JPH0430738B2 - - Google Patents
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- Publication number
- JPH0430738B2 JPH0430738B2 JP58126115A JP12611583A JPH0430738B2 JP H0430738 B2 JPH0430738 B2 JP H0430738B2 JP 58126115 A JP58126115 A JP 58126115A JP 12611583 A JP12611583 A JP 12611583A JP H0430738 B2 JPH0430738 B2 JP H0430738B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- semiconductor wafer
- heating
- port
- transport
- cover
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
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Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10P—GENERIC PROCESSES OR APPARATUS FOR THE MANUFACTURE OR TREATMENT OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
- H10P95/00—Generic processes or apparatus for manufacture or treatments not covered by the other groups of this subclass
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- Formation Of Insulating Films (AREA)
- Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)
- Photosensitive Polymer And Photoresist Processing (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
[発明の技術分野]
本発明は半導体ウエハーの加熱装置に関する。
[発明の技術的背景]
半導体ウエハーの加熱装置は、半導体ウエハー
に塗布したレジスト、ポリイミド樹脂等を加熱硬
化させるために使用される。
に塗布したレジスト、ポリイミド樹脂等を加熱硬
化させるために使用される。
このような半導体ウエハーに塗布されるレジス
トやポリイミド樹脂等は、溶剤中に溶けて液状に
なつており、このような液状の塗料をその表面上
に塗布した半導体ウエハーを加熱装置によつて加
熱し、前記溶剤を揮発させて半導体ウエハー上で
レジスト、ポリイミド樹脂等を硬化させる。
トやポリイミド樹脂等は、溶剤中に溶けて液状に
なつており、このような液状の塗料をその表面上
に塗布した半導体ウエハーを加熱装置によつて加
熱し、前記溶剤を揮発させて半導体ウエハー上で
レジスト、ポリイミド樹脂等を硬化させる。
第1図は、半導体ウエハーの従来の加熱装置の
一態様を示す断面図である。図中、1は搬送手段
であり、この搬送手段1は所定間隔で互いに平行
になるように配置された1対のベルト2と(図で
はその一方のみ示す)、8個のプーリ3とを備え
ている。各ベルト2は4つのプーリ3にかけ回さ
れている。各4つのプーリ3のうちの少なくとも
1つは回転駆動装置(図示せず)に接続されてお
り、したがつて、これを回転駆動装置によつて回
転駆動することによつてベルト2は移動する。ま
た、各プーリ3は昇降手段(図示せず)に取付け
られ、これによつて搬送手段1は昇降可能になつ
ている。
一態様を示す断面図である。図中、1は搬送手段
であり、この搬送手段1は所定間隔で互いに平行
になるように配置された1対のベルト2と(図で
はその一方のみ示す)、8個のプーリ3とを備え
ている。各ベルト2は4つのプーリ3にかけ回さ
れている。各4つのプーリ3のうちの少なくとも
