JPH04308083A - 薄膜の作成方法 - Google Patents
薄膜の作成方法Info
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- JPH04308083A JPH04308083A JP3100270A JP10027091A JPH04308083A JP H04308083 A JPH04308083 A JP H04308083A JP 3100270 A JP3100270 A JP 3100270A JP 10027091 A JP10027091 A JP 10027091A JP H04308083 A JPH04308083 A JP H04308083A
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- Japan
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- substrate
- thin film
- ion beam
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】この発明は、材料(基板)表面に
、電子、表面保護、磁性などの機能性薄膜を均一に形成
するためのイオンビームスパッタ装置および薄膜の作成
方法に関するものである。
、電子、表面保護、磁性などの機能性薄膜を均一に形成
するためのイオンビームスパッタ装置および薄膜の作成
方法に関するものである。
【0002】
【従来の技術】従来、金属、合成樹脂などの材料表面に
薄膜を形成する一方法としてイオンビームスパッタ法が
あり、電子、表面保護、磁性などの諸機能を有する薄膜
を形成する目的に利用されている。この方法では、イオ
ン源からある程度エネルギーを持ったイオンを発生させ
、このイオンビームを薄膜材料となるターゲットに照射
し、この照射によってターゲットで発生したスパッタ粒
子を薄膜を作成する対象材料である基板上に堆積させて
薄膜を作成している。ところで、図6に示すように、イ
オンビームの照射(図示しない)によってターゲット2
0で発生するスパッタ粒子21は、ターゲット20の表
面で散乱して放出されるが、その量は方向によって一定
ではなく、図7に示すように、放出量は、ターゲット2
0の法線22に対する角度θに依存した方向性を有して
いる。そして、スパッタ粒子放出量は法線22に沿った
方向で最大となり、角度θが増大するに連れて減少して
いる。したがって、このスパッタ粒子を受ける基板23
では、基板表面の位置によって放出量が異なるスパッタ
粒子を受けており、その結果、スパッタ粒子の堆積量が
位置によって異なり、得られた薄膜の膜厚が不均一にな
るという問題点があった。
薄膜を形成する一方法としてイオンビームスパッタ法が
あり、電子、表面保護、磁性などの諸機能を有する薄膜
を形成する目的に利用されている。この方法では、イオ
ン源からある程度エネルギーを持ったイオンを発生させ
、このイオンビームを薄膜材料となるターゲットに照射
し、この照射によってターゲットで発生したスパッタ粒
子を薄膜を作成する対象材料である基板上に堆積させて
薄膜を作成している。ところで、図6に示すように、イ
オンビームの照射(図示しない)によってターゲット2
0で発生するスパッタ粒子21は、ターゲット20の表
面で散乱して放出されるが、その量は方向によって一定
ではなく、図7に示すように、放出量は、ターゲット2
0の法線22に対する角度θに依存した方向性を有して
いる。そして、スパッタ粒子放出量は法線22に沿った
方向で最大となり、角度θが増大するに連れて減少して
いる。したがって、このスパッタ粒子を受ける基板23
では、基板表面の位置によって放出量が異なるスパッタ
粒子を受けており、その結果、スパッタ粒子の堆積量が
位置によって異なり、得られた薄膜の膜厚が不均一にな
るという問題点があった。
【0003】このため従来、基板の位置を変えることに
よって上記問題を解決する手段が提案されている。具体
的には、図8に示すように、イオンビーム25を受ける
ターゲット26がターゲット台27に取り付けられてお
り、前記ターゲット26と対峙する位置に、基板台29
上に設置した基板28が配置されている。この基板台2
9の下面中央には縦軸の回転軸30が設けられており、
図示しない駆動手段によって回転駆動される。この装置
では、イオンビーム25の照射によってターゲット26
から発生したスパッタ粒子31が基板28側に分散しな
がら放出される。これと同時に、回転軸30の回転によ
