JPH04314229A - ディジタルデータ抽出装置 - Google Patents
ディジタルデータ抽出装置Info
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- JPH04314229A JPH04314229A JP3079963A JP7996391A JPH04314229A JP H04314229 A JPH04314229 A JP H04314229A JP 3079963 A JP3079963 A JP 3079963A JP 7996391 A JP7996391 A JP 7996391A JP H04314229 A JPH04314229 A JP H04314229A
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- JP
- Japan
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- timing
- vco
- transistor
- extraction
- oscillation
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- Signal Processing For Digital Recording And Reproducing (AREA)
- Stabilization Of Oscillater, Synchronisation, Frequency Synthesizers (AREA)
- Synchronisation In Digital Transmission Systems (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】この発明は、フェイズロックドル
ープを用いたディジタルデータ抽出装置に関する。
ープを用いたディジタルデータ抽出装置に関する。
【0002】
【従来の技術】従来、データ通信等の分野において、フ
ェイズロックドループ(以下、「PLL」という)を用
いたディジタルデータ抽出装置が広く使用されている。
ェイズロックドループ(以下、「PLL」という)を用
いたディジタルデータ抽出装置が広く使用されている。
【0003】まず、図4〜図6を参照しながら、従来の
この種のディジタルデータ抽出装置について説明する。
この種のディジタルデータ抽出装置について説明する。
【0004】図4は、従来のディジタルデータ抽出装置
の一例を示すものである。入力端子1からの入力データ
Dinはタイミング回路2およびDフリップフロップ(
以下、「DFF」という)3に供給される。
の一例を示すものである。入力端子1からの入力データ
Dinはタイミング回路2およびDフリップフロップ(
以下、「DFF」という)3に供給される。
【0005】また、タイミング回路2からのタイミング
パルスPtと電圧制御発振器(以下、「VCO」という
)5の発振出力Poとが位相比較器4に供給される。 この位相比較器4からの比較誤差出力はローパスフィル
タ6および直流アンプ7を介してVCO5に制御電圧と
して帰還され、PLLが構成される。
パルスPtと電圧制御発振器(以下、「VCO」という
)5の発振出力Poとが位相比較器4に供給される。 この位相比較器4からの比較誤差出力はローパスフィル
タ6および直流アンプ7を介してVCO5に制御電圧と
して帰還され、PLLが構成される。
【0006】また、VCO5の発振出力Poは遅延回路
8を介してクロックCKとしてDFF3に供給されると
共に、そのクロックCKはクロック出力端子9に出力さ
れる。DFF3の出力は抽出データDoutとしてデー
タ出力端子10に出力される。
8を介してクロックCKとしてDFF3に供給されると
共に、そのクロックCKはクロック出力端子9に出力さ
れる。DFF3の出力は抽出データDoutとしてデー
タ出力端子10に出力される。
【0007】次に、図5および図6を使用して動作を説
明する。タイミング回路2に図5Aに示すようなデータ
周期Tの入力データDinが供給されると、タイミング
回路2では入力データDinを遅延量Dだけ遅らせたデ
ータを形成し、この遅らせたデータと入力データDin
との排他的論理和をとって、同図Bに示すようなパルス
幅DのタイミングパルスPtが形成される。なお、図示
の例ではパルス幅DをT/2に設定しているが、一般に
