している請求項1
記載の小型スイッチ。 - 【請求項9】 前記伝送ラインセグメントおよび前記
スイッチブレードの端部は互いに整合する切取りセグメ
ントを有する請求項2記載の小型スイッチ。 - 【請求項10】 前記ハブは前記ハブ上に前記スイッ
チブレードを動作可能に保持するキャップを有している
請求項5記載の小型スイッチ。 - 【請求項11】 前記ハブ、前記スイッチブレードお
よび前記制御手段はチタニウムおよび金から形成されて
いる請求項5記載の小型スイッチ。 - 【請求項12】 前記基体はヒ化ガリウム、シリコン
、リン化インジウムおよびサファイヤからなる群から選
択された材料から形成されている請求項5記載の小型ス
イッチ。 - 【請求項13】 前記ハブは前記スイッチブレードの
ベアリングの直径より大きい直径を備えたボスを有する
ジャーナルを含み、一端は前記伝送ラインセグメントの
接触面を持つスイッチブレード平面の接触面を保持する
レベルである請求項5記載の小型スイッチ。 - 【請求項14】 前記伝送ラインは少なくとも2対の
第1および第2のセグメントを含み、各対が前記別の対
から角度的に変位して配置され、前記制御手段は少なく
とも2対の制御パッドを含み、それによって前記スイッ
チブレードは前記セグメントの対の間で回路を開閉する
ように動作することができる請求項1記載の小型スイッ
チ。 - 【請求項15】 前記制御パッドは前記スイッチブレ
ードが回転されて前記制御パッドと整列されたときに、
前記スイッチブレードの端部から間隔を隔てられて位置
される請求項1記載の小型スイッチ。 - 【請求項16】 前記制御パッドは前記スイッチブレ
ードの端部と重なる請求項1記載の小型スイッチ。 - 【請求項17】 前記制御手段は少なくとも3対の制
御パッドを含み、各対は制御信号に応答して閉および開
回路位置に前記スイッチブレードを動作可能にステップ
するように別のパッドに関して角度的に変位して配置さ
れている請求項1記載の小型スイッチ。 - 【請求項18】 前記スイッチブレードおよび前記伝
送ラインの端部は、前記スイッチブレードが閉位置にあ
るとき互いに整合するように湾曲される請求項1記載の
小型スイッチ。 - 【請求項19】 エアギャップは前記伝送ラインで伝
送されるべき最も高い周波数信号の波長の約0.1 以
下である請求項2記載の小型スイッチ。 - 【請求項20】 エアギャップは約0.5 ミクロン
乃至約5.0 ミクロンの幅である請求項2記載の小型
スイッチ。 - 【請求項21】 エアギャップの幅は約5.0 ミク
ロンより小さい請求項2記載の小型スイッチ。 - 【請求項22】 エアギャップは約0.5 ミクロン
乃至約3.0 ミクロンの幅である請求項2記載の小型
スイッチ。 - 【請求項23】 実質的に平坦な表面を有する誘電材
料の基体と、前記表面上で形成され、電気信号を導通し
、ギャップによって互いに分離された第1および第2の
セグメントを含む伝送ラインと、前記伝送ラインの前記
第1と第2のセグメントの間に位置され、前記表面に接
着されているハブと、前記表面上に形成され、前記ハブ
を中心にして回転するように動作し、閉スイッチ位置に
回転されたとき、前記伝送ラインセグメント間で回路を
電気的に閉じるように構成された導電材料のスイッチブ
レードと、前記伝送ラインセグメントから変位した位置
において前記表面上に形成され、閉および開回路間で前
記スイッチブレードを回転可能に動作させるための電界
を生成するために制御信号を選択的に受信するように動
作することができる制御パッドを含む制御手段とを具備
している静電的に付勢される小型スイッチ。 - 【請求項24】 基体の表面上にフォトレジストを付
着し、スイッチブレードの構造に一致した第1のパター
ンの開口を前記フォトレジスト層に形成し、スイッチブ
レードを製造するために第1のパターンの開口中に導電
材料を付着し、基体の表面を露出するためにハブの構造
中にフォトレジスト中に第2のパターンの開口を形成し
、スイッチブレードが回転するハブを基体上に製造する
ために前記第2のパターンの開口中に導電材料を付着し
、基体の表面を露出するために電界制御部材の構造中に
前記フォトレジスト中に第3のパターンの開口を形成し
、基体上に制御部材を製造するために第3のパターンの
開口中に導電材料を付着し、残りの全フォトレジストを
除去するステップを含む実質的に平坦な平面を有する誘
電基体上に小型スイッチを形成する方法。 - 【請求項25】 前記導電材料はチタニウムの薄膜お
よび金の層を含んでいる請求項23記載の方法。 - 【請求項26】 基体の表面上にフォトレジストの第
1の層を付着し、フォトレジストの前記第1の層に2つ
の間隔を隔てられた開口を形成し、第2の層が前記開口
に凹部を形成するように前記第1の層上にフォトレジス
トの第2の層を付着し、前記第2の層上にフォトレジス
トの第3の層を付着し、スイッチブレードの構造に一致
する前記第3の層中に第1のパターンの開口を形成付着
し、スイッチブレードを製造するために第1のパターン
の開口中に導電材料を付着し、基体の表面を露出するた
めに前記フォトレジスト中に第2のパターンの開口を形
成し、スイッチブレードを回転させるハブを形成するた
めに前記第2のパターンの開口中に導電材料を付着し、
残りの全フォトレジストを除去するステップを含む誘電
基体上に小型スイッチを形成する方法。 - 【請求項27】 前記導電材料はチタニウムの薄膜お
よび金の層を含む請求項26記載の方法。 - 【請求項28】 基体はヒ化ガリウム、シリコン、リ
ン化インジウムおよびサファイヤからなる群から選択さ
れた材料である請求項26記載の方法。
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