JPH04315948A - 外観検査装置 - Google Patents
外観検査装置Info
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- JPH04315948A JPH04315948A JP8369091A JP8369091A JPH04315948A JP H04315948 A JPH04315948 A JP H04315948A JP 8369091 A JP8369091 A JP 8369091A JP 8369091 A JP8369091 A JP 8369091A JP H04315948 A JPH04315948 A JP H04315948A
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- arm
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Abstract
め要約のデータは記録されません。
Description
造工程に於けるガラス板、シリコンウエハ、プリント基
板等の薄板部材(ワーク)の外観を検査するために使用
される外観検査装置に関する。
おいては、ガラス板、シリコンウエハ、プリント基板等
の薄板部材が使用される。これらの薄板部材は、その表
面(外観)の良否を検査する必要がある。このような薄
板部材を検査する場合には、薄板部材(ワーク)表面に
光を照射し、その反射光によってワークの外観の良否を
判別する装置が使用される。この装置では、ワーク表面
からの反射光の散乱状態に基づいて、ワーク上のパター
ン不良や損傷の有無が判別される。図4および図5に従
来の外観検査装置の構成を概略的に示す。該外観検査装
置は、検査台21の正方形状をした上面の隅部には、ワ
ーク搬送機24が配置されており、該ワーク搬送機24
を中心にワーク収容部22及び検査台23が、例えば9
0度をなすように配設されている。ガラス板、シリコン
ウエハー、プリント基板等のワーク25はワーク収容部
22内に水平に積層された状態で収容されている。ワー
ク搬送機24は、回転軸24aを中心にして90度にわ
たって回動する搬送アーム27を有しており、搬送アー
ム27の回動により、その先端に設けられた仮保持部2
6は、前記ワーク収容部22および検査台23の上方に
位置される。ワーク25は、仮保持部26による真空吸
着等によって仮保持されて、ワーク収容部22内から搬
出され、検査台23の上に載置される。
矢印Aで示す方向へ揺動するように構成されており、該
検査台23上に載置されたワーク25は、該検査台23
と一体となって揺動される。検査台23の上方には、ラ
ンプ等により構成された光源29が配置されており、該
光源29から照射される光は、ワーク25の表面で反射
され、その反射光を作業者が観測するようになってぃる
。揺動するワーク25からの反射光が、均一状態で観測
される場合には、ワーク25は良品であると判断され、
反対にワーク25からの反射光が散乱状態で観測される
場合は、ワーク25の表面にパターン不良や損傷がある
と判断される。
送アーム27に設けられた仮保持部26により仮保持さ
れて、該搬送アーム27が90度にわたって回動される
。そして、ワーク25は仮保持部26による仮保持を解
除されて、ワーク収容部22に戻される。
置では、ワーク搬送機24の搬送アーム27が回転軸2
4aを中心にして90度にわたって回動することにより
、ワーク25をワーク収容部22と検査台23との間に
移動される。従って、ワーク25の移動距離が長く、装
置全体が大型化するために、装置の占有面積が大きくな
るという問題がある。また、ワーク25は、一旦、搬送
アーム27にて仮保持され、搬送アーム27が回動した
後に検査台23上にて仮保持が解除されて検査が行われ
、その後に、ワーク25は、再度、搬送アーム27にて
仮保持されて、搬送アーム27の回動によりワーク収容
部22へ移動されて仮保持を解除される。このように、
一枚のワーク25に対して、仮保持動作が2回にわたっ
て繰り返されるため、全体としてタクトタイムが長くな
り、スループット(処理能力)が悪くなる。その結果、
多数のワークを検査するためには、多大の時間を必要と
し、検査効率が低下するという問題もある。
あり、その目的はワークの移動距離が小さく、しかも検
査に必要となる時間が大幅に短縮されるために、検査効
率が著しく向上する外観検査装置を提供することにある
。
小型化され、占有面積が小さくなる外観検査装置を提供
することにある。
、電子部品における薄板部材であるワークの外観を検査
すべく、該ワークの表面にて光が反射されるように光を
照射する外観検査装置であって、複数のワークが水平状
態で多段に積層された状態で昇降可能になっており、各
ワークが水平方向へ退出するように搬送口が設けられた
ワーク収容部と、該ワーク収容部の搬送口を通って内部
に侵入および退出するように水平方向へ直線的に往復移
動するワーク搬送アームと、該ワーク収容部に侵入した
際に内部のワークを水平状態で仮保持するように該ワー
ク搬送アームに取り付けられたワーク仮保持部と、前記
ワーク搬送アームに仮保持されたワークを相互に直交す
る2軸を中心にそれぞれ揺動するように該ワーク搬送ア
ームを揺動させる揺動手段と、該揺動手段にて揺動され
るワークに光を照射する光源と、を具備してなり、その
ことにより上記目的が達成される。
がワーク収容部とワークの検査台との間を直線的に往復
移動することにより、その先端の仮保持部に仮保持され