って、基板台29および基板28が回転している。この
基板28の回転によって、方向分布を有するスパッタ粒
子31を基板28上に均一に堆積させることができる。 また、他の方法としては、図9に示すように、ターゲッ
ト31に照射するイオンビーム32の進行方向を、偏向
器33によって中途で変え、ターゲット31における照
射位置を変えることによって、ターゲット31から放出
されるスパッタ粒子34を基板35上に均一に堆積させ
る方法が提案されている(例えば、特開昭61ー124
568号)。
よって上記問題を解決する手段が提案されている。具体
的には、図8に示すように、イオンビーム25を受ける
ターゲット26がターゲット台27に取り付けられてお
り、前記ターゲット26と対峙する位置に、基板台29
上に設置した基板28が配置されている。この基板台2
9の下面中央には縦軸の回転軸30が設けられており、
図示しない駆動手段によって回転駆動される。この装置
では、イオンビーム25の照射によってターゲット26
から発生したスパッタ粒子31が基板28側に分散しな
がら放出される。これと同時に、回転軸30の回転によ
って、基板台29および基板28が回転している。この
基板28の回転によって、方向分布を有するスパッタ粒
子31を基板28上に均一に堆積させることができる。 また、他の方法としては、図9に示すように、ターゲッ
ト31に照射するイオンビーム32の進行方向を、偏向
器33によって中途で変え、ターゲット31における照
射位置を変えることによって、ターゲット31から放出
されるスパッタ粒子34を基板35上に均一に堆積させ
る方法が提案されている(例えば、特開昭61ー124
568号)。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】ところで、基板上で堆
積するスパッタ粒子の付着性を高める等の目的で、基板
を加熱する場合があり、基板の周辺にヒータなどの加熱
装置を配置している。この基板を、薄膜の均一化のため
に前記のように回転可能な構成とすると、ヒータと干渉
しない構造が必要となり、装置が複雑になるという問題
点がある。また、基板を回転させる構造では、薄膜の作
成中にRHEED等の分析を実施することが困難であり
、また、作成条件の異なる2枚以上の膜を作成する際に
、同一基板台に2枚以上の基板を設置できないなどの制
約もある。一方、イオンビームを偏向器で曲げる従来の
装置では、イオンビームは偏向器内を通過するので、そ
のビーム径は小さいものでなければならず、従ってイオ
ンビームを発生させるイオン源の種別等が限定されてし
まう。また、偏向器を配置するスペースが必要になる他
に、照射位置を変えるために面積の大きなターゲットを
使用しなければならない問題点もある。したがって、上
記したいずれの装置でも、均一な膜厚を有する薄膜を作
成することは可能であるものの、他に生ずる支障が大き
いという問題点がある。
積するスパッタ粒子の付着性を高める等の目的で、基板
を加熱する場合があり、基板の周辺にヒータなどの加熱
装置を配置している。この基板を、薄膜の均一化のため
に前記のように回転可能な構成とすると、ヒータと干渉
しない構造が必要となり、装置が複雑になるという問題
点がある。また、基板を回転させる構造では、薄膜の作
成中にRHEED等の分析を実施することが困難であり
、また、作成条件の異なる2枚以上の膜を作成する際に
、同一基板台に2枚以上の基板を設置できないなどの制
約もある。一方、イオンビームを偏向器で曲げる従来の
装置では、イオンビームは偏向器内を通過するので、そ
のビーム径は小さいものでなければならず、従ってイオ
ンビームを発生させるイオン源の種別等が限定されてし
まう。また、偏向器を配置するスペースが必要になる他
に、照射位置を変えるために面積の大きなターゲットを
使用しなければならない問題点もある。したがって、上
記したいずれの装置でも、均一な膜厚を有する薄膜を作
成することは可能であるものの、他に生ずる支障が大き
いという問題点がある。
【0005】本発明は上記事情を背景としてなされたも
のであり、薄膜を均一に作成できるとともに、前記各種
の問題点の解消を可能としたイオンビームスパッタ装置
および薄膜の作成方法を提供することを目的とするもの
である。
のであり、薄膜を均一に作成できるとともに、前記各種
の問題点の解消を可能としたイオンビームスパッタ装置
および薄膜の作成方法を提供することを目的とするもの
である。
【0006】
【課題を解決するための手段】上記課題を解決するため