は0<D<Tであればよい。
明する。タイミング回路2に図5Aに示すようなデータ
周期Tの入力データDinが供給されると、タイミング
回路2では入力データDinを遅延量Dだけ遅らせたデ
ータを形成し、この遅らせたデータと入力データDin
との排他的論理和をとって、同図Bに示すようなパルス
幅DのタイミングパルスPtが形成される。なお、図示
の例ではパルス幅DをT/2に設定しているが、一般に
は0<D<Tであればよい。
【0008】タイミング回路2からのタイミングパルス
PtはVCO5(その自由発振周波数は予め入力データ
のクロック周波数fcの近傍に設定される)の発振出力
Poと位相比較され、位相比較器4からの比較誤差出力
がVCO5に帰還されて、VCO5は、いわゆるロック
イン状態となる。このときのVCO5の発振出力Poお
よび位相比較器4の比較誤差出力は、それぞれ図5Cお
よびEに示すようになる。
PtはVCO5(その自由発振周波数は予め入力データ
のクロック周波数fcの近傍に設定される)の発振出力
Poと位相比較され、位相比較器4からの比較誤差出力
がVCO5に帰還されて、VCO5は、いわゆるロック
イン状態となる。このときのVCO5の発振出力Poお
よび位相比較器4の比較誤差出力は、それぞれ図5Cお
よびEに示すようになる。
【0009】この場合、VCO5の発振出力Poのデュ
ーティ比(dutyratio )が正確に1/2で一
定していれば、発振出力Poの立ち上がりタイミングは
、タイミングパルスPtの立ち下がり(ビットセルの中
心)のタイミングよりもD/2だけ進む。
ーティ比(dutyratio )が正確に1/2で一
定していれば、発振出力Poの立ち上がりタイミングは
、タイミングパルスPtの立ち下がり(ビットセルの中
心)のタイミングよりもD/2だけ進む。
【0010】ロックイン時に定常的なオフセット誤差が
ある場合、VCO5の発振出力Poおよび位相比較器4
の比較誤差出力は、それぞれ図5DおよびFに示すよう
になる。このような状態はロックインの前にも過渡的に
現われる。
ある場合、VCO5の発振出力Poおよび位相比較器4
の比較誤差出力は、それぞれ図5DおよびFに示すよう
になる。このような状態はロックインの前にも過渡的に
現われる。
【0011】なお、図5Gの破線および実線は、ロック
インの前および後にローパスフィルタ6より出力される
制御電圧を示している。
インの前および後にローパスフィルタ6より出力される
制御電圧を示している。
【0012】上述したように、VCO5の発振出力Po
の立ち上がりタイミングはビットセルの中心のタイミン
グよりもD/2=T/4だけ進んでいるが、ビットセル
の中心は原則としてデータ抽出に最も適したタイミング
である。そのため、VCO5の発振出力Poは遅延回路
8でD/2だけ遅延され(図5Hに図示)、DFF3に
クロックCKとして供給される。これにより、DFF3
からは、図5Iに示すようにデータDoutが抽出され
る。
の立ち上がりタイミングはビットセルの中心のタイミン
グよりもD/2=T/4だけ進んでいるが、ビットセル
の中心は原則としてデータ抽出に最も適したタイミング
である。そのため、VCO5の発振出力Poは遅延回路
8でD/2だけ遅延され(図5Hに図示)、DFF3に
クロックCKとして供給される。これにより、DFF3
からは、図5Iに示すようにデータDoutが抽出され
る。
【0013】図4に示すデータ抽出装置では、図6Aに
示すようなデータレート(データ周期T)の入力データ
Dinが供給される場合は、タイミング回路2およびP
LLは上述のような所定の動作をする。そのため、タイ
ミングパルスPt、発振出力PoおよびクロックCKは
、それぞれ図6B,CおよびDに示すようになる。
示すようなデータレート(データ周期T)の入力データ
Dinが供給される場合は、タイミング回路2およびP
LLは上述のような所定の動作をする。そのため、タイ
ミングパルスPt、発振出力PoおよびクロックCKは
、それぞれ図6B,CおよびDに示すようになる。
【0014】ここで、図6Eに示すようなデータレート
の小さい入力データDinが供給される場合を考える。 この場合、タイミングパルスPtのパルス幅Dと、この
タイミングパルスPtの立ち下がりタイミングに対する
発振出力Poの立ち上がりタイミングの時間差D/2は
変わらない(図6FおよびGに図示)。これに対して、
クロックCKは発振出力PoがD/2だけ遅延されて形
