JPH0431080B2 - - Google Patents
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- JPH0431080B2 JPH0431080B2 JP1623285A JP1623285A JPH0431080B2 JP H0431080 B2 JPH0431080 B2 JP H0431080B2 JP 1623285 A JP1623285 A JP 1623285A JP 1623285 A JP1623285 A JP 1623285A JP H0431080 B2 JPH0431080 B2 JP H0431080B2
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- silicone elastomer
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- polypropylene
- neutron
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Landscapes
- Compositions Of Macromolecular Compounds (AREA)
- Absorbent Articles And Supports Therefor (AREA)
- Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
- Particle Accelerators (AREA)
Description
(産業上の利用分野)
この発明はシリコーンエラストマーを基材とす
る中性子遮蔽性能に優れた中性子遮蔽材に関する
ものである。 (従来技術) 従来、原子炉等で使用される中性子遮蔽材とし
て、耐熱性、難燃性の優れた高分子であるシリコ
ーンエラストマーを基材とする遮蔽材が知られて
いる。例えば、特開昭54−1798号公報では、シリ
コーンエラストマーに対して熱中性子吸収のため
にホウ素化合物を添加したものが開示されてお
り、これはシリコーンエラストマー中にホウ素化
合物をいかに均一に分散させるかについての改良
であり、したがつてホウ素をいかに多量に添加さ
せるかに視点が置かれ、5〜75容量%(8〜85重
量%)のホウ素化合物を含有させるようにしてい
る。 ところでシリコーンエラストマーは元来水素含
有量が少ないため、ホウ素化合物の含有量が多い
と水素原子密度が小さくなつて中性子エネルギー
スペクトルの硬い(エネルギーの高い)場合、中
性子遮蔽性能が小さくなるという問題がある。 (発明の目的) この発明はこのような従来の欠点を解消するた
めになされたものであり、シリコーンエラストマ
ーの特性を生かしつつ水素原子密度が低下しない
ようにした中性子遮蔽性能の優れた遮蔽材を提供
するものである。 (発明の構成) この発明の第1の要旨は、シリコーンエラスト
マーにホウ素化合物が0.5〜5重量%添加されて
なるものである。また第2の要旨は、シリコーン
エラストマーにホウ素化合物が0.5〜5重量%添
加され、さらにポリプロピレンまたは水素化チタ
ンが添加されてなるものである。 (実施例) シリコーンエラストマーは、含水素系高分子物
質の中では最も耐熱性および難燃性に優れた材料
の1つである。またシリコーンエラストマーは温
度硬化性があり、硬化前は液体状であるために、
その流動性を利用して複雑な形状の注型ができる
という利点がある。このような性質のシリコーン
エラストマーに対して、ホウ素化合物を加えると
熱中性子を吸収する能力を向上させることができ
る。このホウ素化合物としては、B4C、BN、
B2O3等があり、これらを粉末の状態で加えれば
よい。 上記ホウ素化合物の添加量は、遮蔽材が使用さ
れる場所の中性子エネルギースペクトルによつて
設定すればよい。ホウ素化合物の添加量とその効
果との関係を調べるために、ウラン235の核分裂
スペクトルを持つ中性子の線源を30cmの厚さの炭
素鋼の壁で遮蔽し、その状態での中性子線量率を
1とし、さらにこの炭素鋼の壁の外側を10cm厚さ
の遮蔽材で遮蔽した状態における中性子線量率を
計算した。なお、上記遮蔽材としてはシリコーン
エラストマーに対して添加するB4Cの割合を種々
変化させたところ、第1図曲線1に示すような結
果がえられた。すなわちB4Cの添加量が0.5〜5
重量%の範囲内では線量率は2.9以下と小さいの
に対し、5重量%を超えると急激に増加する。し
たがつて、B4Cの添加量は0.5〜5重量%の範囲
内に設定する必要がある。その他のホウ素化合物
の添加量についても同様と考えられる。 また上記遮蔽材にポリプロピレンまたは水素化
チタンを添加することによつて水素原子密度を増
加させることができる。例えば、上記遮蔽材の水