、本願発明のイオンビームスパッタ装置は、イオン源と
ターゲットと基板とが配置されたイオンビームスパッタ
装置において、前記ターゲットが移動可能に配置されて
おり、このターゲットを移動させる駆動手段が設置され
ていることを特徴とするものである。
、本願発明のイオンビームスパッタ装置は、イオン源と
ターゲットと基板とが配置されたイオンビームスパッタ
装置において、前記ターゲットが移動可能に配置されて
おり、このターゲットを移動させる駆動手段が設置され
ていることを特徴とするものである。
【0007】また、第2の発明の薄膜の作成方法は、イ
オン源で発生させたイオンをターゲットに照射して、タ
ーゲットから発生するスパッタ粒子を基板上に堆積させ
る薄膜の作成方法において、前記ターゲットを可動にす
るとともに、ターゲット照射面の法線と基板表面との交
点が所定の軌跡を描くように、ターゲット移動を制御す
ることを特徴とするものである。
オン源で発生させたイオンをターゲットに照射して、タ
ーゲットから発生するスパッタ粒子を基板上に堆積させ
る薄膜の作成方法において、前記ターゲットを可動にす
るとともに、ターゲット照射面の法線と基板表面との交
点が所定の軌跡を描くように、ターゲット移動を制御す
ることを特徴とするものである。
【0008】前記ターゲットの移動は、回転や縦横方向
などの移動によってなされ、また、これらを複合させる
ことも可能である。この移動を実現する上記駆動手段に
は、各種手段を用いることができるが、一般にはモータ
が適している。この駆動手段を制御する場合に、制御方
法は自動、手動などを問わないが、一般には、コンピュ
ータを用いたプログラム制御が能率、正確性の点で適し
ている。 上記制御によってターゲット照射面の法線
と基板表面との交点が描く軌跡は、適宜選定可能であり
、例えば円や基板輪郭に沿った線分を選定できる。また
、基板表面を走査するように軌跡を定めることも可能で
ある。
などの移動によってなされ、また、これらを複合させる
ことも可能である。この移動を実現する上記駆動手段に
は、各種手段を用いることができるが、一般にはモータ
が適している。この駆動手段を制御する場合に、制御方
法は自動、手動などを問わないが、一般には、コンピュ
ータを用いたプログラム制御が能率、正確性の点で適し
ている。 上記制御によってターゲット照射面の法線
と基板表面との交点が描く軌跡は、適宜選定可能であり
、例えば円や基板輪郭に沿った線分を選定できる。また
、基板表面を走査するように軌跡を定めることも可能で
ある。
【0009】
【作用】すなわち、本願発明のイオンビームスパッタ装
置によれば、ターゲットの移動によって、基板に対する
ターゲットの相対位置、向きを変えることができ、スパ
ッタ粒子放出の方向性によって基板上の堆積が不均一に
なるのを防止して、基板上に均一な膜厚を有する薄膜を
形成することができる。また、本願の薄膜作成方法によ
れば、ターゲットの法線方向でスパッタ粒子の放出量が
最大となることから、堆積量の指針として最適な、法線
と基板との交点が制御の対象となる。この交点が基板上
で所定の軌跡を描くようにターゲットを移動制御するこ
とにより、スパッタ粒子が基板上に均一に付着するよう
に容易に調整でき、したがって基板上に、均一な膜厚を
有する薄膜を確実かつ容易に形成することができる。
置によれば、ターゲットの移動によって、基板に対する
ターゲットの相対位置、向きを変えることができ、スパ
ッタ粒子放出の方向性によって基板上の堆積が不均一に
なるのを防止して、基板上に均一な膜厚を有する薄膜を
形成することができる。また、本願の薄膜作成方法によ
れば、ターゲットの法線方向でスパッタ粒子の放出量が
最大となることから、堆積量の指針として最適な、法線
と基板との交点が制御の対象となる。この交点が基板上
で所定の軌跡を描くようにターゲットを移動制御するこ
とにより、スパッタ粒子が基板上に均一に付着するよう
に容易に調整でき、したがって基板上に、均一な膜厚を
有する薄膜を確実かつ容易に形成することができる。
【0010】
【実施例】(実施例1)以下に、本発明の一実施例を、
図1〜図3に従って説明する。図示しないイオン源より
、例えば5〜20KeV、0.5〜5mAのAr、Xe
等の不活性原子よりなるイオンビーム1を発生させる。 このイオンビーム1をCuなどの金属やAl2 O3
などの酸化物からなるターゲット2に照射する。
図1〜図3に従って説明する。図示しないイオン源より
、例えば5〜20KeV、0.5〜5mAのAr、Xe
等の不活性原子よりなるイオンビーム1を発生させる。 このイオンビーム1をCuなどの金属やAl2 O3