1つは回転駆動装置(図示せず)に接続されてお
り、したがつて、これを回転駆動装置によつて回
転駆動することによつてベルト2は移動する。ま
た、各プーリ3は昇降手段(図示せず)に取付け
られ、これによつて搬送手段1は昇降可能になつ
ている。
搬送手段1の一端には半導体ウエハー4の搬入
手段(図示せず。これは、搬送手段1と同様に1
対のベルトとプーリとを備えた構造であり、搬送
手段1の1対のベルト2の一端の両外側に近接し
てその1対のベルトの各々の一端が配置されてい
る。後述の搬出手段も同様である。)が配置され、
他端には半導体ウエハー4の搬出手段(図示せ
ず)が配置されている。
手段(図示せず。これは、搬送手段1と同様に1
対のベルトとプーリとを備えた構造であり、搬送
手段1の1対のベルト2の一端の両外側に近接し
てその1対のベルトの各々の一端が配置されてい
る。後述の搬出手段も同様である。)が配置され、
他端には半導体ウエハー4の搬出手段(図示せ
ず)が配置されている。
搬送手段1の両ベルト2間の間隔は、半導体ウ
エハー4のサイズ(直径)より狭くなつている。
エハー4のサイズ(直径)より狭くなつている。
したがつて、その上面上に塗料(レジスト、ポ
リイミド樹脂等と溶剤との混合物)が塗布された
半導体ウエハー4は搬入手段によつて搬送手段1
の上側搬送位置1a(両ベルト2の上側位置)上
に載置され、ベルト2の移動に伴つて移動し、そ
して、上側搬送位置1aの他端から搬出手段上に
移される。
リイミド樹脂等と溶剤との混合物)が塗布された
半導体ウエハー4は搬入手段によつて搬送手段1
の上側搬送位置1a(両ベルト2の上側位置)上
に載置され、ベルト2の移動に伴つて移動し、そ
して、上側搬送位置1aの他端から搬出手段上に
移される。
5は、搬送手段1はその上側搬送位置1aにお
いて囲む加熱機構であり、この加熱機構5は、上
側位置1aの直下に設けられた加熱手段6と、前
記上側位置1aの直上に設けられたカバー7とを
有している。加熱手段6は、その上面が平坦にな
つており、かつその一部に両ベルト2が挿入され
る溝が2条形成されている。両ベルト2は、下降
してその上側位置部分が、加熱手段6の上面の2
条の溝中に挿入され、また、そこから、所定高さ
まで上昇する。したがつて、搬送手段1を最上昇
位置から下降させることによつて、加熱手段6上
に、ベルト2上にあつた半導体ウエハー4が載置
され、かくして加熱手段6によつて半導体ウエハ
ー4は主にその下面面から加熱される。
いて囲む加熱機構であり、この加熱機構5は、上
側位置1aの直下に設けられた加熱手段6と、前
記上側位置1aの直上に設けられたカバー7とを
有している。加熱手段6は、その上面が平坦にな
つており、かつその一部に両ベルト2が挿入され
る溝が2条形成されている。両ベルト2は、下降
してその上側位置部分が、加熱手段6の上面の2
条の溝中に挿入され、また、そこから、所定高さ
まで上昇する。したがつて、搬送手段1を最上昇
位置から下降させることによつて、加熱手段6上
に、ベルト2上にあつた半導体ウエハー4が載置
され、かくして加熱手段6によつて半導体ウエハ
ー4は主にその下面面から加熱される。
カバー7は、搬送手段1の上側搬送位置1aの
ほぼ全体をおおうように配置されている。加熱機
構5の、搬送手段1の搬送方向の両端には、半導
体ウエハー4の搬入口5a、および搬出口5bが
各々形成されている。
ほぼ全体をおおうように配置されている。加熱機
構5の、搬送手段1の搬送方向の両端には、半導
体ウエハー4の搬入口5a、および搬出口5bが
各々形成されている。
このような構成によつて、次のようにして塗料
が塗布された半導体ウエハー4は加熱される。す
なわち、最上位置にある搬送手段1の上側搬送位
置1aの一端上に、搬入手段によつて、1枚の半
導体ウエハー4を移載し、プーリ3を回転駆動さ
せてベルト2を所定距離移動させる。これによつ
て、半導体ウエハー4は、カバー7内に入る。つ
いで搬送手段1を下降させて半導体ウエハー4を
加熱手段6上に所定時間載置する。ついで、再び
搬送手段1を上昇させ、上記同様に搬入手段によ
つて次の1枚の半導体ウエハー4を搬送手段1の
上側搬送位置1aの一端上に移載し、プーリ3を
回転駆動して搬送手段1を下降させて加熱手段6
上にこれら半導体ウエハー4を所定時間載置す
る。
が塗布された半導体ウエハー4は加熱される。す