成されるので、図6Hに示すように、その立ち上がりタ
イミングは最適抽出タイミング(ビットセルの中心のタ
イミング)より前にずれる。
の小さい入力データDinが供給される場合を考える。 この場合、タイミングパルスPtのパルス幅Dと、この
タイミングパルスPtの立ち下がりタイミングに対する
発振出力Poの立ち上がりタイミングの時間差D/2は
変わらない(図6FおよびGに図示)。これに対して、
クロックCKは発振出力PoがD/2だけ遅延されて形
成されるので、図6Hに示すように、その立ち上がりタ
イミングは最適抽出タイミング(ビットセルの中心のタ
イミング)より前にずれる。
【0015】データレートの大きい入力データDinに
関しては、上述とは逆に、クロックCKの立ち上がりタ
イミングは最適抽出タイミングより後にずれる。
関しては、上述とは逆に、クロックCKの立ち上がりタ
イミングは最適抽出タイミングより後にずれる。
【0016】このような問題を解決するため、本出願人
は、図7や図9に示すようなデータ抽出装置を提案した
。これらの図において、図4と対応する部分には同一符
号を付して重複説明を省略する。
は、図7や図9に示すようなデータ抽出装置を提案した
。これらの図において、図4と対応する部分には同一符
号を付して重複説明を省略する。
【0017】まず、図7の例について説明する。5Bは
VCOであり、正相および逆相の発振出力Po+,Po
−が得られる。発振出力Po+は位相比較器4に供給さ
れ、発振出力Po−はDFF3にクロックCKとして供
給されると共に、クロック出力端子9に出力される。ま
た、入力データDinは遅延回路8でD/2だけ遅延さ
れてDFF3に供給される。その他の構成は、図4の例
と同様である。
VCOであり、正相および逆相の発振出力Po+,Po
−が得られる。発振出力Po+は位相比較器4に供給さ
れ、発振出力Po−はDFF3にクロックCKとして供
給されると共に、クロック出力端子9に出力される。ま
た、入力データDinは遅延回路8でD/2だけ遅延さ
れてDFF3に供給される。その他の構成は、図4の例
と同様である。
【0018】次に、図8を使用して動作を説明する。図
8Aに示すようなデータ周期Tの入力データDinが供
給されると、タイミング回路2からのタイミングパルス
PtおよびVCO5Bの発振出力Po+は、図4の例で
説明したと同様に、図8BおよびCに示すようになる。
8Aに示すようなデータ周期Tの入力データDinが供
給されると、タイミング回路2からのタイミングパルス
PtおよびVCO5Bの発振出力Po+は、図4の例で
説明したと同様に、図8BおよびCに示すようになる。
【0019】クロックCK(発振出力Po−)は、同図
Dに示すように、その立ち上がりタイミングが入力デー
タDinのビットセルの中心のタイミングよりD/2だ
け進んだものとなる。DFF3には入力データDinが
遅延回路8でD/2だけ遅延されて供給される(図8E
に図示)。クロックCKの立ち上がりタイミングはこの
遅延された入力データDin′のビットセルの中心のタ
イミングと一致したものとなり、DFF3では最適タイ
ミングでデータDoutが抽出される。
Dに示すように、その立ち上がりタイミングが入力デー
タDinのビットセルの中心のタイミングよりD/2だ
け進んだものとなる。DFF3には入力データDinが
遅延回路8でD/2だけ遅延されて供給される(図8E
に図示)。クロックCKの立ち上がりタイミングはこの
遅延された入力データDin′のビットセルの中心のタ
イミングと一致したものとなり、DFF3では最適タイ
ミングでデータDoutが抽出される。
【0020】データレートの小さい入力データDinが
供給される場合、遅延回路8で遅延された入力データD
in′は、図8Fに示すようになる。この場合も、図8
Gに示すようにクロックCK(発振出力Po−)の立ち
上がりタイミングは、遅延された入力データDin′の
ビットセルの中心のタイミングと一致したものとなり、
DFF3では最適タイミングでデータDoutが抽出さ
れる。
供給される場合、遅延回路8で遅延された入力データD
in′は、図8Fに示すようになる。この場合も、図8
Gに示すようにクロックCK(発振出力Po−)の立ち
上がりタイミングは、遅延された入力データDin′の
ビットセルの中心のタイミングと一致したものとなり、
DFF3では最適タイミングでデータDoutが抽出さ
れる。