などの酸化物からなるターゲット2に照射する。
【0011】ターゲット2は円板形状からなり、平板形
のターゲット台3の下面に固定されている。上記ターゲ
ット台3は、水平面に対し傾斜して配置されており、こ
のターゲット台3の上面には、縦に配置した回転軸4が
ねじなど(図示しない)で固定されている。したがって
、上記ターゲット2の下面における法線5と回転軸4の
軸方向4aとは角度αを有している。なお、ターゲット
台3と回転軸4との固定部は上記ねじによって調整可能
であり、ターゲット台3の傾斜角度を変えることによっ
て、上記角度αは可変とされている。
のターゲット台3の下面に固定されている。上記ターゲ
ット台3は、水平面に対し傾斜して配置されており、こ
のターゲット台3の上面には、縦に配置した回転軸4が
ねじなど(図示しない)で固定されている。したがって
、上記ターゲット2の下面における法線5と回転軸4の
軸方向4aとは角度αを有している。なお、ターゲット
台3と回転軸4との固定部は上記ねじによって調整可能
であり、ターゲット台3の傾斜角度を変えることによっ
て、上記角度αは可変とされている。
【0012】上記回転軸4は、駆動手段であるステッピ
ングモータ6の作動軸に連結されて回転駆動されるもの
であり、上記ステッピングモータ6には、その回転速度
を制御するCPU7が接続されている。一方、上記ター
ゲット2の下方には、基板台9上に設置したガラスなど
の基板8が配置されており、上記基板台9の下方近傍に
は、基板8を加熱するヒータ10が配置されている。次
に、上記装置の動作を説明すると、イオン源で発生させ
たイオンビーム1をターゲット2に照射して、ターゲッ
ト2で発生したスパッタ粒子を、ヒータ10で加熱され
ている基板7に向けて放出し付着させる。
ングモータ6の作動軸に連結されて回転駆動されるもの
であり、上記ステッピングモータ6には、その回転速度
を制御するCPU7が接続されている。一方、上記ター
ゲット2の下方には、基板台9上に設置したガラスなど
の基板8が配置されており、上記基板台9の下方近傍に
は、基板8を加熱するヒータ10が配置されている。次
に、上記装置の動作を説明すると、イオン源で発生させ
たイオンビーム1をターゲット2に照射して、ターゲッ
ト2で発生したスパッタ粒子を、ヒータ10で加熱され
ている基板7に向けて放出し付着させる。
【0013】なお、上記ターゲット2の照射面中央部の
法線5と、基板8上面との交点は、基板8の中央から偏
位した位置にある。したがって、図示した状態でスパッ
タを行なえば、基板8の左側に膜厚の厚い薄膜が作成さ
れ、右側に比較的膜厚の薄い薄膜が作成されることにな
る。しかし、この実施例では、CPU7からの信号によ
ってステッピングモータ6を動作させてターゲット2を
回転させており、上記交点は、基板8上で円を描いて移
動する。したがって、基板8上でスパッタ粒子の堆積量
が偏るのを防止し、基板8上にスパッタ粒子を均一に堆
積させて、均一な膜厚を有する薄膜が作成される。
法線5と、基板8上面との交点は、基板8の中央から偏
位した位置にある。したがって、図示した状態でスパッ
タを行なえば、基板8の左側に膜厚の厚い薄膜が作成さ
れ、右側に比較的膜厚の薄い薄膜が作成されることにな
る。しかし、この実施例では、CPU7からの信号によ
ってステッピングモータ6を動作させてターゲット2を
回転させており、上記交点は、基板8上で円を描いて移
動する。したがって、基板8上でスパッタ粒子の堆積量
が偏るのを防止し、基板8上にスパッタ粒子を均一に堆
積させて、均一な膜厚を有する薄膜が作成される。
【0014】なお、薄膜の均一性を評価するため、以下
の条件で薄膜を作成した。すなわち、8KeV、1mA
で1cm径のビーム径を有するArイオンビーム1を、
20cm径で、α=30度で傾斜する銅製のターゲット
2に照射した。これに対し基板台9は、上記ターゲット
2より15cm下方に位置し、この基板台9上にガラス
製基板8が設置されている。基板8はヒータ10によっ
て600℃に加熱されており、上記ターゲット2から発
生するスパッタ粒子が付着して堆積する。
の条件で薄膜を作成した。すなわち、8KeV、1mA
で1cm径のビーム径を有するArイオンビーム1を、
20cm径で、α=30度で傾斜する銅製のターゲット
2に照射した。これに対し基板台9は、上記ターゲット
2より15cm下方に位置し、この基板台9上にガラス
製基板8が設置されている。基板8はヒータ10によっ
て600℃に加熱されており、上記ターゲット2から発
