JPH04313212A - 半導体ウエハの搬送装置 - Google Patents
半導体ウエハの搬送装置Info
- Publication number
- JPH04313212A JPH04313212A JP7132991A JP7132991A JPH04313212A JP H04313212 A JPH04313212 A JP H04313212A JP 7132991 A JP7132991 A JP 7132991A JP 7132991 A JP7132991 A JP 7132991A JP H04313212 A JPH04313212 A JP H04313212A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- duct
- wafer
- clean room
- semiconductor wafer
- wafer transfer
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
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- Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】この発明は、半導体ウエハの搬送
装置に関するものである。
装置に関するものである。
【0002】
【従来の技術】図4は、従来のクリーンルーム内に設置
された半導体ウエハの搬送装置を示す概略構成図である
。
された半導体ウエハの搬送装置を示す概略構成図である
。
【0003】図において、2はクリーンルーム、4は複
数枚の半導体ウエハ6をウエハカセット8に装填した状
態で搬送するためのウエハ搬送装置、10は生産装置、
12はウエハ搬送装置4と生産装置10との間でウエハ
カセット8をやりとりするトラバース装置である。ウエ
ハ搬送装置4、生産装置10、トラバース装置12はク
リーンルーム2内に設置されている。
数枚の半導体ウエハ6をウエハカセット8に装填した状
態で搬送するためのウエハ搬送装置、10は生産装置、
12はウエハ搬送装置4と生産装置10との間でウエハ
カセット8をやりとりするトラバース装置である。ウエ
ハ搬送装置4、生産装置10、トラバース装置12はク
リーンルーム2内に設置されている。
【0004】次に動作について説明する。例えば、前工
程で処理された半導体ウエハ6が装填されたウエハカセ
ット8は、ウエハ搬送装置4によって搬送されてきて、
トラバース装置12によりウエハ搬送装置4から生産装
置10に向けて送り込まれる。生産装置10で所定の処
理を受けた半導体ウエハ6を装填したウエハカセット8
は、トラバース装置12により生産装置10からウエハ
搬送装置4に向けて送り出され、ウエハ搬送装置4によ
って次の工程へと搬送される。
程で処理された半導体ウエハ6が装填されたウエハカセ
ット8は、ウエハ搬送装置4によって搬送されてきて、
トラバース装置12によりウエハ搬送装置4から生産装
置10に向けて送り込まれる。生産装置10で所定の処
理を受けた半導体ウエハ6を装填したウエハカセット8
は、トラバース装置12により生産装置10からウエハ
搬送装置4に向けて送り出され、ウエハ搬送装置4によ
って次の工程へと搬送される。
【0005】ウエハ搬送装置4から生産装置10への搬
送、あるいはその逆方向の搬送を作業者14が行う場合
もある。
送、あるいはその逆方向の搬送を作業者14が行う場合
もある。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】従来のウエハ搬送装置
4は、上記のようにクリーンルーム2内に設けられてい
るが、クリーンルーム2自体に対しては露出しているた
め、もしも、クリーンルーム2に設けられたフィルタ(
図示せず)でのリークや、作業者14による発塵等によ
ってクリーンルーム2内が汚染されると、半導体ウエハ
6の表面に汚染物質が付着してしまい、半導体ウエハ6
の生産において歩留まりが低下するという問題があった
。
4は、上記のようにクリーンルーム2内に設けられてい
るが、クリーンルーム2自体に対しては露出しているた
め、もしも、クリーンルーム2に設けられたフィルタ(
図示せず)でのリークや、作業者14による発塵等によ
ってクリーンルーム2内が汚染されると、半導体ウエハ
6の表面に汚染物質が付着してしまい、半導体ウエハ6