【0021】データレートの大きい入力データDinが
供給される場合も、上述と全く同様であり、データレー
トの如何に拘らず、最適タイミングでデータDoutを
抽出できる。
供給される場合も、上述と全く同様であり、データレー
トの如何に拘らず、最適タイミングでデータDoutを
抽出できる。
【0022】次に、図9の例について説明する。同図に
おいて、入力データDinは直接DFF3に供給される
と共に、このDFF3にVCO5Bの正相の発振出力P
o+がクロックCKとして供給される。また、VCO5
Bの逆相の発振出力Po−は遅延回路8でD/2だけ遅
延されて位相比較器4に供給される。その他の構成は図
7の例と同様である。
おいて、入力データDinは直接DFF3に供給される
と共に、このDFF3にVCO5Bの正相の発振出力P
o+がクロックCKとして供給される。また、VCO5
Bの逆相の発振出力Po−は遅延回路8でD/2だけ遅
延されて位相比較器4に供給される。その他の構成は図
7の例と同様である。
【0023】図9の例では、図8Aに示すような入力デ
ータDinが供給される場合、遅延回路8で遅延された
VCO5Bの発振出力Po−が、図8Cに示した発振出
力Po+と同じ位相関係で位相比較器4に供給されれば
、VCO5Bはロックインする。このとき、VCO5B
の発振出力Po+,Po−の位相関係は、それぞれ図8
HおよびIに示すようになる。
ータDinが供給される場合、遅延回路8で遅延された
VCO5Bの発振出力Po−が、図8Cに示した発振出
力Po+と同じ位相関係で位相比較器4に供給されれば
、VCO5Bはロックインする。このとき、VCO5B
の発振出力Po+,Po−の位相関係は、それぞれ図8
HおよびIに示すようになる。
【0024】図8AおよびHから明らかなように、クロ
ックCK(VCO5Bの発振出力Po+)の立ち上がり
タイミングは、入力データDinのビットセルの中心タ
イミングと一致したものとなる。この位相関係はデータ
レートが変動しても変わらないので、図9の例でも、デ
ータレートの如何に拘らず、DFF3では最適のタイミ
ングでデータDoutを抽出できる。
ックCK(VCO5Bの発振出力Po+)の立ち上がり
タイミングは、入力データDinのビットセルの中心タ
イミングと一致したものとなる。この位相関係はデータ
レートが変動しても変わらないので、図9の例でも、デ
ータレートの如何に拘らず、DFF3では最適のタイミ
ングでデータDoutを抽出できる。
【0025】
【発明が解決しようとする課題】ところで、図7、図9
の例では、素子のバラツキの範囲内でVCO5Bの発振
出力Po+,Po−のデューティ比を1/2に保つこと
ができるので、データDoutの抽出タイミングは入力
データDin(Din′)のビットセル(抽出窓)の中
心にあるものとして考えてきたものである。
の例では、素子のバラツキの範囲内でVCO5Bの発振
出力Po+,Po−のデューティ比を1/2に保つこと
ができるので、データDoutの抽出タイミングは入力
データDin(Din′)のビットセル(抽出窓)の中
心にあるものとして考えてきたものである。
【0026】しかし、素子のバラツキが大きい場合には
、発振出力Po+,Po−のデューティ比を1/2に保
つことができず、データDoutの抽出タイミングをビ
ットセルの中心とすることができなくなる。また、ビッ
トセルの中心が必ずしも最適エラーレートにならない場
合は、抽出タイミングをビットセルの中心としても最適
エラーレートとはならない。
、発振出力Po+,Po−のデューティ比を1/2に保
つことができず、データDoutの抽出タイミングをビ
ットセルの中心とすることができなくなる。また、ビッ
トセルの中心が必ずしも最適エラーレートにならない場
合は、抽出タイミングをビットセルの中心としても最適
エラーレートとはならない。
【0027】このような場合は、悪化したエラーレート
で我慢するか、あるいは外部に調整用の微少な遅延線を
設ける必要があった。
で我慢するか、あるいは外部に調整用の微少な遅延線を
設ける必要があった。
【0028】そこで、この発明では、調整に遅延線等を
使用することなく、データ抽出時のエラーレートを最小
とできるようにするものである。
使用することなく、データ抽出時のエラーレートを最小
とできるようにするものである。
【0029】
【課題を解決するための手段】この発明は、相補的なタ
イミングを有する1対の出力を発生する電圧制御発振器