生するスパッタ粒子が付着して堆積する。
【0015】なお、CPU7では、ターゲット2の回転
速度を連続的に変化させるように制御している。具体的
には、ターゲット2の基準位置2aからの回転量をφで
示すと(図2)、その速度dφ/dtを図3に示すよう
に変化させた。なお、図3中のKは、回転量φが0の時
の回転速度を示すものである。上記によって基板8上に
育成された薄膜の膜厚を測定したところ、3.2%のば
らつきを有するに過ぎず、極めて膜厚均一性の良い薄膜
が得られた。
速度を連続的に変化させるように制御している。具体的
には、ターゲット2の基準位置2aからの回転量をφで
示すと(図2)、その速度dφ/dtを図3に示すよう
に変化させた。なお、図3中のKは、回転量φが0の時
の回転速度を示すものである。上記によって基板8上に
育成された薄膜の膜厚を測定したところ、3.2%のば
らつきを有するに過ぎず、極めて膜厚均一性の良い薄膜
が得られた。
【0016】なお、上記実施例では、回転軸とターゲッ
ト台との固定部は手動で調整可能としたが、適当な駆動
手段によってその角度をスパッタリング時に自動的に調
整可能とし、前記ステッピングモータ6と同時に制御す
ることにより、膜厚均一性の一層の向上を図ることも可
能である。
ト台との固定部は手動で調整可能としたが、適当な駆動
手段によってその角度をスパッタリング時に自動的に調
整可能とし、前記ステッピングモータ6と同時に制御す
ることにより、膜厚均一性の一層の向上を図ることも可
能である。
【0017】(実施例2)次に、他の実施例を図4およ
び図5に基づいて説明する。なお、実施例2で実施例1
と同様の構成については、同一の符合を付して、その説
明を省略または簡略化する。円板形状のターゲット2は
同じく円板形状のターゲット台11に固定されており、
このターゲット台11には、横軸からなる回転軸12が
固定されている。
び図5に基づいて説明する。なお、実施例2で実施例1
と同様の構成については、同一の符合を付して、その説
明を省略または簡略化する。円板形状のターゲット2は
同じく円板形状のターゲット台11に固定されており、
このターゲット台11には、横軸からなる回転軸12が
固定されている。
【0018】上記ターゲット台11は、リング形状のタ
ーゲット押え台13の内径側空所に間隙を有して配置さ
れており、前記回転軸12はターゲット押え台13の上
面に回転可能に取り付けられている。また、上記ターゲ
ット押え台13の外周には、前記回転軸12と直交する
水平方向に沿って、回転軸14a、14bが設けられて
おり、その回転軸14aの端部は、装置本体(図示しな
い)に設けた回転軸受け15に回転可能に取り付けられ
ている。また、回転軸14bは、同じく装置本体に設け
たベアリング16に回転可能に取り付けられており、上
記回転軸14a、14bによってターゲット押え台13
が支持されている。
ーゲット押え台13の内径側空所に間隙を有して配置さ
れており、前記回転軸12はターゲット押え台13の上
面に回転可能に取り付けられている。また、上記ターゲ
ット押え台13の外周には、前記回転軸12と直交する
水平方向に沿って、回転軸14a、14bが設けられて
おり、その回転軸14aの端部は、装置本体(図示しな
い)に設けた回転軸受け15に回転可能に取り付けられ
ている。また、回転軸14bは、同じく装置本体に設け
たベアリング16に回転可能に取り付けられており、上
記回転軸14a、14bによってターゲット押え台13
が支持されている。
【0019】さらに、回転軸12にはステッピングモー
タ17、回転軸14bにはステッピングモータ18が連
結されており、それぞれ同一のCPU19で個別に制御
されている。なお、ステッピングモータ17はターゲッ
ト押え台13に固定されており、ステッピングモータ1
8は装置本体に固定されている。
タ17、回転軸14bにはステッピングモータ18が連
結されており、それぞれ同一のCPU19で個別に制御
されている。なお、ステッピングモータ17はターゲッ
ト押え台13に固定されており、ステッピングモータ1
8は装置本体に固定されている。
【0020】上記装置によれば、ステッピングモータ1
7、18を順次または同時に回転させることにより、タ
ーゲット2の法線5と基板8との交点は、図5に示すよ
うに基板8上で任意の軌道を描くように移動させること
ができる。したがって、制御方法により交点を基板上で
広範囲に移動させることもでき、より均一な膜厚を有す
る薄膜を能率良く作成することができる。
7、18を順次または同時に回転させることにより、タ