の生産において歩留まりが低下するという問題があった
。
【0007】この発明は、上記のような問題点を解消す
るために創案されたものであって、歩留まりの向上を図
ることができる半導体ウエハの搬送装置を得ることを目
的とする。
るために創案されたものであって、歩留まりの向上を図
ることができる半導体ウエハの搬送装置を得ることを目
的とする。
【0008】
【課題を解決するための手段】この発明に係る半導体ウ
エハの搬送装置は、クリーンルーム内に設置されており
、かつ、そのウエハ搬送経路をダクトで覆ってあるとと
もに、そのダクト内を不活性雰囲気にしてあることを特
徴とするものである。
エハの搬送装置は、クリーンルーム内に設置されており
、かつ、そのウエハ搬送経路をダクトで覆ってあるとと
もに、そのダクト内を不活性雰囲気にしてあることを特
徴とするものである。
【0009】
【作用】ウエハ搬送経路をダクトで覆い、内部を不活性
雰囲気にしてあるので、たとえクリーンルームが汚染さ
れたとしても、その塵が直接ウエハ搬送経路に侵入する
のを防止することはもちろん、ダクトの隙間から侵入す
るのも内外圧力差によって防止する。
雰囲気にしてあるので、たとえクリーンルームが汚染さ
れたとしても、その塵が直接ウエハ搬送経路に侵入する
のを防止することはもちろん、ダクトの隙間から侵入す
るのも内外圧力差によって防止する。
【0010】
【実施例】以下、この発明の一実施例を図面に基づいて
説明する。
説明する。
【0011】図1は、クリーンルーム内におけるウエハ
搬送装置を示す概略構成図である。
搬送装置を示す概略構成図である。
【0012】図1において、20は半導体ウエハ、22
は複数枚の半導体ウエハ20を装填しているウエハカセ
ット、24はウエハカセット22のステーション、26
は生産装置、28はステーション24と生産装置26と
の間を結ぶウエハ搬送経路、30はウエハ搬送経路28
を覆うダクト、32は生産装置26およびその周辺各装
置を設置しているクリーンルームである。
は複数枚の半導体ウエハ20を装填しているウエハカセ
ット、24はウエハカセット22のステーション、26
は生産装置、28はステーション24と生産装置26と
の間を結ぶウエハ搬送経路、30はウエハ搬送経路28
を覆うダクト、32は生産装置26およびその周辺各装
置を設置しているクリーンルームである。
【0013】図2は、ダクト30の内部の構造を示す断
面図である。ダクト30の内部には、半導体ウエハ20
を装填したウエハカセット22を搬送するためのベルト
コンベア34が配設されている。ダクト30の内部は不
活性雰囲気となるよう、ダクト30に対して窒素ガスな
どの不活性ガスが供給されるようになっている(図3で
説明する)。36aはダクト30に連通接続された排気
枝管、52aは同様に接続された供給枝管である。
面図である。ダクト30の内部には、半導体ウエハ20
を装填したウエハカセット22を搬送するためのベルト
コンベア34が配設されている。ダクト30の内部は不
活性雰囲気となるよう、ダクト30に対して窒素ガスな
どの不活性ガスが供給されるようになっている(図3で
説明する)。36aはダクト30に連通接続された排気
枝管、52aは同様に接続された供給枝管である。
【0014】図3は、ダクト30に対する不活性ガスの
吸排気経路を示す流れ図である。図3において、38は
不活性ガスボンベ、40は温度調整用コイル、42はフ
ィルタ、44は循環用ファン、46は逆止弁であり、4
8は循環系、50は不活性ガス供給のバックアップ系を
示す。
吸排気経路を示す流れ図である。図3において、38は
不活性ガスボンベ、40は温度調整用コイル、42はフ
ィルタ、44は循環用ファン、46は逆止弁であり、4
8は循環系、50は不活性ガス供給のバックアップ系を
示す。
【0015】不活性ガスボンベ38から温度調整用コイ
ル40、フィルタ42および逆止弁46aを介して不活
性ガス供給管52に不活性ガスを注入供給する。不活性
ガス供給管52からは、複数の供給枝管52aおよび逆
止弁46bを介してダクト30に不活性ガスを供給する
。この不活性ガスは、温度調整用コイル40によって所
定の一定温度に維持されるとともに、フィルタ42によ
って極微細な塵が除去された高清浄度を保っている。
ル40、フィルタ42および逆止弁46aを介して不活
性ガス供給管52に不活性ガスを注入供給する。不活性
ガス供給管52からは、複数の供給枝管52aおよび逆
止弁46bを介してダクト30に不活性ガスを供給する