なわち、最上位置にある搬送手段1の上側搬送位
置1aの一端上に、搬入手段によつて、1枚の半
導体ウエハー4を移載し、プーリ3を回転駆動さ
せてベルト2を所定距離移動させる。これによつ
て、半導体ウエハー4は、カバー7内に入る。つ
いで搬送手段1を下降させて半導体ウエハー4を
加熱手段6上に所定時間載置する。ついで、再び
搬送手段1を上昇させ、上記同様に搬入手段によ
つて次の1枚の半導体ウエハー4を搬送手段1の
上側搬送位置1aの一端上に移載し、プーリ3を
回転駆動して搬送手段1を下降させて加熱手段6
上にこれら半導体ウエハー4を所定時間載置す
る。
このような作業をくりかえして、搬送手段1の
上側搬送位置1a上の半導体ウエハー4を移送し
ながらベルト2上で必要時間加熱し、その上面に
塗布された塗料中の溶剤を揮発させレジスト、ポ
リイミド樹脂等を硬化させる。ついで、このよう
にしてその上面上にレジスト、ポリイミド樹脂等
が硬化した半導体ウエハー4は、プーリ3を回転
駆動させることによつて搬送手段1の上側搬送位
置1aの他端から搬出手段によつて1枚づつとり
出される。
上側搬送位置1a上の半導体ウエハー4を移送し
ながらベルト2上で必要時間加熱し、その上面に
塗布された塗料中の溶剤を揮発させレジスト、ポ
リイミド樹脂等を硬化させる。ついで、このよう
にしてその上面上にレジスト、ポリイミド樹脂等
が硬化した半導体ウエハー4は、プーリ3を回転
駆動させることによつて搬送手段1の上側搬送位
置1aの他端から搬出手段によつて1枚づつとり
出される。
[背景技術の問題点]
近年、例えば、ポリイミド樹脂用の溶剤には、
有害物質が使用されることがある。
有害物質が使用されることがある。
したがつて、このように有害な溶剤を含んだ塗
料が塗布された半導体ウエハーを、加熱装置によ
つて加熱する際には、加熱によつて揮発した有害
物質を加熱装置から加熱装置が置かれたクリーン
ルーム内にもれ出さないようにしなければならな
い。しかしながら、上述のような構造の加熱装置
では、何らそのための適切な防止機構がなく、し
たがつてカバー7の内側において加熱によつて揮
発した有害物質は、加熱機構5の搬入口5a、搬
出口5bから外にもれてしまうという問題があつ
た。
料が塗布された半導体ウエハーを、加熱装置によ
つて加熱する際には、加熱によつて揮発した有害
物質を加熱装置から加熱装置が置かれたクリーン
ルーム内にもれ出さないようにしなければならな
い。しかしながら、上述のような構造の加熱装置
では、何らそのための適切な防止機構がなく、し
たがつてカバー7の内側において加熱によつて揮
発した有害物質は、加熱機構5の搬入口5a、搬
出口5bから外にもれてしまうという問題があつ
た。
[発明の目的]
そこで、本発明は、半導体ウエハーの加熱装置
における以上のような問題を考慮してなされたも
ので、半導体ウエハー加熱時に発生する有害物質
を搬入口、搬出口から外に流出しないようにした
加熱装置を提供することを目的としている。
における以上のような問題を考慮してなされたも
ので、半導体ウエハー加熱時に発生する有害物質
を搬入口、搬出口から外に流出しないようにした
加熱装置を提供することを目的としている。
[発明の概要]
本発明は、
その上面上に塗料が塗布された半導体ウエハー
をその上側搬送位置において搬送する搬送手段
と、前記搬送手段を前記上側搬送位置において囲
む加熱機構本体とを備え、前記加熱機構本体は、
前記搬送手段の上側搬送位置の直下に設けられた
前記上側搬送位置上の半導体ウエハーを加熱する
加熱手段と、前記上側搬送位置における前記搬送
手段をおおうように前記搬送手段の前記上側搬送
位置の直上に設けられたカバーとを有し、前記加
熱機構本体の、前記搬送手段の搬送方向上の両端
に半導体ウエハーを通すための搬入口および搬出
口が形成されている半導体ウエハーの加熱装置に
おいて、前記搬入口の開口面積は前記搬出口の開
口面積より大きくなつており、前記カバーには、
前記搬入口および搬出口から前記カバー内を通し
て外気を吸引するための排気口が形成されている
ことを特徴とする。
をその上側搬送位置において搬送する搬送手段
と、前記搬送手段を前記上側搬送位置において囲
む加熱機構本体とを備え、前記加熱機構本体は、
前記搬送手段の上側搬送位置の直下に設けられた
前記上側搬送位置上の半導体ウエハーを加熱する