たワークがワーク収容部と検査台との間を往復移動され
る。ワークの検査台では、ワークは、ワーク搬送アーム
の仮保持部にて仮保持された状態で相互に直交する2軸
を中心に、上下方向にそれぞれ揺動された状態で、その
表面に光源から光が照射される。従って、ワークの表面
に照射された光は、種々の角度で反射し、その反射光は
ワークの表面が良好な場合には、均一な反射光として観
測され、パターン不良や損傷等の不規則部がある場合に
は散乱光として観測される。
に、上面が長方形の本体1を有する。該本体1の上面の
約半分の領域には、複数枚の薄板状のワーク5が多段に
水平に積層された状態で収容されたワーク収容部2が配
設されている。本体1の上面における残り半分の領域は
ワークの検査台3となっており、該検査台3上には、ワ
ーク収容部2内のワーク5を検査台3へと搬送するワー
ク搬送機4が配設されている。
は、上下方向に適当な間隔があけられている。また、該
ワーク収容部2は、各ワーク5が水平状態で該ワーク収
容部2から退出するように、検査台3側の側面が開放さ
れた搬送口2aとなっている。そして、ワーク収容部2
はその全体が昇降部(図示せず)により昇降されるよう
になっており、その昇降により、該ワーク収容部2は、
検査台3の上面から進出した状態および検査台3内に退
入した状態になる。
設位置からワークの検査台3にかけて平行な一対のガイ
ドレール8および8が設けられている。各ガイドレール
8には、ワーク搬送機4における各ガイドレール8とは
直交状態になった第1揺動軸4Cの各端部がスライド可
能に係合されている。そして、この第1揺動軸4Cには
搬送アーム7が取付けられている。搬送アーム7aは各
ガイドレール8と平行になってワーク収容部2側へ延び
る一対のアーム部を有するU字状をしており、その基端
部が、第1揺動軸4Cの中央部に取付けられている。
イドレール8に係合された状態でワーク収容部2に接近
および離隔するように平行移動される。そして、該第1
揺動軸4Cがワーク収容部2に接近するように移動する
と搬送アーム7の各アーム7a部が、搬送口2aからワ
ーク収容部2内に進入する。各アーム部7aは、ワーク
収容部2内の上下に隣接するワーク5の間に位置される
。
ク収容部2内に進入した際に、該ワーク収容部2内の水
平状態のワーク5を、例えば真容吸着により水平状態で
仮保持する仮保持部6が設けられている。
り、その軸心回りに、30度程度にわたって往復回動す
るようになっており、該第1揺動軸4Cの回動により、
搬送アーム7の各アーム部先端が上下方向に30度にわ
たって揺動される。その結果、各アーム部に仮保持され
たワーク5も一体となって同方向に揺動される。
貫通して搬送アーム7に連結された第2揺動軸4bが取
付けられている。該第2揺動軸4bは、第1揺動軸4c
とは直交状態で、搬送アーム7の基端部中央に取り付け
られている。該第2揺動軸4bは、例えば、図示しない
モータにより30度程度にわたって回動される。そして
、第2揺動軸4bの回動により、搬送アーム7の各アー
ム7aが上下方向に交互に揺動する。これにより搬送ア
ーム7の各アーム部に仮保持されたワーク5は、30度
程度にわたって往復揺動する。検査台3の上方には、搬
送アーム7に仮保持されたワーク5の表面に光を照射す
る一対の光源9が配設されている。
ワーク5の表面の検査は次のようにして行われる。
平状態で収容された状態で、本体1上に進出した状態に
なっている。このような状態で、ワーク搬送機4におけ
る第1揺動軸4cがワーク収容部2に接近するように平
行移動されて、搬送アーム7のアーム部がワーク収容部
2の搬送口2aから内部に進入する。各アーム部7aは
ワーク収容部2の最下側のワーク5の下方へと進入し、
各アーム部7aがワーク収容部2内に進入した状態にな
ると、第1揺動軸4cの移動が停止される。その後、ワ
ーク収容部2は、所定のピッチだけ下降して、最下側の
ワーク5はワーク仮保持部6上に当接した状態とされる
。そして、そのワーク5は、各アーム部7aに設けられ
た仮保持部6に、例えば真空吸着によって吸着され、仮
保持状態とされる。
状態になると、第1搖動軸4Cが移動され、搬送アーム
7の各アーム7a部が搬送口2aから退出する。ワーク
5が検査位置に達すると第1揺動軸4cの移動が停止さ
れる。この状態でワーク5は、相互に直交する各揺動軸
4bおよび4cが回動することによって、各軸を中心に
それぞれ約30度程度にわたって往復揺動される。この
ように揺動する間に、光源9からの光がワーク5の表面
に照射され、その反射光が作業者によって観測される。 このとき、ワーク5の表面からの反射光が散乱していれ
ば、ワーク5自体にパターン不良や損傷があると判別さ
れて仮保持部6から不良品として取り除かれる。また、
ワーク5からの反射光が、均一性がある場合には、ワー
ク5は良品と判別されて第1揺動軸4cがワーク収容部
2に向かって移動され、仮保持状態のワーク5が再びワ
ーク収容部2へ水平状態で搬送される。そして、ワーク
5がワーク収容部2内の所定位置に達すると、仮保持部
6による仮保持が解除されて、ワーク5はワーク収容部
2内に収容される。このようにして、1つのワーク5の
外観検査が終了すると、搬送アーム7は、一旦、検査台
3へ移動される。この間に、ワーク収容部2は所定量だ
け下降して、次に検査すべきワーク5が、搬送アーム7
の高さよりも若干上方に位置される。そして、再び、前
述の動作と同様の動作が繰り返され、次のワーク5の外
観の検査が行われる。