ーゲット2の法線5と基板8との交点は、図5に示すよ
うに基板8上で任意の軌道を描くように移動させること
ができる。したがって、制御方法により交点を基板上で
広範囲に移動させることもでき、より均一な膜厚を有す
る薄膜を能率良く作成することができる。
【0021】なお、上記実施例では、方向の異なる2つ
の横軸でターゲットを回転させて上記交点を移動させた
が、ターゲットの回転と水平移動との組合せや、横回転
と縦回転の組合せなどによって交点を移動させることも
可能である。要は、ターゲットの可動性と駆動手段の選
定によってターゲットの移動態様は任意に選定すること
ができる。
の横軸でターゲットを回転させて上記交点を移動させた
が、ターゲットの回転と水平移動との組合せや、横回転
と縦回転の組合せなどによって交点を移動させることも
可能である。要は、ターゲットの可動性と駆動手段の選
定によってターゲットの移動態様は任意に選定すること
ができる。
【0022】
【発明の効果】以上説明したように、本願発明のイオン
ビームスパッタ装置によれば、イオン源とターゲットと
基板とが配置されたイオンビームスパッタ装置において
、前記ターゲットを移動可能に配置し、このターゲット
を移動させる駆動手段を設置したので、装置を複雑にす
ることなく、簡単な構成でスパッタ粒子放出量に方向性
を有するターゲットを基板に対し相対的に移動させるこ
とができ、スパッタ粒子堆積量の偏りを防止して均一な
膜厚を有する薄膜を形成することができる。なお、ター
ゲットには最小限の面積を有するものを使用すれば足り
、さらに余分なスペースを必要としない効果がある。 また、基板を定位置に置けるので、種々の制約を受けに
くい効果もある。
ビームスパッタ装置によれば、イオン源とターゲットと
基板とが配置されたイオンビームスパッタ装置において
、前記ターゲットを移動可能に配置し、このターゲット
を移動させる駆動手段を設置したので、装置を複雑にす
ることなく、簡単な構成でスパッタ粒子放出量に方向性
を有するターゲットを基板に対し相対的に移動させるこ
とができ、スパッタ粒子堆積量の偏りを防止して均一な
膜厚を有する薄膜を形成することができる。なお、ター
ゲットには最小限の面積を有するものを使用すれば足り
、さらに余分なスペースを必要としない効果がある。 また、基板を定位置に置けるので、種々の制約を受けに
くい効果もある。
【0023】さらに、本願発明の薄膜の作成方法によれ
ば、イオン源で発生させたイオンをターゲットに照射し
て、ターゲットから発生するスパッタ粒子を基板上に堆
積させる薄膜作成方法において、前記ターゲットを可動
にするとともに、ターゲット照射面の法線と基板表面と
の交点が所定の軌跡を描くように、ターゲット移動を制
御するので、上記効果が得られるとともに、均一な膜厚
を有する薄膜を簡易な制御方法によって作成することが
できる効果がある。
ば、イオン源で発生させたイオンをターゲットに照射し
て、ターゲットから発生するスパッタ粒子を基板上に堆
積させる薄膜作成方法において、前記ターゲットを可動
にするとともに、ターゲット照射面の法線と基板表面と
の交点が所定の軌跡を描くように、ターゲット移動を制
御するので、上記効果が得られるとともに、均一な膜厚
を有する薄膜を簡易な制御方法によって作成することが
できる効果がある。
【図1】実施例の概略正面図である。
【図2】同じく、ターゲットの拡大底面図である。
【図3】ターゲットの回転速度を示すグラフである。
【図4】他の実施例の一部を省略した底面図である。
【図5】同じく概略正面図である。
【図6】ターゲットにおけるスパッタ粒子の放出状態を
説明する概略図である。
説明する概略図である。
【図7】同じくスパッタ粒子の方向分布グラフである。
【図8】基板を回転させる従来のスパッタ装置を示す概
略正面図である。
略正面図である。
【図9】イオンビームを偏向させる従来のスパッタ装置
を示す概略正面図である。
を示す概略正面図である。
1 イオンビーム
2 ターゲット
4 回転軸
5 法線
6 ステッピングモータ
7 CPU
8 基板
12 回転軸
13 ターゲット押え台
14a 回転軸
14b 回転軸
17 ステッピングモータ
18 ステッピングモータ
19 CPU
Claims (2)
- 【請求項1】 イオン源とターゲットと基板とが配置
されたイオンビームスパッタ装置において、前記ターゲ
ットが移動可能に配置されており、このターゲットを移
動させる駆動手段が設置されていることを特徴とするイ
オンビームスパッタ装置 - 【請求項2】 イオン源で発生させたイオンをターゲ