加熱手段と、前記上側搬送位置における前記搬送
手段をおおうように前記搬送手段の前記上側搬送
位置の直上に設けられたカバーとを有し、前記加
熱機構本体の、前記搬送手段の搬送方向上の両端
に半導体ウエハーを通すための搬入口および搬出
口が形成されている半導体ウエハーの加熱装置に
おいて、前記搬入口の開口面積は前記搬出口の開
口面積より大きくなつており、前記カバーには、
前記搬入口および搬出口から前記カバー内を通し
て外気を吸引するための排気口が形成されている
ことを特徴とする。
[発明の実施例]
第2図は本発明にかかる加熱装置の一態様を断
面図示した正面図、第3図は同断面図示した側面
図である。図中第1図と同一部分は同一符号で示
し、その詳細説明は省略する。この態様における
加熱装置においては、カバー部分の構造が第1図
に示した加熱装置のそれと異なつており、他の構
造は同一である。図示されるように、搬送手段1
の一端には半導体ウエハー4の搬入手段(図示せ
ず。これは、搬送手段1と同様に1対のベルトと
プーリとを備えた構造であり、搬送手段1の1対
のベルト2の一端の両外側に近接して1対のベル
トの各々の一端が配置されている。後述の搬出手
段も同様である。)が配置され、他端には半導体
ウエハー4の搬出手段(図示せず)が配置されて
いる。8は搬送手段1を、その上側搬送位置1a
において囲む加熱機構であり、この加熱機構8
は、カバー9と、加熱手段6とを有している。搬
送手段1の上側搬送位置1aの直下には、加熱手
段6が固定されている。加熱手段6は、その上面
が平坦になつており、かつその一部に両ベルト2
が挿入される溝6aが2条形成されている。カバ
ー9は、搬送手段1の上側搬送位置1aにおける
ベルト2のほぼ全体をおおうように配置されてい
る。カバー9は外側部材9aおよび内側部材9b
からなる2重壁構造になつている。加熱機構8
の、搬送手段1の搬送方向上の両端には、半導体
ウエハー4の搬入口8aおよび搬出口8bが各々
形成されている。搬入口8aの方が搬出口8bよ
り大きく開いている。
面図示した正面図、第3図は同断面図示した側面
図である。図中第1図と同一部分は同一符号で示
し、その詳細説明は省略する。この態様における
加熱装置においては、カバー部分の構造が第1図
に示した加熱装置のそれと異なつており、他の構
造は同一である。図示されるように、搬送手段1
の一端には半導体ウエハー4の搬入手段(図示せ
ず。これは、搬送手段1と同様に1対のベルトと
プーリとを備えた構造であり、搬送手段1の1対
のベルト2の一端の両外側に近接して1対のベル
トの各々の一端が配置されている。後述の搬出手
段も同様である。)が配置され、他端には半導体
ウエハー4の搬出手段(図示せず)が配置されて
いる。8は搬送手段1を、その上側搬送位置1a
において囲む加熱機構であり、この加熱機構8
は、カバー9と、加熱手段6とを有している。搬
送手段1の上側搬送位置1aの直下には、加熱手
段6が固定されている。加熱手段6は、その上面
が平坦になつており、かつその一部に両ベルト2
が挿入される溝6aが2条形成されている。カバ
ー9は、搬送手段1の上側搬送位置1aにおける
ベルト2のほぼ全体をおおうように配置されてい
る。カバー9は外側部材9aおよび内側部材9b
からなる2重壁構造になつている。加熱機構8
の、搬送手段1の搬送方向上の両端には、半導体
ウエハー4の搬入口8aおよび搬出口8bが各々
形成されている。搬入口8aの方が搬出口8bよ
り大きく開いている。
カバー9の上端部(外側部材9a)には、排気
口10が形成され、この排気口10は、有害物質
を気密に処理して回収する気体吸引機構を含む回
収設備(図示せず)に接続されている。カバー9
の外側部材9aおよび内側部材9bの二重壁構造
の内側は、気体(外気および揮発物質)の通路1
1になつている。内側部材9bの両端部には開口
12,13(両者同一開口面積)が各々形成さ
れ、内側部材9bの両側部には、その長さ方向全
体にわたつて延る長方形の開口14,15(両者
同一開口面積)が形成されている。開口14,1
5は、搬入口8bから搬出口10に向つてその開
口面積が大きくなるように、三角形状の当て板1
6によつて一部が塞がれている。
口10が形成され、この排気口10は、有害物質
を気密に処理して回収する気体吸引機構を含む回
収設備(図示せず)に接続されている。カバー9