。この不活性ガスは、温度調整用コイル40によって所
定の一定温度に維持されるとともに、フィルタ42によ
って極微細な塵が除去された高清浄度を保っている。
【0016】ダクト30内において不活性ガスは流動し
、一部が複数の排気枝管36aおよび逆止弁46cを介
して排気管36に至り、さらに、循環用ファン44へと
吸引される。
、一部が複数の排気枝管36aおよび逆止弁46cを介
して排気管36に至り、さらに、循環用ファン44へと
吸引される。
【0017】半導体ウエハ20を装填したウエハカセッ
ト22はウエハ搬送経路28を形成しているベルトコン
ベア34によってステーション24から次工程の生産装
置26へと搬入される。ウエハ搬送経路28はダクト3
0によって覆われ、そのダクト30内は一定温度で高清
浄度を保った不活性雰囲気となっている。
ト22はウエハ搬送経路28を形成しているベルトコン
ベア34によってステーション24から次工程の生産装
置26へと搬入される。ウエハ搬送経路28はダクト3
0によって覆われ、そのダクト30内は一定温度で高清
浄度を保った不活性雰囲気となっている。
【0018】したがって、たとえ、ダクト30の外部で
あるクリーンルーム32内で汚染が発生したとしても、
その汚染物質がウエハ搬送経路28に侵入することはダ
クト30によって防止される。ダクト30に隙間があっ
たとしても、ダクト30の内部圧力は外部圧力(クリー
ンルーム32内の圧力)よりも高いため、ダクト30か
らクリーンルーム32側への漏れはあっても、クリーン
ルーム32からダクト30内へのエアの侵入はない。そ
のため、高清浄な不活性雰囲気下で半導体ウエハ20を
搬送することができ、クリーンルーム32での汚染発生
にもかかわらず半導体ウエハ20に汚染物質が付着する
ことを確実に防止する。
あるクリーンルーム32内で汚染が発生したとしても、
その汚染物質がウエハ搬送経路28に侵入することはダ
クト30によって防止される。ダクト30に隙間があっ
たとしても、ダクト30の内部圧力は外部圧力(クリー
ンルーム32内の圧力)よりも高いため、ダクト30か
らクリーンルーム32側への漏れはあっても、クリーン
ルーム32からダクト30内へのエアの侵入はない。そ
のため、高清浄な不活性雰囲気下で半導体ウエハ20を
搬送することができ、クリーンルーム32での汚染発生
にもかかわらず半導体ウエハ20に汚染物質が付着する
ことを確実に防止する。
【0019】ダクト30の内部では主にベルトコンベア
34の駆動部において発塵の可能性がある。しかし、循
環用ファン44を常時的に駆動してベルトコンベア34
の下方の排気枝管36aから排気管36を介して連続的
に排気しているので、ベルトコンベア34の駆動部など
ダクト30内で発生した塵なども半導体ウエハ20に接
触させることなく確実に排出することができる。その塵
は循環系48におけるフィルタ42によって除去される
。また、循環用ファン44によって不活性ガス供給管5
2からダクト30、排気管36へと循環する不活性ガス
は、循環系48における温度調整用コイル40によって
所定の一定温度に維持されるとともに、フィルタ42に
よって高清浄度に維持される。
34の駆動部において発塵の可能性がある。しかし、循
環用ファン44を常時的に駆動してベルトコンベア34
の下方の排気枝管36aから排気管36を介して連続的
に排気しているので、ベルトコンベア34の駆動部など
ダクト30内で発生した塵なども半導体ウエハ20に接
触させることなく確実に排出することができる。その塵
は循環系48におけるフィルタ42によって除去される
。また、循環用ファン44によって不活性ガス供給管5
2からダクト30、排気管36へと循環する不活性ガス
は、循環系48における温度調整用コイル40によって
所定の一定温度に維持されるとともに、フィルタ42に
よって高清浄度に維持される。
【0020】不活性ガスの供給系および循環系の要所に
逆止弁46を設けることで、不安定な圧力変動が発生し
ても、不活性ガスの流れの逆流を防止し、ダクト30内
が汚染されるのを確実に防止する。
逆止弁46を設けることで、不安定な圧力変動が発生し
ても、不活性ガスの流れの逆流を防止し、ダクト30内
が汚染されるのを確実に防止する。
【0021】以上によって、ウエハカセット22に装填
されてベルトコンベア34によって搬送される半導体ウ
エハ20は、汚染物質の付着が確実に防止され、高清浄