搬送アームが、ワークを仮保持した状態で検査台とワー
ク収容部との間を直線的に往復移動し、検査台上にてワ
ークが仮保持された状態で外観検査されるために、ワー
クの移動のための時間および仮保持に要する時間が短縮
されて、スループットを著しく向上させることができる
。しかも、装置が著しく小型化される。ワーク搬送アー
ムに仮保持されたワークは、相互に直交する2軸を中心
に揺動されるために、不良ワークを確実に検出できる。
Claims (1)
- 【請求項1】 電子部品における薄板部材であるワー
クの外観を検査すべく、該ワークの表面にて光が反射さ
れるように光を照射する外観検査装置であって、複数の
ワークが水平状態で多段に積層された状態で昇降可能に
なっており、各ワークが水平方向へ退出するように搬送
口が設けられたワーク収容部と、該ワーク収容部の搬送
口を通って内部に侵入および退出するように水平方向へ
直線的に往復移動するワーク搬送アームと、該ワーク収
容部に侵入した際に内部のワークを水平状態で仮保持す
るように該ワーク搬送アームに取り付けられたワーク仮
保持部と、前記ワーク搬送アームに仮保持されたワーク
を相互に直交する2軸を中心にそれぞれ揺動するように
該ワーク搬送アームを揺動させる揺動手段と、該揺動手
段にて揺動されるワークに光を照射する光源と、を具備
する外観検査装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3083690A JP2740580B2 (ja) | 1991-04-16 | 1991-04-16 | 外観検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3083690A JP2740580B2 (ja) | 1991-04-16 | 1991-04-16 | 外観検査装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH04315948A true JPH04315948A (ja) | 1992-11-06 |
| JP2740580B2 JP2740580B2 (ja) | 1998-04-15 |
Family
ID=13809490
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP3083690A Expired - Lifetime JP2740580B2 (ja) | 1991-04-16 | 1991-04-16 | 外観検査装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2740580B2 (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2003102561A1 (en) * | 2002-05-30 | 2003-12-11 | Olympus Corporation | Substrate holding device and substrate inspection device |
| JP2008116470A (ja) * | 2007-12-25 | 2008-05-22 | Olympus Corp | 基板検査装置 |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH01207942A (ja) * | 1988-02-16 | 1989-08-21 | Olympus Optical Co Ltd | ウエハ検査装置 |
| JPH0254152A (ja) * | 1988-08-17 | 1990-02-23 | Nec Kyushu Ltd | 半導体基板の目視検査装置 |
-
1991
- 1991-04-16 JP JP3083690A patent/JP2740580B2/ja not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (2)
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| JPH01207942A (ja) * | 1988-02-16 | 1989-08-21 | Olympus Optical Co Ltd | ウエハ検査装置 |
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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| WO2003102561A1 (en) * | 2002-05-30 | 2003-12-11 | Olympus Corporation | Substrate holding device and substrate inspection device |
| CN100483115C (zh) | 2002-05-30 | 2009-04-29 | 奥林巴斯株式会社 | 基板保持装置和基板检验装置 |
| JP2008116470A (ja) * | 2007-12-25 | 2008-05-22 | Olympus Corp | 基板検査装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2740580B2 (ja) | 1998-04-15 |
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