と、1対の出力の一方と入力ディジタルデータから抽出
されたクロックとの位相比較を行なう位相比較器とを有
し、位相比較器の出力によって電圧制御発振器の周波数
制御を行なうと共に、1対の出力の他方によってディジ
タルデータの抽出を行なうディジタルデータ抽出装置に
おいて、電圧制御発振器に1対の出力のデューティ比を
可変する手段を設けるものである。
イミングを有する1対の出力を発生する電圧制御発振器
と、1対の出力の一方と入力ディジタルデータから抽出
されたクロックとの位相比較を行なう位相比較器とを有
し、位相比較器の出力によって電圧制御発振器の周波数
制御を行なうと共に、1対の出力の他方によってディジ
タルデータの抽出を行なうディジタルデータ抽出装置に
おいて、電圧制御発振器に1対の出力のデューティ比を
可変する手段を設けるものである。
【0030】
【作用】電圧制御発振器5Bの1対の出力Po+,Po
−のデューティ比を可変することにより、ディジタルデ
ータの抽出タイミングをエラーレートが最小となるタイ
ミングに調整することができる。つまり、遅延線等を用
いずに抽出時のエラーレートを最小にすることができる
。
−のデューティ比を可変することにより、ディジタルデ
ータの抽出タイミングをエラーレートが最小となるタイ
ミングに調整することができる。つまり、遅延線等を用
いずに抽出時のエラーレートを最小にすることができる
。
【0031】
【実施例】以下、図1を参照しながら、この発明の一実
施例について説明する。この図1において、図7と対応
する部分には同一符号を付し、その詳細説明は省略する
。
施例について説明する。この図1において、図7と対応
する部分には同一符号を付し、その詳細説明は省略する
。
【0032】本例においては、VCO5Bに発振出力P
o+,Po−のデューティ比を可変する手段が設けられ
る。つまり、可変抵抗器VR1の可動子の位置を動かす
ことで、発振出力Po+,Po−のデューティ比を可変
できるように構成される。
o+,Po−のデューティ比を可変する手段が設けられ
る。つまり、可変抵抗器VR1の可動子の位置を動かす
ことで、発振出力Po+,Po−のデューティ比を可変
できるように構成される。
【0033】図2は、VCO5Bの具体構成を示すもの
である。同図において、GNDは接地端子、VEEは負
の直流電圧が供給される電源端子である。C1はNPN
形トランジスタQ7,Q13のエミッタ間に配されたタ
イミング用のコンデンサである。
である。同図において、GNDは接地端子、VEEは負
の直流電圧が供給される電源端子である。C1はNPN
形トランジスタQ7,Q13のエミッタ間に配されたタ
イミング用のコンデンサである。
【0034】Q6,Q12は、それぞれ定電流回路を構
成するNPN形トランジスタである。そのコレクタ電流
I1,I2を可変することで発振周波数を調整できる。 つまり、トランジスタQ6,Q12のベースには直流ア
ンプ7(図1参照)より制御電圧CVが供給される。
成するNPN形トランジスタである。そのコレクタ電流
I1,I2を可変することで発振周波数を調整できる。 つまり、トランジスタQ6,Q12のベースには直流ア
ンプ7(図1参照)より制御電圧CVが供給される。
【0035】トランジスタQ6,Q12のエミッタ間に
は、抵抗器R14,可変抵抗器VR1および抵抗器R1
5の直列回路が接続される。可変抵抗器VR1の可動子
位置を動かすことで、トランジスタQ6,Q12のエミ
ッタ抵抗が変化し、それぞれコレクタ電流I1,I2が
変化する。この場合、一方の電流が増加するとき、他方
の電流は減少する。増加量と減少量とはほぼ等しく、コ
レクタ電流I1,I2の総和は制御電圧CVで決まる一
定値となる。
は、抵抗器R14,可変抵抗器VR1および抵抗器R1
5の直列回路が接続される。可変抵抗器VR1の可動子
位置を動かすことで、トランジスタQ6,Q12のエミ
ッタ抵抗が変化し、それぞれコレクタ電流I1,I2が
変化する。この場合、一方の電流が増加するとき、他方
の電流は減少する。増加量と減少量とはほぼ等しく、コ
レクタ電流I1,I2の総和は制御電圧CVで決まる一
定値となる。
【0036】次に、図2に示すVCO5Bの発振動作に
ついて説明する。差動の回路がバランスしている状態か
ら、何らかの原因でアンバランスが発生したとする(実
際には、電源投入時に安定点に到る過程、回路のアンバ
ランスにより自動的に発振が始まる)。