素原子密度が5×1022atoms/cm3の場合に、これ
をポリプロピレン30重量%、または水素化チタン
50重量%を添加すれば水素原子密度が6×
10atoms/cm3となつて、水素原子密度が20重量%
増加することになる。 上記添加量は、水素原子密度を向上させるため
には多いほどよいが、添加量が増加するとポリプ
ロピレンの場合は難燃性が低下し、水素化チタン
の場合は硬化前の流動性が低下する。したがつ
て、要求される遮蔽材の特性に応じて、添加量を
決定すればよく、またポリプロピレンと水素化チ
タンとの両者を適当な割合で添加してもよい。 第1表において、シリコーンエラストマーに対
してB4Cを種々の割合で加えた遮蔽材、さらにそ
れにポリプロピレンまたは水素化チタンを加えた
遮蔽材の線量率が減衰率を示す。同表において、
AはB4Cを8.2重量%加えた従来品、B〜Hはそ
れぞれ本願の実施例であつて、その他の添加物と
してEはポリプロピレンを、F,G,Hはそれぞ
れ水素化チタンを加えている。
る中性子遮蔽性能に優れた中性子遮蔽材に関する
ものである。 (従来技術) 従来、原子炉等で使用される中性子遮蔽材とし
て、耐熱性、難燃性の優れた高分子であるシリコ
ーンエラストマーを基材とする遮蔽材が知られて
いる。例えば、特開昭54−1798号公報では、シリ
コーンエラストマーに対して熱中性子吸収のため
にホウ素化合物を添加したものが開示されてお
り、これはシリコーンエラストマー中にホウ素化
合物をいかに均一に分散させるかについての改良
であり、したがつてホウ素をいかに多量に添加さ
せるかに視点が置かれ、5〜75容量%(8〜85重
量%)のホウ素化合物を含有させるようにしてい
る。 ところでシリコーンエラストマーは元来水素含
有量が少ないため、ホウ素化合物の含有量が多い
と水素原子密度が小さくなつて中性子エネルギー
スペクトルの硬い(エネルギーの高い)場合、中
性子遮蔽性能が小さくなるという問題がある。 (発明の目的) この発明はこのような従来の欠点を解消するた
めになされたものであり、シリコーンエラストマ
ーの特性を生かしつつ水素原子密度が低下しない
ようにした中性子遮蔽性能の優れた遮蔽材を提供
するものである。 (発明の構成) この発明の第1の要旨は、シリコーンエラスト
マーにホウ素化合物が0.5〜5重量%添加されて
なるものである。また第2の要旨は、シリコーン
エラストマーにホウ素化合物が0.5〜5重量%添
加され、さらにポリプロピレンまたは水素化チタ
ンが添加されてなるものである。 (実施例) シリコーンエラストマーは、含水素系高分子物
質の中では最も耐熱性および難燃性に優れた材料
の1つである。またシリコーンエラストマーは温
度硬化性があり、硬化前は液体状であるために、
その流動性を利用して複雑な形状の注型ができる
という利点がある。このような性質のシリコーン
エラストマーに対して、ホウ素化合物を加えると
熱中性子を吸収する能力を向上させることができ
る。このホウ素化合物としては、B4C、BN、
B2O3等があり、これらを粉末の状態で加えれば
よい。 上記ホウ素化合物の添加量は、遮蔽材が使用さ
れる場所の中性子エネルギースペクトルによつて
設定すればよい。ホウ素化合物の添加量とその効
果との関係を調べるために、ウラン235の核分裂
スペクトルを持つ中性子の線源を30cmの厚さの炭
素鋼の壁で遮蔽し、その状態での中性子線量率を
1とし、さらにこの炭素鋼の壁の外側を10cm厚さ
の遮蔽材で遮蔽した状態における中性子線量率を
計算した。なお、上記遮蔽材としてはシリコーン
エラストマーに対して添加するB4Cの割合を種々
変化させたところ、第1図曲線1に示すような結
果がえられた。すなわちB4Cの添加量が0.5〜5
重量%の範囲内では線量率は2.9以下と小さいの
に対し、5重量%を超えると急激に増加する。し
たがつて、B4Cの添加量は0.5〜5重量%の範囲
内に設定する必要がある。その他のホウ素化合物
の添加量についても同様と考えられる。 また上記遮蔽材にポリプロピレンまたは水素化
チタンを添加することによつて水素原子密度を増
加させることができる。例えば、上記遮蔽材の水
素原子密度が5×1022atoms/cm3の場合に、これ
をポリプロピレン30重量%、または水素化チタン
50重量%を添加すれば水素原子密度が6×
10atoms/cm3となつて、水素原子密度が20重量%
増加することになる。 上記添加量は、水素原子密度を向上させるため
には多いほどよいが、添加量が増加するとポリプ
ロピレンの場合は難燃性が低下し、水素化チタン
の場合は硬化前の流動性が低下する。したがつ
て、要求される遮蔽材の特性に応じて、添加量を
決定すればよく、またポリプロピレンと水素化チ
タンとの両者を適当な割合で添加してもよい。 第1表において、シリコーンエラストマーに対
してB4Cを種々の割合で加えた遮蔽材、さらにそ
