JPH04307315A - 製品の外観検査方法 - Google Patents
製品の外観検査方法Info
- Publication number
- JPH04307315A JPH04307315A JP7129391A JP7129391A JPH04307315A JP H04307315 A JPH04307315 A JP H04307315A JP 7129391 A JP7129391 A JP 7129391A JP 7129391 A JP7129391 A JP 7129391A JP H04307315 A JPH04307315 A JP H04307315A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- product
- inspected
- shape
- tomographic
- inspection method
- Prior art date
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- Pending
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- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
- Closed-Circuit Television Systems (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、外壁材などの表面に模
様を形成した製品の表面形状の良否を判定する製品の外
観検査方法に関する。
様を形成した製品の表面形状の良否を判定する製品の外
観検査方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】従来、外壁材などの表面に模様を形成し
た製品の表面形状の良否を判定する場合には、検査対象
となる製品の表面をＣＣＤカメラで撮像し、撮像した画
像を画像処理装置において画像処理し、二値化画面にお
いて製品の表面形状の良否を判定していた。
た製品の表面形状の良否を判定する場合には、検査対象
となる製品の表面をＣＣＤカメラで撮像し、撮像した画
像を画像処理装置において画像処理し、二値化画面にお
いて製品の表面形状の良否を判定していた。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】しかし、上記した従来
の構成によれば、平面的な表面形状の良否を判定するこ
とはできるが、立体的な表面形状、つまり高さ方向にお
ける表面形状の異常を検出することができなかった。
の構成によれば、平面的な表面形状の良否を判定するこ
とはできるが、立体的な表面形状、つまり高さ方向にお
ける表面形状の異常を検出することができなかった。
【０００４】本発明は上記課題を解決するもので、製品
の表面形状を立体的に検出してその良否を判定する製品
の外観検査方法を提供することを目的とする。
の表面形状を立体的に検出してその良否を判定する製品
の外観検査方法を提供することを目的とする。
【０００５】
【課題を解決するための手段】上記課題を解決するため
に、本発明の製品の外観検査方法は、コンベアライン上
を移動する検査対象製品の表面における高さ方向の変位
を光学的変位計で搬送方向に直交する方向に沿った複数
地点で計測し、計測された計測値に基づく解析演算を解
析演算装置で行って検査対象製品の断層形状を算出する
とともに、算出された検査対象製品の断層形状と予め設
定された基準断層形状とを比較演算して検査対象製品の
表面形状の良否を判定する構成としたものである。
に、本発明の製品の外観検査方法は、コンベアライン上
を移動する検査対象製品の表面における高さ方向の変位
を光学的変位計で搬送方向に直交する方向に沿った複数
地点で計測し、計測された計測値に基づく解析演算を解
析演算装置で行って検査対象製品の断層形状を算出する
とともに、算出された検査対象製品の断層形状と予め設
定された基準断層形状とを比較演算して検査対象製品の
表面形状の良否を判定する構成としたものである。
【０００６】
【作用】上記構成により、検査対象製品の搬送方向に沿
った各地点の断層形状を検出して基準断層形状と比較す
るので、検査対象製品の表面形状における高さ方向の変
形が立体的に検出され、検査対象製品の外観の良否を正
確に判定することができる。
った各地点の断層形状を検出して基準断層形状と比較す
るので、検査対象製品の表面形状における高さ方向の変
形が立体的に検出され、検査対象製品の外観の良否を正
確に判定することができる。
【０００７】
【実施例】以下、本発明の一実施例を図面に基づいて説
明する。図１において、検査対象製品１は建築用の外壁
材などであり、表面に高さ方向に凹凸を有する模様が形
成されている。また、検査対象製品１はコンベア装置２
によって一定方向に搬送される。
明する。図１において、検査対象製品１は建築用の外壁
材などであり、表面に高さ方向に凹凸を有する模様が形
成されている。また、検査対象製品１はコンベア装置２
によって一定方向に搬送される。
【０００８】そして、コンベア装置２の上方には光学的
変位計３が配設されており、光学的変位計３は解析演算
装置４に接続されている。この光学的変位計３は一般に
市販されている三角測量方式を用いるものでよい。
変位計３が配設されており、光学的変位計３は解析演算
装置４に接続されている。この光学的変位計３は一般に
市販されている三角測量方式を用いるものでよい。
【０００９】この光学的変位計３の原理は、たとえば図
２に示すようなものであり、半導体レーザ５から発せら
れた光は検査対象製品１の表面で反射し、レンズ６を通
して位置検出素子７に入光する。そして、検査対象製品