ついて説明する。差動の回路がバランスしている状態か
ら、何らかの原因でアンバランスが発生したとする(実
際には、電源投入時に安定点に到る過程、回路のアンバ
ランスにより自動的に発振が始まる)。
【0037】相対的にP1点(トランジスタQ7のベー
ス)の電位がP2点(トランジスタQ13のベース)の
電位に比べて若干でも高くなると、トランジスタQ7が
導通し始め、トランジスタQ5→Q3→Q2→Q7の正
帰還ループでもってトランジスタQ7は直ちにオン状態
となる。そして、P1点の電位はハイレベルに安定し、
P2点の電位はローレベルに安定する。
ス)の電位がP2点(トランジスタQ13のベース)の
電位に比べて若干でも高くなると、トランジスタQ7が
導通し始め、トランジスタQ5→Q3→Q2→Q7の正
帰還ループでもってトランジスタQ7は直ちにオン状態
となる。そして、P1点の電位はハイレベルに安定し、
P2点の電位はローレベルに安定する。
【0038】このように安定した瞬間から、トランジス
タQ7のエミッタ電位は固定(P1点の電位−トランジ
スタQ7のベース・エミッタ間電圧VBE)となる。一
方、コンデンサC1は実線方向に電流I2で充電される
ため、トランジスタQ13のエミッタ電位は徐々に下が
っていく。このとき、トランジスタQ13はオフ状態で
あり、電流は流れない。
タQ7のエミッタ電位は固定(P1点の電位−トランジ
スタQ7のベース・エミッタ間電圧VBE)となる。一
方、コンデンサC1は実線方向に電流I2で充電される
ため、トランジスタQ13のエミッタ電位は徐々に下が
っていく。このとき、トランジスタQ13はオフ状態で
あり、電流は流れない。
【0039】電流I2による充電が進むと、トランジス
タQ13のベース・エミッタ間電圧VBEが徐々に大き
くなり、ある瞬間にトランジスタQ13が導通し始める
。 その結果、トランジスタQ15のベース電位がトランジ
スタQ5のベース電位より低くなると、状態が反転する
。そして、トランジスタQ15→Q16→Q18→Q1
3の正帰還ループでもってトランジスタQ13は直ちに
オン状態となり、P2点の電位はハイレベルに安定し、
P1点の電位はローレベルに安定する。
タQ13のベース・エミッタ間電圧VBEが徐々に大き
くなり、ある瞬間にトランジスタQ13が導通し始める
。 その結果、トランジスタQ15のベース電位がトランジ
スタQ5のベース電位より低くなると、状態が反転する
。そして、トランジスタQ15→Q16→Q18→Q1
3の正帰還ループでもってトランジスタQ13は直ちに
オン状態となり、P2点の電位はハイレベルに安定し、
P1点の電位はローレベルに安定する。
【0040】このように安定した状態から、トランジス
タQ13のエミッタ電位は固定(P2点の電位−トラン
ジスタQ13のベース・エミッタ間電圧VBE)となる
。 一方、コンデンサC1は破線方向に電流I1で充電され
るため、トランジスタQ7の電位は徐々に下がっていく
。このとき、トランジスタQ7はオフ状態であり、電流
は流れない。
タQ13のエミッタ電位は固定(P2点の電位−トラン
ジスタQ13のベース・エミッタ間電圧VBE)となる
。 一方、コンデンサC1は破線方向に電流I1で充電され
るため、トランジスタQ7の電位は徐々に下がっていく
。このとき、トランジスタQ7はオフ状態であり、電流
は流れない。
【0041】電流I1による充電が進むと、トランジス
タQ7のベース・エミッタ間電圧VBEが徐々に大きく
なり、ある瞬間にトランジスタQ7が導通し始める。
タQ7のベース・エミッタ間電圧VBEが徐々に大きく
なり、ある瞬間にトランジスタQ7が導通し始める。
【0042】以下、上述したと同様に動作し、トランジ
スタQ7,Q13が交互にオンオフする。このとき、ト
ランジスタQ21,Q19が交互にオンオフするため、
トランジスタQ22,Q23のエミッタより相補的なタ
イミングを有する1対の発振出力Po+,Po−が出力
される。
スタQ7,Q13が交互にオンオフする。このとき、ト
ランジスタQ21,Q19が交互にオンオフするため、
トランジスタQ22,Q23のエミッタより相補的なタ
イミングを有する1対の発振出力Po+,Po−が出力
される。
【0043】ここで、トランジスタQ7,Q13のエミ
ッタ間の電圧をV、コンデンサC1の容量をC、トラン
ジスタQ6,Q12のコレクタ電流I1,I2をそれぞ
れI、時間をtとすると、 V=I・t/C となる。この電圧Vが、P1点とP2点の電位差以上に