ットに照射して、ターゲットから発生するスパッタ粒子
を基板上に堆積させる薄膜の作成方法において、前記タ
ーゲットを可動にするとともに、ターゲット照射面の法
線と基板表面との交点が所定の軌跡を描くように、ター
ゲットの移動を制御することを特徴とする薄膜の作成方
法
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3100270A JPH04308083A (ja) | 1991-04-06 | 1991-04-06 | 薄膜の作成方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3100270A JPH04308083A (ja) | 1991-04-06 | 1991-04-06 | 薄膜の作成方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH04308083A true JPH04308083A (ja) | 1992-10-30 |
Family
ID=14269515
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP3100270A Pending JPH04308083A (ja) | 1991-04-06 | 1991-04-06 | 薄膜の作成方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH04308083A (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6086727A (en) * | 1998-06-05 | 2000-07-11 | International Business Machines Corporation | Method and apparatus to improve the properties of ion beam deposited films in an ion beam sputtering system |
| US6197164B1 (en) * | 1997-10-10 | 2001-03-06 | International Business Machines Corporation | Method and apparatus to improve the uniformity of ion beam deposited films in an ion beam sputtering system |
| US6783635B2 (en) | 1999-12-09 | 2004-08-31 | International Business Machines Corporation | Spin valve sensor free layer structure with a cobalt based layer that promotes magnetic stability and high magnetoresistance |
| EP1860681A1 (de) * | 2006-05-23 | 2007-11-28 | Oerlikon Leybold Vacuum GmbH | Beschichtungsanlage sowie Verfahren zum Beschichten eines Substrats |
Citations (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS58144474A (ja) * | 1982-02-19 | 1983-08-27 | Hitachi Ltd | スパツタリング装置 |
| JPH01283370A (ja) * | 1988-05-10 | 1989-11-14 | Hitachi Ltd | ターゲットホルダ、イオンビームスパッタ装置およびその使用方法 |
| JPH02133571A (ja) * | 1988-11-11 | 1990-05-22 | Shimadzu Corp | 薄膜形成装置 |
| JPH0347964A (ja) * | 1989-07-17 | 1991-02-28 | Nikon Corp | イオンビームスパッタ装置 |
-
1991
- 1991-04-06 JP JP3100270A patent/JPH04308083A/ja active Pending
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