れにポリプロピレンまたは水素化チタンを加えた
遮蔽材の線量率が減衰率を示す。同表において、
AはB4Cを8.2重量%加えた従来品、B〜Hはそ
れぞれ本願の実施例であつて、その他の添加物と
してEはポリプロピレンを、F,G,Hはそれぞ
れ水素化チタンを加えている。
【表】
同表から明らかなように、Aの従来品では線量
率の減衰率は0.352であるのに対し、B4Cを0.5〜
5%の範囲で添加したB,C,Dでは0.355以上
となつており、さらにこれにポリプロピレンまた
は水素化チタンを添加したものでは0.386以上と
なつて、減衰率が向上していることがわかる。 (発明の効果) 以上説明したように、この発明はシリコーンエ
ラストマーにホウ素化合物が0.5〜5重量%添加
されてなるものであり、あるいはシリコーンエラ
ストマーにホウ素化合物が0.5〜5重量%添加さ
れ、さらにポリプロピレンまたは水素化チタンが
添加されてなるものであり、これによつてシリコ
ーンエラストマーの特性を生かしつつ、中性子遮
蔽性能の向上を達成したものである。
率の減衰率は0.352であるのに対し、B4Cを0.5〜
5%の範囲で添加したB,C,Dでは0.355以上
となつており、さらにこれにポリプロピレンまた
は水素化チタンを添加したものでは0.386以上と
なつて、減衰率が向上していることがわかる。 (発明の効果) 以上説明したように、この発明はシリコーンエ
ラストマーにホウ素化合物が0.5〜5重量%添加
されてなるものであり、あるいはシリコーンエラ
ストマーにホウ素化合物が0.5〜5重量%添加さ
れ、さらにポリプロピレンまたは水素化チタンが
添加されてなるものであり、これによつてシリコ
ーンエラストマーの特性を生かしつつ、中性子遮
蔽性能の向上を達成したものである。
図面はB4Cの添加量と線量率との関係を示す特
性図である。 1……特性曲線。
性図である。 1……特性曲線。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1 シリコーンエラストマーにホウ素化合物が
0.5〜5重量%添加されてなる中性子遮蔽材。 2 シリコーンエラストマーにホウ素化合物が
0.5〜5重量%添加され、さらにポリプロピレン
または水素化チタンが添加されてなる中性子遮蔽
材。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1623285A JPS61173198A (ja) | 1985-01-29 | 1985-01-29 | 中性子遮蔽材 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1623285A JPS61173198A (ja) | 1985-01-29 | 1985-01-29 | 中性子遮蔽材 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS61173198A JPS61173198A (ja) | 1986-08-04 |
| JPH0431080B2 true JPH0431080B2 (ja) | 1992-05-25 |
Family
ID=11910805
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1623285A Granted JPS61173198A (ja) | 1985-01-29 | 1985-01-29 | 中性子遮蔽材 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS61173198A (ja) |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| FR2833402B1 (fr) * | 2001-12-12 | 2004-03-12 | Transnucleaire | Materiau de blindage neutronique et de maintien de la sous- criticite a base de resine vinylester |
| JP5037011B2 (ja) * | 2005-12-26 | 2012-09-26 | 株式会社リコー | 光学センサ装置 |
-
1985
- 1985-01-29 JP JP1623285A patent/JPS61173198A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS61173198A (ja) | 1986-08-04 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| EXPY | Cancellation because of completion of term |