の外側部材9aおよび内側部材9bの二重壁構造
の内側は、気体(外気および揮発物質)の通路1
1になつている。内側部材9bの両端部には開口
12,13(両者同一開口面積)が各々形成さ
れ、内側部材9bの両側部には、その長さ方向全
体にわたつて延る長方形の開口14,15(両者
同一開口面積)が形成されている。開口14,1
5は、搬入口8bから搬出口10に向つてその開
口面積が大きくなるように、三角形状の当て板1
6によつて一部が塞がれている。
以上のように本発明にかかる加熱装置は構成さ
れているので、回収設備によつて、外気が搬入口
8a、搬出口8bからカバー9内に吸引され、そ
して開口12,13および開口14,16を通つ
て通路11内に至り、最終的に排気口10内を通
つて回収設備に吸引される。
れているので、回収設備によつて、外気が搬入口
8a、搬出口8bからカバー9内に吸引され、そ
して開口12,13および開口14,16を通つ
て通路11内に至り、最終的に排気口10内を通
つて回収設備に吸引される。
したがつて、カバー9内において、加熱手段6
によつて加熱されて半導体ウエハー4の上面上か
ら揮発した有害物質(溶剤)は、搬入口8a、搬
出口8bからカバー9内に吸引された外気と共に
排気口10から回収設備内に吸引され、(搬入口
8a、搬出口8bから)外にもれることがない。
によつて加熱されて半導体ウエハー4の上面上か
ら揮発した有害物質(溶剤)は、搬入口8a、搬
出口8bからカバー9内に吸引された外気と共に
排気口10から回収設備内に吸引され、(搬入口
8a、搬出口8bから)外にもれることがない。
なお、例えば、半導体ウエハー4の上面上に塗
布されるポリイミド樹脂および溶剤からなる塗料
の厚みは、150〜400μmであり(硬化後厚みは、
30〜40μm)、非常に厚い。そのため搬送手段1の
上側搬送位置1a上に搬入された半導体ウエハー
4上面上の塗料は、搬入直後からかなりの時間液
状になつていることがある。一方、搬入口8aの
開口面積の方が、搬出口8bの開口面積より大き
いので、これら搬入口8aおよび搬出口8bの近
傍におけるカバー9内に吸引される外気の速度
は、搬入口8aの方が搬出口8bよりも遅い。し
たがつて、搬入口8aの近傍における半導体ウエ
ハー4上面上の塗料は、その上方を流れる外気の
影響をほとんど受けることがなく、そのため最終
的にその塗料が硬化した後に、半導体ウエハー4
上面上には、その全体にわたつて平坦な膜厚のポ
リイミド樹脂が得られる。なお、例えば、搬入口
8aの開口面積を搬出口8bの開口面積と同じに
すると、カバー9内において、搬入口8aの近傍
における外気の速度の影響で、そこにある半導体
ウエハー4の上面上の塗料aは波打つてしまい
(第4図にその一例を断面図で示す)、最終的にそ
の塗料が硬化した後に、半導体ウエハー4上面上
には、膜厚が不均一なポリイミド樹脂が残つてし
まう。
布されるポリイミド樹脂および溶剤からなる塗料
の厚みは、150〜400μmであり(硬化後厚みは、
30〜40μm)、非常に厚い。そのため搬送手段1の
上側搬送位置1a上に搬入された半導体ウエハー
4上面上の塗料は、搬入直後からかなりの時間液
状になつていることがある。一方、搬入口8aの
開口面積の方が、搬出口8bの開口面積より大き
いので、これら搬入口8aおよび搬出口8bの近
傍におけるカバー9内に吸引される外気の速度
は、搬入口8aの方が搬出口8bよりも遅い。し
たがつて、搬入口8aの近傍における半導体ウエ
ハー4上面上の塗料は、その上方を流れる外気の
影響をほとんど受けることがなく、そのため最終
的にその塗料が硬化した後に、半導体ウエハー4
上面上には、その全体にわたつて平坦な膜厚のポ
リイミド樹脂が得られる。なお、例えば、搬入口
8aの開口面積を搬出口8bの開口面積と同じに
すると、カバー9内において、搬入口8aの近傍
における外気の速度の影響で、そこにある半導体
ウエハー4の上面上の塗料aは波打つてしまい
(第4図にその一例を断面図で示す)、最終的にそ
の塗料が硬化した後に、半導体ウエハー4上面上
には、膜厚が不均一なポリイミド樹脂が残つてし
まう。
[発明の効果]
以上説明したように本発明によれば、半導体ウ
エハー加熱時に発生する有害物質を搬入口、搬出
口から外に流出しないようにした加熱装置を提供
することができる。
エハー加熱時に発生する有害物質を搬入口、搬出