度を保った状態で搬送されることになり、半導体ウエハ
20の生産の歩留まりを向上することができる。
されてベルトコンベア34によって搬送される半導体ウ
エハ20は、汚染物質の付着が確実に防止され、高清浄
度を保った状態で搬送されることになり、半導体ウエハ
20の生産の歩留まりを向上することができる。
【0022】
【発明の効果】以上のようにこの発明によれば、ウエハ
搬送経路をダクトで覆った上に、ダクト内を不活性雰囲
気にしてあるので、クリーンルームが汚染されても、そ
の汚染による悪影響がウエハ搬送経路にまで及んでくる
こと、すなわち、ウエハに塵などの異物が付着すること
を確実に防止でき、ウエハ生産の歩留まりを向上させる
ことができるという効果を奏する。
搬送経路をダクトで覆った上に、ダクト内を不活性雰囲
気にしてあるので、クリーンルームが汚染されても、そ
の汚染による悪影響がウエハ搬送経路にまで及んでくる
こと、すなわち、ウエハに塵などの異物が付着すること
を確実に防止でき、ウエハ生産の歩留まりを向上させる
ことができるという効果を奏する。
【図1】本発明の一実施例に係るクリーンルーム内に設
置された半導体ウエハ搬送装置を示す概略構成図である
。
置された半導体ウエハ搬送装置を示す概略構成図である
。
【図2】実施例に係るダクトの内部の構造を示す断面図
である。
である。
【図3】実施例に係るダクトに対する不活性ガスの吸排
気経路を示す流れ図である。
気経路を示す流れ図である。
【図4】従来例に係るクリーンルーム内に設置された半
導体ウエハ搬送装置を示す概略構成図である。
導体ウエハ搬送装置を示す概略構成図である。
20 半導体ウエハ 36
排気管22 ウエハカセット
36a 排気枝管28 ウエハ搬送経路
38 不活性ガスボンベ 30 ダクト
40 温度調整用コイル 32 クリーンルーム 42
フィルタ34 ベルトコンベア
44 循環用ファン46 逆止弁
排気管22 ウエハカセット
36a 排気枝管28 ウエハ搬送経路
38 不活性ガスボンベ 30 ダクト
40 温度調整用コイル 32 クリーンルーム 42
フィルタ34 ベルトコンベア
44 循環用ファン46 逆止弁
Claims (1)
- 【請求項1】 クリーンルーム内に設置されており、
かつ、そのウエハ搬送経路をダクトで覆ってあるととも
に、そのダクト内を不活性雰囲気にしてあることを特徴
とする半導体ウエハの搬送装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7132991A JPH04313212A (ja) | 1991-04-04 | 1991-04-04 | 半導体ウエハの搬送装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7132991A JPH04313212A (ja) | 1991-04-04 | 1991-04-04 | 半導体ウエハの搬送装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH04313212A true JPH04313212A (ja) | 1992-11-05 |
Family
ID=13457395
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP7132991A Pending JPH04313212A (ja) | 1991-04-04 | 1991-04-04 | 半導体ウエハの搬送装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH04313212A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2020161654A (ja) * | 2019-03-27 | 2020-10-01 | 株式会社オーク製作所 | 収納体搬送装置及びレーザ加工装置 |
-
1991
- 1991-04-04 JP JP7132991A patent/JPH04313212A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2020161654A (ja) * | 2019-03-27 | 2020-10-01 | 株式会社オーク製作所 | 収納体搬送装置及びレーザ加工装置 |
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