１上におけるレーザスポット８が高さ方向Ａに変位する
と、位置検出素子７上における入光地点がＢ方向に変位
する。したがって、位置検出素子７上における入光地点
の変位量を検出することにより、検査対象製品１におけ
るレーザスポット８の変位量を測定することができる。
２に示すようなものであり、半導体レーザ５から発せら
れた光は検査対象製品１の表面で反射し、レンズ６を通
して位置検出素子７に入光する。そして、検査対象製品
１上におけるレーザスポット８が高さ方向Ａに変位する
と、位置検出素子７上における入光地点がＢ方向に変位
する。したがって、位置検出素子７上における入光地点
の変位量を検出することにより、検査対象製品１におけ
るレーザスポット８の変位量を測定することができる。
【００１０】そして、コンベア装置２によって搬送方向
Ｘに移動する検査対象製品１の表面における高さ方向の
変位を光学的変位計３で測定する。この測定は検査対象
製品１の搬送方向に直交する方向、つまり幅方向Ｙに沿
った複数地点（約５０００点）で計測して行う。また、
計測された計測値を解析演算装置４におくり、計測値を
解析演算して検査対象製品１の断層形状を算出する。さ
らに、図３に示すように、算出された検査対象製品１の
断層形状Ａと予め設定された基準断層形状Ｂとを比較演
算して検査対象製品１の表面形状の良否を判定する。つ
まり、断層形状Ａに欠陥部Ｃがあると、断層形状Ａと基
準断層形状Ｂが不感帯の範囲で一致しないので不良品と
判定する。
Ｘに移動する検査対象製品１の表面における高さ方向の
変位を光学的変位計３で測定する。この測定は検査対象
製品１の搬送方向に直交する方向、つまり幅方向Ｙに沿
った複数地点（約５０００点）で計測して行う。また、
計測された計測値を解析演算装置４におくり、計測値を
解析演算して検査対象製品１の断層形状を算出する。さ
らに、図３に示すように、算出された検査対象製品１の
断層形状Ａと予め設定された基準断層形状Ｂとを比較演
算して検査対象製品１の表面形状の良否を判定する。つ
まり、断層形状Ａに欠陥部Ｃがあると、断層形状Ａと基
準断層形状Ｂが不感帯の範囲で一致しないので不良品と
判定する。
【００１１】そして、同様にして検査対象製品の搬送方
向Ｘに沿った各地点の断層形状を検出して検査対象製品
１の表面全体について良否判定を行う。このように、上
記構成によれば、検査対象製品１の搬送方向Ｘに沿った
各地点の断層形状Ａを検出して基準断層形状Ｂと比較す
るので、検査対象製品１の表面形状における高さ方向の
変形が立体的に検出され、検査対象製品１の外観の良否
を正確に判定することができる。
向Ｘに沿った各地点の断層形状を検出して検査対象製品
１の表面全体について良否判定を行う。このように、上
記構成によれば、検査対象製品１の搬送方向Ｘに沿った
各地点の断層形状Ａを検出して基準断層形状Ｂと比較す
るので、検査対象製品１の表面形状における高さ方向の
変形が立体的に検出され、検査対象製品１の外観の良否
を正確に判定することができる。
【００１２】
【発明の効果】以上述べたように本発明によれば、検査
対象製品の表面における変位を検出して断層形状を得る
ので、検査対象製品の表面形状および欠陥部の外観を正
確に認知して的確な良否判定を行うことができる。
対象製品の表面における変位を検出して断層形状を得る
ので、検査対象製品の表面形状および欠陥部の外観を正
確に認知して的確な良否判定を行うことができる。
【図１】本発明の一実施例を示す検査方法の装置構成図
である。
である。
【図２】同実施例における変位測定の原理を示す模式図
である。
である。
【図３】同実施例における断層形状の良否判定操作を示
す模式図である。
す模式図である。
１ 検査対象製品
２ コンベア装置
３ 光学的変位計
４ 解析演算装置
Claims (1)
- 【請求項１】 コンベアライン上を移動する検査対象
製品の表面における高さ方向の変位を光学的変位計で搬
送方向に直交する方向に沿った複数地点で計測し、計測
された計測値に基づく解析演算を解析演算装置で行って
検査対象製品の断層形状を算出するとともに、算出され
た検査対象製品の断層形状と予め設定された基準断層形
状とを比較演算して検査対象製品の表面形状の良否を判
定することを特徴とする製品の外観検査方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7129391A JPH04307315A (ja) | 1991-04-04 | 1991-04-04 | 製品の外観検査方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7129391A JPH04307315A (ja) | 1991-04-04 | 1991-04-04 | 製品の外観検査方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH04307315A true JPH04307315A (ja) | 1992-10-29 |
Family
ID=13456492
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP7129391A Pending JPH04307315A (ja) | 1991-04-04 | 1991-04-04 | 製品の外観検査方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH04307315A (ja) |
-
1991
- 1991-04-04 JP JP7129391A patent/JPH04307315A/ja active Pending
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