口から外に流出しないようにした加熱装置を提供
することができる。
第1図は、半導体ウエハーの従来の加熱装置の
一態様を示す断面図、第2図は本発明にかかる加
熱装置の一態様を断面図示した正面図、第3図は
同断面図示した側面図、第4図は半導体ウエハー
の断面図である。 1…搬送手段、4…半導体ウエハー、6…加熱
手段、8…加熱機構、8a…搬入口、8b…搬出
口、9…カバー、10…排気口。
一態様を示す断面図、第2図は本発明にかかる加
熱装置の一態様を断面図示した正面図、第3図は
同断面図示した側面図、第4図は半導体ウエハー
の断面図である。 1…搬送手段、4…半導体ウエハー、6…加熱
手段、8…加熱機構、8a…搬入口、8b…搬出
口、9…カバー、10…排気口。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1 その上面上に塗料が塗布された半導体ウエハ
ーをその上側搬送位置において搬送する搬送手段
と、前記搬送手段を前記上側搬送位置において囲
む加熱機構本体とを備え、前記加熱機構本体は、
前記搬送手段の上側搬送位置の直下に設けられた
前記上側搬送位置上の半導体ウエハーを加熱する
加熱手段と、前記上側搬送位置における前記搬送
手段をおおうように前記搬送手段の前記上側搬送
位置の直上に設けられたカバーとを有し、前記加
熱機構本体の、前記搬送手段の搬送方向上の両端
に半導体ウエハーを通すための搬入口および搬出
口が形成されている半導体ウエハーの加熱装置に
おいて、前記搬入口の開口面積は前記搬出口の開
口面積より大きくなつており、前記カバーには、
前記搬入口および前記搬出口から前記カバー内を
通して外気を吸引するための排気口が形成されて
いることを特徴とする半導体ウエハーの加熱装
置。 2 前記カバーは、二重壁構造になつており、そ
の内側壁には、前記搬送方向上の両端および両側
に開口が形成され、前記両側の開口は、搬送方向
にそつてその上流から下流に開口面積が漸増して
いることを特徴とする特許請求の範囲第1項記載
の半導体ウエハーの加熱装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP58126115A JPS6018919A (ja) | 1983-07-13 | 1983-07-13 | 半導体ウエハ−の加熱装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP58126115A JPS6018919A (ja) | 1983-07-13 | 1983-07-13 | 半導体ウエハ−の加熱装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6018919A JPS6018919A (ja) | 1985-01-31 |
| JPH0430738B2 true JPH0430738B2 (ja) | 1992-05-22 |
Family
ID=14927003
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP58126115A Granted JPS6018919A (ja) | 1983-07-13 | 1983-07-13 | 半導体ウエハ−の加熱装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6018919A (ja) |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2691907B2 (ja) * | 1988-05-27 | 1997-12-17 | 東京エレクトロン株式会社 | 加熱方法及び処理装置及び処理方法 |
| JP2784452B2 (ja) * | 1988-10-20 | 1998-08-06 | 東京エレクトロン株式会社 | 基板の加熱装置及びレジスト処理装置及びレジスト処理方法 |
-
1983
- 1983-07-13 JP JP58126115A patent/JPS6018919A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS6018919A (ja) | 1985-01-31 |
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