なると、状態の反転が起こる。
ッタ間の電圧をV、コンデンサC1の容量をC、トラン
ジスタQ6,Q12のコレクタ電流I1,I2をそれぞ
れI、時間をtとすると、 V=I・t/C となる。この電圧Vが、P1点とP2点の電位差以上に
なると、状態の反転が起こる。
【0044】また、上述したように可変抵抗器VR1の
可動子位置を動かすと、トランジスタQ6,Q12のコ
レクタ電流I1,I2が変化する。上述したように一方
が増加するとき他方が減少し、しかも総和は一定値とな
るので、トランジスタQ7,Q13の一方のオン期間が
増加すると、他方のオン期間はその分だけ減少する。し
たがって、周波数を変化させることなく、発振出力Po
+,Po−のデューティ比が変更される。
可動子位置を動かすと、トランジスタQ6,Q12のコ
レクタ電流I1,I2が変化する。上述したように一方
が増加するとき他方が減少し、しかも総和は一定値とな
るので、トランジスタQ7,Q13の一方のオン期間が
増加すると、他方のオン期間はその分だけ減少する。し
たがって、周波数を変化させることなく、発振出力Po
+,Po−のデューティ比が変更される。
【0045】なお、温度変化があると回路に流れる電流
が変化し、これにより信号振幅が変化して発振周波数が
変化する。図2の例では、トランジスタQ1,Q4,Q
14,Q17,Q20のベースに温度変化に対応したバ
イアスVR3を供給して、温度変化による電流変化を吸
収している。
が変化し、これにより信号振幅が変化して発振周波数が
変化する。図2の例では、トランジスタQ1,Q4,Q
14,Q17,Q20のベースに温度変化に対応したバ
イアスVR3を供給して、温度変化による電流変化を吸
収している。
【0046】図3には、図2の各部の波形例を示してい
る。図3Aの実線aはトランジスタQ7のコレクタ電位
、同図の実線bはトランジスタQ7のベース電位、同図
の破線cはトランジスタQ13のコレクタ電位、同図の
破線dはトランジスタQ13のベース電位である。
る。図3Aの実線aはトランジスタQ7のコレクタ電位
、同図の実線bはトランジスタQ7のベース電位、同図
の破線cはトランジスタQ13のコレクタ電位、同図の
破線dはトランジスタQ13のベース電位である。
【0047】図3Bの実線eはトランジスタQ7のエミ
ッタ電位、同図の破線fはトランジスタQ13のエミッ
タ電位である。それぞれ、電流I1,I2が変化するこ
とにより、傾斜の角度が変化する。
ッタ電位、同図の破線fはトランジスタQ13のエミッ
タ電位である。それぞれ、電流I1,I2が変化するこ
とにより、傾斜の角度が変化する。
【0048】図3Cの実線gはトランジスタQ7のコレ
クタ電流、同図の破線hはトランジスタQ13のコレク
タ電流である。そして、図3D,Eは、それぞれトラン
ジスタQ22,Q23より出力される発振出力Po+,
Po−である。
クタ電流、同図の破線hはトランジスタQ13のコレク
タ電流である。そして、図3D,Eは、それぞれトラン
ジスタQ22,Q23より出力される発振出力Po+,
Po−である。
【0049】このように本例においては、VCO5Bの
可変抵抗器VR1の可動子を動かすことで、発振出力P
o+,Po−のデューティ比を可変でき、したがってデ
ータDoutの抽出タイミングを調整できる(図8D,
G参照)。
可変抵抗器VR1の可動子を動かすことで、発振出力P
o+,Po−のデューティ比を可変でき、したがってデ
ータDoutの抽出タイミングを調整できる(図8D,
G参照)。
【0050】そのため、素子のバラツキが大きく、発振
出力Po+,Po−のデューティ比を1/2に保つこと
ができないときは、調整によりデューティ比を1/2と
でき、データDoutの抽出タイミングをビットセルの
中心とすることができる。
出力Po+,Po−のデューティ比を1/2に保つこと
ができないときは、調整によりデューティ比を1/2と
でき、データDoutの抽出タイミングをビットセルの
中心とすることができる。
【0051】また、ビットセルの中心が必ずしも最適エ
ラーレートにならない場合は、発振出力Po+,Po−
のデューティ比の調整により、抽出タイミングをエラー
レートが最小となるタイミングとすることができる。
ラーレートにならない場合は、発振出力Po+,Po−
のデューティ比の調整により、抽出タイミングをエラー
レートが最小となるタイミングとすることができる。
【0052】したがって、本例によれば、抽出時のエラ
ーレートを容易に最小とでき、また調整に遅延線等の特
定の素子を使用しないので、安価に構成できる。
ーレートを容易に最小とでき、また調整に遅延線等の特
定の素子を使用しないので、安価に構成できる。
【0053】なお、上述実施例は図7に対応する例を示
したが、図9に対応するものも同様に構成することがで
きる。つまり、この発明は、発振出力Po+,Po−の
一方でもって入力データDinにロックし、他方でもっ
てデータDoutを抽出するものに同様に適用すること
ができる。
したが、図9に対応するものも同様に構成することがで
きる。つまり、この発明は、発振出力Po+,Po−の
一方でもって入力データDinにロックし、他方でもっ
てデータDoutを抽出するものに同様に適用すること
ができる。
【0054】
【発明の効果】この発明によれば、電圧制御発振器の出
力のデューティ比を可変することにより、ディジタルデ
ータの抽出タイミングをエラーレートが最小となるタイ
ミングに調整することができ、抽出時のエラーレートを
最小にすることができる。また、調整に遅延線等の特定
の素子を用いる必要がないので、コストダウンを図るこ
とができる。
力のデューティ比を可変することにより、ディジタルデ
ータの抽出タイミングをエラーレートが最小となるタイ
ミングに調整することができ、抽出時のエラーレートを
最小にすることができる。また、調整に遅延線等の特定
の素子を用いる必要がないので、コストダウンを図るこ
とができる。
【図1】実施例の構成を示すブロック図である。
【図2】VCOの具体構成を示す接続図である。
【図3】VCOの各部の波形例を示す図である。
【図4】従来例の構成を示すブロック図である。
【図5】図4の例の動作説明のためのタイムチャートで
ある。
ある。
【図6】図4の例の動作説明のためのタイムチャートで
ある。
ある。
【図7】従来例の構成を示すブロック図である。
【図8】図7の例の動作説明のためのタイムチャートで
ある。
ある。
【図9】従来例の構成を示すブロック図である。
1 入力端子
2 タイミング回路
3 Dフリップフロップ
4 位相比較器
5B 電圧制御発振器
6 ローパスフィルタ
7 直流アンプ
8 遅延回路
9 クロック出力端子
10 データ出力端子
Claims (1)
- 【請求項1】 相補的なタイミングを有する1対の出
力を発生する電圧制御発振器と、上記1対の出力の一方
と入力ディジタルデータから抽出されたクロックとの位
相比較を行なう位相比較器とを有し、上記位相比較器の
出力によって上記電圧制御発振器の周波数制御を行なう
と共に、上記1対の出力の他方によって上記ディジタル
データの抽出を行なうディジタルデータ抽出装置におい
て、上記電圧制御発振器に上記1対の出力のデューティ
比を可変する手段を設けることを特徴とするディジタル
データ抽出装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3079963A JPH04314229A (ja) | 1991-04-12 | 1991-04-12 | ディジタルデータ抽出装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3079963A JPH04314229A (ja) | 1991-04-12 | 1991-04-12 | ディジタルデータ抽出装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH04314229A true JPH04314229A (ja) | 1992-11-05 |
Family
ID=13704966
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP3079963A Pending JPH04314229A (ja) | 1991-04-12 | 1991-04-12 | ディジタルデータ抽出装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH04314229A (ja) |
-
1991
- 1991-04-12 JP JP3079963A patent/JPH04314229A/ja active Pending
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